JPS6245115A - Treater - Google Patents
TreaterInfo
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- JPS6245115A JPS6245115A JP18422485A JP18422485A JPS6245115A JP S6245115 A JPS6245115 A JP S6245115A JP 18422485 A JP18422485 A JP 18422485A JP 18422485 A JP18422485 A JP 18422485A JP S6245115 A JPS6245115 A JP S6245115A
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- JP
- Japan
- Prior art keywords
- inner shell
- processing
- shell
- tank
- outer shell
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
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Landscapes
- Photosensitive Polymer And Photoresist Processing (AREA)
- Weting (AREA)
- Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
Abstract
Description
【発明の詳細な説明】
[技術分野]
本発明は、処理技術、特に、半導体装置の製造において
ウェハに塗布されたフォトレジストを有a ?8剤を用
いて剥離する技術に適用して有効な技術に関する。DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Technical Field] The present invention relates to processing techniques, particularly to the use of photoresists applied to wafers in the manufacture of semiconductor devices. This invention relates to a technique that is effective when applied to a technique of peeling using 8 agents.
[背景技術]
たとえば、半導体装置の製造においては、ウェハに塗布
されたフォトレジストを剥離除去するため、所定の有J
R溶剤などからなるフォトレジストI離剤中にウェハを
浸漬させ、ウェハに付着したフォトレジストを溶解除去
することが行われる。[Background Art] For example, in the manufacture of semiconductor devices, a predetermined method is used to remove photoresist coated on a wafer.
The wafer is immersed in a photoresist I release agent made of R solvent or the like, and the photoresist adhering to the wafer is dissolved and removed.
このような装置としては、所定の処理槽内に有i溶剤を
貯留させ、ウェハを処理槽内のフォトレジスト剥離剤中
に浸漬させることによってヱリ離作業を行うとともに、
作業空間に揮散された有a ?8剤蒸気を処理槽の近傍
に設けられた排気ダクトによって直接排除する構造のも
のが考えられる。Such a device stores a solvent in a predetermined processing tank and performs the removal work by immersing the wafer in the photoresist stripping agent in the processing tank.
Was it vaporized in the work space? A structure may be considered in which the 8-component vapor is directly removed by an exhaust duct provided near the processing tank.
ところが、この装置では、作業空間が直接排気ダクトに
よって排気される構造であるため、処理槽から作業空間
内に揮散され、排気ダクトによって排除される有a溶剤
の量が増加され、存機溶剤の使用量が増大されるという
欠点があることを本発明者は見い出した。However, since this device has a structure in which the working space is directly exhausted by the exhaust duct, the amount of alkaline solvent that is volatilized from the processing tank into the working space and removed by the exhaust duct is increased, and the amount of the existing solvent is increased. The inventor has found that the disadvantage is that the amount used is increased.
なお、半導体装置の製造におけるウェハ処理技術につい
て説明されている文献としては、株式会社工業調査会、
昭和57年11月15日発行「電子材料41984年別
冊、P92〜P96がある。In addition, documents explaining wafer processing technology in the manufacture of semiconductor devices include Kogyo Kenkyukai Co., Ltd.;
Published November 15, 1980, ``Electronic Materials 4 1984 Special Issue, P92-P96.
「発明の目的]
本発明の目的は、使用される処理液の損失を減少させる
ことが可能な処理技術を提供することにある。"Object of the Invention" An object of the present invention is to provide a processing technique that can reduce the loss of the processing liquid used.
本発明の前記ならびにその他の目的と新規な特徴は、本
明細書の記述および添付図面から明らかになるであろう
。The above and other objects and novel features of the present invention will become apparent from the description of this specification and the accompanying drawings.
[発明の概要コ
本願において開示される発明のうち代表的なものの概要
を簡単に説明すれば、つぎの通りである。[Summary of the Invention] A brief overview of typical inventions disclosed in this application is as follows.
すなわち、処理槽内に貯留される処理液内に被処理物を
浸漬することによって所定の処理を行う処理装置の、前
記処理槽が少なくとも内殻および該内殻を収容する外殻
によって二重に密閉される空間内に位置される構造とす
ることにより、処理槽から作業空間内に揮散される処理
液の蒸気が確実に捕捉されるようにして、外部に散逸さ
れる処理液の量を低下させ、処理液の使用量が低減され
るようにしたものである。In other words, in a processing apparatus that performs a predetermined treatment by immersing a workpiece in a processing liquid stored in a processing tank, the processing tank is double-layered by at least an inner shell and an outer shell that accommodates the inner shell. By having a structure located in a sealed space, the vapor of the processing liquid volatilized from the processing tank into the work space is reliably captured, reducing the amount of processing liquid dissipated to the outside. This reduces the amount of processing liquid used.
[実施例]
第1図は、本発明の一実施例である処理装置の断面図で
ある。[Example] FIG. 1 is a sectional view of a processing apparatus that is an example of the present invention.
本体1は、外殻2およびこの外殻2の内部に収容される
内殻3で構成され、内殻3の内部には処理槽4が位置さ
れている。The main body 1 is composed of an outer shell 2 and an inner shell 3 housed inside the outer shell 2, and a processing tank 4 is located inside the inner shell 3.
さらに、処理槽4の内部には所定の有機溶剤などからな
るフォトレジスト剥離液5 (処理液)が貯留され、本
体lの底部に設けられたクンクロからパイプ7を介して
適宜補給される構造とされている。Furthermore, a photoresist stripping liquid 5 (processing liquid) made of a predetermined organic solvent or the like is stored inside the processing tank 4, and is replenished as needed through a pipe 7 from a tank provided at the bottom of the main body l. has been done.
外殻2および内殻3の側面には、それぞれrR8および
扉9が紙面に垂直な方向に開閉自在に設けられ、外殻2
および内殻3の内部が外部から遮断されて密閉されると
ともに、内殻3の内部に位置される処理槽4の内部に対
して、所定の搬送治具10に収納されたウェハ11(被
処理物)の挿入および取り出し操作が行われるように構
成されている。An rR8 and a door 9 are provided on the side surfaces of the outer shell 2 and the inner shell 3, respectively, so that they can be opened and closed in a direction perpendicular to the plane of the paper.
The inside of the inner shell 3 is sealed and sealed from the outside, and the wafers 11 (to be processed) housed in a predetermined transport jig 10 are transported to the inside of the processing tank 4 located inside the inner shell 3. The device is configured to perform insertion and removal operations (objects).
内殻3の上部壁面には窓部12が設けられ、照明灯13
によって内殻3の内部が照明されている。A window portion 12 is provided on the upper wall surface of the inner shell 3, and a lighting lamp 13 is provided.
The inside of the inner shell 3 is illuminated by.
また、内殻3の外周には、内部を所定温度の流体が流通
される冷却バイブ14が巻回されて内殻3の壁面が所定
の温度に冷却されるように構成され、内殻3の内部空間
に処理槽5から1散されたフォトレジスト剥離剤5の蒸
気が、冷却された壁面において凝縮されることによって
内殻3の底部に設けられたトラップ部15に回収される
ものである。Further, a cooling vibe 14 through which a fluid at a predetermined temperature flows is wound around the outer periphery of the inner shell 3 so that the wall surface of the inner shell 3 is cooled to a predetermined temperature. The vapor of the photoresist stripping agent 5 dispersed from the processing tank 5 into the internal space is condensed on the cooled wall surface and collected in the trap section 15 provided at the bottom of the inner shell 3.
トラップ部15の下部には回収ビン16が位置され、ト
ラップ部15に回収されて蓄積されたフォトレジスト剥
離剤5が適宜回収ビン16の内部に貯留されるように構
成されている。A collection bin 16 is located below the trap section 15, and the photoresist stripping agent 5 collected and accumulated in the trap section 15 is stored in the collection bin 16 as appropriate.
さらに、外殻2には排気ダクト17が設けられ、外殻2
と内殻3との間の空間の排気がおこなわれる構造とされ
ている。Furthermore, the outer shell 2 is provided with an exhaust duct 17, and the outer shell 2
The structure is such that the space between the inner shell 3 and the inner shell 3 is evacuated.
また、本体1の底部においてタンク6および回収ビン1
6が位置される空間には排気ダクト18が設けられてい
る。In addition, a tank 6 and a collection bin 1 are provided at the bottom of the main body 1.
An exhaust duct 18 is provided in the space where 6 is located.
以下、本実施例の作用について説明する。The operation of this embodiment will be explained below.
はじめに、処理槽4の内部には所定の温度のフォトレジ
スト剥離剤5が貯留されるとともに、冷却バイブ14に
は所定の温度の流体が流通され、さらに、排気ダクト1
7および18による排気操作が開始される。First, a photoresist stripper 5 at a predetermined temperature is stored inside the processing tank 4, a fluid at a predetermined temperature is passed through the cooling vibe 14, and the exhaust duct 1
7 and 18 are started.
次に、外殻2の738および内殻3の扉9が開放され、
搬送治具10に収納され、表面にフォトレジストが付着
されたウェハ11が、所定の搬送機構(図示せず)によ
って本体1の外部から内殻3の内部に搬送され、内殻3
の内部に収容された処理槽4の内部に貯留されたフォト
レジスト剥離剤5に浸漬されるとともに、扉8および9
が閉止されて内殻3および外殻2が密閉状態にされる。Next, 738 of the outer shell 2 and the door 9 of the inner shell 3 are opened,
A wafer 11, which is housed in a transport jig 10 and has a photoresist attached to its surface, is transported from the outside of the main body 1 to the inside of the inner shell 3 by a predetermined transport mechanism (not shown).
The doors 8 and 9 are immersed in the photoresist stripping agent 5 stored inside the processing tank 4 housed inside.
is closed, and the inner shell 3 and outer shell 2 are brought into a sealed state.
そして、処理槽4の内部においてフォトレジスト剥離剤
5に浸漬されたウェハ11の表面に付着されたフォトレ
ジストがフォトレジスト剥離剤5によって溶解されて除
去される。Then, the photoresist attached to the surface of the wafer 11 immersed in the photoresist stripping agent 5 inside the processing bath 4 is dissolved and removed by the photoresist stripping agent 5.
この場合、処理槽4が密閉された内殻3およびこの内殻
3を収容する外殻2によって外部空間から遮断されてお
り、処理槽4から内殻3の内部空間に揮散されたフォト
レジスト剥離剤5の蒸気は確実に捕捉され、内殻3の外
周部に設けられた冷却パイプによって所定の温度に冷却
されている内殻3の壁面で凝縮されてトラップ部15に
回収されるとともに、内殻3と外殻2との間の空間が排
気ダクト17によって排気されるように構成され、処理
槽4が位置される空間の雲囲気が直接外部に排気されな
い構造とされている。In this case, the processing tank 4 is isolated from the outside space by a sealed inner shell 3 and an outer shell 2 that accommodates the inner shell 3, and the photoresist evaporated from the processing tank 4 into the inner space of the inner shell 3 is removed. The vapor of the agent 5 is reliably captured, condensed on the wall surface of the inner shell 3 which is cooled to a predetermined temperature by a cooling pipe provided on the outer periphery of the inner shell 3, and collected in the trap section 15. The space between the shell 3 and the outer shell 2 is configured to be exhausted by an exhaust duct 17, and the structure is such that the cloud surrounding air in the space where the processing tank 4 is located is not directly exhausted to the outside.
このため、処理槽4から1敗されるフォトレジスト剥離
剤5の損失が低減され、ウェハ11に付着したフォトレ
ジストを剥離する処理に要するフォトレジスト剥離剤5
の使用量が減少される。Therefore, the loss of the photoresist stripping agent 5 that is removed from the processing tank 4 is reduced, and the photoresist stripping agent 5 required for the process of stripping the photoresist attached to the wafer 11 is reduced.
usage will be reduced.
この結果、ウェハ11に付着したフォトレジストを剥離
する作業の生産性が向上される。As a result, the productivity of peeling off the photoresist attached to the wafer 11 is improved.
また、外殻2および内殻3にそれぞれ設けられた扉8お
よび9の開閉によって内殻3の内部から外部に敗逸され
るフォトレジスト剥離剤5の蒸気は、内殻3と外殻2と
の間の空間を介して排気ダクト17によって排除され、
本体lの外部に散逸されることが回避されるため、フォ
トレジスト剥離剤5の蒸気が本体1の外部に散逸される
ことに起因する火災発生などの危険が防止される。Further, the vapor of the photoresist stripping agent 5 that is lost from the inside of the inner shell 3 to the outside by opening and closing the doors 8 and 9 provided on the outer shell 2 and the inner shell 3, respectively, is transferred to the inner shell 3 and the outer shell 2. is excluded by an exhaust duct 17 through a space between,
Since the vapor of the photoresist stripping agent 5 is prevented from being dissipated to the outside of the main body 1, a risk such as a fire occurring due to the vapor of the photoresist stripping agent 5 being dissipated to the outside of the main body 1 is prevented.
所定の時間経過後、付着したフォトレジストなどが除去
されたウェハ11は搬送治具10とともに内殻3の5t
19および外殻2の扉8を通じて本体1の外部に取り出
される。After a predetermined period of time has elapsed, the wafer 11 from which the attached photoresist etc. have been removed is transferred to the inner shell 3 at 5t along with the transport jig 10.
19 and the door 8 of the outer shell 2 to the outside of the main body 1.
上記の一連の操作を繰り返すことによって、多数のウェ
ハ11のフォトレジスト剥離処理が効率良く安全に行わ
れる。By repeating the above series of operations, the photoresist stripping process for a large number of wafers 11 can be performed efficiently and safely.
(1)、処理槽内に貯留される処理液に被処理物を浸漬
することによって所定の処理を行う処理装置め前記処理
槽が内殻および該内殻を収容する外殻によって二重に密
閉される空間内に位置される構造であるため、処理槽か
ら作業空間内に揮散される処理液の蒸気が確実に捕捉さ
れ、外部に敗逸される処理液の量を低下させることがで
き、処理液の使用量を低減できる。(1) A processing device that performs a predetermined treatment by immersing an object to be processed in a processing liquid stored in a processing tank.The processing tank is double sealed by an inner shell and an outer shell that accommodates the inner shell. Since the structure is located in the space where the processing liquid is vaporized from the processing tank into the working space, it is possible to reliably capture the vapor of the processing liquid that is evaporated into the working space, reducing the amount of processing liquid that is lost to the outside. The amount of processing liquid used can be reduced.
(2)、前記(1)の結果、処理槽から揮散されて外部
に敗逸される処理液の蒸気による火災発生などの危険が
回避され、作業を安全に行うことができる。(2) As a result of (1) above, the danger of fire caused by the vapor of the processing liquid volatilized from the processing tank and lost to the outside is avoided, and the work can be carried out safely.
(3)、内殻の外周部に、内部に所定の温度の流体が流
通される冷却パイプが巻回され、内殻の壁面が所定の温
度に冷却される構造であることにより、内殻の内部に揮
散された処理液の蒸気を凝縮させて確実に回収できる。(3) A cooling pipe through which fluid at a predetermined temperature flows is wound around the outer circumference of the inner shell, and the wall surface of the inner shell is cooled to a predetermined temperature. The vapor of the processing liquid volatilized inside can be condensed and reliably recovered.
(4)、前記(1)〜(3)の結果、処理における生産
性が向上される。(4) As a result of the above (1) to (3), the productivity in processing is improved.
以上本発明者によってなされた発明を実施例に基づき具
体的に説明したが、本発明は前記実施例に限定されるも
のではなく、その要旨を逸脱しない範囲で種々変更可能
であることはいうまでもない。Although the invention made by the present inventor has been specifically explained above based on Examples, it goes without saying that the present invention is not limited to the Examples and can be modified in various ways without departing from the gist thereof. Nor.
たとえば、処理としては、ウェハのフォトレジスト剥離
処理に限らず、乾燥処理などであっても良い。For example, the treatment is not limited to photoresist stripping treatment on the wafer, but may also be drying treatment or the like.
[利用分野]
以上の説明では主として本発明者によってなされた発明
をその背景となった利用分野であるウェハのフォトレジ
スト剥離処理に適用した場合について説明したが、それ
に限定されるものではなく揮発性の処理液を使用する技
術に広く適用できる。[Field of Application] In the above explanation, the invention made by the present inventor was mainly applied to the field of application which is the background of the invention, which is the photoresist stripping process of wafers. It can be widely applied to technologies that use processing liquids.
第1図は、本発明の一実施例である処理装置の断面図で
ある。
l・・・本体、2・・・外殻、3・・・内殻、4・・・
処理槽、5・・・フォトレジスト剥離剤(処理?&)、
6・・・タンク、7・・・パイプ、8.9・・・扉、l
O・・・搬送治具、11・・・ウェハ、12・・・窓、
13・・・照明灯、14・・・冷却パイプ、15・・・
トラップ部、16・・・回収ビン、17.18・・・排
気ダクト。FIG. 1 is a sectional view of a processing apparatus that is an embodiment of the present invention. l...Main body, 2...Outer shell, 3...Inner shell, 4...
Processing tank, 5... Photoresist stripping agent (processing?&),
6...tank, 7...pipe, 8.9...door, l
O...Transportation jig, 11...Wafer, 12...Window,
13...Lighting light, 14...Cooling pipe, 15...
Trap section, 16... Collection bin, 17.18... Exhaust duct.
Claims (1)
ことによって所定の処理を行う処理装置であって、前記
処理槽が内殻および該内殻を収容する外殻によって二重
に密閉される空間内に位置されてなることを特徴とする
処理装置。 2、前記内殻の外周部に、内部に所定の温度の流体が流
通される冷却パイプが巻回されてなることを特徴とする
特許請求の範囲第1項記載の処理装置。 3、前記被処理物がウェハであることを特徴とする特許
請求の範囲第1項記載の処理装置。 4、前記処理液がフォトレジスト剥離剤であることを特
徴とする特許請求の範囲第1項記載の処理装置。[Scope of Claims] 1. A processing device that performs a predetermined treatment by immersing an object to be processed in a processing liquid stored in a processing tank, the processing tank containing an inner shell and the inner shell. A processing device characterized in that it is located in a space that is doubly sealed by an outer shell. 2. The processing apparatus according to claim 1, wherein a cooling pipe through which a fluid at a predetermined temperature flows is wound around the outer circumference of the inner shell. 3. The processing apparatus according to claim 1, wherein the object to be processed is a wafer. 4. The processing apparatus according to claim 1, wherein the processing liquid is a photoresist stripping agent.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18422485A JPS6245115A (en) | 1985-08-23 | 1985-08-23 | Treater |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP18422485A JPS6245115A (en) | 1985-08-23 | 1985-08-23 | Treater |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6245115A true JPS6245115A (en) | 1987-02-27 |
Family
ID=16149539
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP18422485A Pending JPS6245115A (en) | 1985-08-23 | 1985-08-23 | Treater |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS6245115A (en) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10974425B2 (en) | 2018-04-17 | 2021-04-13 | Sodickco., Ltd. | Mold apparatus |
-
1985
- 1985-08-23 JP JP18422485A patent/JPS6245115A/en active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US10974425B2 (en) | 2018-04-17 | 2021-04-13 | Sodickco., Ltd. | Mold apparatus |
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