JPS6240378A - 窒化スズの作製方法 - Google Patents

窒化スズの作製方法

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JPS6240378A
JPS6240378A JP18036285A JP18036285A JPS6240378A JP S6240378 A JPS6240378 A JP S6240378A JP 18036285 A JP18036285 A JP 18036285A JP 18036285 A JP18036285 A JP 18036285A JP S6240378 A JPS6240378 A JP S6240378A
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JP
Japan
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tin
nitride
gaseous
substrate
tin nitride
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Application number
JP18036285A
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English (en)
Inventor
Tadashi Shiraishi
正 白石
Shunpei Yamazaki
舜平 山崎
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Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
Original Assignee
Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Publication date
Application filed by Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd filed Critical Semiconductor Energy Laboratory Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「発明の利用分野」 この発明は、窒化スズを主成分とする被膜(以下窒化ス
ズという)を形成する方法に関する。
「従来の技術」 従来、スズ化合物として酸化スズまたはこれを主成分と
する被膜が知られている。しかしこの酸化スズはスパッ
タ法または真空蒸着法により形成させる方法が主たるも
のであった。
しかしスズの窒化物の作製方法に関してはまったく実験
がなく、いかなる特性を存するかが不明であった。特に
この窒化スズを気相法で形成する方法については知られ
ていなかった。
「発明が解決しようとする問題点」 かくの如く窒化スズを気相法で形成せんとする時、スズ
化物の気体を得る手段がこれまで知られていなかった。
またこのスズ化物として弗化物、塩化物またはその混合
物を出発材料として用いた。
しかしこのスズ化物と窒素化物がほどよ< 5n−N結
合をするか否かが不明であった。
本発明はこれらの問題点を解決せんとするものである。
「問題を解決するための手段」 本発明はCVD法において特に反応室およびスズ化物の
出発材料が保存されている容器を減圧下に保持した。そ
して本発明ではCVD法、減圧のプラズマCVD法、減
圧の光CVD法、またはこれらを組合わせた方法を用い
る。スズ化物としては塩化スズおよび弗化スズを用いる
。この塩化スズ(SnC+4)は融点−33℃、沸点1
13.9°c3比重2.23を大気圧下で有する。その
ため、この塩化スズが保持されている容器を加熱すると
ともに、減圧状態に保持することにより塩化スズの気体
を得ることができる。
さらに同時に容器に窒素を導入して塩化スズの気化を促
した。
反応系においてはこの塩化スズとともに窒素、アンモニ
アまたは窒素と水素の混合気体を反応室内に専大し、互
いに反応させて窒化スズを作製した。この窒化スズ中に
水素が添加されていると、この水素はスズと窒素との結
合を阻害し、形成された窒化スズを不透明化する。その
ため、水素または水素化物の添加のないハロゲン化スズ
例えば塩化スズと窒素(Nz)の反応がより透明な窒化
スズを得るのに好ましかった。
減圧CVD法で形成する場合は基板の温度を500〜9
00℃とし、ここでの窒素、アンモニア等の窒化物と塩
化スズの如きスズ化物とを反応せしめた。
そして基板上に窒化スズを作製した。この減圧CVD法
に関しては、窒化物気体としてアンモニ、アを用いた。
基板温度が高く被膜中に水素の残存が少なく、透明度を
波長500nmで60%以上を保つことができた。
プラズマCVD法で被膜を形成する場合、その基板の温
度を100〜500°Cと減圧CVD法に比べて実質的
に約400℃も下げても被膜作製が可能であった。しか
しこの場合は被膜中に窒化物気体としてアンモニアを用
いると不透明性になり、むしろ窒化物気体として水素の
添加のない窒素(N2)を用いると透明性がでて好まし
かった。光CVD法で形成する場合はプラズマCVD法
で形成した場合と同様に低い温度とすることができる。
塩化物の励起用にエキシマレーザ光(波長150〜40
0nm)の共鳴吸収波長を用いると被膜成長速度を大き
くすることができた。
「作用」 かくして窒化スズを任意の基板上、また任意の表面上に
被膜コートさせることができた。さらに窒化スズ中にホ
ウ素、リンをBF:+、PFiを用いて添加することに
より、電気伝導度の向上をはかり得る。水素化物のBJ
6.PH2を用いることも可能である。
また窒化スズ用の出発材料として塩化スズのみならず他
のハロゲン化スズである弗化スズ、臭化スズを用いるこ
とは可能である。
以下に図面に従って本発明を記す。
「実施例1」 第1図は本発明に用いた減圧プラズマCVD装置の概要
を示す。この装置はプラズマCVD用である。
装置は容量結合型とし、石英製反応室(1)は外径50
mn+、内径44mmである。一対の円環状電極(4)
(4゛)は電極巾40mm、電極間隔20mmとした。
この石英管の外側よりヒータ(5) 、 (5’ )に
より基板を加熱した。高周波エネルギは電源(7)より
マツチングトランス(6)を経て一対の電極(4)、(
4’)に13.56MHzの周波数の電気エネルギを5
〜15−供給した。
プラズマCVD法の成膜温度は100〜500 ’C5
例えば150〜300℃とした。実施例2に示す減圧C
VD法においては、この温度は500〜900 ”C1
例えば700°Cとした。
かかる反応系(100)に対しドーピング系(10)。
排気系(30)を有する。
ドーピング系(10)は流量計(17L バルブ(18
)を有し、アンモニア(16) 、水素(15) 、窒
素(14)、容器(2)の塩化スズ(3)より気化した
気体の追い出し用の窒素(13)を有する。塩化スズ(
3)または弗化スズの周辺の配管はリボンヒータ(12
)等により加熱し、配管の内壁に塩化スズが残留しない
ようにした。
排気系(30)はコントロールバルブ(8)、ストップ
パルプ(9)を経て真空ポンプ(11)に至る。反応室
(1)内の圧力は供給気体の量とコントロールバルブ(
8)により制御した。
容器(2)内の塩化スズ(ここでは5nC1aを使用)
(3)は室温において固体であり、30〜70°Cの一
定の温度例えば50°Cに加熱した。その一部は液化し
さらに他の一部は容器(2)内が減圧のため昇華または
気化させた。基板(20)は気体の流れに垂直に保持し
た。
被膜形成速度は3人/分〜20八/分程度で、基板の温
度は100〜500°Cにおいてそれぞれ得られた。
第2図は本発明方法によって得られた窒化スズ(厚さ約
3000人)(曲線(21))をアルゴン中で1時間ア
ニールした時の結果である。アニール温度を500°C
としてそれぞれ特性曲線(22)が得られた。
そしてこの特性によりB値(4πσo/ncΔEl/り
は6.OX105cm−’eV−’より1.3 X10
6cm−’eV伺に増加した。
電気伝導度(シー1〜抵抗)は室温において出発材料と
して塩化アンチモンを用いる場合は3.5にΩ/口であ
った。しかし出発材料として弗化スズを塩化アンチモン
中に10at%添加すると300Ω/口にまで下げるこ
とができた。
「実施例2」 この実施例も第1図の装置を用いて窒化スズを形成した
。しかし、プラズマ発生用の電気エネルギを加えること
な(、いわゆる減圧CVD法によってのみ形成した。被
膜形成温度は700℃、圧カフ60torrまたは1.
0torr、NH3/5nC14=10、またはNZ/
5nCI4=10として 3SnC1n + 4NH3−5nJ4 + 12HC
13SnC14+ 2N、   −5n3N4 +  
6C1zの反応を生ぜしめた。
すると形成された窒化スズの光学的エネルギハンド巾は
3.2eVが得られた。かつ基板上に窒化スズ(以下化
学量論的に理想的な5n3N4 という。しかしこの状
態より化学量論比がずれたり、また副成分としての添加
物が添加される場合もある)を3000人形成した場合
、500nmの波長の光をガラス基板上で透過率70%
以上透過させることができた。
その結果プラズマCvD法に比べ約400℃の温度差で
実質的に同じ特性が得られた。被膜形成温度が高温のた
め水素が脱気し、アンモニアを用いても窒素に比べてそ
れほど透明性の減少にならなかった・ 被膜成長速度は760 torrでは300八/分が得
られ、l torrでは65人/分が得られ、大きい被
膜成長速度を得るには大気圧の方が優れていた。しかし
760 torrの条件下ではフレイクが出やすかった
「実施例3」 この実施例も第1図の装置を用い、光CVD法により窒
化スズを形成した。第1図においてエキシマレーザ(1
9)よりのレーザ光(19’)は合成石英製容器(25
)より基板(20)にほぼ垂直に照射されるように放射
した。基板の温度は300℃とし光エネルギを加えた以
外は実施例1と同様とした。形成された被膜は透光性に
はすぐれないが基板表面への損傷を少なくすることはで
きる。
「効果」 この発明はハロゲン化スズと窒化気体との反応により窒
化スズを形成する方法を提供することにある。そして特
に形成された後の被膜中の水素の含有量を極力少なくす
ることにより、光学的に透明の窒化スズ被膜を作ること
ができた。その含有する水素の量は赤外線吸収スペクト
ルにて水素またはアミン基がほとんど検出されないため
2at%以下であると推定され、かかる水素の低含有率
化により、透明にすることができると推定される。
さらにこの窒化スズ中での酸素の混入は出発材料が99
.5χの塩化スズを用いても酸素の含有量を5at%ま
たはそれ以下とすることができ、比較的酸化物になりに
くい。本発明の被膜中において、窒化スズに加え酸化ス
ズの混入した5nOxNy、 In5nxOyNzと酸
化物と窒化物との混合物であってもよい。
本発明において、出発材料としてハロゲン化スズを用い
た。しかしメチル化スズ例えば5b(CI(z)3を用
いるならば、紫外光(184nm)において直接光分解
が可能であり、アンモニア等と反応せしめて窒化スズを
作ることができる。
さらに本発明は添加用アンチモンまたはインジュームに
おいて、同様にハロゲン化アンチモン、ハロゲン化イン
ジュームを出発材料として用い、5nxSbyN、 5
nxlnyNを作り、窒化物中に主成分となラナイ範囲
でSb、Inを添加することもできる・そして光学的に
透明かつ電気伝導度の優れた導電膜を作り得る。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の窒化スズ被膜の作製方法の概要を示す
。 第2図は本発明で得られた窒化スズ被膜を特性例を示す

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1、窒化物気体とスズ化物よりなる材料を昇華または気
    化せしめるとともに、前記窒化物気体に熱エネルギを加
    えて反応せしめ、窒化スズを主成分とする窒化物を作製
    することを特徴とする窒化スズの作製方法。 2、特許請求の範囲第1項において、反応を減圧状態に
    保持された雰囲気にて熱エネルギに加えて電気エネルギ
    を印加して形成することを特徴とする窒化スズの作製方
    法。 3、特許請求の範囲第1項において、反応を熱エネルギ
    に加えて光エネルギを印加して形成することを特徴とす
    る窒化スズの作製方法。 4、特許請求の範囲第1項において、窒化物気体として
    窒素を、さらにスズ化物気体としてハロゲン化スズを用
    いることを特徴とする窒化スズの作製方法。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2016155699A (ja) * 2015-02-24 2016-09-01 国立研究開発法人物質・材料研究機構 Zn原子とSn原子とN原子を含むβ−NaFeO2型構造の高結晶性化合物及びその製法、並びにその用途
WO2021171136A1 (ja) * 2020-02-28 2021-09-02 株式会社半導体エネルギー研究所 金属酸化物、金属酸化物の成膜方法、および金属酸化物の成膜装置

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