JPS6251015A - ヘツドの取付位置姿勢検査方法 - Google Patents
ヘツドの取付位置姿勢検査方法Info
- Publication number
- JPS6251015A JPS6251015A JP18977885A JP18977885A JPS6251015A JP S6251015 A JPS6251015 A JP S6251015A JP 18977885 A JP18977885 A JP 18977885A JP 18977885 A JP18977885 A JP 18977885A JP S6251015 A JPS6251015 A JP S6251015A
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- JP
- Japan
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- head
- plate
- image
- camera
- mounting position
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- Pending
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- Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
この発明は記録媒体への情報の書き込み、あるいは読出
し等を行なう装置におけるヘッドの取付位置または姿勢
を検査する方法に関する。
し等を行なう装置におけるヘッドの取付位置または姿勢
を検査する方法に関する。
一般に、記録媒体への書き込み、あるいは再生を行なう
装置において、これを行なうヘッドの取付位置は装置の
性能に大きく影響するため、高精度を要求される。
装置において、これを行なうヘッドの取付位置は装置の
性能に大きく影響するため、高精度を要求される。
そこで、通常は装置本体等にヘッドを取り付けた後、こ
のヘッドの位置および姿勢をスケール等を当てて検査し
ていた。
のヘッドの位置および姿勢をスケール等を当てて検査し
ていた。
しかしながら、ヘッドの取付位置および姿勢の検査には
三次元的測定を要するため、スケールを当てて行なう従
来の検査方法では多くの時間がかかり、生産性の低下を
招くという問題点があった。
三次元的測定を要するため、スケールを当てて行なう従
来の検査方法では多くの時間がかかり、生産性の低下を
招くという問題点があった。
この発明は前記問題点に着目して成されたもので、ヘッ
ドの取付位置または姿勢の検査を平面的な観察により容
易かつ短時間で行なうことができるヘッド取付位置姿勢
検査方法の提供を目的とする。
ドの取付位置または姿勢の検査を平面的な観察により容
易かつ短時間で行なうことができるヘッド取付位置姿勢
検査方法の提供を目的とする。
本願の第１の発明のヘッド取付位置検査方法は、所定の
基準線を形成した透光板を、ヘッドを取り付けた支持体
の記録媒体取付位置に装着し、この透光板を介して視認
されるヘッド透視像の位置を前記基準線に基づき観察す
るようにして成るものである。
基準線を形成した透光板を、ヘッドを取り付けた支持体
の記録媒体取付位置に装着し、この透光板を介して視認
されるヘッド透視像の位置を前記基準線に基づき観察す
るようにして成るものである。
また、本願の第２の発明のヘッド取付位置検査方法は透
光板をヘッドを取り付けた支持体の記録媒体取付位置に
装着し、この透光板を介して視認されるヘッド透視像の
干渉縞を観察するようにして成るものである。
光板をヘッドを取り付けた支持体の記録媒体取付位置に
装着し、この透光板を介して視認されるヘッド透視像の
干渉縞を観察するようにして成るものである。
この発明においては透光板を介して視認されるヘッド透
視像の位置または干渉縞の形状を基準線に基づき平面的
に観察することで三次元の測定を行なうことが可能とな
る。
視像の位置または干渉縞の形状を基準線に基づき平面的
に観察することで三次元の測定を行なうことが可能とな
る。
〔実施例〕
以下、第１図ないし第５図に基づきこの発明の一実施例
を説明する。なお、この実施例では電子カメラにおける
ヘッド取付位置および姿勢を検査する場合を例にとり説
明する。
を説明する。なお、この実施例では電子カメラにおける
ヘッド取付位置および姿勢を検査する場合を例にとり説
明する。
第１図はこの方法に使用する装置の概略構成を示す斜視
図、第２図は第１図に示したものを概略的に示す側面図
であり、図中、ｌは電子カメラ本体で、記録媒体である
磁気ディスクを回転させる記録媒体取付位置としての回
転軸１ａが、設けられている。２はこの電子カメラ本体
１の前面に突設した磁気ヘッド、３は前記電子カメラ本
体ｌを支持すると共に、所定の検査位置へ移動させる支
持体としての移動架台で、電子カメラ本体ｌを前後、左
右方向（Ｘ軸、Ｙ軸方向）へ移動させるＸＹテーブル３
ｂと、同本体１を多方向へ向けるあおり機構３０とより
成る。４は顕微鏡光学系で、前記電子カメラ本体１の磁
気へラド２の周辺を拡大して撮える。５はこの顕微鏡光
学系４で撮えた光学像を電気的信号に変換するテレビカ
メラ、６は画像処理装置で、前記テレビカメラ５からの
出力信号を再生するモニタ６ａと、同出力信号により磁
気へラド２の位置ずれおよび姿勢情報を算出する算出装
置ｉｍｂとを備えている。７はｘＹ軸テーブルを移動さ
せるモータ８ａ、８ｂおよびＺ軸テーブルを移動させる
モータ８ｃの制御を行なう制御装置である。
図、第２図は第１図に示したものを概略的に示す側面図
であり、図中、ｌは電子カメラ本体で、記録媒体である
磁気ディスクを回転させる記録媒体取付位置としての回
転軸１ａが、設けられている。２はこの電子カメラ本体
１の前面に突設した磁気ヘッド、３は前記電子カメラ本
体ｌを支持すると共に、所定の検査位置へ移動させる支
持体としての移動架台で、電子カメラ本体ｌを前後、左
右方向（Ｘ軸、Ｙ軸方向）へ移動させるＸＹテーブル３
ｂと、同本体１を多方向へ向けるあおり機構３０とより
成る。４は顕微鏡光学系で、前記電子カメラ本体１の磁
気へラド２の周辺を拡大して撮える。５はこの顕微鏡光
学系４で撮えた光学像を電気的信号に変換するテレビカ
メラ、６は画像処理装置で、前記テレビカメラ５からの
出力信号を再生するモニタ６ａと、同出力信号により磁
気へラド２の位置ずれおよび姿勢情報を算出する算出装
置ｉｍｂとを備えている。７はｘＹ軸テーブルを移動さ
せるモータ８ａ、８ｂおよびＺ軸テーブルを移動させる
モータ８ｃの制御を行なう制御装置である。
第３図は前記本体ｌの回転軸１ａに装着する透光板とし
てのガラス板９の構成を示す平面図で、このガラス板９
には通常使用する磁気ディスクと略同様の外形を有し、
そのトラック方向およびアジマス方向には基準線９ａ、
９ｂがパターニングされている。また、このガラス板９
の中心部には前記回転軸１ａを挿通させるＶ字形状を有
する挿通孔９ｂが形成されており、回転軸１ａを挿通さ
せた状態で第４図に示すようにガラス板９の上面から突
出するようになっている。
てのガラス板９の構成を示す平面図で、このガラス板９
には通常使用する磁気ディスクと略同様の外形を有し、
そのトラック方向およびアジマス方向には基準線９ａ、
９ｂがパターニングされている。また、このガラス板９
の中心部には前記回転軸１ａを挿通させるＶ字形状を有
する挿通孔９ｂが形成されており、回転軸１ａを挿通さ
せた状態で第４図に示すようにガラス板９の上面から突
出するようになっている。
上記装置において、電子カメラ本体ｌに取り付けられた
ヘッドの位置、姿勢を検出する場合には、まず、電子カ
メラ本体ｌの回転軸１ａへ前記ガラス板９を固定し、さ
らにこの本体ｌを前記あおり機構３０の前面部に固定す
る。この後、電子カメラ本体ｌをｘＹ軸子テーブル３ａ
Ｚ軸テーブル３ｂおよびあおり機構３０により所定の測
定可使位置、すなわちガラス板９と顕微鏡光学系４とが
正対し、かつこの光学系４がガラス板９を介して磁気へ
ラド２を撮える位置まで移動させる。顕微鏡光学系４で
撮えた磁気へラド２の周辺の拡大像は、テレビカメラ５
を介してモニタ６ａに映し出される。この拡大像は、第
５図に示すように磁気ヘッド透視像１０ａおよびガラス
板に形成された基準線９ａ、９ｂの他、ガラス板９と磁
気ヘッド２との間で透視像１０ａの周囲に発生する干渉
縞１０ｂが映し出される。この干渉縞１０ｂは電子カメ
ラ本体ｌに取り付けられた磁気ヘッド２の姿勢に応じて
その形状が変化する。従って、検査者は、このモニタ６
ａに映し出されている基準線９ａ、９ｂを基準にヘッド
像１０ａの位置および干渉縞１０ｂの縞間隔を含む形状
を観察することで磁気ヘッドが適正な姿勢で取り付けら
れているか否か検査することができる。また、この実施
例では、モニタ６ａの後段の処理装置６ｂが映し出され
た拡大像中の角度αおよび長さ （第４図参照）を検出
し、この検出結果に基づき所定の演算を行なうことによ
り自動的に磁気ヘッド２の取付位置情報および姿勢情報
を得ることができるようになっており、検査および調整
に要する時間を一層短縮できる。
ヘッドの位置、姿勢を検出する場合には、まず、電子カ
メラ本体ｌの回転軸１ａへ前記ガラス板９を固定し、さ
らにこの本体ｌを前記あおり機構３０の前面部に固定す
る。この後、電子カメラ本体ｌをｘＹ軸子テーブル３ａ
Ｚ軸テーブル３ｂおよびあおり機構３０により所定の測
定可使位置、すなわちガラス板９と顕微鏡光学系４とが
正対し、かつこの光学系４がガラス板９を介して磁気へ
ラド２を撮える位置まで移動させる。顕微鏡光学系４で
撮えた磁気へラド２の周辺の拡大像は、テレビカメラ５
を介してモニタ６ａに映し出される。この拡大像は、第
５図に示すように磁気ヘッド透視像１０ａおよびガラス
板に形成された基準線９ａ、９ｂの他、ガラス板９と磁
気ヘッド２との間で透視像１０ａの周囲に発生する干渉
縞１０ｂが映し出される。この干渉縞１０ｂは電子カメ
ラ本体ｌに取り付けられた磁気ヘッド２の姿勢に応じて
その形状が変化する。従って、検査者は、このモニタ６
ａに映し出されている基準線９ａ、９ｂを基準にヘッド
像１０ａの位置および干渉縞１０ｂの縞間隔を含む形状
を観察することで磁気ヘッドが適正な姿勢で取り付けら
れているか否か検査することができる。また、この実施
例では、モニタ６ａの後段の処理装置６ｂが映し出され
た拡大像中の角度αおよび長さ （第４図参照）を検出
し、この検出結果に基づき所定の演算を行なうことによ
り自動的に磁気ヘッド２の取付位置情報および姿勢情報
を得ることができるようになっており、検査および調整
に要する時間を一層短縮できる。
なお、上記実施例においては、透光板として一ガラス板
を用いたが、特にガラスに限らずその他の透光性を有す
る物質、例えばプラスチック等により形成したものを用
いても良い、また、透光板に形成する基準線も上記実施
例に示した形状に限定されるものではない。
を用いたが、特にガラスに限らずその他の透光性を有す
る物質、例えばプラスチック等により形成したものを用
いても良い、また、透光板に形成する基準線も上記実施
例に示した形状に限定されるものではない。
さらに、この発明は電子カメラだけでなく、その他の記
録再生装置におけるヘッドの取付位置姿勢検査にも適用
し得るものである。
録再生装置におけるヘッドの取付位置姿勢検査にも適用
し得るものである。
また、この発明は透光板とヘッドとの間に発生する干渉
縞の形状とヘッド像の位置とを透光板に形成した基準線
に基づき検出し、ヘッドの取付位置および姿勢を検査し
得るようにしたが、単にヘッドの取付位置を検査するだ
けで良い場合には透光板に替えて、光通過部分を形成し
た非透光性の板（例えば金属板）を用い、光通過部分を
介して磁気ヘッドを顕微鏡光学系により撮えるようにす
れば、ヘッドの取付姿勢は検査できないが、取付位置は
検査できる。
縞の形状とヘッド像の位置とを透光板に形成した基準線
に基づき検出し、ヘッドの取付位置および姿勢を検査し
得るようにしたが、単にヘッドの取付位置を検査するだ
けで良い場合には透光板に替えて、光通過部分を形成し
た非透光性の板（例えば金属板）を用い、光通過部分を
介して磁気ヘッドを顕微鏡光学系により撮えるようにす
れば、ヘッドの取付姿勢は検査できないが、取付位置は
検査できる。
以上説明したとおり、本願第１、第２の発明のヘッド取
付位置姿勢検査方法によれば、−三次元の測定を要する
ヘッドの取付位置または姿勢の検査を、基準線に基づく
ヘッド透視像の位置および干渉縞の形状によって平面的
に観察するだけの簡単な作業で行なうことが可能となり
、生産性を大幅に向上させることができるという効果が
ある。
付位置姿勢検査方法によれば、−三次元の測定を要する
ヘッドの取付位置または姿勢の検査を、基準線に基づく
ヘッド透視像の位置および干渉縞の形状によって平面的
に観察するだけの簡単な作業で行なうことが可能となり
、生産性を大幅に向上させることができるという効果が
ある。
第１図はこの発明の一実施例に適用する装置の斜視図、
第２図は第１図に示したものの概略構成を示す側面図、
第３図はこの発明の一実施例に使用するガラス板の構成
を示す平面図、第４図はガラス板を回転軸に装着した状
態を示す部分拡大断面図、第５図はモニタに写し出し出
された像を示す平面図である。 １・・・電子カメラ本体 １ａ・・・記録媒体取付位置としての回転軸２・・・磁
気ヘッド ９ａ、９ｂ・・・基準線 １０・・・ヘッド透視図 １Ｏｂ・・・干渉縞 第１図 蔦ＩＱｉｌｎ概福側面図 第２図
第２図は第１図に示したものの概略構成を示す側面図、
第３図はこの発明の一実施例に使用するガラス板の構成
を示す平面図、第４図はガラス板を回転軸に装着した状
態を示す部分拡大断面図、第５図はモニタに写し出し出
された像を示す平面図である。 １・・・電子カメラ本体 １ａ・・・記録媒体取付位置としての回転軸２・・・磁
気ヘッド ９ａ、９ｂ・・・基準線 １０・・・ヘッド透視図 １Ｏｂ・・・干渉縞 第１図 蔦ＩＱｉｌｎ概福側面図 第２図
Claims (2)
- （１）記録媒体に対して記録再生を行なうヘッドの所定
の支持体への取付位置を検査する方法であって、所定の
基準線を形成した透光板を前記支持体の記録媒体取付位
置に装着し、この透光板を介して視認されるヘッド透視
像の位置を、前記基準線に基づき観察するようにして成
るヘッドの取付位置検査方法。 - （２）記録媒体に対して記録再生を行なうヘッドの所定
の支持体への取付姿勢を検査する方法であって、透光板
を前記支持体の記録媒体取付位置に装着し、この透光板
を介して視認される透視像の周囲に発生する干渉縞の形
状を観察するようにして成るヘッドの取付姿勢検査方法
。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18977885A JPS6251015A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | ヘツドの取付位置姿勢検査方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP18977885A JPS6251015A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | ヘツドの取付位置姿勢検査方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6251015A true JPS6251015A (ja) | 1987-03-05 |
Family
ID=16247042
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP18977885A Pending JPS6251015A (ja) | 1985-08-30 | 1985-08-30 | ヘツドの取付位置姿勢検査方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6251015A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010185727A (ja) * | 2009-02-10 | 2010-08-26 | Olympus Corp | 干渉計 |
-
1985
- 1985-08-30 JP JP18977885A patent/JPS6251015A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2010185727A (ja) * | 2009-02-10 | 2010-08-26 | Olympus Corp | 干渉計 |
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