JPS624742B2 - - Google Patents

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JPS624742B2
JPS624742B2 JP55110962A JP11096280A JPS624742B2 JP S624742 B2 JPS624742 B2 JP S624742B2 JP 55110962 A JP55110962 A JP 55110962A JP 11096280 A JP11096280 A JP 11096280A JP S624742 B2 JPS624742 B2 JP S624742B2
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JP
Japan
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signal
address
switch
test device
group
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JP55110962A
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JPS5631149A (en
Inventor
Chinshumitsuto Hansu
Shaiteraa Edoaruto
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Siemens AG
Original Assignee
Siemens AG
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Publication date
Application filed by Siemens AG filed Critical Siemens AG
Publication of JPS5631149A publication Critical patent/JPS5631149A/ja
Publication of JPS624742B2 publication Critical patent/JPS624742B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/22Detection or location of defective computer hardware by testing during standby operation or during idle time, e.g. start-up testing
    • G06F11/25Testing of logic operation, e.g. by logic analysers

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  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Test And Diagnosis Of Digital Computers (AREA)
  • Hardware Redundancy (AREA)
  • Multi Processors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 この発明は多計算機システム、特にマルチマイ
クロコンピユータシステムにおける誤り診断のた
めの試験装置において、誤り診断の際システムバ
ス上の考慮されるべき信号電圧が、この信号によ
り間接的に制御される表示装置により光信号とし
て認識可能されるものに関する。
多計算機システム、特にマイクロコンピユータ
によつて構成されるシステムにおいて、実際の動
作においても並に特に開発段階においても、誤り
の出現の際できるだけ迅速に全マイクロコンピユ
ータの状態を認識することが必要である。その際
どのマイクロコンピユータが誤りの動作を行つて
いるか、およびハードウエア或はソフトウエアに
おける誤りの状況に対する原因を探求すべきかを
連続的に明らかにすべきである。この問題を明確
にする重要な示唆が全バス信号の観察によつて提
供される。
この目的に用いられた従来のオシログラフ、エ
ミユレータおよびロジツクアナライザは補助手段
として使用された。公知のようにマイクロコンピ
ユータのバス信号の翻訳のためには、オシログラ
フはほとんど適さず、エミユレータは全く不適当
である。ロジツクアナライザが、そのチヤネルの
数によつて全バス範囲(データ線、番地線、制御
線、割込線)をカバーしなければならないのであ
る。之は多計算機システムに対する実施例におい
て、ほぼ40のデータ入力および10のトリガ入力で
あつて、その際これら入力を互に無関係の3個の
動作群に分割する可能性がなければならない。か
かる条件および各群の対応する時間ラスタの選択
が、2個或は3個のロジツク解析器の挿入を必要
とする。その上誤り探索に対しロジツク解析器に
新規にプログラムする時間の浪費がある。更に再
生可能の結果に対しプログラムが明示されねばな
らない。かかる浪費は殊に多計算機システムの各
マイクロコンピユータに対し行われねばならな
い。
この発明の目的は、その補助により上記の如き
欠点を除去することができる所の、多計算機シス
テムにおける誤り診断のための試験装置を得るこ
とにある。
この発明の目的は、多計算機システム特にマル
チマイクロコンピユータシステムにおける誤り診
断のための試験装置において、誤り診断の際考慮
されるべきシステムバス上の信号電圧を、この信
号電圧により間接的に制御される表示装置により
光信号として認識可能にされる装置により解決さ
れる。この発明による試験装置の特徴は下記の通
りである。すなわち評価/制御ロジツクをシステ
ムバスと接続するための分離装置が備えられ、番
地−/データ情報表示装置と、アクセス信号表示
装置と、バス制御信号表示装置と、割込み信号表
示装置とが備えられ、少くも1個の公知の比較ユ
ニツトが備えられ、その一方の信号入力の群に
は、選択スイツチにより調整可能で予選択可能の
選択番地に対応する2進情報が、しかして信号入
力の第2群にはシステムバスの番地線上に現われ
る全部の番地情報が導入され、比較ユニツトは、
選択番地に対応する2進情報が出現した番地情報
と一致する際出力信号を送出し、それによつて同
時にアクセス信号バス線(例えばMRDC)上に
現われたアクセス信号が、少くも1個の論理回路
を介して試験情報に対し有効に接続され、番地−
データ情報表示装置は、かくして有効に接続され
たアクセス信号により自由にされ、アクセス信号
表示装置および割込表示装置はそれぞれ、すべて
のアクセス信号バス線およびすべての割込信号線
の瞬間の状態を認識可能にするための第1群の表
示手段、およびそれぞれ最後に活性化されたアク
セス信号および(或は)割込信号を認識可能にす
るための第2群の表示手段を包含する如くなるの
である。
この発明は全部のバス信号を同時に見えるよう
にできる利点を持つ。アクセスおよび割込信号に
おいて、該当する信号群のそれぞれ瞬間の状態、
並びに最後に活性化された信号が表示される利点
がある。その上各個の表示装置は、予選択可能の
所定の番地指定により選択的に自由にされるの
で、誤り源の簡単な限定可能性が与えられる。そ
の上この発明による試験装置は試験されるべきシ
ステムに何の影響も与えない利点がある。
この発明の他の構成に対する特徴は下記の通り
である。すなわち第1の選択スイツチを持つ第1
の比較ユニツトと、第2の選択スイツチを持つ第
2の比較ユニツトと、第3の選択スイツチを持つ
第3の比較ユニツトと、第4の選択スイツチを持
つ第4の比較ユニツトが備えられ、比較ユニツト
はそのそれぞれの補助信号入力および信号出力が
下記のように総合接続される、すなわち第1の信
号入力群に属する全信号入力を経て到達する2進
情報が、第2の信号入力群に属する全信号入力を
経て到達する所の番地信号と等しい場合に、共通
の比較ユニツト出力信号が比較ユニツトの1つか
ら送出されるように接続されるのである。
この発明の上記の構成は、この発明による試験
装置が、任意に広い番地情報を持つ所の任意の多
計算機システム中に挿入可能の利点を持つ。
この発明の他の構成は下記の特徴を持つ。すな
わち選択計数器が備えられ、それによつて予選択
された選択番地に対応する番地指定発生の回数
が、下記により、すなわち予選択されるべき回数
を表わす2進情報が、予選端スイツチの開閉位置
を経て、備えられた選択計数器において存在する
所の予選択信号入力に導入されたことにより予選
択可能であるのである。
この発明のかかる構成により、誤り探索により
決定可能の、該当する選択番地に対する番地指定
発生の回数を監視できる利点を持つ。この所定の
回数の超過および低下が、誤り源に対する充分な
逆探査を可能にする。
この発明は更に下記のように構成することがで
きる、すなわち切替スイツチが備えられ、それに
よつて選択計数器の動作形式の切替え可能であ
り、よつて予選択スイツチにより予選択される番
地指定発生の回数までの計数が有利に可能であ
る。
この発明の他の構成は下記を特徴とする。すな
わちバス制御信号表示装置内に多くのバス制御信
号表示手段が備えられ、それの前に個々に所属す
る再トリガ可能のモノフロツプが間接的に接続さ
れ、それにより、バス制御信号を伝送するバス制
御信号線上に現われる所の、針状パルスのような
短かい各個反応を把握し、かつ時間的に伸延して
認識可能にするのである。
この発明のかかる構成において、殊に試験過程
内で一回有効になるダイナミツクな妨害原因も、
所定の満足な状況の下に有利に確認できる。
この発明は更に下記のように構成される、すな
わち検出スイツチが備えられ、バス制御信号線に
個別的に所属するエクスクルシブオア素子が備え
られ、しかしてこのエクスクルシブオア素子のそ
れぞれ第1の信号入力に、該当するバス制御信号
線を経て送られた信号が、かつこのオア素子のそ
れぞれ第2の入力信号に検出スイツチにより、レ
ベル“H”か、或は“L”を持つ接続信号が導入
可能であり、よつて該当するバス制御信号線上の
短かい各個反応が、信号レベル“H”或は“L”
により検出可能であることを特徴とする。
次に図示実施例についてこの発明を詳説する。
第1図は概要接続プランの形で、この発明によ
る試験装置の基本構造を示し、第1の評価ー/制
御ロジツク1、番地−/データ情報表示装置1
1、アクセス信号表示装置12、第2の評価−/
制御ロジツク2、バス制御信号表示装置21、第
3の評価−/制御ロジツク3、割込信号表示装置
31、および分離装置4を持ち、この分離装置を
介して第1、第2および第3の評価−/制御ロジ
ツクが、試験されるべき多計算機システムのシス
テムバス5と接続される。
第2図は第1の評価−/制御ロジツク1の第1
の部分、番地−/データ情報表示装置11および
アクセス信号表示装置12に対する、1実施例の
回路技術的構成を示す。
第3図は第1の評価−/制御ロジツク1の第2
の部分に対する1実施例の回路技術的構成を示
す。
第4図は第2の評価−/制御ロジツク2および
バス制御信号表示装置21に対する1実施例の回
路技術的構成を示す。
第5図は第3の評価−/制御ロジツク3および
割込信号表示装置31に対する1実施例の回路技
術的構成を示す。
第1図は前述のようにこの発明による試験装置
の基本構造を見易い形で示し、第1評価−/制御
ロジツク1、番地−/データ情報表示装置11、
アクセス信号表示装置12、第2評価−/制御ロ
ジツク2、バス制御信号表示装置21、第3の評
価−/制御ロジツク3、割込信号表示装置31お
よび分離装置4を備え、この分離装置を介して第
1、第2、第3の評価−/制御ロジツクが、試験
されるべき多計算機システムと接続される如くな
る。
第2図および第3図は前述のように、第1評価
−/制御ロジツク1の第1部分、番地−/データ
情報表示装置11およびアクセス信号表示装置1
2に対する、並びに第1評価−/制御ロジツク1
の第2部分に対する実施例の回路技術的構成を示
す。
第1評価−/制御ロジツク1は第1図から分か
るように、分離装置4を介して番地線ADR、デ
ータ線DAT(第2図参照)および多数のアクセ
ス信号バス線、すなわちMRDC,MWTC,
IORC,IOWC(第3図参照)をもつて、システ
ムバス5と接続される。更に第1評価−/制御ロ
ジツク1は動作電圧線UBおよび線地線GNDを経
て動作電圧と接続される。後述するリセツトキー
CLBがリセツト線CLRを介して第3評価−/制
御ロジツク3にも作用する(第5図参照)。第1
の評価−/制御ロジツクの第1部分(第2図参
照)は、多数のアクセス信号線すなわちIOW,
IOR,MWT,MRD並びに内部リセツト線
CLR′、内部番地線ADR′、内部動作電圧線UR′お
よび内部接地線GND′を経て、第1評価−/制御
ロジツク1の第2部分(第3図参照)と接続され
る。番地線ADRおよびデータ線DATは更に、60
進表示ユニツト111,112,113,11
4,115,116に対応する信号入力と、番地
−/データ表示装置11内で接続される。上記の
60進表示ユニツトの動作電圧供給は、一方におい
て動作大地GND、他方においてアンド素子10
05および多くのオア素子1001,1002,
1003,1004から成る総合回路網を経て行
われる。かかる総合回路網の作用仕方は公知であ
る。上記のオア素子のそれぞれの信号出力は、上
記のアンド素子の信号入力に接続される。アンド
素子の信号出力は全60進表示ユニツトの該当する
動作電圧端子に接続される。アクセス信号線
IOW,IOR,MWT,MRDを経て評価−/制御ロ
ジツク1の第2部分から送出された予処理された
アクセス信号は、上記オア素子のそれぞれ第1信
号入力に導入される。上記オア素子のそれぞれ第
2信号入力には、抵抗を経て動作電圧電位UB
(之は信号レベル“H”に対応する)か、或は選
択的に解放スイツチS8を経て大地電位(之は信
号レベル“L”に対応する)が導入される。上記
解放スイツチS8により、どんな形式でアクセス
信号から、どんな形式のアクセス信号によつて番
地−/データ情報表示装置11を自由にすべきか
を決定することができる。アクセス信号線
IOW,IOR,MWT,MRDは更に否定素子100
6,1007,1008,1009を介して、ア
クセス信号表示装置12内で表示手段、すなわ
ち、第1群121,123,125,127の
LEDに導かれる。この表示手段はそのそれぞれ
の第2端子によつて大地電位に置かれる。この発
明によれば第1群の表示手段は、第1の光色形殊
に緑放出のLEDとして実施される。第2群の表
示手段すなわち122,124,126,128
は、アクセス信号表示装置12内で、第2の光色
形、殊に赤放出のLEDとして実施される。第1
群の表示手段は該当するアクセス信号の瞬間的の
状態を表示する。第2群の表示手段はそれぞれ最
後に活性化されたアクセス信号を表示する。この
ためこれら表示手段は、それぞれ個別に所属する
フリツプフロツプ、すなわち1014……101
7の第1の信号出力に接続される。この第2群の
LEDの第2端子はやはり大地電位にある。上記
の課題、すなわち最後に活性化されたアクセス信
号の表示を満足するため、第2群の表示手段12
2,124,126,128は上記フリツプフロ
ツプを介して接続或は遮断可能であり、その際フ
リツプフロツプのそれぞれのセツト入力は所属の
アクセス信号線と、しかして各フリツプフロツプ
のそれぞれリセツト入力は、それに個別に所属す
るアンド素子1010……1013の信号出力と
接続される。上記アンド素子はそれぞれ一方の信
号入力をもつて、それらに共通に所属する前置抵
抗を経て、信号レベル“H”に対応する所の動作
電圧電位UBに持続的に接続される。そのアンド
素子のそれぞれ他方の信号入力は、残つているア
クセス信号線と接続され、之は他のすべてのフリ
ツプフロツプのセツト入力に接続される。フリツ
プフロツプ1014……1017およびアンド素
子1010……1013から形成される総合回路
は公知の仕方で前述の課題を満足する。
第1評価−/制御ロジツク1(第3図参照)の
第2部分において、アクセス信号バス線
MRDC,MWTC,IORC,IOWCは、各線に所属
するオア素子1018……1021の第1信号入
力に接続される。これらのオア素子の第2の信号
入力は共通にノア素子1025の信号出力に接続
される。オア素子1018……1021のそれぞ
れの信号出力に、該当するアクセス信号線
IOW,IOR,MWT,MRD、並びに他のアンド素
子1022の各個信号入力が接続される。このア
ンド素子1022の信号出力は選択計数器102
3の活性化入力が接続される。この選択計数器の
計数入力は、その信号入力或は出力に関し直列に
接続された、比較ユニツト1026……1029
の最後の群の信号出力に接続される。この公知の
比較ユニツトは2群の信号入力を持つ。第1群の
信号入力には内部番地線ADR′(之はシステムバ
ス5の番地線ADRに導かれる)の心線が接続さ
れる。第2群の信号入力には個々の前在抵抗を経
て、動作電圧電位UBが内部動作電圧線UB′を経
て印加される。この配置は、第2群の信号入力に
普通の場合レベル“H”の信号が導かれることを
意味する。しかし比較ユニツトの第2群の信号入
力は、選択的にそれに個別に所属する選択スイツ
チS1……S4を介し、各個に大地電位、すなわち信
号レベル“L”が印加することができる。従つて
所定の番地指定、すなわちかかる番地指定に属す
る所のビツト組合せが、比較ユニツトおよび選択
スイツチの補助により選択される可能性が与えら
れる。やはり60進表示ユニツトとして実施される
所の計数表示ユニツト1024が所属する選択計
数器1023は、試験装置に導入される所の選択
番地の数を計数する。予選択スイツチS5の補助
により番地指定発生の数が、下記のようにして、
すなわち選択されるべき数を表わす2進情報が予
選択スイツチS5のスイツチ位置を介して、備え
られた選択計数器に存在する予選択信号入力に導
入されることによつて予選択可能である。之は下
記により、すなわちこの予選択信号入力に普通
に、個々に所属する前置抵抗を経て、信号レベル
“H”に対応する動作電圧電位か、或は信号レベ
ル“L”に対応する大地電位が選択的に導入可能
であることにより達成される。動作形式スイツチ
S6の補助により、番地選択のために備えられた
回路要素が有効に或は無作用に接続される。この
ことは既述のノア素子1025の第1信号入力
に、選択的に大地電位或は動作電圧電位(之は信
号レベル“L”或は“H”に対応する)が導入可
能であることにより行われる。ノア素子1025
の第2信号入力は、直列に接続された第1の全比
較ユニツト、すなわち1029の信号出力と接続
される。この最後に述べた接続を介して、比較ユ
ニツトの配置に、選択スイツチS1……S4によ
り予じめ調整された選択番地に対応するビツトパ
ターンが、内部番地線ADR′を介して導入され、
或は動作形式スイツチS6が閉結された場合にの
み動作形式スイツチS6の位置に応じて、アクセ
ス信号線IOW,IOR,MWT,MRDが接続される
ことが達成される。活性化スイツチ7の補助によ
り選択計数器1023は活性化され或は非活性化
である。更に切替スイツチS10が備えられ、そ
れにより選択計数器1023の動作形式が切替え
可能であり、よつて予選択スイツチS5により予
選択された番地指定発生の回数までの計数が可能
である。第2図に示すリセツトキーTCLRの補助
により、全フリツプフロツプ1014……101
7はアンド素子1010……1013を介して
(第2図参照)、間接的にリセツト可能であり、か
つ内部リセツト線CCR′と一緒に選択計数器10
23(第3図参照)が、予選択スイツチS5によ
り予選択された計数値を加算可能である。
第4図は第2の評価−/制御ロジツク2および
バス制御信号表示装置21に対する実施例の回路
技術的構成を示す。この第2の評価−/制御ロジ
ツク2にすべてのバス制御信号線INIT/,
XACK/,BUSY/,EPRO/,BPRI/、並びに
動作電圧線UBおよび接地線GNDが導かれる。上
記のバス制御信号はこれらの線に個々に所属する
エクスクルシブオア素子2001……2005の
それぞれ第1信号入力に導かれる。このエクスク
ルシブオア素子の第2信号入力に、選択的に動作
電圧電位UB(之は信号レベル“H”に対応す
る)か、或は検出スイツチS9を介して大地電位
(“L”に対応)が印加可能である。上記エクスク
ルシブルオア素子の信号出力は、それぞれ個々に
所属する否定素子2006……2010の信号入
力、およびやはり個々に所属するナンド素子20
21……2025の第1信号入力に接続される。
上記ナンド素子のそれぞれ第2信号入力は、個々
に所属する再トリガ可能のモノフロツプ2016
……2020の信号出力に接続される。かかる再
トリガ可能のモノフロツプのそれぞれ第1信号入
力は、動作電圧電位UBに固定的に接続され、し
かしてこのモノフロツプの第2の信号入力は、そ
れぞれ個々に所属する他のアンド素子2011…
…2015の信号出力と接続される。この他方の
アンド素子2011……2015のそれぞれ一方
の信号入力は、動作電圧電位UBに固く接続さ
れ、その他方の入力はそれぞれ個々に所属する既
述の否定素子2006……2010の信号出力と
接続される。再トリガ可能のモノフロツプ201
6……2020には公知の積分回路(それぞれ抵
抗、ダイオードおよび容量から成る)が所属す
る。上記のナンド素子2021……2025の信
号出力は、バス制御信号表示装置21内で、個々
に接続されたバス制御信号表示手段211……2
15に接続される。図示の実施例においてLED
として実施された表示手段のそれぞれ第2端子は
共通に大地電位に接続される。上記の再トリガ可
能のモノフロツプ2016……2020の補助に
より、バス制御信号を伝送するバス制御信号
INIT/,XACK/,BUSY/,EPRO/,
BPRI/、上に現われる針状パルスのような短か
い各個反応を把握し、かつ時間的に伸延して認識
可能にすることができる。
第5図は第3評価−/制御ロジツク3および割
込信号表示装置31に対する実施例の回路技術的
構成を示す。この第3の評価−/制御ロジツク3
に、試験されるべきシステム、INTφ,INT1…
…INT7の全ての割込線、並びに動作電圧線U
B、線地線GNDおよびリセツト線GLRが接続され
る。割込線はそれぞれ個々に所属する否定素子3
01/φ……301/7,302/φ……30
2/7,303/φ……303/7の直列接続を
経て図示の仕方で、割込線に個々に所属するナン
ド素子304/φ……304/7の第1信号入力
に導かれる。この最後に述べたナンド素子のそれ
ぞれ第2入力には、割込線がやはり直接に導かれ
る。この回路配置により割込線信号が、番地信
号、アクセス信号およびバス制御信号に対して遅
延して作用することが達成される。ナンド素子3
04/φ……304/7の信号出力には、他のナ
ンド素子306/φ……306/7(これは隣接
する全割込線に個々所属する)のそれぞれ信号入
力に接続される。更に上記ナンド素子304/φ
……304/7の各々の信号出力は、該当する割
込線に個々に所属するフリツプフロツプ308/
φ……308/7のセツト入力と接続される。か
かるナンド素子304/φ……304/7の信号
出力は更に、やはり割込線に個々に所属する他の
ナンド素子307/φ……307/7の第1信号
入力と接続される。この他方のナンド素子の第2
信号入力は、上述のナンド素子306/φ……3
06/7の信号出力と接続される。ナンド素子3
07/φ……307/7の信号出力はそれぞれ、
該当する割込線に所属するフリツプフロツプ30
8/φ……308/7のリセツト入力と接続され
る。このフリツプフロツプ308/φ……30
8/7の信号出力は、割込信号表示装置31内で
第2群3102/φ……3102/7の表示手段
のそれぞれ第1端子と接続される。図示実施例に
おいてLEDとして実施される上記の表示手段
は、第1群の他の群の表示手段、すなわち310
1/φ……3101/7と同様に割込線に個々に
所属する。この最後に述べた表示手段はやはり図
示実施例においてLEDとして実施され、その第
1端子は割込線に個々に所属する他の否定素子3
05/φ……305/7と接続され。全部の表示
手段3101/φ……3101/7,3102/
φ……3102/7の第2端子は共通に接地され
る。最後に述べた否定素子305/φ……30
5/7の信号入力は図示実施例において、それぞ
れ割込線に個々に所属する第1の否定素子30
1/φ……301/7の信号出力と接続される。
割込信号表示装置中に包含された第1群310
1/φ……3101/7の表示手段は、第1光色
形の殊に緑放射のLEDとして、しかして第2群
3102/φ……3102/7の表示手段は第2
の光色形、殊に赤放射のLEDとして実施され
る。表示手段3101/φ……3101/7は割
込信号線の瞬間の状態を表示する。表示手段31
02/φ……3102/7は、最後に活性化され
た割込信号を表示する。上記の総合回路は公知の
仕方で回路機能を可能にする。
フリツプフロツプ308/φ……308/7は
間接的に、すなわちナンド素子306/φ……3
06/7或は307/φ……307/7を介し
て、リセツト入力を経てリセツトキーTCLRの補
助によつてリセツトすることができる。
この発明による試験装置により評価され、かつ
総合されたすべてのバス信号は、外部機器のトリ
ガに使用することができる。表示装置のダイナミ
ツク状況は誤りに探索において有益である。この
発明による試験装置は公知のものとは反対に試験
されるシステムに影響しない。更にこの試験装置
はロジツク解析器とは反対に真実な時間における
測定を保証する。多計算機システムにおいて各個
計算機例えば各個マイクロコンピユータに、この
発明による試験装置を装備することは、回路コス
トを僅少にしかつ取扱いを容易にすることができ
る。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による試験装置の概念図、第
2図は第1の評価−/制御ロジツク1の第1部
分、番地−/データ情報表示装置11およびアク
セス信号表示装置12の実施例、第3図は第1の
評価−/制御ロジツク1の第2部分の実施例、第
4図は第2の評価−/制御ロジツク2および制御
信号表示装置21の実施例、第5図は第3の評価
−/制御ロジツク3および割込信号表示装置31
の実施例を示す図である。 1……第1評価−/制御ロジツク、2……第2
評価−/制御ロジツク、3……第3評価−/制御
ロジツク、4……分離装置、5……システムバ
ス、11……番地−/データ情報表示装置、12
……アクセス信号表示装置、21……バス制御信
号表示装置、31……割込信号表示装置。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 システムバスにおける考慮されるべき信号電
    圧が誤り診断の際、この信号電圧により制御され
    る表示装置により光信号として認識可能にされる
    ものにおいて、評価/制御ロジツク1,2,3を
    システムバス5と接続するための分離装置4が備
    えられ、番地−/データ情報表示装置11、アク
    セス信号表示装置12、バス制御信号表示装置2
    1、および割込信号表示装置31が備えられ、少
    くも1個の公知の比較ユニツト(例えば102
    6)が備えられ、その第1の信号入力の群には、
    選択スイツチ(例えばS1)により予選択可能の
    調整可能の選択番地に対応する2進情報が、しか
    して第2の信号入力の群には、システムバス5の
    番地線に現れるすべての番地情報が導入され、比
    較ユニツト1026は、選択番地に対応する2進
    情報と、出現した番地情報との一致の際出力信号
    を送出し、それにより同時にアクセス信号バス線
    (例えばMRDC)上に現れるアクセス信号が、少
    くも1個の論理回路を介して試験装置に対し有効
    に接続され、番地−/データ情報表示装置11
    が、このように有効に接続されたアクセス信号に
    よりエネーブルにされ、しかしてアクセス信号表
    示装置12および割込信号表示装置31は、すべ
    てのアクセス信号バス線IOWC,IORC,
    MWTC,MRDCおよびすべての割込信号線INT
    φ,INT1〜INT7の瞬間の状態を認識可能にす
    るため第1の群のそれぞれ表示手段、およびそれ
    ぞれ最後に活性化されたアクセス信号および(或
    は)割込信号を認識可能にするための、第2群の
    それぞれの表示手段を包含することを特徴とする
    多計算システムにおける誤り診断のための試験装
    置。 2 第1の選択スイツチS1を持つ第1の比較ユ
    ニツト1026と、第2の選択スイツチS2を持
    つ第2の比較ユニツト1027と、第3の選択ス
    イツチS3を持つ第3の比較ユニツト1028
    と、第4の比較スイツチS4を持つ第4の比較ユ
    ニツト1029とが備えられ、これら比較ユニツ
    ト1026〜1029はそれぞれの補助信号入力
    および信号出力を介して下記のように総合接続さ
    れる、すなわち信号入力の第1群に所属する全信
    号入力を経て到達した2進情報が、信号入力の第
    2群に所属するすべての信号入力を経て到達した
    番地情報と等しい場合、比較ユニツトの1つ(例
    えば1029)から共通の比較ユニツト出力信号
    が送出されるようになることを特徴とする特許請
    求の範囲第1項記載の試験装置。 3 選択計数器1023が備えられ、それにより
    予選択された選択番地に対応する番地指定発生の
    数が決定可能であり、予選択スイツチS5が備え
    られ、それにより番地指定発生の数が下記により
    予選択可能である、すなわち予選択されるべき数
    を表す2進情報が、予選択スイツチS5の開閉位
    置を経て、備えられた選択計数器1023に存在
    する予選択信号入力に導入されることにより予選
    択可能にされることを特徴とする特許請求の範囲
    第1項記載の試験装置。 4 解放スイツチS8が備えられ、それにより番
    地−/データ情報表示装置11が、どの形式のア
    クセス信号をエネーブルにするかを決定可能にさ
    れたことを特徴とする特許請求の範囲第1項記載
    の試験装置。 5 動作形式スイツチS6が備えられ、それによ
    り番地選択に対して備えられた回路要素が有効に
    或は無作用に接続される如くなることを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項記載の試験装置。 6 活性化スイツチS7が備えられ、それにより
    選択計数器1023が活性化された或は非活性化
    されて接続されることができることを特徴とする
    特許請求の範囲第3項記載の試験装置。 7 切換スイツチS10が備えられ、それにより
    選択計数器1023の動作形式が切替え可能であ
    り、よつて計数が、予選択スイツチS5により予
    選択されるべき番地指定発生の数に到達するまで
    可能にされることを特徴とする特許請求の範囲第
    3項記載の試験装置。 8 バス制御信号表示装置21内に多くのバス制
    御信号表示手段211……215が備えられ、そ
    れに個々に所属する再トリガ可能のモノフロツプ
    2016……2020が前置され、それによりバ
    ス制御信号を伝送する所のバス制御信号線
    INIT/,XACK/,BUSY/,EPRO/,BPR
    /上に現れる針状パルスのような短い各個反応
    を把握し、時間的に伸延して認識可能にすること
    ができることを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載の試験装置。 9 検出スイツチS9が備えられ、バス制御信号
    線INIT/,XACK/,BUSY/,EPRO/,BPR
    /に個別に所属するエクスクルシブオア素子2
    001……2005が備えられ、エクスクルシブ
    オア素子2001〜2005のそれぞれ第1の信
    号入力に、当該のバス制御信号線例えばINIT/
    を経て送信された信号がおよびエクスクルシブオ
    ア素子のそれぞれの第2信号入力に検出スイツチ
    S9により、レベル“H”か或は“L”を持つ持
    続信号が導入され、よつて当該のバス制御信号線
    例えばINIT/上の短かい各個反応が、信号レベ
    ル“H”或は“L”により検出可能であることを
    特徴とする特許請求の範囲第8項記載の試験装
    置。 10 番地−/データ情報表示装置11の中に多
    くの表示ユニツト111……116が包含され、
    これらは公知の60の進表示ユニツトとして実施さ
    れることを特徴とする特許請求の範囲第1項或は
    第4項記載の試験装置。 11 アクセス信号表示装置12中に包含された
    第1群の表示手段121,123,125,12
    7は、第1の光色形の、殊に緑放出のLEDであ
    り、第2群の表示手段は第2光色形の、殊に赤放
    出のLEDであることを特徴とする特許請求の範
    囲第1項記載の試験装置。 12 割込信号表示装置中に包含される第1群の
    表示手段3101/φ……3101/7は第1光
    色形、殊に緑放出のLEDであり、第2群の表示
    手段3102/φ……3102/7は第2光色
    形、殊に赤放出のLEDであることを特徴とする
    特許請求の範囲第1項記載の試験装置。 13 選択計数器1023に計数表示ユニツト1
    024が所属され、それによつて選択計数器10
    23の計数状態が認識可能にされることを特徴と
    する特許請求の範囲第7項記載の試験装置。 14 リセツトキーTCLRが備えられ、それによ
    つて表示ユニツトおよび(或は)表示手段に対し
    て蓄積された全信号を消滅させることができ、し
    かして選択スイツチ1023に予選択スイツチS
    5により予選択された計数値が導入できることを
    特徴とする特許請求の範囲第1項、第7項或は第
    13項記載の試験装置。
JP11096280A 1979-08-13 1980-08-12 Error diagnosis tester in multicomputer system Granted JPS5631149A (en)

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Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US4251874A (en) * 1978-10-16 1981-02-17 Pitney Bowes Inc. Electronic postal meter system
US4672574A (en) * 1981-06-16 1987-06-09 International Business Machines Corporation Data communication system with terminal for displaying the coded stream of data being transmitted
JPS5811959A (ja) * 1981-07-15 1983-01-22 Fuji Xerox Co Ltd 電子複写機の出力チエツク装置
FR2532771B1 (fr) * 1982-09-08 1988-05-13 Service Sa Procede et dispositif pour tester statiquement l'ensemble des connexions et des circuits integres peripheriques d'un microprocesseur
US4636967A (en) * 1983-10-24 1987-01-13 Honeywell Inc. Monitor circuit
DE3437631A1 (de) * 1984-10-13 1986-04-24 Agfa-Gevaert Ag, 5090 Leverkusen Aufbereitung von gebrauchten entwicklern
JPS61294375A (ja) * 1985-06-21 1986-12-25 Ando Electric Co Ltd サンプリングデ−タの発生順序判定方法
US5184312A (en) * 1985-10-13 1993-02-02 The Boeing Company Distributed built-in test equipment system for digital avionics
US4853626A (en) * 1987-03-10 1989-08-01 Xilinx, Inc. Emulator probe assembly for programmable logic devices
JPH0769376B2 (ja) * 1989-08-30 1995-07-31 マツダ株式会社 車両用多重伝送装置
US5996200A (en) * 1993-09-09 1999-12-07 Sms Schloemann-Siemag Aktiengesellschaft Descaling device and method
JP3884914B2 (ja) * 2001-01-30 2007-02-21 株式会社ルネサステクノロジ 半導体装置
CN107063063B (zh) * 2017-06-08 2023-12-22 深圳怡化电脑股份有限公司 一种位置检测电路及设备

Family Cites Families (11)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US3027310A (en) * 1959-10-02 1962-03-27 Harry L Lane Cleaning bath and method of cleaning moving metal strip
DE1927549A1 (de) * 1969-05-30 1970-12-03 Ibm Deutschland Fehlerpruefeinrichtung in elektronischen Datenverarbeitungsanlagen
US3813531A (en) * 1973-01-02 1974-05-28 Honeywell Inf Systems Diagnostic checking apparatus
FR2250450A5 (ja) * 1973-09-10 1975-05-30 Honeywell Bull Soc Ind
US3927310A (en) * 1974-01-25 1975-12-16 Us Air Force Digital test apparatus
US3937938A (en) * 1974-06-19 1976-02-10 Action Communication Systems, Inc. Method and apparatus for assisting in debugging of a digital computer program
US3939333A (en) * 1974-08-09 1976-02-17 Electronic Engineering Co. Of California Previous events memory
FR2292285A1 (fr) * 1974-11-22 1976-06-18 Jerome Jacky Dispositif d'enregistrement des instructions d'un ordinateur
US4016543A (en) * 1975-02-10 1977-04-05 Formation, Inc. Processor address recall system
GB1591448A (en) * 1977-11-29 1981-06-24 Marconi Co Ltd Systems for performing sequences of electrical tests
US4253183A (en) * 1979-05-02 1981-02-24 Ncr Corporation Method and apparatus for diagnosing faults in a processor having a pipeline architecture

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