JPS6244643A - 光フアイバ測定装置 - Google Patents
光フアイバ測定装置Info
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- JPS6244643A JPS6244643A JP19386086A JP19386086A JPS6244643A JP S6244643 A JPS6244643 A JP S6244643A JP 19386086 A JP19386086 A JP 19386086A JP 19386086 A JP19386086 A JP 19386086A JP S6244643 A JPS6244643 A JP S6244643A
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- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/33—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter being disposed at one fibre or waveguide end-face, and a light receiver at the other end-face
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)
- Photometry And Measurement Of Optical Pulse Characteristics (AREA)
- Light Guides In General And Applications Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明は、複数の波長の光ファイバを測定する装置に関
するものである。
するものである。
一般に、光ファイバの伝搬特性の測定は、光エネルギを
ファイバの入力端に入射し、このファイバが伝送した光
エネルギ及びこのファイバの出力端からの光エネルギの
特性を調べ、且つ（又は）ファイバの入力端においてこ
のファイバの反射エネルギの特性を調べて行われる。光
ファイバの伝搬特性は波長によって大きく変わるので、
有効な測定結果を得るためには、ファイバに入射する光
エネルギの波長をそのファイバの設計された動作波長に
一致させる必要がある。光ファイバの動作波長に対する
規格がまだ１つもないので、種々の光ファイバを試験す
るには、異なる波長の光エネルギを発生する必要がある
。現在使用されている大部分の光ファイバ１よ８２５ナ
ノ・メートル（ｎｍ＞で動作するように設計されている
が、１３００ｎｍ及び１５５０ｎｍで動作するファイバ
の使用も増えている。
ファイバの入力端に入射し、このファイバが伝送した光
エネルギ及びこのファイバの出力端からの光エネルギの
特性を調べ、且つ（又は）ファイバの入力端においてこ
のファイバの反射エネルギの特性を調べて行われる。光
ファイバの伝搬特性は波長によって大きく変わるので、
有効な測定結果を得るためには、ファイバに入射する光
エネルギの波長をそのファイバの設計された動作波長に
一致させる必要がある。光ファイバの動作波長に対する
規格がまだ１つもないので、種々の光ファイバを試験す
るには、異なる波長の光エネルギを発生する必要がある
。現在使用されている大部分の光ファイバ１よ８２５ナ
ノ・メートル（ｎｍ＞で動作するように設計されている
が、１３００ｎｍ及び１５５０ｎｍで動作するファイバ
の使用も増えている。
現在使用されている測定器は一度に１つの光源しか使用
できず、測定器に現に設置されている光源の波長と異な
る動作波長のファイバを試験するには、測定器の光コネ
クタから光源を外して測定器からこの光源を取外し、適
切な動作波長の光源を測定器に装着し、この光源を測定
器のコネクタに接続する必要がある。したがって、各光
源がそれぞれ自己の光コネクタを持たなければならず、
しかも、測定燥作が面倒である。
できず、測定器に現に設置されている光源の波長と異な
る動作波長のファイバを試験するには、測定器の光コネ
クタから光源を外して測定器からこの光源を取外し、適
切な動作波長の光源を測定器に装着し、この光源を測定
器のコネクタに接続する必要がある。したがって、各光
源がそれぞれ自己の光コネクタを持たなければならず、
しかも、測定燥作が面倒である。
よって、本発明の目的は、測定器内に光源を装着し直す
ことなく複数の動作波長の光ファイバを試験できる光フ
ァイバ測定装置の提供にある。
ことなく複数の動作波長の光ファイバを試験できる光フ
ァイバ測定装置の提供にある。
〔問題点を解決するだめの手段及び作用〕所定動作波長
の光ファイバの伝搬特性を測定する本発明の装置は、少
なくとも第１及び第２の波長の光エネルギを放射できる
ように、少なくとも第１及び第２の狭帯域光源を有する
伝送装置を具えている。ただし、第１波長はファイバの
動作波長にほぼ等しくする。これらの光源が放射する光
エネルギは、すべて共通光軸に沿うように導いて、被測
定光ファイバに入射させる。試験信号発生手段により、
光源に対する励起信号を発生して光源の放射エネルギを
光試験信号に変換する。また、光源制御手段により、選
択的に光源を付勢すると共に選択した光源を表わす識別
信号を発生する。
の光ファイバの伝搬特性を測定する本発明の装置は、少
なくとも第１及び第２の波長の光エネルギを放射できる
ように、少なくとも第１及び第２の狭帯域光源を有する
伝送装置を具えている。ただし、第１波長はファイバの
動作波長にほぼ等しくする。これらの光源が放射する光
エネルギは、すべて共通光軸に沿うように導いて、被測
定光ファイバに入射させる。試験信号発生手段により、
光源に対する励起信号を発生して光源の放射エネルギを
光試験信号に変換する。また、光源制御手段により、選
択的に光源を付勢すると共に選択した光源を表わす識別
信号を発生する。
本発明の装置は、光レシーバ（受光器）と−緒に使用す
る。この装置はまたリフレクトメータの如き単一端試験
装置の一部として使用でき、この場合は、光レシーバを
ファイバの入力端に結合しファイバの入力端から他端で
反射された光エネルギを受けることになる。本発明の装
置を２端試験装置の一部として使用する場合は、光レシ
ーバをファイバの出力端に結合しファイバの出力端から
放射される光エネルギを受けることになる。どちらの場
合も、光レシーバは、ファイバから放射された光エネル
ギを受け、この受光エネルギを電気信号に変換する。ま
た、この光レシーバは、それぞれの光源に対応する識別
コードを弁別することができる。
る。この装置はまたリフレクトメータの如き単一端試験
装置の一部として使用でき、この場合は、光レシーバを
ファイバの入力端に結合しファイバの入力端から他端で
反射された光エネルギを受けることになる。本発明の装
置を２端試験装置の一部として使用する場合は、光レシ
ーバをファイバの出力端に結合しファイバの出力端から
放射される光エネルギを受けることになる。どちらの場
合も、光レシーバは、ファイバから放射された光エネル
ギを受け、この受光エネルギを電気信号に変換する。ま
た、この光レシーバは、それぞれの光源に対応する識別
コードを弁別することができる。
以下、添付図を参照して本発明の好適な一実施例を説明
する。添付図は、本発明による多波長光ファイバ測定装
置の好適な実施例を示すブロック図である。この測定装
置は、光源部及び受光部を具えている。この光源部は複
数の光源（２１）。
する。添付図は、本発明による多波長光ファイバ測定装
置の好適な実施例を示すブロック図である。この測定装
置は、光源部及び受光部を具えている。この光源部は複
数の光源（２１）。
（２゜）、・・・・、’（２ｎ）を有しており、これら
の光源は各光ファイバ（４１）、 （４２）、 ・
・・・。
の光源は各光ファイバ（４１）、 （４２）、 ・
・・・。
（４ｎ）により光入射手段である波長分割マルチプレク
サ（ＷＤＭ）（６１に結合される。各光源（２）は、そ
れぞれ所定の動作波長のレーザ・ダイオードを具えてい
る。ファイバ（４）は、各自のレーザ・ダイオードの動
作波長で光エネルギを伝搬するように寸法が決められて
いる。波長分割マルチプレクサ（６）は、アメリカン・
ホトニクス社製−Ｃ４２２０号の如き市販の素子を利用
でき、ファイバ（４）によりレーザ・ダイオードからの
光エネルギを受け、共通出力ファイバ（８）に沿って光
エネルギを発射する。光源（２）はすべて、試験信号発
生器（１０）及び光源制御器（１２）に接続される。試
験信号発生器（１０）はすべての光源に電気的試験信号
を供給し、光源制御器（１２）は選択的に光源を付勢で
きる。よって、光源制御器（１２）が特定の光源を付勢
すると、その光源は、試験信号発生器（１０）が受けた
電気的試験信号により励起され、対応する光試験信号を
発生ずる。この光試験信号は、ファイバ（４）及び波長
分割マルチプレクサ（６）により出力ファイバ（８）に
送り出゛す。光源制御器（１２）は、選択した光源の動
作波長を示す識別コードを発生する回路も含んでいる。
サ（ＷＤＭ）（６１に結合される。各光源（２）は、そ
れぞれ所定の動作波長のレーザ・ダイオードを具えてい
る。ファイバ（４）は、各自のレーザ・ダイオードの動
作波長で光エネルギを伝搬するように寸法が決められて
いる。波長分割マルチプレクサ（６）は、アメリカン・
ホトニクス社製−Ｃ４２２０号の如き市販の素子を利用
でき、ファイバ（４）によりレーザ・ダイオードからの
光エネルギを受け、共通出力ファイバ（８）に沿って光
エネルギを発射する。光源（２）はすべて、試験信号発
生器（１０）及び光源制御器（１２）に接続される。試
験信号発生器（１０）はすべての光源に電気的試験信号
を供給し、光源制御器（１２）は選択的に光源を付勢で
きる。よって、光源制御器（１２）が特定の光源を付勢
すると、その光源は、試験信号発生器（１０）が受けた
電気的試験信号により励起され、対応する光試験信号を
発生ずる。この光試験信号は、ファイバ（４）及び波長
分割マルチプレクサ（６）により出力ファイバ（８）に
送り出゛す。光源制御器（１２）は、選択した光源の動
作波長を示す識別コードを発生する回路も含んでいる。
マルチプレクサ（６）がファイバ（８）に送出した光試
験信号は、コネクタ（１４）により被測定光ファイバ（
１６）の一端に結合する。ファイバ（１６）の他端のコ
ネクタ（１８）及びファイバ（２０）により、ファイバ
（１６）を光レシーバ（２２）に結合する。
験信号は、コネクタ（１４）により被測定光ファイバ（
１６）の一端に結合する。ファイバ（１６）の他端のコ
ネクタ（１８）及びファイバ（２０）により、ファイバ
（１６）を光レシーバ（２２）に結合する。
この光レシーバ（２２）は、タイオード検出器及び増幅
器を有し、光レシーバ（２２）が受けた光エネルギの強
さに応じて変化する電圧波形の電気信号を発生し、この
電気信号を測定器（２４）に供給する。この測定器（２
４）は、陰極線管（ＣＲＴ）を具えており、実行した試
験の結果を表わす波形を表示する。
器を有し、光レシーバ（２２）が受けた光エネルギの強
さに応じて変化する電圧波形の電気信号を発生し、この
電気信号を測定器（２４）に供給する。この測定器（２
４）は、陰極線管（ＣＲＴ）を具えており、実行した試
験の結果を表わす波形を表示する。
図示した装置には、２つの異μる動作モードすなわちパ
ルス・モード及びＣ−バースト・モードがある。これら
の動作モードは、ユーザ・インタフェース（２６）にお
いて選択するようになっている。
ルス・モード及びＣ−バースト・モードがある。これら
の動作モードは、ユーザ・インタフェース（２６）にお
いて選択するようになっている。
添付図ではユーザ・インタフェース（２６）を単一のブ
ロックとして示したが、このユーザ・インタフェース（
２６）は、実際には各部分がファイバ（１６）の各端に
ある２つの部分を有しており、これら２つの部分をファ
イバの外部で接続している。
ロックとして示したが、このユーザ・インタフェース（
２６）は、実際には各部分がファイバ（１６）の各端に
ある２つの部分を有しており、これら２つの部分をファ
イバの外部で接続している。
パルス・モードにおいて、光源（２）の動作波長は、従
来用いる光ファイバの中心波長すなわち８２５ｎｍ。
来用いる光ファイバの中心波長すなわち８２５ｎｍ。
１３００ｎｍ及び１５５０ｎｍに対応するように選択す
る。また、光源の動作波長は、波長分割マルチプレクサ
により情報を伝送する場合の異なるチャンネルにおける
波長、例えば中心波長が１３００ｎｍのファイバの場合
、１２７５ｎｍ、 １３Ｑｈｍ及び１３２５ｎｍに対応
するように選択してもよい。試験信号発生器（１０）が
発生する電気的試験信号は、比穀的長い間隔例えば約６
００μｓで矩い期間例えば約１μｓ持続する直）
流′＜ ／Ｌ／ 、２．列である・“−ザが°−
ザ°インタフーース（２６）の前面パネル制御器を操作
すると、光源制御器（１２）は、どの光源を付勢すべき
かを示す信号を受けて適切な光源を付勢する。よって、
光源制御器（１２）により選択された光源（２）は、一
定振幅で長い間隔の連続した短い光パルスを発生する。
る。また、光源の動作波長は、波長分割マルチプレクサ
により情報を伝送する場合の異なるチャンネルにおける
波長、例えば中心波長が１３００ｎｍのファイバの場合
、１２７５ｎｍ、 １３Ｑｈｍ及び１３２５ｎｍに対応
するように選択してもよい。試験信号発生器（１０）が
発生する電気的試験信号は、比穀的長い間隔例えば約６
００μｓで矩い期間例えば約１μｓ持続する直）
流′＜ ／Ｌ／ 、２．列である・“−ザが°−
ザ°インタフーース（２６）の前面パネル制御器を操作
すると、光源制御器（１２）は、どの光源を付勢すべき
かを示す信号を受けて適切な光源を付勢する。よって、
光源制御器（１２）により選択された光源（２）は、一
定振幅で長い間隔の連続した短い光パルスを発生する。
光源制御器（１２）が発生した識別コードは、ユーザ・
インタフェース（２６）に供給され、ファイバ（１６）
の遠端に被選択光源の動作波長を指示する。これは、次
の理由により必要である。すなわち、ファイバは、２つ
以上の光源が発射したエネルギを大きな特性の差なしに
伝送するのに充分な帯域幅をもつので、被測定ファイバ
の動作波長から簡単に伝送された波長を推測できないが
らである。例えば、８２５ｎｍ、 １３００ｎｍ及び１
５５０ｎｍで動作する光源に対する測定器の測定出力を
弁別することは簡単であるが、１３００ｎｍの中心波長
をもつファイバの１２７５ｎｍ、 １３００ｎｍ及び１
３２５ｎｍにおける動作の違いから異なる動作波長に起
因する伝搬特性の特徴を推測することは容易でない。パ
ルス動作モードは被測定ファイバの伝送損失を測定する
のに用いるが、この場合、測定器（２４）はレシーバ（
２２）が受けた光パルスの振幅を指示する。
インタフェース（２６）に供給され、ファイバ（１６）
の遠端に被選択光源の動作波長を指示する。これは、次
の理由により必要である。すなわち、ファイバは、２つ
以上の光源が発射したエネルギを大きな特性の差なしに
伝送するのに充分な帯域幅をもつので、被測定ファイバ
の動作波長から簡単に伝送された波長を推測できないが
らである。例えば、８２５ｎｍ、 １３００ｎｍ及び１
５５０ｎｍで動作する光源に対する測定器の測定出力を
弁別することは簡単であるが、１３００ｎｍの中心波長
をもつファイバの１２７５ｎｍ、 １３００ｎｍ及び１
３２５ｎｍにおける動作の違いから異なる動作波長に起
因する伝搬特性の特徴を推測することは容易でない。パ
ルス動作モードは被測定ファイバの伝送損失を測定する
のに用いるが、この場合、測定器（２４）はレシーバ（
２２）が受けた光パルスの振幅を指示する。
開バースト動作モードは、分散（ｄｉｓｐｅｒｓｉｏｎ
−伝搬エネルギの波長及び変調周波数の関数としての
伝搬速度の変化）を測定するのに用いる。分散は伝送で
きる情報量を制限するので、ファイバを用いて波長分割
マルチプレクサによりいくつかのチャンネルの情報を伝
送する際、この分散を考慮しなければならない。光′ｔ
Ａ（２）の動作波長は、異なる伝送チャンネルにおける
波長（例えば中心波長が１３００ｎｍのファイバの場合
は１２７５ｎｍ、 １３００ｎｍ及び１３２５ｎｍ）に
対応するように選択する。
−伝搬エネルギの波長及び変調周波数の関数としての
伝搬速度の変化）を測定するのに用いる。分散は伝送で
きる情報量を制限するので、ファイバを用いて波長分割
マルチプレクサによりいくつかのチャンネルの情報を伝
送する際、この分散を考慮しなければならない。光′ｔ
Ａ（２）の動作波長は、異なる伝送チャンネルにおける
波長（例えば中心波長が１３００ｎｍのファイバの場合
は１２７５ｎｍ、 １３００ｎｍ及び１３２５ｎｍ）に
対応するように選択する。
ＣＷバースト動作モードの場合、電気的試験信号は異な
る周波数、例えば５００Ｍ Ｉｌｚ、 ５５０Ｍ Ｈ
ｚ。
る周波数、例えば５００Ｍ Ｉｌｚ、 ５５０Ｍ Ｈ
ｚ。
６００Ｍ１ｌｚ等の短いバーストの列であり、選択され
た光源はバースト周波数により振幅変調された一連のパ
ルスを発生する。分散を測定するため、光レシーバ（２
２）をスペクトラム・アナライザ・モジュール（２８）
に接続し、ダイオード検出器が発生した電気信号の周波
数成分を分析する。更に、ＣＷバースト・モードにおい
ては、光源制御器（１２）は光源（２）を順次付勢する
。すなわち、光源（２工）をバースト列で駆動した後、
同じバースト列で光源（２□）を駆動する。光源制御器
（１２）が発生する識別コードは、光源（２）の動作波
長ばかりでなくバーストの周波数の識別信号も含んでい
る。この識別コードは、ユーザ・インクフェース（２６
）に供給することなく、バースト伝送前に被選択光源を
変調するのに使用する。光レシーバ（２２）をデコーダ
・モジュール（３０）に接続してダイオード検出器の電
気出力からのコード化情報を取出し、これをスペクトラ
ム・アナライザ・モジュール（２８）で利用できるよう
にする。よって、スペクトラム・アナライザ・モジュー
ル（２８）は、ダイオード検出器からの電気信号の振幅
を光エネルギの伝撮波長及び変調波の周波数に関連付け
ることができるので、測定器（２４）はレシーバの受け
た光エネルギの振幅を伝搬ｉ長及び変調周波数の関数と
して表示できる。
た光源はバースト周波数により振幅変調された一連のパ
ルスを発生する。分散を測定するため、光レシーバ（２
２）をスペクトラム・アナライザ・モジュール（２８）
に接続し、ダイオード検出器が発生した電気信号の周波
数成分を分析する。更に、ＣＷバースト・モードにおい
ては、光源制御器（１２）は光源（２）を順次付勢する
。すなわち、光源（２工）をバースト列で駆動した後、
同じバースト列で光源（２□）を駆動する。光源制御器
（１２）が発生する識別コードは、光源（２）の動作波
長ばかりでなくバーストの周波数の識別信号も含んでい
る。この識別コードは、ユーザ・インクフェース（２６
）に供給することなく、バースト伝送前に被選択光源を
変調するのに使用する。光レシーバ（２２）をデコーダ
・モジュール（３０）に接続してダイオード検出器の電
気出力からのコード化情報を取出し、これをスペクトラ
ム・アナライザ・モジュール（２８）で利用できるよう
にする。よって、スペクトラム・アナライザ・モジュー
ル（２８）は、ダイオード検出器からの電気信号の振幅
を光エネルギの伝撮波長及び変調波の周波数に関連付け
ることができるので、測定器（２４）はレシーバの受け
た光エネルギの振幅を伝搬ｉ長及び変調周波数の関数と
して表示できる。
本発明は、図示した特定の実施例に限定されるものでは
な（、特許請求の範囲に記載した本発明の要旨を連成す
ることなく種々の変形が可能である。例えば、上述で２
端測定（レシーバをファイバの遠端に結合する）の場合
について本発明を説明したが、本発明はりフレクトメー
タ・システムにも通用可能である。この場合、方向性結
合器を介してレシーバをファイバの近（入力）端に結合
する。本発明がリフレクトメータの一部である場合は、
ＣＷバースト・モードよりパルス°モードで本発明を使
用することになる。リフレクトメータの一部に本発明を
適用する場合、明らかにユーザ・インタフェースは２部
分に分かれず、選択した光源の動作波長に関する情報を
離れた場所で使用する必要がないので、光源制御器から
の識別コードをユーザ・インタフェースに供給する必要
もない。また、パルス・モードで測定装置により２端測
定を行なう場合、ファイバ（１６）の外部で識別信号を
ユーザ・インタフェースに伝送する必要はなく、Ｃレイ
−スト・モードにおけると同様にファイバ（１６）を介
してこの識別コードを伝送し、デコーダ（３０）により
ユーザ・インタフェースで使用できるようにしてもよい
。
な（、特許請求の範囲に記載した本発明の要旨を連成す
ることなく種々の変形が可能である。例えば、上述で２
端測定（レシーバをファイバの遠端に結合する）の場合
について本発明を説明したが、本発明はりフレクトメー
タ・システムにも通用可能である。この場合、方向性結
合器を介してレシーバをファイバの近（入力）端に結合
する。本発明がリフレクトメータの一部である場合は、
ＣＷバースト・モードよりパルス°モードで本発明を使
用することになる。リフレクトメータの一部に本発明を
適用する場合、明らかにユーザ・インタフェースは２部
分に分かれず、選択した光源の動作波長に関する情報を
離れた場所で使用する必要がないので、光源制御器から
の識別コードをユーザ・インタフェースに供給する必要
もない。また、パルス・モードで測定装置により２端測
定を行なう場合、ファイバ（１６）の外部で識別信号を
ユーザ・インタフェースに伝送する必要はなく、Ｃレイ
−スト・モードにおけると同様にファイバ（１６）を介
してこの識別コードを伝送し、デコーダ（３０）により
ユーザ・インタフェースで使用できるようにしてもよい
。
上述の如く本発明によれば、波長の異なる光エネルギを
発生する複数の光源を設け、これらの光源を選択的に付
勢して光試験信号を被測定光ファイバに入射しているの
で、異なる波長の光試験信号による被測定光ファイバの
測定を容易に行うことができる。
発生する複数の光源を設け、これらの光源を選択的に付
勢して光試験信号を被測定光ファイバに入射しているの
で、異なる波長の光試験信号による被測定光ファイバの
測定を容易に行うことができる。
添付図は、本発明の好適な実施例を示すブロック図であ
る。 （２１） 、 （２２）は光源、＋６）、 ＋８１．
（１４）は光入射手段、（１０）は試験信号発生手
段： （１２）は光源選択制御手段：、 （１６）
は被測定光ファイバである。
る。 （２１） 、 （２２）は光源、＋６）、 ＋８１．
（１４）は光入射手段、（１０）は試験信号発生手
段： （１２）は光源選択制御手段：、 （１６）
は被測定光ファイバである。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 被測定光ファイバの動作波長にほぼ等しい第１波長及び
該第１波長と異なる第２波長の光エネルギをそれぞれ放
射する少なくとも第１及び第２の光源と、 該第１及び第２光源からの光エネルギを上記被測定光フ
ァイバに入射する光入射手段と、 上記第１及び第２光源の発生する光エネルギを光試験信
号に変える試験信号発生手段と、 上記第１及び第２光源を選択的に付勢する制御手段とを
具えた光ファイバ測定装置。
Applications Claiming Priority (2)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| US76721785A | 1985-08-19 | 1985-08-19 | |
| US767217 | 1985-08-19 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6244643A true JPS6244643A (ja) | 1987-02-26 |
Family
ID=25078842
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP19386086A Pending JPS6244643A (ja) | 1985-08-19 | 1986-08-19 | 光フアイバ測定装置 |
Country Status (3)
| Country | Link |
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| JP (1) | JPS6244643A (ja) |
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Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02123936U (ja) * | 1989-03-24 | 1990-10-12 |
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Family Cites Families (4)
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| JPS6073334A (ja) * | 1983-09-30 | 1985-04-25 | Sumitomo Electric Ind Ltd | 光フアイバの伝送特性測定方法および装置 |
-
1986
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- 1986-08-15 CN CN198686105018A patent/CN86105018A/zh active Pending
- 1986-08-19 JP JP19386086A patent/JPS6244643A/ja active Pending
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH02123936U (ja) * | 1989-03-24 | 1990-10-12 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| EP0212804A3 (en) | 1989-04-05 |
| CN86105018A (zh) | 1987-02-18 |
| EP0212804A2 (en) | 1987-03-04 |
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