JPS60159635A - 濁り度測定方法 - Google Patents
濁り度測定方法Info
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- JPS60159635A JPS60159635A JP1623684A JP1623684A JPS60159635A JP S60159635 A JPS60159635 A JP S60159635A JP 1623684 A JP1623684 A JP 1623684A JP 1623684 A JP1623684 A JP 1623684A JP S60159635 A JPS60159635 A JP S60159635A
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- Japan
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- sample
- light
- turbidity
- photodetector
- diaphragm
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-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/47—Scattering, i.e. diffuse reflection
- G01N21/49—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid
- G01N21/53—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke
- G01N21/532—Scattering, i.e. diffuse reflection within a body or fluid within a flowing fluid, e.g. smoke with measurement of scattering and transmission
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
イ・ 産業上の利用分野
本発明は分光光度計を用いて試料の濁りの程度を測定す
る装置に関する。
る装置に関する。
口・従来技術
試料溶液の濁シの程度を測定する一般的な方法として、
吸光分光分析に準じて分光光度計を用いる方法がある。
吸光分光分析に準じて分光光度計を用いる方法がある。
混濁試料の場合、透過光は試料による光の吸収と散乱の
両方の効果で減少しており、吸光度測定と同じように試
料透過光の減光度合を測定するだけでは散乱による減光
と吸収による減光とが区別できず、この方法によって得
られる濁度のデータは試料の濁シ度合と吸収の両方の成
分を含んでおり、従来方法では試料の吸収の影響を除去
した真の濁度をめることはできなかった〇八日 的 本発明は分光光度計による吸光度測定の技法によって試
料の真の濁度を測定し得る方法を提供するものである。
両方の効果で減少しており、吸光度測定と同じように試
料透過光の減光度合を測定するだけでは散乱による減光
と吸収による減光とが区別できず、この方法によって得
られる濁度のデータは試料の濁シ度合と吸収の両方の成
分を含んでおり、従来方法では試料の吸収の影響を除去
した真の濁度をめることはできなかった〇八日 的 本発明は分光光度計による吸光度測定の技法によって試
料の真の濁度を測定し得る方法を提供するものである。
二・構 成
本発明は、試料と試料透過光を受光する位置に配置され
た光検出器との間に絞シを挿入し、この絞りを変えて、
試料による散乱光及び試料透過光が略全部光検出器に入
射し得る測定モードと、絞りを絞って試料透過光と散乱
光の一部のみが光検出器に入射する測定モードを設け、
両モードにおける測定結果から試料の濁り度を算出する
ものである。
た光検出器との間に絞シを挿入し、この絞りを変えて、
試料による散乱光及び試料透過光が略全部光検出器に入
射し得る測定モードと、絞りを絞って試料透過光と散乱
光の一部のみが光検出器に入射する測定モードを設け、
両モードにおける測定結果から試料の濁り度を算出する
ものである。
余光散乱性のない試料を考え、入射光の光量を工０１透
過光の光量を■とすると、この試料の吸光度Ａは Ａ＝ｒｏｇ（工Ｏ／工） で与えられる。濁シ成分が懸濁した試料の場合、光を入
射させると第１図ａに示すように試料を真直に透過した
光重ｔと散乱された光Ｉｓが観測される。そこで第１図
すに示すように小さな絞りＦｌを用いて略試料内を直進
した光重ｔだけが受光素子りに入射するようにした第１
の測定モードと第１図Ｃに示すように口径の大きい絞り
Ｆ２を用い直進光重ｔと共に散乱光重Ｓの相当部分が受
光素子りに入射するようにした第２の測定モードの二つ
の測定を行う。こ＼で試料への入射光量を■０、第１測
定モードで受光素子への入射光量を工１、第２測定モー
ドでの受光素子への入射光量を工２とすると、夫々の測
定モードで見掛上の吸光度 ４１＝ｊＯｇ （Ｉ Ｏ／工１）、Ａ２＝ｌｏｇ、（工
ｏ／１２）・・・（１）が測定される。濁シ成分の濃度
を変えて濁り度既知の試料を作シ、ＡＩ、Ａ２を測定し
、濁９度を横軸にとってグラフに示すと第２図にＡｌ、
Ａ２で示すような直線が得られる。第２図は実測例であ
るが詳細は実施例の項で述べる。この図で濁り成分の濃
度がＯの所で吸光度Ａｌ、Ａ２がＯでないのは溶媒に溶
けている他成分による吸収を示している。また濁り成分
Ｏのときは散乱光重Ｓがないのだから第１．第２何れの
モードでも工ｔしか測定されずＡ１．＝、Ａ２となるべ
きなのにＡｌ−Ａ２ ＝ ａなる差があるのは・第１の
測定モードでは絞りＦｌによってＩｔの一部もカットさ
れている結果Ａ１が大きく現われることによる。もつと
も第１の測定モードで工ｔの一部までカットするこせ、
この吸光成分の濃度は一定のま＼濁シ成分の濃度を変え
て、上と同じ測定を行い、第１．第２の測定モードで見
掛の吸光度Ａ Ｉ’ 、 、 Ａ ２’をめてグラフに
表わすと第２図にＡｌ’、Ａ２’で示すような直線にな
り、Ａｌ’、Ａ、２’はＡｌ、Ａ２の直線を相互関係を
保って、吸光成分による吸光度Ａａの相当分だけ平行移
動させた関係になっている０ 以上の結果から、濁り液の濁り度をＣ１比例定数をｋと
すると、二つの測定モードによってめられた見掛けの吸
光度ＡＩ、Ａ２と濁り度Ｃとの間には Ａｌ−Ａ２＝ａ＋ｋＣ・・・・・・・・・・・・・・・
（２）なる関係が成立ち、この関係は他の吸光成分の有
無・濃度には影響されないことが判る。（２）式でａは
第２図にａで示される値で、絞りＦｌ、Ｆ２と試料透過
光束との関係で定まることであり、試料とは関係のない
装置定数であるから、濁シ成分０の試料で予め測ってお
くことができる。濁り成分濃度既知の試料を用いて、上
記（２）式の関係を表わす検量線を作っておけば、任意
試料について、Ａ１、Ａ２を測定し、その差から正しい
濁り成分濃度がまる。
過光の光量を■とすると、この試料の吸光度Ａは Ａ＝ｒｏｇ（工Ｏ／工） で与えられる。濁シ成分が懸濁した試料の場合、光を入
射させると第１図ａに示すように試料を真直に透過した
光重ｔと散乱された光Ｉｓが観測される。そこで第１図
すに示すように小さな絞りＦｌを用いて略試料内を直進
した光重ｔだけが受光素子りに入射するようにした第１
の測定モードと第１図Ｃに示すように口径の大きい絞り
Ｆ２を用い直進光重ｔと共に散乱光重Ｓの相当部分が受
光素子りに入射するようにした第２の測定モードの二つ
の測定を行う。こ＼で試料への入射光量を■０、第１測
定モードで受光素子への入射光量を工１、第２測定モー
ドでの受光素子への入射光量を工２とすると、夫々の測
定モードで見掛上の吸光度 ４１＝ｊＯｇ （Ｉ Ｏ／工１）、Ａ２＝ｌｏｇ、（工
ｏ／１２）・・・（１）が測定される。濁シ成分の濃度
を変えて濁り度既知の試料を作シ、ＡＩ、Ａ２を測定し
、濁９度を横軸にとってグラフに示すと第２図にＡｌ、
Ａ２で示すような直線が得られる。第２図は実測例であ
るが詳細は実施例の項で述べる。この図で濁り成分の濃
度がＯの所で吸光度Ａｌ、Ａ２がＯでないのは溶媒に溶
けている他成分による吸収を示している。また濁り成分
Ｏのときは散乱光重Ｓがないのだから第１．第２何れの
モードでも工ｔしか測定されずＡ１．＝、Ａ２となるべ
きなのにＡｌ−Ａ２ ＝ ａなる差があるのは・第１の
測定モードでは絞りＦｌによってＩｔの一部もカットさ
れている結果Ａ１が大きく現われることによる。もつと
も第１の測定モードで工ｔの一部までカットするこせ、
この吸光成分の濃度は一定のま＼濁シ成分の濃度を変え
て、上と同じ測定を行い、第１．第２の測定モードで見
掛の吸光度Ａ Ｉ’ 、 、 Ａ ２’をめてグラフに
表わすと第２図にＡｌ’、Ａ２’で示すような直線にな
り、Ａｌ’、Ａ、２’はＡｌ、Ａ２の直線を相互関係を
保って、吸光成分による吸光度Ａａの相当分だけ平行移
動させた関係になっている０ 以上の結果から、濁り液の濁り度をＣ１比例定数をｋと
すると、二つの測定モードによってめられた見掛けの吸
光度ＡＩ、Ａ２と濁り度Ｃとの間には Ａｌ−Ａ２＝ａ＋ｋＣ・・・・・・・・・・・・・・・
（２）なる関係が成立ち、この関係は他の吸光成分の有
無・濃度には影響されないことが判る。（２）式でａは
第２図にａで示される値で、絞りＦｌ、Ｆ２と試料透過
光束との関係で定まることであり、試料とは関係のない
装置定数であるから、濁シ成分０の試料で予め測ってお
くことができる。濁り成分濃度既知の試料を用いて、上
記（２）式の関係を表わす検量線を作っておけば、任意
試料について、Ａ１、Ａ２を測定し、その差から正しい
濁り成分濃度がまる。
ホ・実施例
第３図に本発明方法を実施する装置の一例を示す、Ｓが
試料で、Ｍは分光器、Ｄは光検出器である。光検出器り
は試料の後方、試料を直進した透れている。光検出器り
の出力はＡ ／ Ｄ変換器１でディジタルデータに変換
され演算制御回路２に入力される絞９Ｆがない状態では
試料Ｓを透過した透過光と、拡がり角αの範囲に拡って
いる散乱光とが光検出器りに入射できる。このときの測
光出力が前記（１）式の工２であり、演算制御回路２は
、との工２のデータを取込みメモリ３に記憶させておく
。次に演算制御回路２は絞シ駆動装置５に信号を出力し
て絞ｐＦを図示位置に進出させる。このとき光検出器り
には試料透過光と散乱光の各一部だけが入射し、このと
きの測光出力が前記（１）式の■１であり、演算制御回
路２はこの工１のデ７りをメモリ３に記憶させる。その
後演算制御回路２はメモリ３内のデータを用い、前記（
１）、 （２）式によって（ＡＩ−Ａ２）を算出し、予
め測定してメモリに記憶させである（２）式のａを引算
してｋで割算すれば濁度Ｃがまるから、これを表示装置
４に出力して表示させる。
試料で、Ｍは分光器、Ｄは光検出器である。光検出器り
は試料の後方、試料を直進した透れている。光検出器り
の出力はＡ ／ Ｄ変換器１でディジタルデータに変換
され演算制御回路２に入力される絞９Ｆがない状態では
試料Ｓを透過した透過光と、拡がり角αの範囲に拡って
いる散乱光とが光検出器りに入射できる。このときの測
光出力が前記（１）式の工２であり、演算制御回路２は
、との工２のデータを取込みメモリ３に記憶させておく
。次に演算制御回路２は絞シ駆動装置５に信号を出力し
て絞ｐＦを図示位置に進出させる。このとき光検出器り
には試料透過光と散乱光の各一部だけが入射し、このと
きの測光出力が前記（１）式の■１であり、演算制御回
路２はこの工１のデ７りをメモリ３に記憶させる。その
後演算制御回路２はメモリ３内のデータを用い、前記（
１）、 （２）式によって（ＡＩ−Ａ２）を算出し、予
め測定してメモリに記憶させである（２）式のａを引算
してｋで割算すれば濁度Ｃがまるから、これを表示装置
４に出力して表示させる。
次に第２図の実測例について説明する。この場合試料は
ポリスチレンラテックス粒子懸濁液で同波の濃度を変え
て測定した。ＡＩ、Ａ２は分散媒は単なる水であり、Ａ
１１１Ａ２″は吸光成分としてピクリン酸を加えた。ピ
クリン酸濃度は８×１０−４′％であり、波長３５０ｎ
ｍの光で測定した。−横軸の数値はクンケル単位で表わ
した濁シ度で、ポリスチレンラテックス標準液３ｍｌと
純水３ｍｌの混合懸濁液がクンケル単位８Ｌ またポリ
スチレンラテックス標準液１．５ ｍ ｌ＋純水ａ、ｍ
７がクンケル単位４に相当する。下表はポリスチレンラ
テックス懸濁液の組成とクンケル単位で表わした濁シ度
、の関係を示す。
ポリスチレンラテックス粒子懸濁液で同波の濃度を変え
て測定した。ＡＩ、Ａ２は分散媒は単なる水であり、Ａ
１１１Ａ２″は吸光成分としてピクリン酸を加えた。ピ
クリン酸濃度は８×１０−４′％であり、波長３５０ｎ
ｍの光で測定した。−横軸の数値はクンケル単位で表わ
した濁シ度で、ポリスチレンラテックス標準液３ｍｌと
純水３ｍｌの混合懸濁液がクンケル単位８Ｌ またポリ
スチレンラテックス標準液１．５ ｍ ｌ＋純水ａ、ｍ
７がクンケル単位４に相当する。下表はポリスチレンラ
テックス懸濁液の組成とクンケル単位で表わした濁シ度
、の関係を示す。
ＰＳ：ポリスチレンラテックス標準液、Ｋ：クンケル単
位へ・効 果 本発明によれば、濁シ試料の濁シ度が試料に溶けている
他の吸光成分の影響なしに測定できるので、吸光分析の
手法を用いて、濁り成分の量だけを他の吸光成分と区別
して測定することができる。
位へ・効 果 本発明によれば、濁シ試料の濁シ度が試料に溶けている
他の吸光成分の影響なしに測定できるので、吸光分析の
手法を用いて、濁り成分の量だけを他の吸光成分と区別
して測定することができる。
第１図は本発明方法を説明する図で、同ａは試料による
散乱光と透過光を示す図、同すは第１の測定モードを示
す図、同Ｃは第２の測定モードを示す図、第２図は本発
明の一実施例の実測データを示すグラフ、第３図は本発
明方法を実行する装置の構成を示すブロック図である。 工０・・・入射光、■Ｓ・・・散乱光、■ｔ・・・透過
光、Ｍ・・・分光器、Ｓ・・・試料、Ｆ・・・絞り、Ｄ
・・・受光素子。 穴１図 穴３図 濁り力［（７Ｓ−プル′１′釦
散乱光と透過光を示す図、同すは第１の測定モードを示
す図、同Ｃは第２の測定モードを示す図、第２図は本発
明の一実施例の実測データを示すグラフ、第３図は本発
明方法を実行する装置の構成を示すブロック図である。 工０・・・入射光、■Ｓ・・・散乱光、■ｔ・・・透過
光、Ｍ・・・分光器、Ｓ・・・試料、Ｆ・・・絞り、Ｄ
・・・受光素子。 穴１図 穴３図 濁り力［（７Ｓ−プル′１′釦
Claims (1)
- 試料透過光を受光できる位置に光検出器を配置し、試料
と上記受光素子との間に絞シを挿入し、この絞りを変化
させて、試料の後方に出射する透過光の略全部と散乱光
の一部を上記光検出器に入射させる第１の測定モードと
、試料透過光及び散乱光の全部或は多くの部分を上記光
検出器に入射させる第２の測定モードを有りし１、）第
危の測定モードにおける吸光度Ａ１と第２の測定モード
における吸光度Ａ２とから、Ａｌ−Ａ２の演算によシ濁
シ度と直線関係にあるデータを得ることを特徴とする濁
シ度測定方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1623684A JPS60159635A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 濁り度測定方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1623684A JPS60159635A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 濁り度測定方法 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS60159635A true JPS60159635A (ja) | 1985-08-21 |
| JPH0535378B2 JPH0535378B2 (ja) | 1993-05-26 |
Family
ID=11910918
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1623684A Granted JPS60159635A (ja) | 1984-01-31 | 1984-01-31 | 濁り度測定方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS60159635A (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008026036A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Aloka Co Ltd | 含有物測定装置 |
| JP2012098282A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-24 | F Hoffmann-La Roche Ag | 散乱および吸光分析を行うシステム |
| CN110726699A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-01-24 | 浙江农林大学 | 一种海绵城市水体浊度的监测方法 |
Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5126081A (ja) * | 1974-08-28 | 1976-03-03 | Omron Tateisi Electronics Co | Dakudokei |
| JPS54114980U (ja) * | 1978-01-31 | 1979-08-13 |
-
1984
- 1984-01-31 JP JP1623684A patent/JPS60159635A/ja active Granted
Patent Citations (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS5126081A (ja) * | 1974-08-28 | 1976-03-03 | Omron Tateisi Electronics Co | Dakudokei |
| JPS54114980U (ja) * | 1978-01-31 | 1979-08-13 |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2008026036A (ja) * | 2006-07-18 | 2008-02-07 | Aloka Co Ltd | 含有物測定装置 |
| JP2012098282A (ja) * | 2010-10-29 | 2012-05-24 | F Hoffmann-La Roche Ag | 散乱および吸光分析を行うシステム |
| US9285311B2 (en) | 2010-10-29 | 2016-03-15 | Roche Diagnostics Operations, Inc. | System for performing scattering and absorbance assays |
| CN110726699A (zh) * | 2019-11-28 | 2020-01-24 | 浙江农林大学 | 一种海绵城市水体浊度的监测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH0535378B2 (ja) | 1993-05-26 |
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