JPH01126582A - レーザ測距装置 - Google Patents

レーザ測距装置

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Publication number
JPH01126582A
JPH01126582A JP62284513A JP28451387A JPH01126582A JP H01126582 A JPH01126582 A JP H01126582A JP 62284513 A JP62284513 A JP 62284513A JP 28451387 A JP28451387 A JP 28451387A JP H01126582 A JPH01126582 A JP H01126582A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
semiconductor laser
modulation
lens
external resonator
frequency
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP62284513A
Other languages
English (en)
Inventor
Jiyun Odani
順 雄谷
Yasushi Matsui
松井 康
Tomoaki Uno
智昭 宇野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、半導体レーザを用いた測距装置に関する。
従来の技術 現在、物体の光計測法としては、(1)ノζルス時間差
法、(坤連続強度変調光による位相差法、(3)干渉計
法などがある。(1)の方法は、測定精度は数纂程度で
遠距離計測が可能であるが、装置自体が大型となる。(
2)および(3)の方法は、いずれも1o−5〜1o−
7の極めて高い精度の測定が可能であるが、コーナーキ
ューブ等の反射鏡を用いることが必要である。
これに対して、「昭和58年度電子通信学会総合全国大
台987」に示されているFM変調半導体レーザによる
距離のヘテロダイン計測法では、反射鏡を必要とせず、
粗面散乱体でも測定可能であり、装置も小型化できる。
第4図にFMヘテロダイン計測の基本的構成図で示す。
半導体レーザ1は電流変調によシ発振周波数を三角波に
掃引される。出力光はレンズ2で平行光として、ビーム
スプリッタ3で2分され、一方は反射鏡4で反射されて
局発光となる。他方は遠方のターゲット5に集束され、
後方散乱光は望遠meで集められて光検出器7でヘテロ
ゲイン検波される。ヘテロダインビート信号周波数は次
式で与えられる。
ここで、δはレーザの周波数偏移、fXnは変調周波数
、Rはターゲットの距離、Cは光速である。
すなわち、δとfmが既知の場合、ビート周波数1の測
定によシ距離Rが求められる。
発明が解決しようとする問題点 上記従来の技術で述べたように、半導体レーザにFM変
調を加えるヘテロゲイン計測法では、精度が約5 X 
1 o−sと中程度であり、測定可能距離も数m程度に
制限されていた。
本発明は、上記従来の問題点を解決するもので、高精度
に遠距離まで測定可能な測距装置を提供することを目的
としている。
問題点を解決するための手段 本発明のレーザ測距装置は、少なくとも半導体レーザと
ビームスプリッタ、反射鏡、光検出器を備え、前記反射
鏡とターゲット間でマイケルソン干渉計を構成し、前記
半導体レーザは外部に反射体を有する外部共振器構成で
あり、前記半導体レーザを前記外部共振器のラウンドト
リップタイムに対応する周波数近傍でFM変調を施し、
ヘテロゲイン検波する構成である。
作  用 本発明は上記した構成により、外部共振器型半導体レー
ザを光源としたFMヘテロゲイン計測法による測距装置
となっている。
ヘテロダイン検波におけるS/N比は次式で与えられる
ここで、Poは信号光パワー、ηは光検出器の量子効率
Bは検出系の帯域幅、Fは検出器の雑音指数、Aは受信
望遠鏡断面積、βは散乱体の後方微分散乱係数、vtは
レーザの時間的コヒーレンスによる光検出器面での鮮明
度、vsは空間的コヒーレンスによる鮮明度である。v
tはレーザのスペクトル幅をΔνとすれば、 v0=定数 と表わされ、Δνが小さくなるほどS/N比は改善され
る。
また、距離分解能ΔRは、 と表わされる。ここで、ΔIはビート信号のスペクトル
幅である。(1)と(6)式よシ、レーザの周波数−偏
移δが大きいほどΔRは小さくなる0本発明は光源とな
る半導体レーザを外部共振器構成とすることによって、
スペクトル線幅Δνが狭窄化されるために、S/Nが改
善され、さらに、外部共振器のラウンドトリップタイム
τ8に対応する周波数1/τ8およびその高調周波数で
FM変調効果が増大するため、m・1/τ、(mは整数
)近傍の周波数でFM変調を行えば周波数偏移δが大き
くすることができ、距離分解能も向上する。
実施例 第1図に本発明の実施例のレーザ測距装置の構成図を示
す。8は半導体レーザ素子、9はコリメートレンズ、1
oは外部共振器を構成する反射体、2はレンズ、3はビ
ームスプリッタ、4は反射鏡、5はターゲット、6は望
遠鏡である。半導体レーザ素子8、レンズ9および反射
体が外部共振器半導体レーザ11を構成している。レー
ザ11は電流変調によシ、発振周波数を三角波に掃引さ
れる。
出力光はレンズ2で平行光としてビームスプリッタ3で
2分され、一方は反射鏡4で反射されて局発光となる。
他方は遠方のターゲット6に集束され、後方散乱光は望
遠鏡6で集められて光検出器7でヘテロゲイン検波され
る0ビット周波数の測定によシタ−ゲラ)tでの距離R
が求められる。
外部共振器型半導体レーザ11のスペクトル線幅Δνは
外部共振器長りに反比例して減少する。
第2図にΔνとLの関係を示す。本実施例ではLを30
cmとしたので、約130 kHzのスペクトル線幅が
得られた。第3図に、変調周波数/mとFM変調効率の
関係を示す0縦輔OFM変調効率は半導体レーザ素子8
の値で規格化しである。外部共振器のラウンドトリップ
タイムに対応する周波数/m= 500 MHz では
、半導体レーザ素子8のみの場合の約3倍のFM変調効
率すなわち周波数偏移δが得られた。
なお、本実施例では、外部共振器をレンズと反射体で構
成したが、光ファイバで外部共振器を構成すれば、外部
共振器長を長くとることができるため、スペクトル線幅
をさらに狭くすることができる変調周波数も低くてすむ
。また、光ファイバを用いれば、外部共振器を、長くし
ても装置を小型化することが可能である。
また、本実施例は、測距を目的としているが、同様の装
置で、ターゲットが運動している場合には、ドラグラビ
ートを測定することにより、速度の測定も可能である。
発明の効果 以上述べてきたように、本発明はFM変調半導体レーザ
を用いたヘテロダイン計測法による測距装置において、
半導体レーザを外部共振器構成とし、外部共振器のラウ
ンドトリップタイムに対応する周波数近傍でFM変調す
ることによって、スペクトル線幅が狭窄化され、周波数
偏移が大きくなるため、S/N比の改善および距離分解
能の向上、すなわち測距可能な距離の延長および測定精
度の向上がなされるという効果を有するものである0
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例のレーザ測距装置の構成図、第
2図は同実施例に用いたレーザの外部共振器長とスペク
トル線幅の関係図、第3図は同レーザの変調周波数とF
M変調効率の関係図、第4図は従来例のレーザ測距装置
の構成図である。 2・・・・・・レンズ、3・・・・・・ビームス7’l
J、ツタ、4・・・・・・反射鏡、6・・・・・・ター
ゲ、ット、6・・・・・・望遠鏡、7・・・・・・光検
出器、8・・・・・・半導体レーザ素子、9001.・
・コリメートレンズ、1o・・・・・・反射体、11・
・・・・・外部共振器型半導体レーザ。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名?−
−レンス゛ 3−−−ヒ゛−ムスプリッタ 4−一−ス射槻 j−一一ターゲヅト 6−−一望jし晩 q−一一コワメートルンス゛ル レーザ 第1図 第2@ /                 10     
          100り))βス力艶】!畏 L
 (6穴)

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1.  少なくとも半導体レーザとビームスプリッタ、反射鏡
    、光検出器を備え、前記反射鏡とターゲット間でマイケ
    ルソン干渉計を構成し、前記半導体レーザは、外部に反
    射体を有する外部共振器構成であり、前記半導体レーザ
    を前記外部共振器のラウンドトリップタイムに対応する
    周波数近傍でFM変調を施し、ヘテロダイン検波するよ
    うにしたレーザ測距装置。
JP62284513A 1987-11-11 1987-11-11 レーザ測距装置 Pending JPH01126582A (ja)

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JP62284513A JPH01126582A (ja) 1987-11-11 1987-11-11 レーザ測距装置

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2006313080A (ja) * 2005-05-06 2006-11-16 Yamatake Corp 距離・速度計および距離・速度計測方法
JP2008111847A (ja) * 2007-12-12 2008-05-15 Yamatake Corp 距離・速度計および距離・速度計測方法
JP2008170251A (ja) * 2007-01-11 2008-07-24 Yamatake Corp 距離計および距離計測方法
JP2008175602A (ja) * 2007-01-17 2008-07-31 Yamatake Corp 距離計および距離計測方法

Cited By (4)

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JP2006313080A (ja) * 2005-05-06 2006-11-16 Yamatake Corp 距離・速度計および距離・速度計測方法
JP2008170251A (ja) * 2007-01-11 2008-07-24 Yamatake Corp 距離計および距離計測方法
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