JPS6238648B2 - - Google Patents
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- JPS6238648B2 JPS6238648B2 JP14413676A JP14413676A JPS6238648B2 JP S6238648 B2 JPS6238648 B2 JP S6238648B2 JP 14413676 A JP14413676 A JP 14413676A JP 14413676 A JP14413676 A JP 14413676A JP S6238648 B2 JPS6238648 B2 JP S6238648B2
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- Japan
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- wavelength
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- Expired
Links
- 238000002835 absorbance Methods 0.000 claims description 15
- 238000005375 photometry Methods 0.000 claims description 6
- 238000000034 method Methods 0.000 description 8
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 5
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 3
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 3
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 description 2
- 238000000149 argon plasma sintering Methods 0.000 description 1
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- 238000002834 transmittance Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は波長が互に異る多数種の光を用いた測
光装置に関する。
光装置に関する。
試料中の特定物質を検出し、定量しようとする
場合、試料が不均一な組織構造を持つていると
か、濁つた液であるような場合、検出しようとす
る物質に固有の波長の光について吸光度を測定し
ても、光の散乱によつて正しい吸光度の測定が困
難である。このような場合、一般的に云えば或る
特定の波長の光について測光をしようとする場合
に、試料、光学系、試料セル等によつて生ずるバ
ツクグラウンドノイズが強くて正しい測光が困難
な場合通常２波長測光方式が用いられる。この場
合一つの波長は検出しようとする物質に特有の吸
収帯の波長が選ばれ、他の波長はそれより適当に
離れてノイズの発生に対しては前者の波長の光と
同じであるようなものが選ばれる。
場合、試料が不均一な組織構造を持つていると
か、濁つた液であるような場合、検出しようとす
る物質に固有の波長の光について吸光度を測定し
ても、光の散乱によつて正しい吸光度の測定が困
難である。このような場合、一般的に云えば或る
特定の波長の光について測光をしようとする場合
に、試料、光学系、試料セル等によつて生ずるバ
ツクグラウンドノイズが強くて正しい測光が困難
な場合通常２波長測光方式が用いられる。この場
合一つの波長は検出しようとする物質に特有の吸
収帯の波長が選ばれ、他の波長はそれより適当に
離れてノイズの発生に対しては前者の波長の光と
同じであるようなものが選ばれる。
上述した２波長測光方式では、測定の目的によ
つて適当な２波長をその度毎に選択しなければな
らないから、分光器を用いるにしてもフイルタを
用いるにしても試料毎、目的毎に装置をセツトし
直さなければならない。
つて適当な２波長をその度毎に選択しなければな
らないから、分光器を用いるにしてもフイルタを
用いるにしても試料毎、目的毎に装置をセツトし
直さなければならない。
本発明は上述したような繁雑さを解消すること
を主たる目的としたもので、多数（３以上）の波
長を予め選択して固定しておき、それら各波長毎
に吸光度を測定し、得られた吸光度に適当な係数
を掛けて加えると云う操作によつて種々な試料、
測定目的に対し装置そのものは固定しておいてし
かも柔軟に対処できる測光装置を提供するもので
ある。以下実施例によつて本発明を説明する。
を主たる目的としたもので、多数（３以上）の波
長を予め選択して固定しておき、それら各波長毎
に吸光度を測定し、得られた吸光度に適当な係数
を掛けて加えると云う操作によつて種々な試料、
測定目的に対し装置そのものは固定しておいてし
かも柔軟に対処できる測光装置を提供するもので
ある。以下実施例によつて本発明を説明する。
第１図は本発明の一実施例装置を示す。１は光
源で、試料セル２を照射し、試料セル２を透過し
た光は半透明鏡３で２光路に分割され、この２光
路のうちの一つは更に半透明鏡４で２光路に分割
されて、試料セルを透過した光は結局３分割され
て各光路毎に挿入された透過波長域の異るフイル
タＦ１，Ｆ２，Ｆ３を通り、測光素子Ｄ１，Ｄ
２，Ｄ３に入射する。Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３の出力は
試料セルを透過した光のうちフイルタＦ１，Ｆ
２，Ｆ３の特性によつて選択された３種の波長の
光についての試料セルによる透過率に対応してお
り、これを対数変換回路Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３によつ
て夫々対数変換すれば吸光度に対応した出力
A1、A2、A3が得られる。ｋ１，ｋ２，ｋ３は
夫々掛算回路で対数変換回路Ｌ１〜Ｌ３の出力
A1〜A3に任意の係数K1、K2、K3を掛算する。
これらの係数は予め測定目的によつて適宜に設定
しておく。掛算回路ｋ１〜ｋ３の出力はK1A1、
K2A2、K3A3であり、これらが加算回路９で加
算されて表示手段１０により表示される。
源で、試料セル２を照射し、試料セル２を透過し
た光は半透明鏡３で２光路に分割され、この２光
路のうちの一つは更に半透明鏡４で２光路に分割
されて、試料セルを透過した光は結局３分割され
て各光路毎に挿入された透過波長域の異るフイル
タＦ１，Ｆ２，Ｆ３を通り、測光素子Ｄ１，Ｄ
２，Ｄ３に入射する。Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３の出力は
試料セルを透過した光のうちフイルタＦ１，Ｆ
２，Ｆ３の特性によつて選択された３種の波長の
光についての試料セルによる透過率に対応してお
り、これを対数変換回路Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３によつ
て夫々対数変換すれば吸光度に対応した出力
A1、A2、A3が得られる。ｋ１，ｋ２，ｋ３は
夫々掛算回路で対数変換回路Ｌ１〜Ｌ３の出力
A1〜A3に任意の係数K1、K2、K3を掛算する。
これらの係数は予め測定目的によつて適宜に設定
しておく。掛算回路ｋ１〜ｋ３の出力はK1A1、
K2A2、K3A3であり、これらが加算回路９で加
算されて表示手段１０により表示される。
上述装置の用法および動作について述べる。上
述した所に従い、３種の波長λ１、λ２、λ３に
対する試料の吸光度をA1、A2、A3とし、各吸光
度に掛ける係数をK1、K2、K3とすると、最終的
な表示出力は一般的に Ｃ＝K1A1＋K2A2＋K3A3 である。
述した所に従い、３種の波長λ１、λ２、λ３に
対する試料の吸光度をA1、A2、A3とし、各吸光
度に掛ける係数をK1、K2、K3とすると、最終的
な表示出力は一般的に Ｃ＝K1A1＋K2A2＋K3A3 である。
(1) ２波長法的用法。係数K1〜K3のうち一つを
０とし、他の２つを１とすると、 Ｃ＝A1−A2 Ｃ＝A2−A3 Ｃ＝A1−A3 の３通りの選択が可能である。第２図でａ，ｂ
は夫々異る試料の吸光度波長の関係をし、フイ
ルタＦ１〜Ｆ３により波長λ１〜λ３の光が選
択されている。ａの試料の場合波長λ２とλ３
とを選択すればよく、試料ｂの場合はλ１とλ
３とを選択すればよく、ａ試料の場合A3によ
つて、試料ｂの場合A1によつてバツクグラウ
ンドノイズを除去できるわけである。このよう
にして３通りの選択が可能であるから、フイル
タを固定したまゝで種々な試料に対応すること
ができる。予め選択しておく波長数は３以上任
意であり、多い程２波長の組合せが豊富になる
ことは云うまでもない。
０とし、他の２つを１とすると、 Ｃ＝A1−A2 Ｃ＝A2−A3 Ｃ＝A1−A3 の３通りの選択が可能である。第２図でａ，ｂ
は夫々異る試料の吸光度波長の関係をし、フイ
ルタＦ１〜Ｆ３により波長λ１〜λ３の光が選
択されている。ａの試料の場合波長λ２とλ３
とを選択すればよく、試料ｂの場合はλ１とλ
３とを選択すればよく、ａ試料の場合A3によ
つて、試料ｂの場合A1によつてバツクグラウ
ンドノイズを除去できるわけである。このよう
にして３通りの選択が可能であるから、フイル
タを固定したまゝで種々な試料に対応すること
ができる。予め選択しておく波長数は３以上任
意であり、多い程２波長の組合せが豊富になる
ことは云うまでもない。
(2) ３波長全部を使う用法。３波長を用いると、
散乱成分などのゆるやかな吸収成分の影響を２
波長法の場合よりも更によく除くことができ
る。２波長だけを用いる場合は、バツクグラウ
ンドノイズを生ずる原因が波長による差の比較
的小さいものであるときは有効であるが、バツ
クグラウンドノイズの原因が波長特性を持ちバ
ツクグラウンドノイズが波長によつてゆるやか
に変化しているような場合にこゝに述べる３波
長法が有効である。第３図は或る試料の吸光度
曲線で、選択された波長λ１、λ３における吸
光度A1、A3を連ねる直線がバツクグラウンド
ノイズの傾斜したレベルに相当し、検出しよう
とする物質のピークに近いλ２の波長の吸光度
A2からA1A3直線の交点Ｍの高さを引いたもの
Ｂが検出しようとする物質の量に比例すること
になる。こゝで各波長の波長差を図示のように
Δλ１、Δλ２とすると、波長間隔を等しく採
つた場合Ｍ点の高さは（A1＋A3）／２であ
り、 Ｂ＝A2−（A1＋A3）／２ であるが、一般にΔλ１とΔλ２とは等しく採
つてないので、式は上記よりは一寸複雑にな
る。Ｍ点の高さは Ｍ＝Ａ１Δλ２＋Ａ３Δλ１／Δλ１＋Δλ２ であるからＢ＝A2−Ｍであつて、A1、A2、
A3に掛けるべき係数K1〜K3は K1＝−Δλ２／Δλ１＋Δλ２、K2＝１ K3＝−Δλ１／Δλ１＋Δλ２ で与えられ、 Ｂ＝A2−Δλ２／Δλ１＋Δλ２×A1−Δλ１／Δλ１＋Δλ２×A3 となる。なおK1＋K3＝１でK1／K2＝Δλ
２／Δλ１即ちK1とK2との比はΔλ１とΔλ
２との逆比になつている。選択波長を４種以上
にしておけばその中から３種の波長を採用する
組合せが多くなり、汎用性が拡大される。この
場合採用しなかつた波長に対する吸光度に掛け
る係数を０とすればよい。
散乱成分などのゆるやかな吸収成分の影響を２
波長法の場合よりも更によく除くことができ
る。２波長だけを用いる場合は、バツクグラウ
ンドノイズを生ずる原因が波長による差の比較
的小さいものであるときは有効であるが、バツ
クグラウンドノイズの原因が波長特性を持ちバ
ツクグラウンドノイズが波長によつてゆるやか
に変化しているような場合にこゝに述べる３波
長法が有効である。第３図は或る試料の吸光度
曲線で、選択された波長λ１、λ３における吸
光度A1、A3を連ねる直線がバツクグラウンド
ノイズの傾斜したレベルに相当し、検出しよう
とする物質のピークに近いλ２の波長の吸光度
A2からA1A3直線の交点Ｍの高さを引いたもの
Ｂが検出しようとする物質の量に比例すること
になる。こゝで各波長の波長差を図示のように
Δλ１、Δλ２とすると、波長間隔を等しく採
つた場合Ｍ点の高さは（A1＋A3）／２であ
り、 Ｂ＝A2−（A1＋A3）／２ であるが、一般にΔλ１とΔλ２とは等しく採
つてないので、式は上記よりは一寸複雑にな
る。Ｍ点の高さは Ｍ＝Ａ１Δλ２＋Ａ３Δλ１／Δλ１＋Δλ２ であるからＢ＝A2−Ｍであつて、A1、A2、
A3に掛けるべき係数K1〜K3は K1＝−Δλ２／Δλ１＋Δλ２、K2＝１ K3＝−Δλ１／Δλ１＋Δλ２ で与えられ、 Ｂ＝A2−Δλ２／Δλ１＋Δλ２×A1−Δλ１／Δλ１＋Δλ２×A3 となる。なおK1＋K3＝１でK1／K2＝Δλ
２／Δλ１即ちK1とK2との比はΔλ１とΔλ
２との逆比になつている。選択波長を４種以上
にしておけばその中から３種の波長を採用する
組合せが多くなり、汎用性が拡大される。この
場合採用しなかつた波長に対する吸光度に掛け
る係数を０とすればよい。
本発明は上述したように多数の波長を予め固定
的に選定しておき、吸光度に掛ける係数を適宜に
設定することにより、種々な試料、測定項目に応
じることができるので、試料により或は測定項目
によつて一々使用波長を変えるのに比し操作が簡
単であり、装置も簡単になる。なお吸光度に掛け
る係数が任意に設定できるから、多数の波長の波
長間隔を不等に選択しておいても前述したように
３波長法の実施には不都合がなく、２波長法のた
めの波長採択においてより適切な波長の組合せを
採ることができる。
的に選定しておき、吸光度に掛ける係数を適宜に
設定することにより、種々な試料、測定項目に応
じることができるので、試料により或は測定項目
によつて一々使用波長を変えるのに比し操作が簡
単であり、装置も簡単になる。なお吸光度に掛け
る係数が任意に設定できるから、多数の波長の波
長間隔を不等に選択しておいても前述したように
３波長法の実施には不都合がなく、２波長法のた
めの波長採択においてより適切な波長の組合せを
採ることができる。
第１図は本発明の一実施例多波長測光装置の構
成を示すブロツク図、第２図は本発明装置による
２波長測光法を説明する図、第３図は本発明装置
による３波長を用いる用法を説明する図である。 １……光源、２……試料セル、Ｆ１，Ｆ２，Ｆ
３……フイルタ、Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３……測光素
子、Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３……対数変換回路、ｋ１，
ｋ２，ｋ３……掛算回路、９……加算回路、１０
……表示手段。
成を示すブロツク図、第２図は本発明装置による
２波長測光法を説明する図、第３図は本発明装置
による３波長を用いる用法を説明する図である。 １……光源、２……試料セル、Ｆ１，Ｆ２，Ｆ
３……フイルタ、Ｄ１，Ｄ２，Ｄ３……測光素
子、Ｌ１，Ｌ２，Ｌ３……対数変換回路、ｋ１，
ｋ２，ｋ３……掛算回路、９……加算回路、１０
……表示手段。
Claims (1)
- １ 試料を透過した予め装置に固定的に設定され
ている３種以上の互いに異なる波長の光につい
て、試料の吸光度を測定する手段と、同手段によ
り得られた上記各波長における各吸光度のデータ
に任意の係数を掛算して加え合わせる演算手段と
よりなる多波長測光装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14413676A JPS5368292A (en) | 1976-11-30 | 1976-11-30 | Multi-wavelength photometric system |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP14413676A JPS5368292A (en) | 1976-11-30 | 1976-11-30 | Multi-wavelength photometric system |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5368292A JPS5368292A (en) | 1978-06-17 |
| JPS6238648B2 true JPS6238648B2 (ja) | 1987-08-19 |
Family
ID=15355045
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP14413676A Granted JPS5368292A (en) | 1976-11-30 | 1976-11-30 | Multi-wavelength photometric system |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS5368292A (ja) |
Families Citing this family (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5596429A (en) * | 1979-01-18 | 1980-07-22 | Ootake Seisakusho:Kk | Colorimeter for multi-wavelength fluid |
| JPS5927249A (ja) * | 1982-08-06 | 1984-02-13 | Japan Carlit Co Ltd:The | 二酸化塩素濃度の測定方法 |
| JPS5927250A (ja) * | 1982-08-06 | 1984-02-13 | Japan Carlit Co Ltd:The | 残留塩素の測定方法 |
-
1976
- 1976-11-30 JP JP14413676A patent/JPS5368292A/ja active Granted
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5368292A (en) | 1978-06-17 |
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