JPS62501534A - デ−タ通信システム監視用ボ−タブル・テスト装置 - Google Patents

デ−タ通信システム監視用ボ−タブル・テスト装置

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JPS62501534A
JPS62501534A JP61500669A JP50066986A JPS62501534A JP S62501534 A JPS62501534 A JP S62501534A JP 61500669 A JP61500669 A JP 61500669A JP 50066986 A JP50066986 A JP 50066986A JP S62501534 A JPS62501534 A JP S62501534A
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JP61500669A
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スミス,ロバート ケニス
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エヌ・シ−・ア−ル・コ−ポレ−ション
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    • Y04INFORMATION OR COMMUNICATION TECHNOLOGIES HAVING AN IMPACT ON OTHER TECHNOLOGY AREAS
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるため要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 データ通信システム監視用ポータプル・テスト装置この発明はデータ通信システ ムに使用するテスト装置に関する。
背景技術 公知のデータ通信システムはノロセッサと、複数の二次端末機と、前記プロセッ サと前記二次端末機との間を接続する通信ラインとを有するデータ通信システム に使用するテスト装置を含み、前記通信ラインは前記ゾロセッサから送信される データ信号を搬送する送信ライン対と、前記7′″ロセソサが受信するデータ信 号を搬送する受信ライン対と、前記通信ラインに配置された複数の第1タイプ・ カプラとを含み、前記ノロセッサ及び前記二次端末機の各々は第1タイプ・カプ ラを介して前記通信ラインに接続するために夫々に接続された第2タイプ・カプ ラを有する。
そのようなデータ通信システムが最初設置されたとき、及びそのようなシステム の補修及び修理が必要となったときに、通信ラインのデータ送信の監視及びシス テム内の個々の装置の動作のチェック又は監視が要求される。
発明の開示 この発明の目的はポータプル装置として使用するに適し、応用範囲の広いデータ 通信システムに使用しうるテスト装置を提供することである。
故に、この発明によると、プロセッサと、複数の二次端末機と、前記ゾロセッサ と前記二次端末機との間を接続する通信ラインとを有し、前記通信ラインは前記 プロセッサから送信されるデータ信号を搬送する送信ライン対と、前記プロセッ サが受信するデータ信号を搬送する受信ライン対と、前記通信ラインに配置され た複数の第1タイプ・カプラとを含み、前記ゾロセッサ及び前記二次端末機の各 々は第1タイ!・カプラを介して前記通信ラインに接続するために夫々に接続さ れた第2タイプ・カプラを含むようにして構成されたデータ通信システムに使用 するためのテスト装置であって、前記テスト装置は前記ノロセッサと前記二次端 末機とによるデータ送信を監視し、前記ゾロセッサ及び前記二次端末機のターン アラウンド・テストを実行し、前記ゾロセッサ及び前記二次端末機のターンアラ ウンド及び負荷テストを実行するよう選択的に動作可能であり、前記テスト装置 は第1タイプ・カプラと、第2タイ!・カプラと、第1及び第2の可視表示器と 、第1、第2及び第3の選択可能な位置を有するスイッチと、前記テスト装置の 前記第2タイプ・カプラが前記通信ラインの前記第ロセッサが前記送信ライン対 に送信しているときに前記第1の表示器がアクティブとなシうるように、及び前 記二次端末機の少くとも1つが前記受信ライン対を送信しているときに前記第2 の表示器がアクティブとなシうるように前記スイッチを前記第1の位置にしたと きに、前記テスト装置の前記第2タイプ・カメラと前記第1及び第2の表示器と を接続する第1の回路手段と、前記テスト装置の前記第1タイプ・カプラを前記 プロセッサ又は前記二次端末機の1つからの前記第2タイプ・カプラに接続して 前記スイッチが前記第2の位置にあるときに前記プロセッサ又は接続された二次 端末機の前記ターンアラウンド・テストを実行するように構成した第2の回路手 段と、前記テスト装置の前記第1タイプ・カプラを前記ゾロセッサ又は前記二次 端末機の1つからの前記第2タイプ・カプラに接続して前記スイッチが前記第3 の位置にあるときに前記プロセッサ又は接続された前記二次端末機の前記ターン アラウンド及び負荷テストを実行するようにした第3の回路手段とを含むことを 特徴としたテスト装置を提供する。 “ 装置のターンアラウンド・テストはライン対を介して装置からのデータを受信し て、そのデータを他のライン対を介して同一端末機に返送する作用を含むという ことを知るべきである。ターンアラウンド及び負荷テストは回路の負荷と共にタ ーンアラウンド・テストを実行することを含む。
この発明によるテスト装置は1つの動作を実行することができるという↓す多く の多能性を有するという利点を有する。その上、この装置は製造安価であり、コ ン・ぐクト及びポータプル型になしうるという利点を有する。
次に、下記の添付図面を参照してその例によりこの発明の1実施例を説明する。
第1図は、この発明のI−タプル・テスト装置Kl用することができるシステム の一部を表わした全体的模式図でおる。
第2図は、この発明のポータプル・テスト装置の平面図である。
第3図は、第2図の3−3線から見たテスト装置の端部の図である。
第4図は、ポータプル・テスト装置の回路図である。
第5−1図は、スイッチが3つの選択可能な位置の第1の位置にあるときの第4 図のテスト装置の等価回路図である。
第5−2図は、スイッチが3つの選択可能な位置の第2の位置にちるときの第4 図のテスト装置の等価回路図である。
第5−3は、スイッチが3つの選択可能な位置の第3の位置にあるときの第4図 のテスト装置の等価回路図である。
発明を実施するための最良の形態 第1図はこの発明のポータプル・テスト装置12(第2図、第3図)を使用する ことができるシステム10全体の模式的斜視図である。システム10は、例えば 、ホスト端末機又はブランチ・プロセッサ14と複数の二次端末機16,18, 20,22とを含み、その間を通信ライン24で接続する。この実施例によるシ ステム10は、例えばNCR5000システムでよく、又それはブランチ自動シ ステム又はRASと呼ばれ、オハイオ州ディト/市のNCRコーポ1/−・ジョ ンから購入することができる。しかし、この発明はNCRプロセッサ及び端末機 を使用するシステムにのみ限定されるものではなく、他のメーカの装置について 使用することも十分可能であるということを知るべきであろン。図ムの一部のみ を示しである。システム10に使用される他の型の端末機も第1図に示しである 。
通信ライン24(第1図)はNCR/DLCと呼ばれ、それはNCRコ・−ポレ ーションか使用する”社内”通信システムであシ、DLCはデータ・リンク通信 (DataLink Communication )の略である。この発明に 関しては、通信ライン24は1対の送信ライン、1対の受信ライン、及びシール ド又は接地導体を含むということを述べるだけで十分である。通信ライン24は ある設置で長さ約2750メートル(約9000フイート)までにすることがで き、その間に26のような複数のジャンクション・ボックスを設置すること力S でき、その長さに沿ってブランチ・fロセッサ14及び16,18のような各種 二次端末機を図のように接続することができる。ジャンクシ、ン・ボックス26 は第1図に模式的に示して6D、各程良さの通信ライン24を平行に接続するよ うに設置した端子帯28を持つ。又、ボックス26(第1図では相当な拡大寸法 で示してちる)は端子帯28に並列に接続された“メス″又は第1のカプラ30 を含む。22のような各端末機はそれを第1のカプラ30の1つに差込むことに よって通信ライン24にその端末機を接続する”メス“又は第2のカプラ32を 有する。ノヤンクシ、ン・yi? ソクス26は第1図に示すノード34,36 .38及び40の各1つに配置される。システム10のブランチ・プロセッサ1 4は44として集合的に表わしたSNA/5DLC。
NCR/ISO、ASYNC3270又は双方向同期(SISYNC圃N0US )のような従来の通信リンクのいずれかを介してホスト中央処理ユニット(CP U ) 42に接続することができる。各端末機16.18,20.22は端末 機22(プロセッサでもよい)に接続しであるフリツク46のようなシステム1 0の各端末機に接続されたユ1ツトを持つことができる。しかし、その点につい てはこの発明の理解に重要でないので、第1図にはそれ以上示す必要がないと思 われる。
第2図及び第3図はこの発明によって作成し・た好ましい実施例のほぼ実際寸法 のテスト装置を示す。装置12は1メス′又は第1のカプラJlを取付けたフレ ーム又は基板46を含む。カプラJ1はゾヤンクショ、 ン・ボックス26に表 わす第1のカプラ30にほぼ等しい。
又、装置12は第2図に示すように基板46に取付けられた“オス″又は第2の カプラP1を含む。その上、装置12は緑発光ダイオード(LED ) D 3 のような第1の可視表示器及びD4.と指定したLEDのような第2の可視表示 器とスイッチSW1とを含む。第2図及び第3図の各種成分の電気接続は第4図 、第5−1図、第5−2図及び第5−3図において説明する。スイッチSWIは 3つの装置、すなわち、第1、第2及び第3の位置の1つに手動で設定可能なス イッチである。
グル・レバー48−1が48−2で示す点線の位置にあるときは第2の位置にあ シ、トグル・レバー48−1が点線48−3で示す位置にあるときは第3の位置 にあるものとする。
スイッチSw1は装置12が3つの動作モート°のいずれか1つで動作するよう に用いられる。スイッチsw1が第1の位置にあるときには、装置12は第1の 動作子−ドで動作し、ブランチ・プロセッサ14及び1群の二次端末機16.1 8.20.22によるデータの送信を監視又はモニタするように使用される。ス イッチSWlが第2の位置にちるときには、装置12は第2ノ動作モードで動作 し、ブランチ・プロセッサ14及び、例えば、16のような二次端末機のターン アラウンド・テストを行うように使用される。スイッチSw1が第3の位置にち るときには、装置12は第3の動作モードにあり、ブランチ・プロセッサ14及 び、例えば、16のような二次端末機のターンアラウンド及び負荷テストを行う ように使用される。
装置12の各動作モードを説明する前に、まず、装置12の構造を説明する。そ の点で、第4図はスイッチSWIが第1の位置にあるときの装置12の全回路図 を表わす。第5−1図・はスイッチSW1が第1の位置にあるときの装置12の 等価回路を表わす。第5−2図はスイッチSW1が第2の位置にあるときの装置 120等価回路を表わす。第5−3図はスイッチSWIが第3の位置にあるとき の装置12の等価回路を表わす。
第4図及び第5−1図において、そこに示すカプラJ1は第1図の第1のカプラ 30に対応し、第4図及び$5−1図のカプラP1は第1図の第2のカプラ32 に対応する。各カプラJl及びPlは第5図に示すカプラJl及びPlの同じよ うに番号を付した端子接続に対応する第4図の端子接続す2.す3.す4及び+ 5の各番号を付した端子接続を有する。この実施例において、カプラJ1及びP lの端子接続≠2及び+3に接続された導体は通信ライン24の送信ライン対を 表わし、端子接続+4及び+5は受信ライン対を表わす。二次端末機は端子接続 +4及び+5に接続された導体を介してブランチ・プロセッサ14に送信するが 、それらの接続は今後ブランチ・プロセッサ14に対しては“受信#ライン対と 呼ばれる。通信ライン24の長さに沿って延びる基準又は接地導体はカプラJ1 及びPlの端子接続+9(第4図)に接続される。
テスト装置12が第1のモード又はモニタ・モードで動作するときには、装置の 第2のカプラP1は第1図のシステム10のジャンクション・ボックス26のい ずれか1つに設けられる第1のカプラ30の1つに挿入される。この実施例でブ ランチ・プロセッサ14が送信する場合、第2のカプラP1の端子接続≠2に接 続されている送信ライン対の導体の信号レベルは第2のカプラP1の端子接続す 3に接続されている送信ライン対の残シの導体に対して“ハイ“レベルになる。
カプラPi(第4図)の端子接続≠2の“ノ・イ″信号レベルは導体50及び5 0−1を介してダイオードD1を順方向バイアスにし、抵抗R1及びLED D  3を介し)fロセンサ14が送信しているということを示す。
LED D 3のカソードは第1のカプラJ1の端子接続す3に接続される。導 体52は第2のカプラPIの端子接続≠3から第1のカプラJ1の端子接続すj に接続される。導体50及び50−1は力!うJlとPlの端子接続4=2の間 を“直接接続″又は“通過”し、同様に導体52はカプラJ1とPlの端子接続 +3間を1通過”する。このモードで緑LED D 3が発光しなかった場合、 それはブランチ・プロセッサ14が送信していないということを意味する。
二次端末機16.18,20.22のいずれか1つが送信し始めると、端子接続 す4に“ハイ″レベルの信号が現われる。カプラJl、PIの端子接続す4゜+ 5は前述の通信ライン24の゛受信”ライン対に対する接続を形成する。カプラ P1の端子接続≠4の“ハイ”レベル信号は導体54を介してダイオードD2を 順方向バイアスにし、抵抗R2を通して電流を流し、LED D 4を導通して 赤色発光させる・それは22のような二次端末機の少くとも1つが送信している ということを表示する。LED D 4のカソードは導体56に接続されて、カ プラJ1及びPlの端子接続+5間に接続される。以上で説明した第1の回路は 第5−1図に機能的に示され、監視作用を与える。装置12には“直接接続″又 は“通過″作用があるということに注意すべきでちる。それは第1のカゾラ30 (第1図)が装置J2のカプラP1を受けることができない場合に、装置は端末 機の1つに“直列”に接続することができるという理由から重要である。例えば 、端末機22に接続されている第2のカプラ32(第1図)は第1のカプラ30 から取シ除くことができる。
その後、装置12の第2のカプラPIは第1のカプラ30に挿入することができ 、端末機22の第2のカプラ32は装置工2の第1のカプラJlに挿入すること ができる。第5−1図から明確なように、通信ライン24の信号は装置12を“ 通過”するが、それらの信号は装置12でモニタされる。
第5−2図は第2の動作モードを選択したときにスイッチSWIで切換えられる 第2の回路を機能的に示す。
この第2の動作モードは”ターンアラウンド”機能を実行する。例えば、ブラン チ・プロセッサ14のようなある端末機はそれに使用する診断ルーチンを有する 。
簡単に述べると、その“ターンアラウンド”モードは送信ライン対を介して端末 機からデータを受信して、それを通信ライン24の受信ライン対を介して同じ端 末機に返送する作用を実行する。スイッチSW1が第2の動作モードのために第 2の位置にあるときには、導体(図に示していない)はスイッチSWIの端子≠ 1と+2を接続し、同様に端子≠4と+5を接続し、+7とす8を接続する。ス イッチSWIは3極ダブル・スロー・スイッチでよい。カプラJ1の端子接続Φ 2を同じカメラの端子接続4=4に接続する導体58(第5−2図)は導体50 −1 、端子≠4と4−5(第4図)との間の導体(図に示していない)、、導 体6o及び導体54から成る。同様に、導体62(第5−2図)は導体64(第 4図)、スイッチSilの端子≠2とすlとの間の導体(図に示していない)、 導体66及び導体56から成る。装置12が第2のターンアラウンド動作モード にあるときには、緑LED D 3と赤LED D 40両方共”オン”であり 、通信ライン24の送信ライン対と受信ライン対の両方に送信があることを表わ す。
第5−3図は第3の動作モードを選択したときのスイッチSWIによって切換え られたときの第3の回路を機能的に表わす。この第3のモードは“回路負荷″を 有するターンアラウンド作用を実行する。通信ライン24はシステム10で長さ が約2750メートル(約9000フイート)まで利用可能かもしれないので、 ブランチ・プロセッサ14及び二次端末機をチェックしてそこからくる信号がシ ステム10で正しく作用することができるだけ十分な強さがあることを確める必 要がある。この例における通信ラインの2750メートル(9000フイート) はその回路に等価負荷をかけることによってそれに接近させることができる。第 5−3図に示すように、この等価負荷はケ・−プル24の送信ライン対の導体5 0と52との間に抵抗R4を接続することによって行5ことができる。又、送信 中の電圧の遷移はツェナ・ダイオードD6で一方方向に限定され、反対方向の電 圧の遷移はツェナ・ダイオードD5で限定される0この実施例の電圧遷移は約5 メルトまでに保持されるが、異なるシステムによってその値も異なる。導体68 (第5−3図)は抵抗R3を介してターンアラウンド作用を実行する。又、抵抗 R3は抵抗R4と共に回路に負荷を力える。スイッチSWIが第3の位置に設定 されたときに、その導体(図に示していない)はスイッチSWIの端子≠2と+ 3(第4図)を共に接続し、端子≠5と+6を互いに接続し、端子+8と49を 互いに接続する。導体68(第5−3図)はカプラJlの端子接続す2からの導 体50−1、導体50(第4図)、スイッチSWIの端子≠8と舎9との間の導 体(図に示していない)、スイッチSWIの端子4=9と+6との間の導体70 、同じくスイッチの端子≠6と+5との間の導体(図に示していない)、及びカ プラP1の端子接続4=4に導く導体60(第4図)とを表わす。導体72(第 4図)は第1のカプラJ1の端子簑続≠2に有効に接続され、導体74はスイッ チSWIが第3の動作モードのために第3の位置に切換えられたときにカプラJ 1の端子接続≠3に有効に接続される。抵抗R4とツェナ・ダイオードD5及び D6装置12が第3の動作モードで動作するときに、緑LED D3及び赤LE D D4は発光して、夫々送信ライン対及び受信ライン対が両方共作動している ということを表示する。しかし、これら両LED (D 3 、 D 4 )の 発光は第3のモード中では通信ライン24に負荷が導入されるため、第2の動作 モードのターンアラウンド動作中よシ薄暗い。第5−1図、第5−2図及び第5 −3図かられかる↓うに、第1.第2及び第3の動作モードを通して、ダイオー ドD1、抵抗R1及びLEDD3の配線変更はなく、ダイオードD2、抵抗R2 及びLED D 4の配線変更もない。
FIG、3 FIG’、5−3 、、、、.74g”4J ay X4.’945&V 1国 際調丘報告

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. 1.プロセッサ(14)と、複数の二次端末機(16〜22)と、前記プロセッ サと前記二次端末機とを相互に接続する通信ライン(24)とを有し、前記通信 ライン(24)は前記プロセッサ(14)から送信されたデータ信号を搬送する 送信ライン対と、前記プロセッサ(14)が受信するデータ信号を搬送する受信 ライン対と、前記通信ライン(24)に配置された複数の第1タイプ・カプラ( 30)とを有し、前記プロセッサ(14)及び各前記二次端末機(16〜22) は前記第1タイプ・カプラ(30)を介してそれを前記通信ライン(24)に接 続する第2タイプ・カプラ(32)を有するようなデータ通信システムに使用す るテスト装置(12)であって、前記テスト装置(12)は前記プロセッサ(1 4)と前記二次端末機(16〜22)とによるデータ送信を監視し、前記プロセ ッサ(14)と前記二次端末機(16〜22)とのターンアラウンド・テストを 実行し、前記プロセッサ(14)と前記二次端末機(16〜22)とのターンア ラウンド及び負荷テストを実行するように選択的に動作可能であり、前記テスト 装置(12)は第1タイプのカプラ(J1)と、第2タイプのカプラ(P1)と 、第1及び第2の可視表示器(D3,D4)と、第1,第2及び第3の選択可能 な位置を有するスイッチ(SW1)と、前記テスト装置(12)の前記第2タイ プのカプラ(P1)が前記通信ライン(24)の前記第1タイプのカプラ(30 )の1つに接続され、及び前記スイッチ(SW1)が前記第1の位置にあるとき に、前記プロセッサ(14)が前記送信ライン対を介して送信している場合前記 第1の表示器(D3)をアクティブになりうるようにし、前記二次端末機(16 〜22)の少くとも1つが前記受信タイン対を介して送信している場合前記第2 の表示器(D4)をアクティブになううるように前記テスト装置(12)の前記 第2タイプのカプラ(P1)と前記第1及び第2の表示器(D3,D4)とを接 続する第1の回路手段と、前記テスト装置(12)の前記第1タイプのカプラ( J1)と前記プロセッサ(14)又は前記二次端末機(16〜22)の1つから の第2タイプのカプラ(32)とを接続して前記スイッチ(SW1)が前記第2 の位置にあるときに前記プロセッサ(14)又は接続された前記二次端末機(1 6〜22)の前記ターンアラウンド・テストを実行するように構成した第2の回 路手段(58,62)と、前記テスト装置(12)の前記第1タイプのカプラ( J1)と前記プロセッサ(14)又は前記二次端末機(16〜22)の1つから の前記第2タイプのカプラ(32)とを接続して前記スイッチ(SW1)が前記 第3の位置にあるときに前記プロセッサ(14)又は接続された前記二次端末機 (16〜22)の前記ターンアラウンド及び負荷テストを実行するようにした第 3の回路手段(R3,R4,68,D5,D6)とを含むことを特徴とするテス ト装置。
  2. 2.前記第1、第2及び第3の回路手段は前記テスト装置(12)の前記第1タ イプのカプラ(J1)と前記第2タイプのカプラ(P1)との間において前記通 信ライン(24)に対して通過接続を形成する導体(50,52,54,56) を含む請求の範囲1項記載のテスト装置(12)。
  3. 3.前記テスト装置(12)の前記第2タイプのカプラ(P1)は前記通信ライ ン(24)の前記送信ライン対を受入するべく第1及び第2の接続(P1の2, 3)を含み、前記第1の表示器は第1の発光ダイオード(D3)を含み、又前記 第1の回路手段は第1のダイオード(D1)及び第1の抵抗(R1)を含み、前 記第1のダイオード(D1)、前記抵抗(R1)及び前記第1の発光ダイオード (D3)は前記テスト装置(12)の前記第2タイプのカプラ(P1)の前記第 1及び第2の接続(P1の2,3)の間に直列に接続された請求の範囲2項記載 のテスト装置(12)。
  4. 4.前記テスト装置(12)の前記第2タイプのカプラ(P1)は前記通信ライ ン(24)の前記受信ライン対を受入れるべく第3及び第4の接続(P1の4, 5)を含み、前記第2の表示器は第2の発光ダイオード(D4)を含み、前記第 2の回路手段は第2のダイオード(D2)と第2の抵抗(R2)とを含み、前記 第2のダイオード(D2)、前記第2の抵抗(R2)及び前記第2の発光ダイオ ード(D4)は前記テスト装置(12)の前記第2タイプのカプラ(P1)の前 記第3及び第4接続(P1の4,5)間に直列に接続された請求の範囲3項記載 のテスト装置(12)。
  5. 5.前記第3の回路手段は前記テスト装置(12)の前記第1タイプのカプラ( J1)の前記第1及び第2の接続(J1の2,3)間に接続された第1の負荷抵 抗(R4)と、前記テスト装置(12)の前記第1タイプのカプラ(J1)の前 記第2及び第4の接続(J1の3,5)間に接続された第2の負荷抵抗(R3) と、前記テスト装置(12)の前記第1タイプのカプラ(J1)の前記第1及び 第2の接続(J1の2,3)間に反対方向に接続された第1及び第2のツエナ・ ダイオード(D5,D6)とを含む請求の範囲4項記載のテスト装置(12)。
JP61500669A 1985-01-25 1986-01-09 デ−タ通信システム監視用ボ−タブル・テスト装置 Pending JPS62501534A (ja)

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