JPS6239938B2 - - Google Patents
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- JPS6239938B2 JPS6239938B2 JP56057100A JP5710081A JPS6239938B2 JP S6239938 B2 JPS6239938 B2 JP S6239938B2 JP 56057100 A JP56057100 A JP 56057100A JP 5710081 A JP5710081 A JP 5710081A JP S6239938 B2 JPS6239938 B2 JP S6239938B2
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- 238000005481 NMR spectroscopy Methods 0.000 claims description 6
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 2
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 3
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R33/00—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables
- G01R33/20—Arrangements or instruments for measuring magnetic variables involving magnetic resonance
- G01R33/28—Details of apparatus provided for in groups G01R33/44 - G01R33/64
- G01R33/38—Systems for generation, homogenisation or stabilisation of the main or gradient magnetic field
- G01R33/389—Field stabilisation, e.g. by field measurements and control means or indirectly by current stabilisation
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- Physics & Mathematics (AREA)
- Condensed Matter Physics & Semiconductors (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Magnetic Resonance Imaging Apparatus (AREA)
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- Feedback Control In General (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は核磁気共鳴装置における直流磁場の均
一度を補正する磁場補正装置に関する。以下、図
面に基づいて説明する。
一度を補正する磁場補正装置に関する。以下、図
面に基づいて説明する。
従来の核磁気共鳴装置の磁場補正装置の磁場均
一度補正コイル（一般にアンダーソンコイル或い
はゴーレイコイルと呼ばれている。）の制御回路
を第１図に示す。同図に示す如く、従来の制御回
路は多数の可変抵抗器３〜７が並列に接続され端
子１，２に＋Ｖ、−Ｖなる直流電圧が印加され
る。そして各々の磁場均一度補正コイル１３〜１
６（以下、単に補正コイルと記す。）には直列に
接続された抵抗８〜１２を介して励磁電流が流さ
れる。即ち電磁石による直流磁場の均一度をこれ
らの補正コイルに流れる電流により発生する磁場
により補正する。
一度補正コイル（一般にアンダーソンコイル或い
はゴーレイコイルと呼ばれている。）の制御回路
を第１図に示す。同図に示す如く、従来の制御回
路は多数の可変抵抗器３〜７が並列に接続され端
子１，２に＋Ｖ、−Ｖなる直流電圧が印加され
る。そして各々の磁場均一度補正コイル１３〜１
６（以下、単に補正コイルと記す。）には直列に
接続された抵抗８〜１２を介して励磁電流が流さ
れる。即ち電磁石による直流磁場の均一度をこれ
らの補正コイルに流れる電流により発生する磁場
により補正する。
一般にこの補正コイルの電流値設定は核磁気共
鳴装置の核磁気共鳴信号（以下、NMR信号と記
す。）の波形をオシロスコープで観測しながら行
われ、正しく設定されたときのNMR信号波形は
その半値幅は狭く、そのピークの高さは大きくな
る。
鳴装置の核磁気共鳴信号（以下、NMR信号と記
す。）の波形をオシロスコープで観測しながら行
われ、正しく設定されたときのNMR信号波形は
その半値幅は狭く、そのピークの高さは大きくな
る。
また、これらの補正コイルの殆んどのものは電
磁石のポールピースの特性によつて特徴づけられ
最初に設定された値を維持し、変化しないもので
ある。
磁石のポールピースの特性によつて特徴づけられ
最初に設定された値を維持し、変化しないもので
ある。
補正コイルのあるものは、可変精度が要求され
るものである。
るものである。
例えば直流磁場中に配置される測定試料の回軸
軸方向（通常、測定試料の位置における見掛け上
の磁場の均一化を図るために、試料を回転させ
る。）、電磁石の磁極間方向及び磁極と平行な方向
を三次元の直交座標系で促え、測定試料の配置さ
れる空間の磁場分布を解析した際の一次項の磁場
補正を行うのに使用される補正コイルが特に可変
精度を要求され、設定分解能が共鳴磁場（又は共
鳴周波数）の10-4程度、要求される。
軸方向（通常、測定試料の位置における見掛け上
の磁場の均一化を図るために、試料を回転させ
る。）、電磁石の磁極間方向及び磁極と平行な方向
を三次元の直交座標系で促え、測定試料の配置さ
れる空間の磁場分布を解析した際の一次項の磁場
補正を行うのに使用される補正コイルが特に可変
精度を要求され、設定分解能が共鳴磁場（又は共
鳴周波数）の10-4程度、要求される。
第１図で補正コイル１６が相当し、可変抵抗器
６および７で粗調整・微調整が行なわれる。そし
て補正コイルの各々は互いに独立ではなく相互に
関連していることも大きな特徴である。
６および７で粗調整・微調整が行なわれる。そし
て補正コイルの各々は互いに独立ではなく相互に
関連していることも大きな特徴である。
さて従来の回路には次の欠点がある。先づ第１
に、回路内容は単純であるが装置のパネル面にで
るツマミの数は前記可変抵抗器の数だけ必要であ
り、非常に多くなり、不都合である。
に、回路内容は単純であるが装置のパネル面にで
るツマミの数は前記可変抵抗器の数だけ必要であ
り、非常に多くなり、不都合である。
第２に前記可変抵抗の調整により磁場補正を行
う際に補正コイルの形成する磁場が相互に影響し
合うために装置に熟練したオペレータのみしか分
解能調整ができないという欠点があつた。
う際に補正コイルの形成する磁場が相互に影響し
合うために装置に熟練したオペレータのみしか分
解能調整ができないという欠点があつた。
第３に近年急速に発達をとげているコンピユー
タで動作させることができない。第４に設定分解
能の高い可変抵抗器は高価であり、装置の原価高
となる。
タで動作させることができない。第４に設定分解
能の高い可変抵抗器は高価であり、装置の原価高
となる。
本発明の目的は部品点数の低減及び操作性の向
上を図つた磁場補正装置を提供することにある。
上を図つた磁場補正装置を提供することにある。
第２図に本発明による磁場補正装置の構成を示
す。装置のパネル面には可変抵抗器２０とスイツ
チ２５が実装され、可変抵抗器２０は補正コイル
群１３〜１６の電流を変えるのに使用するための
もので、スイツチ２５は前記補正コイル群１３〜
１６のうちどの補正コイルの電流値を変えるのか
を選択するスイツチである。各補正コイル１３〜
１６には抵抗８〜１１を介して各々Ｄ／Ａ変換回
路３０〜３３が接続されレジスタ２６〜２９に設
定されている量に相応して電流が流される。Ｄ／
Ａ変換器は近年ICが廉価に得られるが、その出
力電流は微弱であるので所望の電流が得られる様
に増幅器を追加する。又、設定精度の必要な補正
コイルに対してビツト数の多いＤ／Ａ変換器を実
装する。例えば設定分解能が10-4程度のものは13
ビツトのＤ／Ａ変換器を使用する。レジスタ２６
〜２９に蓄えられるデイジタル量は設定器４０
（例えば制御用コンピユータ）で設定する。それ
とともに第２図に示す様にスイツチ２５で切換え
てレジスタ２６〜２９の内容変更を行う。端子
１，２に印加された＋V1−Ｖなる電圧を可変抵
抗器２０で分割する。その電圧をＡ／Ｄ変換器２
１でデイジタル量に一定の時間ごとに変換する。
す。装置のパネル面には可変抵抗器２０とスイツ
チ２５が実装され、可変抵抗器２０は補正コイル
群１３〜１６の電流を変えるのに使用するための
もので、スイツチ２５は前記補正コイル群１３〜
１６のうちどの補正コイルの電流値を変えるのか
を選択するスイツチである。各補正コイル１３〜
１６には抵抗８〜１１を介して各々Ｄ／Ａ変換回
路３０〜３３が接続されレジスタ２６〜２９に設
定されている量に相応して電流が流される。Ｄ／
Ａ変換器は近年ICが廉価に得られるが、その出
力電流は微弱であるので所望の電流が得られる様
に増幅器を追加する。又、設定精度の必要な補正
コイルに対してビツト数の多いＤ／Ａ変換器を実
装する。例えば設定分解能が10-4程度のものは13
ビツトのＤ／Ａ変換器を使用する。レジスタ２６
〜２９に蓄えられるデイジタル量は設定器４０
（例えば制御用コンピユータ）で設定する。それ
とともに第２図に示す様にスイツチ２５で切換え
てレジスタ２６〜２９の内容変更を行う。端子
１，２に印加された＋V1−Ｖなる電圧を可変抵
抗器２０で分割する。その電圧をＡ／Ｄ変換器２
１でデイジタル量に一定の時間ごとに変換する。
一方、前記Ａ／Ｄ変換器２１の出力をその変化
量に応じて加減算する演算回路４１は変化量検出
回路２２及び加減算回路２３より構成されてお
り、変化量検出回路２２はＡ／Ｄ変換回路２１の
増減の変化を監視して、変化があれば加減算回路
２３、スイツチ回路２４を介してレジスタの内容
を変化させる。そのとき、Ａ／Ｄ変換回路２１の
増減の変化量が大きい場合は大きな係数を掛け変
化量が小さいときは小さい係数を掛ける。このこ
とは操作者が可変抵抗器２０を大きく変化させれ
ば粗調整と判断してレジスタの内容を大きく変化
させる。逆に小さく変化させれば微調整と判断し
てレジスタの内容を小さく変化させる。
量に応じて加減算する演算回路４１は変化量検出
回路２２及び加減算回路２３より構成されてお
り、変化量検出回路２２はＡ／Ｄ変換回路２１の
増減の変化を監視して、変化があれば加減算回路
２３、スイツチ回路２４を介してレジスタの内容
を変化させる。そのとき、Ａ／Ｄ変換回路２１の
増減の変化量が大きい場合は大きな係数を掛け変
化量が小さいときは小さい係数を掛ける。このこ
とは操作者が可変抵抗器２０を大きく変化させれ
ば粗調整と判断してレジスタの内容を大きく変化
させる。逆に小さく変化させれば微調整と判断し
てレジスタの内容を小さく変化させる。
本実施例では可変抵抗器１つで多数の補正コイ
ルの電流設定を行い且つ粗調整及び微調整の２通
りの機能を持たせるように構成したので可変抵抗
器の数を低減でき、その結果原価低減が図れ且つ
信頼性の向上が図れる。
ルの電流設定を行い且つ粗調整及び微調整の２通
りの機能を持たせるように構成したので可変抵抗
器の数を低減でき、その結果原価低減が図れ且つ
信頼性の向上が図れる。
更にコンピユータで磁場補正制御が可能となる
ので操作性の向上が図れる。
ので操作性の向上が図れる。
以上に説明した如く、本発明によれば部品点数
の低減及び操作性の向上を図つた磁場補正装置を
実現できる。
の低減及び操作性の向上を図つた磁場補正装置を
実現できる。
第１図は従来の磁場補正装置の構成を示す回路
図、第２図は本発明に係る磁場補正装置の一実施
例の構成を示すブロツク図である。 １３〜１６…補正コイル、２０…可変抵抗器、
２１…Ａ／Ｄ変換器、２２…変化量検出回路、２
３…加減算回路、２４…スイツチ回路、２５…ス
イツチ、２６〜２９…レジスタ、３０〜３３…
Ｄ／Ａ変換器、４０…設定器、４１…演算回路。
図、第２図は本発明に係る磁場補正装置の一実施
例の構成を示すブロツク図である。 １３〜１６…補正コイル、２０…可変抵抗器、
２１…Ａ／Ｄ変換器、２２…変化量検出回路、２
３…加減算回路、２４…スイツチ回路、２５…ス
イツチ、２６〜２９…レジスタ、３０〜３３…
Ｄ／Ａ変換器、４０…設定器、４１…演算回路。
Claims (1)
- １ 核磁気共鳴装置の直流磁場の均一度を補正す
る磁場補正装置において、前記直流磁場を補正す
る補正コイル群と、該補正コイル群への励磁電流
を調整する可変抵抗器と、該可変抵抗器の出力信
号をデイジタル信号に変換するＡ／Ｄ変換器と、
該Ａ／Ｄ変換器出力をその出力変化量に応じて加
減算する演算回路と、該演算回路出力によりその
内容が変更される前記補正コイル群に応じた数の
レジスタ群と、前記演算回路と前記レジスタ群の
各レジスタとを選択的に接続する手段と、前記各
補正コイルとそれぞれ接続され前記レジスタ群の
デイジタル出力をアナログ信号に変換するＤ／Ａ
変換器群とを備え、前記演算回路は前記Ａ／Ｄ変
換器出力の変化量が大きい場合には大きな係数を
掛けて加減算し、前記変化量が小さい場合には小
さな係数を掛けて加減算するようにされているこ
とを特徴とする磁場補正装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56057100A JPS57172238A (en) | 1981-04-17 | 1981-04-17 | Magnetic field correcting device |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP56057100A JPS57172238A (en) | 1981-04-17 | 1981-04-17 | Magnetic field correcting device |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS57172238A JPS57172238A (en) | 1982-10-23 |
| JPS6239938B2 true JPS6239938B2 (ja) | 1987-08-26 |
Family
ID=13046076
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP56057100A Granted JPS57172238A (en) | 1981-04-17 | 1981-04-17 | Magnetic field correcting device |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS57172238A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0551646U (ja) * | 1991-12-17 | 1993-07-09 | 株式会社小森コーポレーション | 刷版の位置決め装置 |
Families Citing this family (7)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS59148308A (ja) * | 1983-02-14 | 1984-08-25 | Mitsubishi Electric Corp | 高均一磁界発生装置 |
| US4563648A (en) * | 1983-09-22 | 1986-01-07 | Varian Associates, Inc. | Geometric compensation of magnetic susceptibility perturbations in an RF spectrometer |
| JPS60153111A (ja) * | 1984-01-23 | 1985-08-12 | Jeol Ltd | 軸傾斜補正磁場発生装置 |
| DE3505281A1 (de) * | 1985-02-15 | 1986-08-21 | Siemens AG, 1000 Berlin und 8000 München | Magnetfelderzeugende einrichtung |
| JPS61264242A (ja) * | 1985-05-17 | 1986-11-22 | Shimadzu Corp | Ｍｒｉ用電磁石の磁場分布微調節装置 |
| DE3628161A1 (de) * | 1986-08-20 | 1988-02-25 | Spectrospin Ag | Vorrichtung zum kompensieren von zeitvarianten feldstoerungen in magnetfeldern |
| JPH0733276Y2 (ja) * | 1987-05-29 | 1995-07-31 | カシオ計算機株式会社 | 電子楽器 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5076484A (ja) * | 1973-09-13 | 1975-06-23 |
Family Cites Families (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS52170193U (ja) * | 1976-06-18 | 1977-12-23 |
-
1981
- 1981-04-17 JP JP56057100A patent/JPS57172238A/ja active Granted
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5076484A (ja) * | 1973-09-13 | 1975-06-23 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH0551646U (ja) * | 1991-12-17 | 1993-07-09 | 株式会社小森コーポレーション | 刷版の位置決め装置 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS57172238A (en) | 1982-10-23 |
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