JPS6240768A - 固体撮像装置 - Google Patents

固体撮像装置

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Publication number
JPS6240768A
JPS6240768A JP60180056A JP18005685A JPS6240768A JP S6240768 A JPS6240768 A JP S6240768A JP 60180056 A JP60180056 A JP 60180056A JP 18005685 A JP18005685 A JP 18005685A JP S6240768 A JPS6240768 A JP S6240768A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
capacitor
solid
state imaging
imaging device
film
Prior art date
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Pending
Application number
JP60180056A
Other languages
English (en)
Inventor
Ryuji Kondo
近藤 隆二
Takashi Murayama
任 村山
Makoto Shizukuishi
誠 雫石
Hiroshi Tamayama
宏 玉山
Takashi Yano
孝 矢野
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujifilm Holdings Corp
Original Assignee
Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication date
Application filed by Fuji Photo Film Co Ltd filed Critical Fuji Photo Film Co Ltd
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Publication of JPS6240768A publication Critical patent/JPS6240768A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 技術分野 本発明は固体撮像装置、とくに感光セルに蓄積された光
電荷に応じた信号電流を読み出す、いわゆるMO3構造
の固体撮像装置に関するものである。
背景技術 固体撮像装置から読み出された信号は信号処理回路によ
り処理される。固体撮像装置から読み出される信号は時
間的に変化するアナログ信号であり、固体撮像装置と固
体撮像装置から読み出された信号を処理する信号処理装
置とはコンデンサにより接続されている。
この接続用のコンデンサは、固体撮像装置と信号処理回
路とのマツチングがとれるように容J4値を設定する必
要があるが、固体撮像装置の製造下    □程のプロ
セスの変動などの原因により固体撮像装    ′−置
の各部の寸法、不純物濃度等のパラメータにバラツキが
あるため、製造工程のプロセス制御が安定するまでコン
デンサの容量値を決定することができない。したがって
固体撮像装置が形成されている半・1体基板にコンデン
サを形成すると容量値の調整が困難なため、半導体基板
の外部にコンデンサを配置して容量値を調整して使用し
ていた。
またコンデンサは容量値が大きいため、半導体基板内に
P−N接合を使用して形成すると、大きな面積を必要と
する。
このような理由により従来、信号処理回路との接続用の
コンデンサは固体撮像装置が形成されている半導体基板
の外部に接続されるように構成されていた。
ところがコンデンサを半導体基板の外部に形成すると、
これにともない接続のための配線も半導体基板の外部に
形成されるため、配線を通して周辺回路から入るノイズ
が多くなる欠点があった。
目   的 本発明はこのような従来技術の欠点を解消し、信号処理
回路との接続用のコンデンサを有し、外部からのノイズ
に強い固体撮像装置を提供することを目的とする。
発明の開示 本発明によれば、入射光に応じた電荷を発生して蓄積す
る感光手段と、感光千一段から電荷に応じた信号電流を
読み出すためのMOSトランジスタL段とを有する感光
セルが半導体基板の一方の主表面に形成された固体撮像
装δは、感光手段から読み出される信号電流を処理する
信号処理手段と感光セルとを接続するためのコンデンサ
が主表面に金属膜、絶縁層および金属膜を積層すること
によって形成されているものである。
実施例の説明 次に添付図面を参照して本発明による固体撮像装置の実
施例を詳細に説明する。
第1図を参照すると1本発明による固体撮像装置の特定
の実施例は、感光セル10が行列方向に配列された2次
元の感光セルアレイと感光セルアレイに接続される水平
シフトレジスタ30、垂直シフトレジスタ40、コンデ
ンサ50、初段出力アンプ60などが1つの半導体基板
l上に構成されている。
感光セルIOはそれぞれ1つの画素に対応する映像信号
を形成する。第1図では1図の複雑化を避けるため、3
水平行、3垂直列分の感光セル101゜か示されていな
いが、実際には、画像の再生に十分な解像度が得られる
ように、両方向とも多数の感光セルIOが配列されてい
る。
各感光セル10は、入射光に応じた光電荷を発生してそ
の接合領域に蓄積する感光領域としてのフォトダイオー
ド12と、その蓄積電荷に応じた信号電流を読み出すた
めの読み出しゲートとしての絶縁ゲート電界効果トラン
ジスタ(IGFET) 14とを含む、フォトダイオー
ド12の陰極16はICFET 14のソースφドレー
ン路を通して読み出し信号に&18に、その垂直列の各
ICFET 14について共通に接続されている。フォ
トタイオード12の陽極2oは基準電位に接続されてい
る。また、IGFET 14のゲート電極は、その水平
行の各IGFET 14について共通に読み出し駆動線
22に接続されている。
垂直列の各感光セル10のソース・トレイン路ヲ共通に
接続した読み出し信号線18は、IGFET 24のソ
ース・ドレイン路を通して出力線26に共通に接続され
ている。
各IGFET 24のゲートは、水平シフトレジスタ3
0の各レジスタ段に接続されている。水平シフトレジス
タ30は、パッド74から与えられた単一パルスHPが
パッド73から入力される駆動クロックHCLKに応動
して各レジスタ段を順次シフトするシフトレジスタであ
る。この駆動クロックHGLKは、画素周波数で与えら
れ、この速度で水平方向に読み出し線を選択し、ゲート
24を順次付勢する映像信号読み出し駆動回路とし゛て
機能する。パッド74から与えられる単一パルス)IP
は水平同期信号の周波数で芋えられる。
出力線26は、抵抗28を通してパッド75からの基準
電圧Vrefにプルアップされ、コンデンサ50および
初段アンプ60を介してパッド78に接続されている。
パッド78には基板lの外部に信号処理回路80が接続
されている・ 水平行の各感光セル10のIGFET 14のゲート電
極を共通に接続した制御線、すなわち水平行選択線22
は、垂直シフトレジスタ40の各レジスタ段に接続され
ている。垂直シフトレジスタ40は、パッド71に午え
られた単一パルスvPがパッド72から入力される駆動
クロックVCLKに応動して各レジスタ段を順次シフト
するシフトレジスタである。この駆動クロックVGLK
は水平同期信号の周波数で与えられ、この速度で垂直方
向に選択線22を順次駆動し、−その水平行のゲート1
4を一斉に付勢する垂直列選択回路として機能する。パ
ッド71から与えられる単一パルスvPは垂直同期信号
の周波数で与えられる。
第2図を参照すると、感光セルアレイの1つのセル10
およびコンデンサ50を形成する部分の断面構造が概念
的に示されている。この例では、p型シリコンの基板1
の一方の主表面に2つのn÷領域102および104が
形成されている。一方のn中領域102は、p型ノ、(
板との間にp−n接合を形成し、入射光に応じて光電荷
を発生してそこに蓄積する感光領域、すなわちフォトダ
イオード12を形成している。
両n十領域102と104の間の基板表面には、二酸化
シリコンの絶縁層10Bを介してゲート電極108が配
設されている。ゲート電極108は、本実施例では多結
晶シリコンからなる。これら2つのn中領域102およ
び104、絶縁層10Bならびにゲート電極108によ
ってMOSトランジスタすなわちIGFET14が形成
されている。この例では、nチャネル導電型のIにFE
Tであり、n中領域102がソースとして、またn中領
域104がドレーンとして機能する。
トレー7104は、たとえばアルミニウムなどの読み出
し信号線18に接続されている。またゲート′屯極10
8は垂直シフトレジスタ40のレジスタ段に接続されて
いる。
このように感光セル10を形成した半導体基板1と同一
の基板の表面に二酸化シリコンの絶縁層10Bを介して
金属膜11Oが配設され、この金属1模110上に二酸
化シリコンの絶縁層10[1を介して金属膜112が配
設されている。これらの金属膜110、絶縁層106お
よび金属膜112によってコンデンサ50が形成されて
いる。金属膜110は遮光膜として用いられているもの
を使用すればよい、金属膜110には出力線26.金属
膜112には初段出力アンプ60が接続されている。
次に本実施例の動作を説明する。
まず、入射光に応じて各感光セル10のフォトダイオー
ド12に光電荷が発生し、その接合領域に蓄積される。
金属膜110および金属119112により被覆された
部分には光が入射しない。
各感光セルIOに蓄積された映像信号の読み出しは、パ
ルスvPがパッド71から垂直シフトレジスタ40に、
パルスHPがパッド74から水平シフトレジスタ30に
それぞれ入力されて行われる。これにより垂直シフトレ
ジスタ40および水平シフトレジスタ30が順次シフト
し、感光セルアレイのラスタ走査による映像信号の順次
読み出しが行われる。
例えばある時刻において1行目の選択線22が選択され
るとともに、1列目のIGFET 24のゲートが駆動
される。そこで1行目1列目のセル10aのフォトダイ
オード12に蓄積されていた光電荷に応    □じた
レベルの電流がパッド75に接続された電源Vrefか
ら抵抗28,1列目のIGFET 24(7)ソース・
ドレーン路およびセルLOaのICFET +4を通し
てフォトダイオード12に流れ込み、このrti、流に
よる抵抗28の電圧の変化が映像信号としてコンデンサ
50および初段出力アンプ60を通してパッド78から
外部の信号処理回路80に入力される。
次のある時刻においては、1行目の選択線22がそのま
ま選択されており、2列目のICFET 24のゲート
が駆動される。そこで1行目2列目のセル10bのフォ
トダイオード12に蓄積されていた光電荷に応じたレベ
ルの電流が電源Vrefから抵抗28゜2列目のICF
ET 24のソース・ドレーン路およびセル10bのI
GFE丁14を通してフォトダイオード12に流れ込み
、この電流による抵抗28の電圧の変化が映像信号とし
てコンデンサ50および初段出力アンプロ0を通してパ
ッド78から外部の信号処理回路80に入力される。
同様にして垂直列のIGFET 14のゲートを順次操
作することにより、1行目の水平走査線の映像信号の読
み出しが行われる。
次に他の水平行について同様に順次読み出しを行うこと
により、1フイールドのマスク走査映像信号がパッド7
8から直列に出力される。
このようにコンデンサ50を固体撮像装置と同一の半導
体基板l上に形成する場合に、固体撮像装置と信号処理
回路80とのマツチングがとれるようにコンデンサ50
の容量値を設定しておく必要がある。そこで固体撮像装
置の設計段階において、第3図、第4図に示すように半
導体基板l上に前述のような固体撮像装置とともに、コ
ンデンサ50とするための金属膜11O1絶縁膜106
、金属膜112および金属膜!10、金属膜112に接
続されたパット7B、77を、試作用のマスクにより形
成する。金属膜11O1絶縁膜10Bおよび金属膜11
2により形成されるコンデンサ50は容量値がおおむね
マツチングのとれる値となるように形成する。
次に、このように製造された固体撮像装置の製造工程の
プロセス制御が安定した後、第3図に示すようにパッド
76および77を調整用のコンデンサ52を介して接続
し、固体撮像装置と信号処理回路80とのマツチングが
とれるように調整用のコンデンサ52の容量値を調整す
る。調整用のコンデンサ52は半導体基板1の外部に接
続されているから、固体撮像装置の製造工程のプロセス
制御が安定した後、固体撮像装置と信号処理回路80と
のマツチングがとれるように容量値を調整することは容
易である。
調整用のコンデンサ52の容量値が決定された後、この
決定された容量値に従って、半導体基板1に形成される
コンデンサ50の容量値を修正し、コンデンサ50の容
量値をマツチングのとれる値に設定する。半導体基板1
に形成されるコンデンサ50の容量値の修正は、例えば
マスクの設計を”!’ Eして金属膜112の面積を調
整することによって行うことができる。したがって面積
を調整する金属膜112は下部の金属膜110よりも小
さい面積としておくのが有利である。
このようにして半導体基板1に形成されるコンデンサ5
0の容量値が所定の値にされた後には、外部に接続され
た調整用のコンデンサ52およびパッド76.77は不
要となる。
そこで半導体基板lに形成されるコンデンサ5゜の容量
値が所定の値となるように金属膜+12の面積を設定し
、パッド7B、 7?を除去した第1図、第2図に示す
ような固体撮像装置を製造するための量産用マスクを作
成し、この量産用マスクにより固体撮像装置t−量産す
る。
このようにして容量値をマツチングのとれる値に設定し
たコンデンサ50を同一の半導体基板1に形成した固体
撮像装置を得ることができる。
本実施例によれば、固体撮像装置と信号処理回路80を
接続するコンデンサ50が同一・の半導体基板lに形成
されているから、外部からノイズが入るのを防止できる
半導体基板1に形成されるコンデンサ5oは光シールド
用の金属膜110 、112を電極として使用するから
、p−n接合を使用するもののように大きい面積を必要
としない。
また、設計の段階で試作した固体撮像装置の外部に調整
用のコンデンサ52を接続し、調整用のコンデンサ52
の容量を調整して半導体基板1内部に設けるコンデンサ
50の容量を定めているから、量産された固体撮像装置
の半導体基板1に形成されるコンデンサ50は固体撮像
装置と信号処理回路80とのマツチングをとることがで
きる。
なお、前記の実施例では信号処理回路80が半導体基板
lの外部に配置されているが、半導体基板lの内部に配
置するようにしてもよい、このようにすれば装置がさら
にコンパクトになる。
効果 このように本発明では、固体撮像装置と信号処理回路と
の接続用のコンデンサを固体撮像装置と同一の基板内に
形成している。したがって外部からのノイズに強く、装
置の構成も簡素化される。
また、基板Fに金属膜、絶縁層、金属膜を積層すること
によってコンデンサを形成しているから、P−N接合を
使用したもののように大きい面精を必要としない。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による固体撮像装置の特定の実施例を示
す概略回路ブロック図、 第2図は第1図に示す感光セルアレイの1つのセルおよ
びコンデンサの断面構造を概念的に示す断面図、 第3図は第1図に示す固体撮像装置の試作工程における
固体撮像装置を示す概略回路ブロック図、 第4図は第3図に示す感光セルアレイの1つのセルおよ
びコンデンサの断面構造を概念的に示す断面図である。 主要部分の符号の説明 1、、、、、半導体基板 10、、、、、感光セル 12、、、、、フォトダイオード 14、 、 、 、 、 IGFE↑ 30、、、、、水モシフトレジスタ 40、、、、、垂直シフトレジスタ 50.52.、、コンデンサ 60、 、 、 、’、初初段出力アンマフ677.7
8.パッド 80、、、、、信号処理回路 toe 、 、 、 、絶縁層 110 、112 、金属膜 特許出願人 冨士写真フィルム株式会社代 理 人 香
取 孝雄 第1図 第3図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、入射光に応じた電荷を発生して蓄積する感光手段と
    、該感光手段から該電荷に応じた信号電流を読み出すた
    めのMOSトランジスタ手段とを有する感光セルが半導
    体基板の一方の主表面に形成された固体撮像装置におい
    て、該装置は、 前記感光手段から読み出される信号電流を処理する信号
    処理手段と前記感光セルとを接続するためのコンデンサ
    が、前記主表面に金属膜、絶縁層および金属膜を積層す
    ることによって形成されていることを特徴とする固体撮
    像装置。 2、特許請求の範囲第1項記載の装置において、前記信
    号処理手段は初段出力アンプを含み、該信号処理手段が
    前記主表面に形成されていることを特徴とする固体撮像
    装置。 3、特許請求の範囲第1項または第2項記載の装置にお
    いて、前記コンデンサの電極を構成する金属膜のうち下
    層のものが、前記主表面の感光手段以外の部分に形成さ
    れた遮光用の金属膜であることを特徴とする固体撮像装
    置。
JP60180056A 1985-08-17 1985-08-17 固体撮像装置 Pending JPS6240768A (ja)

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2011129902A (ja) * 2009-12-16 2011-06-30 Samsung Electronics Co Ltd イメージセンサーモジュール、その製造方法、及びそれを含むイメージ処理システム

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US9257467B2 (en) 2009-12-16 2016-02-09 Samsung Electronics Co., Ltd. Image sensor modules, methods of manufacturing the same, and image processing systems including the image sensor modules
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