JPH01126582A - レーザ測距装置 - Google Patents
レーザ測距装置Info
- Publication number
- JPH01126582A JPH01126582A JP62284513A JP28451387A JPH01126582A JP H01126582 A JPH01126582 A JP H01126582A JP 62284513 A JP62284513 A JP 62284513A JP 28451387 A JP28451387 A JP 28451387A JP H01126582 A JPH01126582 A JP H01126582A
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- JP
- Japan
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- semiconductor laser
- modulation
- lens
- external resonator
- frequency
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
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- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 8
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Landscapes
- Instruments For Measurement Of Length By Optical Means (AREA)
- Semiconductor Lasers (AREA)
- Optical Radar Systems And Details Thereof (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
産業上の利用分野
本発明は、半導体レーザを用いた測距装置に関する。
従来の技術
現在、物体の光計測法としては、(1)ノζルス時間差
法、(坤連続強度変調光による位相差法、(3)干渉計
法などがある。(1)の方法は、測定精度は数纂程度で
遠距離計測が可能であるが、装置自体が大型となる。(
2)および(3)の方法は、いずれも1o−5〜1o−
7の極めて高い精度の測定が可能であるが、コーナーキ
ューブ等の反射鏡を用いることが必要である。
法、(坤連続強度変調光による位相差法、(3)干渉計
法などがある。(1)の方法は、測定精度は数纂程度で
遠距離計測が可能であるが、装置自体が大型となる。(
2)および(3)の方法は、いずれも1o−5〜1o−
7の極めて高い精度の測定が可能であるが、コーナーキ
ューブ等の反射鏡を用いることが必要である。
これに対して、「昭和58年度電子通信学会総合全国大
台987」に示されているFM変調半導体レーザによる
距離のヘテロダイン計測法では、反射鏡を必要とせず、
粗面散乱体でも測定可能であり、装置も小型化できる。
台987」に示されているFM変調半導体レーザによる
距離のヘテロダイン計測法では、反射鏡を必要とせず、
粗面散乱体でも測定可能であり、装置も小型化できる。
第4図にFMヘテロダイン計測の基本的構成図で示す。
半導体レーザ1は電流変調によシ発振周波数を三角波に
掃引される。出力光はレンズ2で平行光として、ビーム
スプリッタ3で2分され、一方は反射鏡4で反射されて
局発光となる。他方は遠方のターゲット5に集束され、
後方散乱光は望遠meで集められて光検出器7でヘテロ
ゲイン検波される。ヘテロダインビート信号周波数は次
式で与えられる。
掃引される。出力光はレンズ2で平行光として、ビーム
スプリッタ3で2分され、一方は反射鏡4で反射されて
局発光となる。他方は遠方のターゲット5に集束され、
後方散乱光は望遠meで集められて光検出器7でヘテロ
ゲイン検波される。ヘテロダインビート信号周波数は次
式で与えられる。
ここで、δはレーザの周波数偏移、fXnは変調周波数
、Rはターゲットの距離、Cは光速である。
、Rはターゲットの距離、Cは光速である。
すなわち、δとfmが既知の場合、ビート周波数1の測
定によシ距離Rが求められる。
定によシ距離Rが求められる。
発明が解決しようとする問題点
上記従来の技術で述べたように、半導体レーザにFM変
調を加えるヘテロゲイン計測法では、精度が約5 X
1 o−sと中程度であり、測定可能距離も数m程度に
制限されていた。
調を加えるヘテロゲイン計測法では、精度が約5 X
1 o−sと中程度であり、測定可能距離も数m程度に
制限されていた。
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、高精度
に遠距離まで測定可能な測距装置を提供することを目的
としている。
に遠距離まで測定可能な測距装置を提供することを目的
としている。
問題点を解決するための手段
本発明のレーザ測距装置は、少なくとも半導体レーザと
ビームスプリッタ、反射鏡、光検出器を備え、前記反射
鏡とターゲット間でマイケルソン干渉計を構成し、前記
半導体レーザは外部に反射体を有する外部共振器構成で
あり、前記半導体レーザを前記外部共振器のラウンドト
リップタイムに対応する周波数近傍でFM変調を施し、
ヘテロゲイン検波する構成である。
ビームスプリッタ、反射鏡、光検出器を備え、前記反射
鏡とターゲット間でマイケルソン干渉計を構成し、前記
半導体レーザは外部に反射体を有する外部共振器構成で
あり、前記半導体レーザを前記外部共振器のラウンドト
リップタイムに対応する周波数近傍でFM変調を施し、
ヘテロゲイン検波する構成である。
作 用
本発明は上記した構成により、外部共振器型半導体レー
ザを光源としたFMヘテロゲイン計測法による測距装置
となっている。
ザを光源としたFMヘテロゲイン計測法による測距装置
となっている。
ヘテロダイン検波におけるS/N比は次式で与えられる
。
。
ここで、Poは信号光パワー、ηは光検出器の量子効率
Bは検出系の帯域幅、Fは検出器の雑音指数、Aは受信
望遠鏡断面積、βは散乱体の後方微分散乱係数、vtは
レーザの時間的コヒーレンスによる光検出器面での鮮明
度、vsは空間的コヒーレンスによる鮮明度である。v
tはレーザのスペクトル幅をΔνとすれば、 v0=定数 と表わされ、Δνが小さくなるほどS/N比は改善され
る。
Bは検出系の帯域幅、Fは検出器の雑音指数、Aは受信
望遠鏡断面積、βは散乱体の後方微分散乱係数、vtは
レーザの時間的コヒーレンスによる光検出器面での鮮明
度、vsは空間的コヒーレンスによる鮮明度である。v
tはレーザのスペクトル幅をΔνとすれば、 v0=定数 と表わされ、Δνが小さくなるほどS/N比は改善され
る。
また、距離分解能ΔRは、
と表わされる。ここで、ΔIはビート信号のスペクトル
幅である。(1)と(6)式よシ、レーザの周波数−偏
移δが大きいほどΔRは小さくなる0本発明は光源とな
る半導体レーザを外部共振器構成とすることによって、
スペクトル線幅Δνが狭窄化されるために、S/Nが改
善され、さらに、外部共振器のラウンドトリップタイム
τ8に対応する周波数1/τ8およびその高調周波数で
FM変調効果が増大するため、m・1/τ、(mは整数
)近傍の周波数でFM変調を行えば周波数偏移δが大き
くすることができ、距離分解能も向上する。
幅である。(1)と(6)式よシ、レーザの周波数−偏
移δが大きいほどΔRは小さくなる0本発明は光源とな
る半導体レーザを外部共振器構成とすることによって、
スペクトル線幅Δνが狭窄化されるために、S/Nが改
善され、さらに、外部共振器のラウンドトリップタイム
τ8に対応する周波数1/τ8およびその高調周波数で
FM変調効果が増大するため、m・1/τ、(mは整数
)近傍の周波数でFM変調を行えば周波数偏移δが大き
くすることができ、距離分解能も向上する。
実施例
第1図に本発明の実施例のレーザ測距装置の構成図を示
す。8は半導体レーザ素子、9はコリメートレンズ、1
oは外部共振器を構成する反射体、2はレンズ、3はビ
ームスプリッタ、4は反射鏡、5はターゲット、6は望
遠鏡である。半導体レーザ素子8、レンズ9および反射
体が外部共振器半導体レーザ11を構成している。レー
ザ11は電流変調によシ、発振周波数を三角波に掃引さ
れる。
す。8は半導体レーザ素子、9はコリメートレンズ、1
oは外部共振器を構成する反射体、2はレンズ、3はビ
ームスプリッタ、4は反射鏡、5はターゲット、6は望
遠鏡である。半導体レーザ素子8、レンズ9および反射
体が外部共振器半導体レーザ11を構成している。レー
ザ11は電流変調によシ、発振周波数を三角波に掃引さ
れる。
出力光はレンズ2で平行光としてビームスプリッタ3で
2分され、一方は反射鏡4で反射されて局発光となる。
2分され、一方は反射鏡4で反射されて局発光となる。
他方は遠方のターゲット6に集束され、後方散乱光は望
遠鏡6で集められて光検出器7でヘテロゲイン検波され
る0ビット周波数の測定によシタ−ゲラ)tでの距離R
が求められる。
遠鏡6で集められて光検出器7でヘテロゲイン検波され
る0ビット周波数の測定によシタ−ゲラ)tでの距離R
が求められる。
外部共振器型半導体レーザ11のスペクトル線幅Δνは
外部共振器長りに反比例して減少する。
外部共振器長りに反比例して減少する。
第2図にΔνとLの関係を示す。本実施例ではLを30
cmとしたので、約130 kHzのスペクトル線幅が
得られた。第3図に、変調周波数/mとFM変調効率の
関係を示す0縦輔OFM変調効率は半導体レーザ素子8
の値で規格化しである。外部共振器のラウンドトリップ
タイムに対応する周波数/m= 500 MHz では
、半導体レーザ素子8のみの場合の約3倍のFM変調効
率すなわち周波数偏移δが得られた。
cmとしたので、約130 kHzのスペクトル線幅が
得られた。第3図に、変調周波数/mとFM変調効率の
関係を示す0縦輔OFM変調効率は半導体レーザ素子8
の値で規格化しである。外部共振器のラウンドトリップ
タイムに対応する周波数/m= 500 MHz では
、半導体レーザ素子8のみの場合の約3倍のFM変調効
率すなわち周波数偏移δが得られた。
なお、本実施例では、外部共振器をレンズと反射体で構
成したが、光ファイバで外部共振器を構成すれば、外部
共振器長を長くとることができるため、スペクトル線幅
をさらに狭くすることができる変調周波数も低くてすむ
。また、光ファイバを用いれば、外部共振器を、長くし
ても装置を小型化することが可能である。
成したが、光ファイバで外部共振器を構成すれば、外部
共振器長を長くとることができるため、スペクトル線幅
をさらに狭くすることができる変調周波数も低くてすむ
。また、光ファイバを用いれば、外部共振器を、長くし
ても装置を小型化することが可能である。
また、本実施例は、測距を目的としているが、同様の装
置で、ターゲットが運動している場合には、ドラグラビ
ートを測定することにより、速度の測定も可能である。
置で、ターゲットが運動している場合には、ドラグラビ
ートを測定することにより、速度の測定も可能である。
発明の効果
以上述べてきたように、本発明はFM変調半導体レーザ
を用いたヘテロダイン計測法による測距装置において、
半導体レーザを外部共振器構成とし、外部共振器のラウ
ンドトリップタイムに対応する周波数近傍でFM変調す
ることによって、スペクトル線幅が狭窄化され、周波数
偏移が大きくなるため、S/N比の改善および距離分解
能の向上、すなわち測距可能な距離の延長および測定精
度の向上がなされるという効果を有するものである0
を用いたヘテロダイン計測法による測距装置において、
半導体レーザを外部共振器構成とし、外部共振器のラウ
ンドトリップタイムに対応する周波数近傍でFM変調す
ることによって、スペクトル線幅が狭窄化され、周波数
偏移が大きくなるため、S/N比の改善および距離分解
能の向上、すなわち測距可能な距離の延長および測定精
度の向上がなされるという効果を有するものである0
第1図は本発明の実施例のレーザ測距装置の構成図、第
2図は同実施例に用いたレーザの外部共振器長とスペク
トル線幅の関係図、第3図は同レーザの変調周波数とF
M変調効率の関係図、第4図は従来例のレーザ測距装置
の構成図である。 2・・・・・・レンズ、3・・・・・・ビームス7’l
J、ツタ、4・・・・・・反射鏡、6・・・・・・ター
ゲ、ット、6・・・・・・望遠鏡、7・・・・・・光検
出器、8・・・・・・半導体レーザ素子、9001.・
・コリメートレンズ、1o・・・・・・反射体、11・
・・・・・外部共振器型半導体レーザ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名?−
−レンス゛ 3−−−ヒ゛−ムスプリッタ 4−一−ス射槻 j−一一ターゲヅト 6−−一望jし晩 q−一一コワメートルンス゛ル レーザ 第1図 第2@ / 10
100り))βス力艶】!畏 L
(6穴)
2図は同実施例に用いたレーザの外部共振器長とスペク
トル線幅の関係図、第3図は同レーザの変調周波数とF
M変調効率の関係図、第4図は従来例のレーザ測距装置
の構成図である。 2・・・・・・レンズ、3・・・・・・ビームス7’l
J、ツタ、4・・・・・・反射鏡、6・・・・・・ター
ゲ、ット、6・・・・・・望遠鏡、7・・・・・・光検
出器、8・・・・・・半導体レーザ素子、9001.・
・コリメートレンズ、1o・・・・・・反射体、11・
・・・・・外部共振器型半導体レーザ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名?−
−レンス゛ 3−−−ヒ゛−ムスプリッタ 4−一−ス射槻 j−一一ターゲヅト 6−−一望jし晩 q−一一コワメートルンス゛ル レーザ 第1図 第2@ / 10
100り))βス力艶】!畏 L
(6穴)
Claims (1)
- 少なくとも半導体レーザとビームスプリッタ、反射鏡
、光検出器を備え、前記反射鏡とターゲット間でマイケ
ルソン干渉計を構成し、前記半導体レーザは、外部に反
射体を有する外部共振器構成であり、前記半導体レーザ
を前記外部共振器のラウンドトリップタイムに対応する
周波数近傍でFM変調を施し、ヘテロダイン検波するよ
うにしたレーザ測距装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62284513A JPH01126582A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | レーザ測距装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP62284513A JPH01126582A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | レーザ測距装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH01126582A true JPH01126582A (ja) | 1989-05-18 |
Family
ID=17679471
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP62284513A Pending JPH01126582A (ja) | 1987-11-11 | 1987-11-11 | レーザ測距装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH01126582A (ja) |
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006313080A (ja) * | 2005-05-06 | 2006-11-16 | Yamatake Corp | 距離・速度計および距離・速度計測方法 |
JP2008111847A (ja) * | 2007-12-12 | 2008-05-15 | Yamatake Corp | 距離・速度計および距離・速度計測方法 |
JP2008170251A (ja) * | 2007-01-11 | 2008-07-24 | Yamatake Corp | 距離計および距離計測方法 |
JP2008175602A (ja) * | 2007-01-17 | 2008-07-31 | Yamatake Corp | 距離計および距離計測方法 |
-
1987
- 1987-11-11 JP JP62284513A patent/JPH01126582A/ja active Pending
Cited By (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2006313080A (ja) * | 2005-05-06 | 2006-11-16 | Yamatake Corp | 距離・速度計および距離・速度計測方法 |
JP2008170251A (ja) * | 2007-01-11 | 2008-07-24 | Yamatake Corp | 距離計および距離計測方法 |
JP2008175602A (ja) * | 2007-01-17 | 2008-07-31 | Yamatake Corp | 距離計および距離計測方法 |
JP2008111847A (ja) * | 2007-12-12 | 2008-05-15 | Yamatake Corp | 距離・速度計および距離・速度計測方法 |
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