JPS6247502A - 血流計 - Google Patents
血流計Info
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- JPS6247502A JPS6247502A JP60187625A JP18762585A JPS6247502A JP S6247502 A JPS6247502 A JP S6247502A JP 60187625 A JP60187625 A JP 60187625A JP 18762585 A JP18762585 A JP 18762585A JP S6247502 A JPS6247502 A JP S6247502A
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- semiconductor laser
- laser
- frequency
- light
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- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E60/00—Enabling technologies; Technologies with a potential or indirect contribution to GHG emissions mitigation
- Y02E60/30—Hydrogen technology
- Y02E60/50—Fuel cells
Landscapes
- Measuring Volume Flow (AREA)
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Measuring Pulse, Heart Rate, Blood Pressure Or Blood Flow (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、ドツプラー効果を利用した計測装置に関する
。
。
背景技術
従来からドツプラー効果を利用したレーザ干渉計は、光
を使っｊこ非接触計測システムとして提案されてきた。
を使っｊこ非接触計測システムとして提案されてきた。
このようなレーザ干渉計の代表的な例としては、第７図
に示される測長器１がある。
に示される測長器１がある。
この測長器１のレーザ光を発生する手段としてのＨｅ−
Ｎｅレーザ２には、磁石３が備えられる。この磁石３に
よる磁場によってＨｅ−Ｎｅレーザ２は励起準位にゼー
マン効果を起こして分裂し、本来１つの周波数を有する
レーザ光しが発振することができないにも拘わらず、２
つの周波数のω１゜ω２を有するレーザ光が発振される
。このレーザ光はビームエキスパンダ４によって拡径さ
れてビームスプリンタ５に入射され、−力が９０度反射
されて光検出器６に与えられるとともに、ビームスプリ
ッタ５をｉｔ！］過してもう１つのビームスビリンタフ
に与えられる。光検出ｉ！；６では、レーザ光の周波数
ω１と周波数ω２との差を求め、この求められた演算結
果は周波数カウンタ１１に一！ｊえらｒする。
Ｎｅレーザ２には、磁石３が備えられる。この磁石３に
よる磁場によってＨｅ−Ｎｅレーザ２は励起準位にゼー
マン効果を起こして分裂し、本来１つの周波数を有する
レーザ光しが発振することができないにも拘わらず、２
つの周波数のω１゜ω２を有するレーザ光が発振される
。このレーザ光はビームエキスパンダ４によって拡径さ
れてビームスプリンタ５に入射され、−力が９０度反射
されて光検出器６に与えられるとともに、ビームスプリ
ッタ５をｉｔ！］過してもう１つのビームスビリンタフ
に与えられる。光検出ｉ！；６では、レーザ光の周波数
ω１と周波数ω２との差を求め、この求められた演算結
果は周波数カウンタ１１に一！ｊえらｒする。
一力、ビームスビリツタ７では、周波数ω１と周波数ω
２とを有する尤に分；刑され、周波数ω２を有する尤は
光学フィルタ８ ｕ を介して反射＋４：ｉ ！ｊ（二
、！ｊえられてｌ ｆｉ （１度光経路が変換されで＋
ｌｉびビームスビリツタ７を通過し、光検出器１〈）に
′ｊ乙られる。、：れとともに周波数ωＩを有する尼は
ビームスビリツタ７を通過し、范゛７ フィル９ ｆｉ
ｌｒ ヲ介して波計ｄ（す物体に備えられる反射器１
２にす（先射されて、入射方向とは傾度逆〕ｊ向に反射
されろ。
２とを有する尤に分；刑され、周波数ω２を有する尤は
光学フィルタ８ ｕ を介して反射＋４：ｉ ！ｊ（二
、！ｊえられてｌ ｆｉ （１度光経路が変換されで＋
ｌｉびビームスビリツタ７を通過し、光検出器１〈）に
′ｊ乙られる。、：れとともに周波数ωＩを有する尼は
ビームスビリツタ７を通過し、范゛７ フィル９ ｆｉ
ｌｒ ヲ介して波計ｄ（す物体に備えられる反射器１
２にす（先射されて、入射方向とは傾度逆〕ｊ向に反射
されろ。
この反射された光は、ビームスプリッタフに与えられて
！３０度反射して光検出器１０に与んられる。
！３０度反射して光検出器１０に与んられる。
反射器１２は、被計測手段の反射器１２に入射する入射
光の進行方向に沿って移動するため、この反射器１２か
らの光は、ドツプラー効果によってその周波数がたとえ
ばω１±Δωに変化する。
光の進行方向に沿って移動するため、この反射器１２か
らの光は、ドツプラー効果によってその周波数がたとえ
ばω１±Δωに変化する。
光検出器１０では、周波数ω】±Δωと、ｈ勺波数ω２
との差すなわちドツプラー効果によるビート数ω１−ω
２±Δωが求められて周波数カウンタ１１に与えられる
。周ａｒｌｔカツンタ１１では、ω１−ω２をバイアス
周波数として変化分の周波数Δωを求める。これによっ
て波計沼物体の矢符Ａ方向の移動距離が求められる。
との差すなわちドツプラー効果によるビート数ω１−ω
２±Δωが求められて周波数カウンタ１１に与えられる
。周ａｒｌｔカツンタ１１では、ω１−ω２をバイアス
周波数として変化分の周波数Δωを求める。これによっ
て波計沼物体の矢符Ａ方向の移動距離が求められる。
第８図は従来からのドツプラー干渉計の適用例としての
気体レーザを用いた血流計の系統図である。この血流計
２０のＨｅ−Ｎｅレーザ２１からは、周波数ω１を有す
る１本のレーザ光が発振される。
気体レーザを用いた血流計の系統図である。この血流計
２０のＨｅ−Ｎｅレーザ２１からは、周波数ω１を有す
る１本のレーザ光が発振される。
このレーザ光はビームスビリ７り２２によって分割され
、一方の光りは超音波回折格子２３に与元られ、他方の
光はビームスプリッタ２４に与えられる０Ｍｉ音波回折
格子２３は、周波数ωＯを有する交流電源】００が印加
される。これによって超音波回折格子２３ではω２＝ω
１−ω０の周波数を有する光が発振され、反射鏡２５に
よって９０度反射されてビームスプリッタ２４に与えら
れる。
、一方の光りは超音波回折格子２３に与元られ、他方の
光はビームスプリッタ２４に与えられる０Ｍｉ音波回折
格子２３は、周波数ωＯを有する交流電源】００が印加
される。これによって超音波回折格子２３ではω２＝ω
１−ω０の周波数を有する光が発振され、反射鏡２５に
よって９０度反射されてビームスプリッタ２４に与えら
れる。
前記周波数ωｌを有する光は、ビームスプリンタ２４を
通過し、レンズ２６を介して光ファイバ２７を通過し、
血管２８内に侵入する。このとき血管２８内の血流のた
めにその人り（危はΔωのドツプラーシフＦを受け、周
２皮数ω１＋Δωを有ｒる反射器はレンズ２６を介して
再びビームスプリッタ２４に与えられ、−３０度反射さ
れて光検出器２５）に与えられる。一方周波散ω２を有
する尤はビームスブＩＪ ’７タ２４を１ｌｉｌ過して
光検出器２１）に与えらｔしる。これによって光検出器
２０では周波数ω１＋Δωと周ン皮数ω２との差を求め
て、ω０＋Δωの（１号を人ペクトラム分析と３０に導
出する。
通過し、レンズ２６を介して光ファイバ２７を通過し、
血管２８内に侵入する。このとき血管２８内の血流のた
めにその人り（危はΔωのドツプラーシフＦを受け、周
２皮数ω１＋Δωを有ｒる反射器はレンズ２６を介して
再びビームスプリッタ２４に与えられ、−３０度反射さ
れて光検出器２５）に与えられる。一方周波散ω２を有
する尤はビームスブＩＪ ’７タ２４を１ｌｉｌ過して
光検出器２１）に与えらｔしる。これによって光検出器
２０では周波数ω１＋Δωと周ン皮数ω２との差を求め
て、ω０＋Δωの（１号を人ペクトラム分析と３０に導
出する。
スペクトラム分析器３（）では周？Ｂｔ敗ω０が既知の
ｒこめ変化分Δのが求められ血管２＋１中の血液の流１
度を知ることがでさる、このようにドツプラー干渉計は
非接触の光計測の利、弘を生かし、利用価値の高いもの
として注目を集めている。
ｒこめ変化分Δのが求められ血管２＋１中の血液の流１
度を知ることがでさる、このようにドツプラー干渉計は
非接触の光計測の利、弘を生かし、利用価値の高いもの
として注目を集めている。
発明が解決しようとする問題点
上記先行技術では、Ｈｅ−Ｎｅレーザなどの気体レーザ
を用いて２つの周？１！Ｌ数ω１．ω２を発振させるｔ
こめに磁石３や超音波回折格子２３などを併用しなけれ
ばならず、しｔこがってＳ？ｃ置が大重量、大容量化お
よび高価格化する欠点を有する。また高電圧のためにノ
イズの発生の原因ともなる。
を用いて２つの周？１！Ｌ数ω１．ω２を発振させるｔ
こめに磁石３や超音波回折格子２３などを併用しなけれ
ばならず、しｔこがってＳ？ｃ置が大重量、大容量化お
よび高価格化する欠点を有する。また高電圧のためにノ
イズの発生の原因ともなる。
本発明の目的は、上述の技術的課題を解決し、構成を簡
略化し、低１ｉｌＩｉ４２）化を実現することができる
ようにしたドツプラー干渉計装置を提供することである
。
略化し、低１ｉｌＩｉ４２）化を実現することができる
ようにしたドツプラー干渉計装置を提供することである
。
問題点を解決するための手段
本発明は、２つの導波路を有し、この導波路から異なる
周波数を有するレーザ光を発振する半導体レーザ素子と
、 前記異なる周波数を有する２本のレーザ光のうち、一方
のレーザ光を基準波とし、他方のレーザ光を計測される
べき移動物体に導くとともに、この他方のレーザ光のド
ツプラーシフトされた反射波を取込み、前記基準波と反
射波との周波数を比較して計測物体を＃測する手段とを
含むことを特徴とするドツプラー干渉計装置である。
周波数を有するレーザ光を発振する半導体レーザ素子と
、 前記異なる周波数を有する２本のレーザ光のうち、一方
のレーザ光を基準波とし、他方のレーザ光を計測される
べき移動物体に導くとともに、この他方のレーザ光のド
ツプラーシフトされた反射波を取込み、前記基準波と反
射波との周波数を比較して計測物体を＃測する手段とを
含むことを特徴とするドツプラー干渉計装置である。
作 用
本発明に従えば、半導体レーザ索ｆには２本のストライ
プが形成される。これによって異なるＪ、ｌｉ波数を有
するレーザ光を照射する活性導波路が形成される。その
ため半導体レーザ索ｒからは異なる２つの周波数を有す
るレーザ光が発振されろ。
プが形成される。これによって異なるＪ、ｌｉ波数を有
するレーザ光を照射する活性導波路が形成される。その
ため半導体レーザ索ｒからは異なる２つの周波数を有す
るレーザ光が発振されろ。
そのため従来のように気体レーザを用いる場合に必要と
なる磁石や超音波回折格子などの装置を設ける必要がな
く、構成の簡略化を図ることができる。また超ｎ ン皮
回（斤脩了などの高価な装置をｄ′ンける心易がなく、
コストの低減を図ることがて゛きろ。
なる磁石や超音波回折格子などの装置を設ける必要がな
く、構成の簡略化を図ることができる。また超ｎ ン皮
回（斤脩了などの高価な装置をｄ′ンける心易がなく、
コストの低減を図ることがて゛きろ。
実抱例
第１［眉は゛−導体レしサ素ｒ−・喀（）の斜視図であ
り、第２図は第１図の切断面線Ｉｔ−４１から見ｔこ断
＋ｉ＋ｉ 〔ｅ］であり、第３図は半導体レーザ索子４
０を光源として用いた測尺器４１の系統図である。半導
体レーザ・１０の共振器の反射色を構成するへき開面４
０ａ、４０ｂには、マルチコートＪＭ１ （’ｌ ］ａ
、］ ０１１Ｊが形成される。マルチコー） ／ｉ４１
０１ ａの反射率はたとえば９６％であり、マルチフー
ト層１０１ｂの反射率はたとえば７６％である。半導体
レーザ索子４０の電流狭窄Ｗｉ４２には電流狭窄をする
ためのストライブ４３．４４が形成される。このストラ
イプ４３．４４の開隔ΔＷは活性導波路４３ａ、４４ａ
がら発振される２本のレーザ光が位相同期が起こらない
ように数μｍ以上に選ばれる。
り、第２図は第１図の切断面線Ｉｔ−４１から見ｔこ断
＋ｉ＋ｉ 〔ｅ］であり、第３図は半導体レーザ索子４
０を光源として用いた測尺器４１の系統図である。半導
体レーザ・１０の共振器の反射色を構成するへき開面４
０ａ、４０ｂには、マルチコートＪＭ１ （’ｌ ］ａ
、］ ０１１Ｊが形成される。マルチコー） ／ｉ４１
０１ ａの反射率はたとえば９６％であり、マルチフー
ト層１０１ｂの反射率はたとえば７６％である。半導体
レーザ索子４０の電流狭窄Ｗｉ４２には電流狭窄をする
ためのストライブ４３．４４が形成される。このストラ
イプ４３．４４の開隔ΔＷは活性導波路４３ａ、４４ａ
がら発振される２本のレーザ光が位相同期が起こらない
ように数μｍ以上に選ばれる。
このような構成によって半導体レーザ素子４０では光を
発生する活性層４５の位置によってバンドギャップが微
妙に違うため必ず少しだけたとえばＩＡ以下の異なる周
波数を有する２つのレーザ光が発振される。この特性が
ドツプラー計測用として有効となる。このような半導体
レーザ素子４０を用いることによって先行技術のように
火′σ積である気体レーザや複雑でがっ高価な磁石ある
いは超音波回折格子などを使わずに良質な２つの周波数
をω１．ω２を有するレーザ光を得ることができる。
発生する活性層４５の位置によってバンドギャップが微
妙に違うため必ず少しだけたとえばＩＡ以下の異なる周
波数を有する２つのレーザ光が発振される。この特性が
ドツプラー計測用として有効となる。このような半導体
レーザ素子４０を用いることによって先行技術のように
火′σ積である気体レーザや複雑でがっ高価な磁石ある
いは超音波回折格子などを使わずに良質な２つの周波数
をω１．ω２を有するレーザ光を得ることができる。
第３図を参照して半導体レーザ素工４０にはベルチェ素
子５０が設けられる。このベルチェ素子５０によって半
導体レーザ素子４０の温度制御が行なわれ、これによっ
て半導体レーザ光の周波数の安定化を図ることがでさる
。
子５０が設けられる。このベルチェ素子５０によって半
導体レーザ素子４０の温度制御が行なわれ、これによっ
て半導体レーザ光の周波数の安定化を図ることがでさる
。
半導体レーザ素子４０がらの２本のレーザ光はレンズ５
１によって平行光に変換され、ビームエキスバング４で
拡経され、ビームスプリッタ５に与えられる。ビームス
プリッタ５に上って００度広反射た尤は光検出器５４に
与えられ、その尤の周波数の差すなわちω１−ω２が求
められ、このω１−ω２は周波数カウンタ１１に与えら
れる。
１によって平行光に変換され、ビームエキスバング４で
拡経され、ビームスプリッタ５に与えられる。ビームス
プリッタ５に上って００度広反射た尤は光検出器５４に
与えられ、その尤の周波数の差すなわちω１−ω２が求
められ、このω１−ω２は周波数カウンタ１１に与えら
れる。
二ｔしとともにビームスプリッタ５を通過する光はビー
ムスビリツタ７て゛分割され、周波数ω２をＩ’７士る
尤は尤″’、’′ニーｙイルタ８をｆｊ して反射ｔ；
１３に＋７えらｉｔ、この反射器５〕でＩ ８ ＋１度
変換され、再びビームスビリツタ７を通過し、光検出器
１（）に′ｊえらｔしる。ビームスビリツタ７を通過す
る周波数ω１を仔ｒる尤は光学フィルタ３１〕を介して
被計測物体にイ０えられる反射器１２に与えられ、入射
ノミ向とは逆方向に反射され、この反射光はビームスビ
リ・ツタ７に与えられる。このとき反射器１２は矢符Ａ
方向に移動するものとする。これに上って反射器】２が
らの反射光はトップラーン７トされ、その周波数がω１
±Δωとなる。この反射光はビームスビリツタフによっ
て９０度広反射れ、光検出器１０に与えられる。光検出
器１０では周波数ω２と周波数ω１±Δωとの差を求め
る。これによって周波数ω２を有する光と周波数ω１±
Δωを有する光とのビート数が求められる。この求めら
れたビート数は周波数カフンタ１１に与えられる。これ
によって周波数カウンタ１１ではω１−ω２をバイアス
周波数として、変化分Δωを求める。こうして被検査物
体の移動距離を求めることができる。
ムスビリツタ７て゛分割され、周波数ω２をＩ’７士る
尤は尤″’、’′ニーｙイルタ８をｆｊ して反射ｔ；
１３に＋７えらｉｔ、この反射器５〕でＩ ８ ＋１度
変換され、再びビームスビリツタ７を通過し、光検出器
１（）に′ｊえらｔしる。ビームスビリツタ７を通過す
る周波数ω１を仔ｒる尤は光学フィルタ３１〕を介して
被計測物体にイ０えられる反射器１２に与えられ、入射
ノミ向とは逆方向に反射され、この反射光はビームスビ
リ・ツタ７に与えられる。このとき反射器１２は矢符Ａ
方向に移動するものとする。これに上って反射器】２が
らの反射光はトップラーン７トされ、その周波数がω１
±Δωとなる。この反射光はビームスビリツタフによっ
て９０度広反射れ、光検出器１０に与えられる。光検出
器１０では周波数ω２と周波数ω１±Δωとの差を求め
る。これによって周波数ω２を有する光と周波数ω１±
Δωを有する光とのビート数が求められる。この求めら
れたビート数は周波数カフンタ１１に与えられる。これ
によって周波数カウンタ１１ではω１−ω２をバイアス
周波数として、変化分Δωを求める。こうして被検査物
体の移動距離を求めることができる。
第４図は本発明の他の実施例の系統図である。
この実施例では前記半導体レーザ素子４０を光ｂ７とし
て用いた血流計６０が示される。半導体レーザ４０には
ベルチェ素子５０が備えられ、半導体レーザ素子４０の
温度制御が行なわれる。半導体レーザ素子４０からの２
つの周波数ω］、ω２を有するレーザ光はレンズ５１を
介して平行光となってビームスビリツタ２２に照射され
る。ビームスビリツタ２２でたとえば周波数ωコを有す
るレーザ光は９（）広反射してミラー６２を介して、ビ
ームスプリッタ２４に与えられ、このビームスプリッタ
２４を通過してレン【２６から尤７アイバ２７ヲ通過し
、血管２８の血流に照射されろ。この尤の反射光は尤フ
ァイバ２７を介してレンズ２６を通過し、ビームスプリ
ッタ２４によってＩ）０広反射されて光検出器２つに与
えられる。このとき血流は移動しているため、血流から
の反射光の周波数はトンブラー効ｇＨによってその周ン
皮数がω］＋Δωに変換される。したがって光検出器２
！ｌ Ｈ＝９えられる反射光の周波数はω１＋Δωと
なる。
て用いた血流計６０が示される。半導体レーザ４０には
ベルチェ素子５０が備えられ、半導体レーザ素子４０の
温度制御が行なわれる。半導体レーザ素子４０からの２
つの周波数ω］、ω２を有するレーザ光はレンズ５１を
介して平行光となってビームスビリツタ２２に照射され
る。ビームスビリツタ２２でたとえば周波数ωコを有す
るレーザ光は９（）広反射してミラー６２を介して、ビ
ームスプリッタ２４に与えられ、このビームスプリッタ
２４を通過してレン【２６から尤７アイバ２７ヲ通過し
、血管２８の血流に照射されろ。この尤の反射光は尤フ
ァイバ２７を介してレンズ２６を通過し、ビームスプリ
ッタ２４によってＩ）０広反射されて光検出器２つに与
えられる。このとき血流は移動しているため、血流から
の反射光の周波数はトンブラー効ｇＨによってその周ン
皮数がω］＋Δωに変換される。したがって光検出器２
！ｌ Ｈ＝９えられる反射光の周波数はω１＋Δωと
なる。
−ノｊビームスプリッタ２２を１ｌｉｌｌ ｌ＋した周
７皮数ω２を有する尤はミラー２５によって９（）度反
η（され、ビームスプリッタ２６を通過し、光検出器２
つに与えられる。なおここでこの周波数ω２をω２＝ω
１−ω（）と設定ｒる。光検出器２９て゛はンつのイ言
号の周４ｐｉ数の差を求める。この求められたω０＋Δ
ωを示す電気１１１号はスペクトラムアナライザ３０に
導出され、Δωが求められる。このΔωによって血管２
３（の血流の速度が求められる。
７皮数ω２を有する尤はミラー２５によって９（）度反
η（され、ビームスプリッタ２６を通過し、光検出器２
つに与えられる。なおここでこの周波数ω２をω２＝ω
１−ω（）と設定ｒる。光検出器２９て゛はンつのイ言
号の周４ｐｉ数の差を求める。この求められたω０＋Δ
ωを示す電気１１１号はスペクトラムアナライザ３０に
導出され、Δωが求められる。このΔωによって血管２
３（の血流の速度が求められる。
こうして血流計の光源として半導体レーザ素子−４０を
用いることによってυを米用いられた超音波回折格ｆを
使用する必要がなく、したがってｖｃ置の小形化および
コストの低減を図ることができる。
用いることによってυを米用いられた超音波回折格ｆを
使用する必要がなく、したがってｖｃ置の小形化および
コストの低減を図ることができる。
第５図は半導体レーザ素子の他の実施例の斜視図であり
、第６図は第５図の切断面線■−■から見た断面図であ
る。この半導体レーザ素子７（）は分布帰還型レーザ素
子と呼ばれるものである。注目すべきはこの半導体レー
ザ素子７０のクラッド層７１に備えられる回折格子１０
５のピッチ幅ａ１、ａ２を左右異なるように構成したこ
とである。
、第６図は第５図の切断面線■−■から見た断面図であ
る。この半導体レーザ素子７（）は分布帰還型レーザ素
子と呼ばれるものである。注目すべきはこの半導体レー
ザ素子７０のクラッド層７１に備えられる回折格子１０
５のピッチ幅ａ１、ａ２を左右異なるように構成したこ
とである。
これによって活性層４５から異なる周波数を有する２本
のレーザ光が発振される。このような半導体レーザ素子
７０を前述の実施例における半導体４０に変えて測長器
４１や血流計６１に用いるようにしてもよい。
のレーザ光が発振される。このような半導体レーザ素子
７０を前述の実施例における半導体４０に変えて測長器
４１や血流計６１に用いるようにしてもよい。
効 果
以上のように本発明によれば、半導体レーザ素子□から
は異なる２つの周波数を有するレーザ光が発振される。
は異なる２つの周波数を有するレーザ光が発振される。
そのため従来のように気体レーザを用いる場合に必叉と
なる磁石やＨｉ音波回折脩了−などの装置を設ける必要
がなく、構成の簡略化・４図ることができる。また超音
波回折＋５１″−などの高価な装置を設ける必要がなく
、コストの低減をしＩることができる。
なる磁石やＨｉ音波回折脩了−などの装置を設ける必要
がなく、構成の簡略化・４図ることができる。また超音
波回折＋５１″−などの高価な装置を設ける必要がなく
、コストの低減をしＩることができる。
第１図は半導体レーザ素子４０の斜視図、第２図は第１
図の切断面線■−ロから見た断面図、第３図は本発明の
一実施例の測長器４１の系統図、ＰＩ３図は本発明の他
の実施例の血流計６１の系統図、第５Ｉ２１は半導体レ
ーザ索子の他の実施例の斜視図、第６図は第５図の切断
面線■−■から見た断面図、ｔＩＳ７図は従来からの８
１！ｌ艮器１の系統図、第８図は従来からの血流計２０
の系統図である。 ５．７，２２，２↓・・・ビームスプリッタ、６，１０
゜２０・・・光検出器、９，１２・−・反射器、１１・
・・周波数カウンタ、２７・・・光ファイバ、２８・・
・血管、４ｆ’ｌ 、 ７ ｆｌ・・・半導体レーザ、
４３ａ、４４ａ・・・導波路、１０５・・・回４／ｒ格
子、ａｌ、ａ２・・・ピンチ幅、ω１゜ω２・・・周波
数 代理人 弁理士 曲数 圭一部 ■ 第１図 第２図
図の切断面線■−ロから見た断面図、第３図は本発明の
一実施例の測長器４１の系統図、ＰＩ３図は本発明の他
の実施例の血流計６１の系統図、第５Ｉ２１は半導体レ
ーザ索子の他の実施例の斜視図、第６図は第５図の切断
面線■−■から見た断面図、ｔＩＳ７図は従来からの８
１！ｌ艮器１の系統図、第８図は従来からの血流計２０
の系統図である。 ５．７，２２，２↓・・・ビームスプリッタ、６，１０
゜２０・・・光検出器、９，１２・−・反射器、１１・
・・周波数カウンタ、２７・・・光ファイバ、２８・・
・血管、４ｆ’ｌ 、 ７ ｆｌ・・・半導体レーザ、
４３ａ、４４ａ・・・導波路、１０５・・・回４／ｒ格
子、ａｌ、ａ２・・・ピンチ幅、ω１゜ω２・・・周波
数 代理人 弁理士 曲数 圭一部 ■ 第１図 第２図
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 ２つの導波路を有し、この導波路から異なる周波数を有
するレーザ光を発振する半導体レーザ素子と、 前記異なる周波数を有する２本のレーザ光のうち、一方
のレーザ光を基準波とし、他方のレーザ光を計測される
べき移動物体に導くとともに、この他方のレーザ光のド
ップラーシフトされた反射波を取込み、前記基準波と反
射波との周波数を比較して計測物体を計測する手段とを
含むことを特徴とするドップラー干渉計装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60187625A JPS6247502A (ja) | 1985-08-27 | 1985-08-27 | 血流計 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60187625A JPS6247502A (ja) | 1985-08-27 | 1985-08-27 | 血流計 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6247502A true JPS6247502A (ja) | 1987-03-02 |
| JPH0560527B2 JPH0560527B2 (ja) | 1993-09-02 |
Family
ID=16209379
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60187625A Granted JPS6247502A (ja) | 1985-08-27 | 1985-08-27 | 血流計 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6247502A (ja) |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US6473705B1 (en) * | 2000-10-10 | 2002-10-29 | General Electric Company | System and method for direct non-intrusive measurement of corrected airflow |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5660306A (en) * | 1979-10-23 | 1981-05-25 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | Laser interferometer and its measuring method |
| JPS6072288A (ja) * | 1983-09-28 | 1985-04-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体レ−ザアレイ装置 |
-
1985
- 1985-08-27 JP JP60187625A patent/JPS6247502A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5660306A (en) * | 1979-10-23 | 1981-05-25 | Mitsutoyo Mfg Co Ltd | Laser interferometer and its measuring method |
| JPS6072288A (ja) * | 1983-09-28 | 1985-04-24 | Matsushita Electric Ind Co Ltd | 半導体レ−ザアレイ装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0560527B2 (ja) | 1993-09-02 |
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| JPS6135486B2 (ja) |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| LAPS | Cancellation because of no payment of annual fees |