JPS62502665A - 咬合測定用接点検出器 - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 咬合測定用接点検出器 １１立皇１ 本発明は、接点検出器に関し、より詳細には、患者が顎を閉じた時の歯の接点を 測定する咬合検出器に関する。

及旦Ｊと配車 歯の診療に際し、患者が顎を閉じた時の咬合状態、即ち、上下歯の接点を測定す る必要が多々ある。実際、咬合の測定は、義歯又は歯列矯正装置等、多くの歯科 医療機器を使用する場合に必要とされる。斯かる測定でもって、上下歯の最初の 接点が確認できるので、ハイスポット等の有用な情報が得られる。

咬合の測定を正確に行うには、歯の整合状態に影響を及ぼさないような極薄の咬 合測定装置を使用しなければならない。又、有用な情報を１％ると共に、上下歯 の接点と非接点を識別するために、分解能の高い検出器が必要とされる。更に、 検出器は、口部に対して用いられるので、安全性が高く且つ、非専門家であって も必要最低限の訓練をうければ操作できるものでなければならない。

歯科医が現在入手可能な咬合検出器の種類は限られているが、最も一般的な咬合 測定方法は、カーボン紙の様な一片の材料を使用して患者がこの材料に咬傷をつ けて測定する方法である。

る。又、分解能に関しても、特に歯の相互作用が複雑な場合には、高くない。後 々比較検討するために患者のファイルに永久記録を残す簡単な方法は提案されて いない。

プラスチックの薄片を用いた別の咬合検出器も提案されている。このプラスチッ ク片には咬合状態が刻印された後、偏光が当てられ、接点が夫々異なる色で示さ れる。然し、この方法は、検出器が比較的厚肉で、検出結果を判読するために高 度の訓練が要求され、又、咬合の刻印方法が比較的複雑であると云う欠点を有す る。

咬合状態を解読する他の方法に、レントゲン写真及び患者の咬合を注型する方法 があるが、これらめ方法は高価で且つ時間がかかるため、概して、歯科医院での 広範囲の使用には適さない。従って、高い分解能を備え、永久的に記録を保持で きる簡便で安価な咬合測定方法が提案されれば、歯科医師等、咬合測定を必要と する人々に非常に有益である。

几濃Ｊ旧ｌ示 本発明は、検出器の両面に上下歯の表面が接触するグリッド上の点を検出する独 特な接点検出器を提供する。この検出器は約２〜３０００分の１インチと極薄で 、ｏ、ｏｓｏインチ以下の接点間を識別できる高い分解能を有する。

簡単に説明すると、接点検出器は、肉薄で可撓性の支持シート上に形成された二 組の平行電極を備える。そして、これらの電極には抵抗塗料が薄く塗布される。

斯かる電極は略々直交するように配設されて、グリッドを形成する。次いで、電 極が形成されたシート間に１．新規な中間層が介装される。

外力が加わらない状態に於いて、前記中間層は、交差する電極間に高い抵抗をも たらす。中間層の新規な組成は、［スイッチｊ効果を提供する。この効果とは、 外力が加わらない時は各電極間の抵抗が高く、上下歯の咬合等によって外部から 圧力が加わると、その位置での抵抗が比較的低い値に変化することを云う。検出 器の出力は、外部から加わる圧力変化によって抵抗が高抵抗値と低抵抗値間を移 行するので動的である。よって、接触点は単一・の検出器でもって繰返し測定さ れる。

斯かる接点検出器の利用範囲は広いが、咬合状態の測定に最も適している。検出 器は非常に薄く構成されているので、患者が通常の咬み合せを全く変えることな く、咬合状態が測定でき、更に、分解能が高いので、上下歯の表面の相互作用に 関する詳細な情報が歯科医師等の使用者に提供できる。又、電極間抵抗が高低値 間を変化するので、単一の回路でもって、検出器が咬合されて上下歯が接触した 時の患者の上下歯の接触及び非接触点を確実に検出できる。本検出器は非常に安 価に製造できるので、使用後に使い捨てが可能で、患者間で殺菌処理をする必要 がない。

更に、検出器の出力は、小型のコンピュータ、又は同様のデジタルブロセッザを 介して得られる。このコンピュータは、検出器のグリッドからの信号をモニター し且つ、時間と共に変化する咬合状態を示す出力を供出する。接触状態が電極の 各交点で測定されるので、患者が検出器を咬合した時の歯の咬合状態は全て示さ れる。この情報は、問題のある歯を診断したり治療縁を永久に保存する能力は、 以後の診療に際し重要である。

乱直立１里豆基■ 本発明は、添付図面を参照して以下の好適実施例の詳細な説明を読めば、より明 瞭となろう。

第１図は、本発明の検出器全体の横道を示す図、第２図は、電極と、バッキング 及び抵抗塗膜の関係を示す検出器の拡大図、 第３図は、接触状態にある電極上に塗布された抵抗塗膜間の界面を示す微視図、 第４図は、咬合検出器を単品として製造する一方法を示す図、第５図は、口部に 使用される咬合検出器の一実施例を示す図、第６図は、検出器に於ける電極群の 各抵抗を測定する回路図、第７図は、コンピュータが第６図に示す回路を制御す る一方法を示す図、 第８Ａ及び８Ｂ図は、Ｎ極間距離が異なる場合の通し抵抗と電極間抵抗を説明す る図である。

几団二好亘ス瀝ｌ 第１図は、本発明に使用される接点検出器の基本構造を示す。

以下、上層５０の構成を詳細に説明する。上層５０は、可撓性のバッキング５２ を有し、バッキング５２上には電極５４が並設されている。電極は夫々の端子５ ６に接続され電気的に接触する。下層６０も同様に構成されており、バッキング ６２上に多数の電極６４が形成されると共に各電極は端子６Ｇに接続されている 。又、分離層７０が、通常、上層６０と下層７０間に設けられる。

グ５２は、電極５４を柔軟に支持する。本発明の好適実施例に於て、バッキング ５２は、マイラー（Ｈｙｌａｒ）等のポリエステルフィルムで形成される。デュ ポン社製のキャブトン（ＫａｐｔＯｎ）等同様のフィルムを用いてバッキングを 形成してもよい。これらの材料は、薄肉で且つ強度を有し、０部の使用に適した 無菌で耐水性のパッケージを形成できる。他の材料でもってバッキングを形成し てもよい。

好適実施例に於いて、電極５４は、可撓性の材料に印刷して回路を構成する周知 の方法を用いて形成される。先ず、銅の薄い層がバッキング５２に接着される。

そして、電極模様が゛２オドレジストでもってこの銅層に形成され、しかる後、 不必要な部分の銅が腐蝕によって取り除かれる。導電インキを使用して電極をバ ッキングに、直接印刷する等地の方法を用いて電極を構成することもできる。

次いで、電極には抵抗塗料７２が塗布される。この塗料７２は抵抗インキであっ て、薄い塗膜に印刷又は塗布可能な材料からなり、斯かる塗膜を通過する電流の 流れを制限する。抵抗インキの配合及び塗布技術は、かなり開発されている。こ れらの技術に関しては、例えば、アルバート・カソロフ著の［スクリーンに印刷 された電気回路」及び米国政府刊行物印刷局発行の規格基準局報第５３０号を参 照されたい。

好適実施例に於いて、使用される抵抗塗料は、アセトン、即ちキートン（Ｋｅｙ ｔｏｎ）溶剤中にグラファイトを含む。この抵抗抵抗塗料は、二酸化チタン充填 剤、ビニル樹脂結合剤及びブチルセロソルブアセテート溶剤を含有する絶縁イン キに、グラファイト、ビニル樹脂及びブチルセロソルブアセテートを含有する導 電インキを混入したものである。斯かるインキは、ミシガン州、ボートヒユーロ ン市所在のアセソンコロイド社製のエレクトロダッグ４２３ＳＳ　導電インキ及 び５Ｓ２４２１０絶縁インク等、広く一般に入手可能である。塗料の抵抗は、塗 料の構成成分である絶縁成分と導電成分の相対的な割合を変えると変化する。本 実施例では、塗料の配合は、重量比で導電インキ１に対し絶縁インキ４である。

塗料は、２００目あるポリエステル製の篩いを介して塗布され且つ自然乾燥され る。、塗膜の厚さは１／２ミルで、抵抗率は６０乃至１００にΩ／平方が好まし い。

検出器を構成するに際しては、第２図に示す二つの層を、第１図に示すように電 極が互いに直交するように積ね重わせ、抵抗塗料を相対向する面に塗布すると共 に、以下に説明するように随意、分離層１０を上下層間に設ける。

上記の如く構成された検出器の特性として、加えられた圧力の関数としての各電 極間の抵抗は非線形である。外力が加わっても限界点に達するまでは、圧力点で の相対向する電極間の抵抗に影響を及ぼさない。但し、限界値に達すると、相対 向する電極間の抵抗は急激に減少する。上記検出器及び抵抗塗料の配合にあって 、抵抗は約数ＭΩから約１にΩの範囲で変化する。

この結果、斯かる検出器は、比較的簡単な回路でもって出力時に非常に高いＳＮ 比を維持しつつ接点を検出する。

塗布された抵抗塗膜７２が直接接触すると、高い抵抗状態から低い抵抗状態に変 化させるに要する限界力が可変であるため、実際の値が読みとれないことがある 。そこで、検出器の性能を向上するために第１図に示すような分離層７０が付設 される。この分離層は、主に、非導電性且つ可撓性を有し、極薄であることが要 件とされる。種々の材料を使用することができるが、ナイロンメツシュ、アシエ ソン・エレクトロダッグ５Ｓ２４２１０　、即ちラテックス塗料等の重合体を基 剤とする塗料を初めとする非導電性の塗料、及びタルカム粉等の材料が分離層形 成に適切である。

これらの材料の内、特にタルカム粉でもって最良の結果が得られる。使用に際し ては、先ず、薄い層のタルカム粉が各抵抗塗料に添加され、しかる後、余分なタ ルカム粉は低速の空気流により取り除かれる。而して、残りのタルカム粉によっ て分離層が形成される。

又、ナイロンメツシュも分離層を形成する材料として有用である。ナイロンメツ シュの場合、各電極間の抵抗を高い状態から低い状態に移行させるに要する限界 力がより高くなるが、断続的な線又は面接触を正確に検出する検出器の能力が低 下する傾向にある。

斯かるスイッチ効果の理由は、正確には解明されていないが、次のように説明で きる。抵抗塗料が塗布されると表面が凹凸となる。二つの電極層が結合され、抵 抗塗膜が表面接触すると、その構造は第３図に示すようになる。同第３図に於い て、二つ凹凸なため、接触面積は小さく、実際、相対向する塗膜の独立した高い 点のみが接触する。そして、この状態で圧力が加わると、より広い領域での接触 がみられるようになり、抵抗が小さくなる。限界効果は、限界レベルを超える迄 二つの塗膜間の摺動作用に抗う始動摩擦力に打ち勝つ必要性に一部起因している と考えられる。更に、分離層は、二つの層間により一定した界面を提供し、よっ て、限界力のレベルも一定する。

前記検出器は、抵抗塗料が電極の一方にのみ塗布された場合でも、有効に働くが 、検出器の感度は、二つの電極に塗布された検出器に比べ変化する。そこで、分 離層を抵抗塗膜上に設けると、限界力の変化が減少し、二つの電極に抵抗塗料が 塗布された検出器と同様の性能をもつ。然し、二つの電極に抵抗塗料を塗布した 検出器の方が好ましい。

本発明に係る検出器は分解能が非常に高い。上記の如く構成された検出器では、 各電極間の間隔がｏ、　ｏｓｏインチである。分解能を制限する主な要因は、薄 い電極のグリッドを形成する従来方法の能力にある。従来の印刷によって形成さ れた回路、或は導電性のインキを用いる方法でもって現在確実に得られる電極間 の間隔で最も狭小のものは、約０．０１０インチである。更に分解能の高い検出 器が得られるであろう。

第８Ａ図に於いて、電極間の抵抗塗膜７２の電極間抵抗Ｒ１は抵抗器８２によっ て示される。又、各′ｉｉｉ極から表面までの通し抵抗Ｒｔは、抵抗器８４によ って示される。電極間の離間距離はω距離に比例する。通し抵抗Ｒｔは、電流が 流れる領域の表面積によって変化する。電極５４から抵抗塗膜７２の表面までの 電流の流れパターンが、第８図に破線で示されている。斯様な流れは、通し抵抗 の解析的な計算を困難にしている。然し、実験より、この抵抗は約２〜３０００ Ωであることが分かっている。　電極間抵抗Ｒｉは、抵抗器の距離が断面積に比 して長く、電流の流れが一般に線形であるため計算し易い。この電極間抵抗は、 次の式で表わされる。

は電極間の距離である。電極間の距離がｏ、　ｏｓｏインヂで、上記した構造の 電極及び検出器の場合、電極間抵抗Ｒ１は約５μΩになる。上記の等式から明ら かなように、電極間抵抗はＷに比例する。ここで、Ｗを１７１０減じてｏ、　ｏ ｏｓインチにするとＲｔは約５００　ｋΩとなる。従って、電極間の距離が従来 の方法で得られるより目の細かいｏ、ｏｏｓインチの場合には、電極間抵抗はま だ通し抵抗より大きい。

歯科医療橢器に用いる実用的な検出器は、患者間の殺菌処理を省くために使い捨 て式であることが好ましい。第４図は、一枚のバッキングシートに上下電極群が 形成された電極層の構造を示している。同第４図に於いて、バッキングシート５ ２は、左半分に列電極６６、右半分には行Ｎ極５４が形成されている。行電極５ ４の一部８８には、検出器の両側から上下歯が互いに接触する。

行電極８８を互いに接続する。行電極及び列電極は、シート５２の各端部まで延 伸し、接続器が破線８７で示す領域に設けられて電極を電気的に接続する。電極 ９０は、行電極５４と接続器が設けられた領域８７とを接続する。

電極が形成された後、第４図に示す槙造体には抵抗塗料が塗布されると共に、前 述の如く任意に分離層が付設される。次いて、バッキングシート５２は、線８９ に治って折曲されて行電極と列電極が対面状態となり、更に、折曲された検出器 の縁部９１が接着剤又は接着テープによって接着される。咬合検出器を構成する には、第４図に示す検出器を口部の使用に適するような、例えば第５図に示す形 状に組み立てる。第５図には、患者が検出器を咬合する電極領域８８が網状線で 示されている。検出器から発生された信号は、多心ケーブル９４を介して電子計 測器に入力される。多心ケーブル９４は、接続器９２を介して検出器に取着され ている。前記領域８８に位置する電極からの信号は、第４図を参照して説明した ように支持シーｉ・９０内に配設された導線を介して接続器９２に入力される。

接続器９２は、検出器に整合接続部材を設けなくても検出器６０の電極トｌノー ス８７に直接接触する。

これにより、口部に使用可能で安価な検出器が簡単に製造され、又、安価なため 使用後に使い捨てが可能である。従って、患者間での殺菌処理を行う必要がなく なり簡便さが増すと共に、検出器の殺菌処理が完全になされなかった場合に生じ る使用間での病原菌の感染の可能性が低減する。

第６図に示す回路は、パーソナルコンピュータによって得らタル制御器又は別の 型のプロセッサを使用することも可能で、これらの代用プロセッサはある利用例 に於いてより好ましい場合がある。好適実施例によれば、コンピュータ１７０は 、ＩＢＭ社製のパーソナルコンピュータであって、インターフェース回路１６０ を介して前記回路に接続されている。インターフェースの構成は、当業者には容 易に理解されよう。ＩＢＭパーソナルコンピュータと有効に動作する斯様なイン ターフェース回路の一例が、ｒｌＢＭパーソナルコンピュータ技術標準マニュア ル」第２巻、「プロトタイプカード９」に例示され且つ説明されている。

第６図に於いて、検出器１０２は、参照符号ｃｌ乃至ｃｎで示す複数の列電８ｉ ｉｏｏと、参照符号Ｒ１乃至Ｒ８で示す複数の行電極９８とを具＠する。行電極 と列電極の各交点には、抵抗器１０４とスイッチ１０６が設けられている。抵抗 器１０４は、約１にΩの抵抗を有する。複数の抵抗器１０４は、接触が検出され ると相対向する電極間に低い抵抗を示す。スイッチ１０６が閉塞されると、電極 間抵抗は、高抵抗状態から低抵抗状態に移行する。

各交点での抵抗は、接触がなされていない時、第６図には示されていないが、数 ＭΩである。

各行電極は、第６図に示すように、ユニティゲインバッファ増幅器である増幅器 １０８の出力によって駆動される。各増幅器１０８の入力側は抵抗器１１０を介 して接地され、更にマルチプレクサ−１１２の出力側に接続される。マルチプレ クサ−１１２の共通端子は、正の電圧＋Ｖに接続されている。

通常、増幅器１０８の入力側は、抵抗器１１０によって接地電位デジタル入力に 応じて、マルチレクサ−１１２が、各行電極駆動用増幅器１０８の入ツノ側を電 圧＋■に連続して接続すると、接続された行電極の電位が高くなる。行計数器１ １４は、以下に詳述するように、インターフェース回路１６０からのクロック信 号によって増分される。

列電極は夫々、マルチプレクサ−１１６（４８ｔｏ１　請ｕｌｔｉｐｌｅｘｅｒ ）に接続されている。列計数器１１８は、各行電極の全ての点が測定された後、 列計数器１１４からの搬送信号によって増分される。

そして、列計数器１１８からの入力に応じて、マルチプレクサ−１１６が、各列 電極を増幅回路１２０の入力側に連続して接続する。

増幅器１２０は、演算増幅器１２３と、フィードバック抵抗器１２１を有する。

演算増幅器１２０の非反転入力側は接地され、又、フィードバック抵抗器１２１ は、演算増幅器の出力側から反転入力側に接続されている。従って、演算増幅器 の反転入力側は実質的に接地されている。又、演算増幅器の出力側の電圧は、反 転入力側に流れる電流の関数である。増幅器１２０は、反転増幅器として接続さ れている。

増幅器１２０からの出力信号は、比較器１２４と電位差計１２６を有する限界検 電器１２２に入力される。比較器１２２は、以下に述べるように、増幅器１２０ からの出力電圧が電位差計１２６によって選択された限界レベル以上か又は以下 によって、デジタル信号を抵抗器１３０に送る。

測定回路の動作は以下の通りである。先ず、回路が列Ｃ２と行Ｒ２を選択したと すると、抵抗１４０とスイッチ１４２によって示される電極間の抵抗が測定され る。そして、行計数器１１４とマルチプレクサ−１１２が、対応増幅器１０８を 介して行電極Ｒ２に高電圧を印加する。他の全ての行電極は、夫々の増幅器１０ ８によって接地されている。マルチプレクサ−１１６は、列電極Ｃ２を増幅器１ ２０を介して比較器１２２に接続する。増幅器１２０の入力側が実質的に接地さ れ且つ、選択された電極Ｒ２を除く全ての行電極が接地電位に維持又は接地電位 に近い電位にあるので、選択されていない行電極から増幅器１２０の入力側には 電流が流れない。

電流は、マルチプレクサ−１１２によって正の電圧に維持されている選択された 行電極から増幅器１２０の入力側にのみ流れる。

この電流の大きさは、マルチプレクサ−１１２及び１１６によって現在アドレス 指定されている交点での行電極と列電極間の抵抗によって決まる。この抵抗、及 び増幅器への電流は、現在選択されている交点で接触がなされているか否かによ って決定される。接触していない場合には、抵抗値が高く、電流は殆んど増幅器 に流れず、該増幅器の出力電圧は零かまたは零の近似値である。他方、接触して いる場合には、電極間抵抗が低抵抗状態に移行して、電流が増幅器の入力側に流 れ、該増幅器の出力は低位となる。然って、マルチプレクサ−１１２、行計数器 １１４及び増幅器１０８が作動すると、各列Ｎ極が列電極用マルチプレクサ−１ １６によって選択された際、選択された電極間以外の抵抗は測定されない。

コンピュータ１７０によって実施される全電極群の読取り手順を、第７図に示す フローダイアグラム及び第６図の回路図を参示されている。このリストは、１８ Ｍパーソナルコンピュータを前記検出器及び測定回路と共用した際に使用される Ｃ及び８０８６アセンブリ言語で書かれている。勿論、この手順は一例であって 、他のアルゴリズムを用いて本発明による測定を行うこともできる。

測定を実施するに際し、先ず、コンピュータが測定されたデータの位置を確認す る計数器を初期化する（ブロック７０２）。リアルタイムのディスプレイに於て 、コンピュータは検出器の行と列に対応するディスプレイの行と列を示す計数器 を零に設定、即ち、初期化する。データを記憶する場合、コンピュータは、デー タが記憶される記憶領域を示すレジスタを初期化する。

次いで、コンピュータは、行計数器及び列計数器をリセットすると共に測定処理 を開始する信号を第６図の測定回路に送出する（ブロック７０４）。これにより 、行計数器１１４と列計数器１１８が夫々の初期値、本実施例では零にリセット される。この後、測定が実施される。

プロセッサは回路が検出器の電極配列の最初の８点に於る抵抗を測定する信号を 測定回路に送出する（ブロック７０６）。そして、データが８ピット形式でコン ピュータに転送される。測定回路が８つの点を測定する間、コンピュータは測定 が終了した旨示すインターフェース回路からの信号を持つ状態にある（ブロック ７０８）。この期間中、第６図の測定回路は、以下の如（勤倹電器１２２を加え 、マルチプレクサ−１１２は高レベルの信号を第一行電極Ｒ１に加える。マルチ プレクサ−１１６からの高電圧、若しくは、低電圧は、所定の配列点での抵抗を 示す。又、限界検電器１２２は、この抵抗をレジスタ１３０にクロックされるデ ジタル値に変換する。

レジスタ１３０は、８ピツトのアドレス可能なレジスタである。

行計数器からの３つのＬＳＢがレジスタ１３０のアドレス入力に加えられる。レ ジスタ１３０及び行計数器１１４は、線路１３６上のインターフェース回路から の信号によってクロックされる。測定開始後の最初のりＯツクパルスは、限界検 電器１２２からの出力をレジスタ１３０の第一ビットにクロックすると共に、行 計数器１１４を増分する。

第一列の最初の８点につき、上記の手順が夫々繰返されると共に、各点が測定さ れて適切な行アドレスがマルチプレクサ−１１２に、又、適切なレジスタアドレ スが８ビツトレジスタ１３０に供出された後、行計数器１１４の値が増分される 。又、計数器の第四ピットに対応する話中信号が線路１３８上のインターフェー ス回路１６０に加えられると共に、８つの配列点が測定される時、並びにレジス タの読取り準備が整った時を示す。

この話中信号が高レベルになると、コンピュータはブロック７１０に戻り、最初 の８ビツトのデータがコンピュータに読み込まれる。コンピュータは、後の処理 及びディスプレイのためのデータを記憶するかくブロック７１２）、又は、すぐ に画像化する問は、行計数器にクロック信号は送られない。次いで、コンピュー タは、行レジスタを増分する（ブロック７１６）と共に、斯かる行の全ての列が 読み取れらたか否かを確認する（ブロック７１８）。読み取られていない場合に は、コンピュータはブロック７０Ｇに戻り、上記の手順が再び繰返される。但し 、行計数器の８３８によって、マルチプレクサ−１１２が、８ビツトの次の処理 中に電極配列の次の８行を選択する場合を省く。

行からの全てのデータが読み取られると、行レジスタを零にリセットし且つ列レ ジスタを増分することによって次の列からのデータを読み取る準備をする（ブロ ック７２０）。次いで、コンピュータは、全ての列が読み取られたか否かを確認 する（ブロック１２２）。読み取られていない場合には、コンピュータは、ブロ ック７０６に戻り、次の列は最初の８ピツトが読み取られる。この手順は、検出 器の配列の全ての点からのデータがコンピュータに読み込まれる迄繰り返えされ る。

全ての列が読み取られ、且つ、コンピュータが患者の咬合測定を一回だけ実施す ると、新たな読み取りの要求によって、上記の処理がブロック７０２から再び始 まる迄コンピュータは停止する（ブロック７２４）。ここで、コンピュータは、 例えば患者が顎を閉じた時の咬合状態の変化を示すために咬合測定を数回実施す ることもできる。この場合、コンピュータは、今実施されている測定を確認する フレームカウンタを増分する（ブロック７２６）。そして、コンピュータは、こ のフレームカウンタと最大フレーム数を比較することにより実施すべき全ての測 定が完了合は、コンピュータは停止する（ブロック７３０）。完了していない場 合は、コンピュータはブロック７０２に戻り、測定処理が新たに開始する。

第６図に示す回路でもって、検出器及び測定回路は、配列点の抵抗を１０秒毎に 決定することができるａ４．８Ｘ４Ｂの電極配列で２３０４個の配列点を有する 検出器にあって、サンプリングの最大速度は、約４３町である。１ＢＨパーソナ ルコンピユータと上記の手順及び回路を用いた場合、実際のサンプリング速度は 約３３Ｈ２即ち、−回の測定が０．０３秒で完了する。この速度は十分に早いも ので、患者の咬合状態を測定して問題の歯を診断するに際し秀れた分解能を１供 する。

接点の検出、特に歯の咬合状態を測定する新規で有用な方法、検出器及び回路に つき説明したが、本明細書に記載の検出器は、特に歯の咬合測定に適するものの 、測定される接触領域の障害を除去するために極薄であることが要件とされる検 出器を初めとする。接点の測定が所望される場合に使用できることは理解されよ う。又、本実施例は、当業名であれば本発明の教示を他の例に応用することでも って変更できる。然って、本発明は、開示の特定の回路、或は手順に限定されず 、以下の請求の範囲に従って解釈されるべきである。

表　１ モジュール：　ＦＡＳＴＯＮＯ 機能： ＨＡＩＮ−ＤＩＳＰＨＯＮＯ及びディスプレイニーテリティライブラリＣ：＼検 出器＼ＤＩＳＰＬＩＴ１１．．　ＬＩＢ、ど結合された時５ｅｎｔｅｋ検出器を 白黒スクリーンにディスプレイする。

ＧＥＴ−ＦＲＡＭＥ　−５ｅｎｔｅｋ歯科用検出器からのフレームを得るＣ型。

Ｉ　１１１ｃｌＬｌｄｅ”５ｔｄｉＱ、　ｈ”１ｉｎＣ１ｕ（Ｉｅ”ｄｏｓ浦” Ｉｄｅｆｉｎｅ　ＤＡＴＡＰＯＲ０ｘ３１０Ｉｄｅｆｉｎｅ　ＣＮＴＬＰＯＲＴ 　０Ｘ３１１＃ｄｅｒｉｎｅ　ＩＮＩＴ　ｏｘ４゜ Ｉｄｅｆｉｎｅ　ＧＯ０ｘ８０ １ｄｅｆｉｎｅ　ＯＮ　１ １ｄｅ４ｉｎｅ　ＯＦＦ　１５ ｉｎｔ　ｏｎｃｏｌｏｒ、　ｏｆｆｃｏｌｏｒ、　ｔｏｐｘ、　ｔｏｐｙ；ａｉ ｎＯ ｅｙ、ｔｅｒｎ　ｉｎｔ　ｄｉｓｐｆａｓｔ□、ｃｕｒｐｏｓ（１，ｃｌｓＯ， ５ｅｔａ＋ｏｄｅ□、ｓｅｔｃｔｌｃｍ；ｔｎｔ　ｃｏｕｎｔ、ｒｏｗ、ｃｏｔ 、ｔｂ、　ｉ　にｉｎｔ　ｐｏｓ、　ｖｉｄｅｏａｄｄ［１１５２］、　傘ｐｖ ；ｃｈａｒ　ｎｅｗ　ｆｒａｍｅ［２８８］、　＊ｐｃ；ｓｅｔｍｏｄｅ（０） ；　／市Ｏｆｏｒ　ｍｏｎｏ　＊／ｃｌｓＯ： Ｃ０Ｌｌｎｔ　＝　０： ｏＮｃｏｌｏｒ　＝　ＯＦＦ； ｐｒｉｎｔ４（”ＯＮ　ｃｏｌｏｒ？＼ｎ”）；５ｃａｎ［（”Ｘｄ″、　１ｉ ｏｉｃｏｆｏｒ）；ｐｒｉｎｔ４（”ｏＦＦ　Ｃ０ＬＯＲ？＼ｈ”）。

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ＤＩＳＰＦＡＳＴ（ｐｃ、　ｐｖ）はｒＣＪから呼び出される。ここで、ｐｃは 、５ｅｎｔｅｋ検出器から供給されたキャラクタ配列に対する指針、又、ｐｖは 、ビデオオフセットの配列に対する指針。

Ｃと互換性をもたせるために、全てのルーチンはＮＥＡＲであり、引き数のひき 渡し及び制御の流れに関する「Ｃ」に従う。

詳細は、マイクロソフトＣ翻訳ルーチンを参照のこと。

ｄｇｒｏｕｐ　ｇｒｏｕｐ　ｄａｔａ ｄａｔａ　ｓｅｇＩＩｌｅｎｔ　ｗｏｒｄ　ｐｕｂｌｉｃ　’ｄａｔａ’ａｓｓ ｕｍｅ　ｄｓ：ｄｇｒｏｕｐ ｚｅｒｏ　ｄｗ　０ｈ ｏｎｅ　ｄｗ　１ｈ ｃｈａｒｔａｂ　ｄｂ　３２ ｄｂ　２２３ ｄｂ　２２０ ｄｂ　２１９ ｄａｔａ　ｅｎｄｓ ｐｕｒｏｕｏ　ｇｒｏｕｐ　ｐｒｏｇ ｐｒｏｇ　ｓｅｇＩＩｌｅｎｔ　ｂｙｔｅ　ｐｕｂｌｉｄ’ｐｒｏｇ’ｖｉｄｅ ｏ　ｂａｓｅ　ｅｑｕ　ｏｂｏｏｏｈｄ＋５ｐｒａｓｔ　ｐｒｏｃ　ｎｅａｒｐ ｕｓｈ　ｂｐ　；　５ｅｖｅ　ｂｐ ｐｕｓｈ　ｂｘ ｍｏｖ　ｂｐ、ｓｐ ＋１１０Ｖ　ａｘ、６［ｂｐｌ　；　ｇｅｔ　ｐｏｉｎｔｅｒ　ｔｏ　ｄａｔａ ｍｏｖ　ｂｘ、８［ｂｐｌ　；　ｐｏｉｎｔｅｒ　ｔｏ　ｖｉｄｅｏ　ａｄｄｒ ｅｓｓｐｕｓｈ　ｃｘ ｐｕｓｈ　ｄｉ ｐｕｓｈ　ｓｉ ｍｏｖ　ｄｉ、　ａｘ　；　ｍｏｖ　ｐｏｉｎｔｅｒ　ｔｏ　ｄａｔａ　ｔｏ　 ｂｐｍｏｖ　ｃｘ、ｖｉｄｅｏ　ｂａｓｅ ｍＯＶ　ｅｓ、ＣＸ ｍｏｖ　ｄＸ、２８８ ｎｅｘｔｂｙｔ： ｍＯＶ　ａｔ、ｄｇｒｏ　：［ｄｉ］　；　ａＸ　ｈａｓ　ｄａｔａ　ｂｙｔｅ ×ｏｒ　ａｈ、ａｈ ｍｏｖ　Ｃｈ、４ ｎｅｘｔｐｒ： ｍｏｖ　ｂｐ、ｄｇｒｏｕｐ：［ｂｘｌ　；　ｂｐ　ｈａｓ　ｖｉｄｅｏ　ａｄ ｄｒｅｓｓｍｏｖ　ｓｉ、ａｘ ａｎｄ　ｓｉ、０３ ｍｏｖ　ｃｌ、ｃｈａｒｔａｂ［５ｉｌｉ１０Ｖ　ｅｓ：［ｂｐ］、ｃｌ ｊｎｚ　ｎｅｘｔｐｒ ’Ｊ、ｔｉ［１Ｕ６２−５０２６６５　（９）ｊｎｌ　ｎｅｘｔｂｙｔ ｐｏｐ　ｅｓ ｐｏｐ　ｄｘ ＤＯＤ　ＣＸ ｐｏｐ　ｂｘ ｐｏｐ　ｂｘ ｐｏｐ　ｂｐ 「ｅｔ ｄｉｓｐｒａｓｔ　ｅｎｄｐ ｐｒｏｇ　ｅｎｄｓ ｎｄ ＦＩＧ、　１ 浄書（内容に変更なし） 手続補正書（方式） ３、補正をする者 事件との関係　出　願　人 住所 ４、代理人 ５、補正命令の日付　昭和１ｒ年　２月−２日（発送日）国際調査餠央

Claims (23)

【特許請求の範囲】
1. １．可撓性のパッキングシートに支持されて一組の行電極を構成する略々平行に 配設された複数の第一電極と、可撓性のパッキングシートに支持されて一組の列 電極を構成する略々平行に配設された複数の第二電極と、前記行電極と前記列電 極間に設けられた抵抗層と、前記行電極と前記列電極が、抵抗層を介設して相対 向すると共に、前記両電極が直交して複数の交点を生ぜしめるように該行電極と 該列電極を位置決めする手段と、前記位置決め手段は、相対向する前記行電極と 前記列電極が使用者の上下歯間に位置するように検出器が該使用者の口内に挿入 され得るように構成されていることと、前記電極の夫々に信号を送出する端子手 段とを具備する検出器と、 前記行電極と前記列電極間の抵抗を各交点で検出すると共に、検出した前記抵抗 に応じて前記使用者が咬合した時の上下歯の接点を示す出力を供出する手段とか ら成ることを特徴とする咬合測定器。
2. ２．前記抵抗層は、前記行電極及び前記列電極に夫々塗布された抵抗塗膜を有す ることを特徴とする請求の範囲第１項に記載の咬合測定器。
3. ３．前記検出器は、前記行電極及び前記列電極に塗布された前記抵抗塗膜間に分 離層を有することを特徴とする請求の範囲第２項に記載の咬合測定器。
4. ４．前記抵抗層は、二酸化チタンとグラファイトを構成成分とする抵抗塗料を有 することとを特徴とする請求の範囲第３項に記載の咬合測定器。
5. ５．前記抵抗塗膜の肉厚は、共に２ミル以下であることを特徴とする請求の範囲 第４項に記載の咬合測定器。
6. ６．前記抵抗塗膜の抵抗率は、１ミルの肉厚につき４０乃至１００ｋΩ／平方で あることを特徴とする請求の範囲第５項に記載の咬合測定器。
7. ７．前記抵抗検出手段は、前記第１電極と前記第二電極間の抵抗が各交点で所定 の限界レベル以上か又は以下であるかを検出する手段を具備す．ことを特徴とす る請求の範囲第２項に記載の咬合測定器。
8. ８．前記抵抗検出手段は、前記行電極から各電極を連続して選択すると共に、該 選択された電極以外の全ての行電極に第一電圧を印加する手段と、 前記選択された電極に、第二電圧を印加する手段と、各電極を選択する間、前記 列電極の夫々と前記選択された行電極間の抵抗を測定する手段とを具備すること を特徴とする請求の範囲第２項に記載の咬合測定器。
9. ９．前記測定手段は、所定の列電極に印加された電圧と限界電圧を比較すると共 に、所定の前記列電極に印加された電圧が前記限界電圧以上か又は以下であるか を示す出力信号を発生する手段を具備することを特徴とする請求の範囲第８項に 記載の咬合測定器。
10. １０．可撓性のパッキングシートに支持されて一組の行電極を構成する略々平行 に配設された複数の第一電極を有する検出器を形成する段階と、 可撓性のパッキングシートに支持されて一組の列電極を構成する略々平行に配設 された第二電極を前記行電極に直交するように設ける段階と、 抵抗層を介して前記行電極と前記列電極が相対向すると共に前記行電極と前記列 電極が直交して複数の交点が生ぜしめられるように前記行電極と前記列電極を配 設する段階と、使用者の上下歯間に前記検出器を位置決めする段階と、前記検出 器が前記使用者によって咬合される段階と、前記行電極と前記列電極間の抵抗を 各交点で検出すると共に、検出された抵抗に応じて前記使用者の上下歯の接点を 示す出力を供出する手段と から成ることを特徴とする咬合測定方法。
11. １１．前記配設段階は、前記行電極及び前記列電極に夫々抵抗塗料を塗布する段 階を具備することを特徴とする請求の範囲第１０項に記載の咬合測定方法。
12. １２．前記検出段階は、各交点での前記第一電極と前記第二電極間の抵抗が所定 の限界レベル以上か又は以下であるかを検出する段階を具備することを特徴とす る請求の範囲第１１項に記載の咬合測定方法。
13. １３．前記検出段階は、 前記行電極から各電極を連続して選択すると共に、該選択された電極以外の全て の行電極に第一電圧を印加し、前記選択された電極に第二電圧を印加し、各電極 を選択する間に前記列電極の夫々と前記選択された行電極間の抵抗を測定する段 階と を具備することを特徴とする請求の範囲第１１項に記載の咬合測定方法。
14. １４．前記測定段階は、所定の列電極に印加された電圧と限界電圧を比較すると 共に、所定の前記列電極に印加された電圧が前記限界電圧以上か又は以下である かを示す出力信号を発生する段階を具備することを特徴とする請求の範囲第１３ 項に記載の咬合測定方法。
15. １５．可撓性のパッキングシートに支持されて一組の行電極を構成する略々平行 に配設された複数の第一電極と、可撓性のパッキングシートに支持されて一組の 列電極を構成する略々平行に配設された複数の第二電極と、前記行電極と前記列 電極間に設けられた抵抗層と、前記行電極と前記列電極が前記抵抗層を介して相 対向し、前記行電極と前記列電極が直交して複数の交点が生ぜしめられ、相対向 する二つの対象物間に挿入された時、前記パッキングシートを介して該対象物が 接触して前記行電極と前記列電極が前記交点に於いて前記抵抗塗膜を介して互い に近接する方向に押圧されるように前記行電極と前記列電極を位置決めする手段 と、 前記電極の夫々に信号を送出する端子手段と、前記行電極と前記列電極間の抵抗 を各交点で検出すると共に、検出した前記抵抗に応じて前記対象物の接点を示す 出力を供出する手段と から成ることを特徴とする二つの相対向する対象物の接点を検出する接点検出器 。
16. １６．前記抵抗層は、前記行電極及び前記列電極に夫々塗布さ、れた抵抗塗膜を 有することとを特徴とする請求の範囲第１５項記載の接点検出器。
17. １７．前記検出器は、前記行電極及び前記列電極に塗布された前記抵抗塗膜間に 分離層を有することを特徴とする請求の範囲第１６項に記載の接点検出器。
18. １８．前記抵抗層は、二酸化チタンとグラファイトを構成成分とする抵抗塗料を 有することを特徴とする請求の範囲第１６項に記載の接点検出器。
19. １９．前記抵抗塗膜の肉厚は、共に２ミル以下であることを特徴とする請求の範 囲第１８項に記載の接点検出器。
20. ２０．前記抵抗塗膜の抵抗率は、１ミルの肉厚につき４０乃至１００ｋΩ／平方 であることを特徴とする請求の範囲第１８項に記載の接点検出器。
21. ２１．前記抵抗検出手段は、前記第一電極と前記第二電極間の抵抗が各交点で所 定の限界レベル以上か又は以下であるかを検出する手段を具備することを特徴と する請求の範囲第１６項に記載の接点検出器。
22. ２２．前記抵抗検出手段は、 前記行電極から各電極を連続して選択すると共に該選択された電極以外の全ての 行電極に第一電圧を印加する手段と、前記選択された電極に第二電圧を印加する 手段と、各電極を選択する間、前記列電極の夫々と前記選択された行電極間の抵 抗を測定する手段と を具備することを特徴とする請求の範囲第１６項に記載の接点検出器。
23. ２３．前記測定手段は、所定の列電極に印加された電圧と限界電圧を比較して、 所定の前記列電極に印加された電圧が前記限界電圧以上か又は以下であるかを示 す出力信号を発生する手段を具備することを特徴とする請求の範囲第２２項に記 載の接点検出器。