JPS6237978B2 - - Google Patents
Info
- Publication number
- JPS6237978B2 JPS6237978B2 JP53007028A JP702878A JPS6237978B2 JP S6237978 B2 JPS6237978 B2 JP S6237978B2 JP 53007028 A JP53007028 A JP 53007028A JP 702878 A JP702878 A JP 702878A JP S6237978 B2 JPS6237978 B2 JP S6237978B2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- data
- ray
- calibration
- reference signal
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 33
- 238000010521 absorption reaction Methods 0.000 claims description 16
- 238000013480 data collection Methods 0.000 claims description 8
- 238000003325 tomography Methods 0.000 claims description 7
- 238000012937 correction Methods 0.000 claims description 5
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 12
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 10
- 238000000034 method Methods 0.000 description 6
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007613 environmental effect Effects 0.000 description 4
- 238000003745 diagnosis Methods 0.000 description 3
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 239000000203 mixture Substances 0.000 description 2
- 230000001360 synchronised effect Effects 0.000 description 2
- 230000003321 amplification Effects 0.000 description 1
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 1
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000003199 nucleic acid amplification method Methods 0.000 description 1
- 230000004044 response Effects 0.000 description 1
- 210000004872 soft tissue Anatomy 0.000 description 1
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 1
- 210000001519 tissue Anatomy 0.000 description 1
- 229910052724 xenon Inorganic materials 0.000 description 1
- FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N xenon atom Chemical compound [Xe] FHNFHKCVQCLJFQ-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Landscapes
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
- Nuclear Medicine (AREA)
Description
【発明の詳細な説明】
本発明は感度変動により発生する再構成画像の
雑音を除去した断層撮影装置に関するものであ
る。
雑音を除去した断層撮影装置に関するものであ
る。
X線診断装置の一つにコンピユータ断層撮影装
置(Computerized Tomography;以下CT装置
と称する)と呼ばれるX線断層撮影装置がある。
置(Computerized Tomography;以下CT装置
と称する)と呼ばれるX線断層撮影装置がある。
このCT装置は例えば扇状に広がる扁平なフア
ンビームX線を曝射するX線管と、多数のX線検
出素子を並設したX線検出装置とを被検体の断層
面を介して互いに対峙させ、X線検出装置に向け
てフアンビームX線を曝射させると共に1回曝射
を行なう毎に断層面に対して例えば角度を1度変
えて再びこれを行ない、以後、順次角度を変えて
被検体の断層面の種々の角度に対するX線吸収デ
ータを収集した後、このデータを電子計算機で解
析し、断層面の個々の位置のX線吸収率を算出し
て、その吸収率に応じた階調度断層面を再構成す
るようにしたもので断層面各部分の組成を2000段
階にも及ぶ階調度で分析することができるので、
軟質組織から硬質組織に至るまで、明確な断層像
が得られる。
ンビームX線を曝射するX線管と、多数のX線検
出素子を並設したX線検出装置とを被検体の断層
面を介して互いに対峙させ、X線検出装置に向け
てフアンビームX線を曝射させると共に1回曝射
を行なう毎に断層面に対して例えば角度を1度変
えて再びこれを行ない、以後、順次角度を変えて
被検体の断層面の種々の角度に対するX線吸収デ
ータを収集した後、このデータを電子計算機で解
析し、断層面の個々の位置のX線吸収率を算出し
て、その吸収率に応じた階調度断層面を再構成す
るようにしたもので断層面各部分の組成を2000段
階にも及ぶ階調度で分析することができるので、
軟質組織から硬質組織に至るまで、明確な断層像
が得られる。
第1図にCT装置の構成を示す。図において、
1はフアンビームX線FBを曝射するX線管、2
は被検体、3はこの被検体2を介して前記X線管
1に対峙される前述のX線検出装置であり、これ
らX線管1及びX線検出装置3は被検体2の中心
を中心として互いに対峙させながら回転される。
4はX線検出装置3の検出出力を増幅し積分し、
1パルス当りのデータとして取り出す積分器によ
るデータ収集装置、5は操作指令を与えるオペレ
ーシヨンコントローラ、6はこのオペレーシヨン
コントローラ5からの指令により中央処理装置7
及びX線制御器8を制御すると共にこの中央処理
装置7を介してA/D変換されて読み込まれたデ
ータ収集装置4出力をデータとして演算し、解析
するコンピユータ、9はデータの解析結果を出力
する出力装置、10はX線制御器8の制御出力に
応じた電圧電流値のX線管用高圧出力を発生し前
記X線管に与える高圧発生器、11はこの高圧発
生器10とX線管1との間に設けられ、高圧出力
の高速スイツチング(15〜30msec周期で5msec
程度オンする)を行なう高圧スイツチである。
1はフアンビームX線FBを曝射するX線管、2
は被検体、3はこの被検体2を介して前記X線管
1に対峙される前述のX線検出装置であり、これ
らX線管1及びX線検出装置3は被検体2の中心
を中心として互いに対峙させながら回転される。
4はX線検出装置3の検出出力を増幅し積分し、
1パルス当りのデータとして取り出す積分器によ
るデータ収集装置、5は操作指令を与えるオペレ
ーシヨンコントローラ、6はこのオペレーシヨン
コントローラ5からの指令により中央処理装置7
及びX線制御器8を制御すると共にこの中央処理
装置7を介してA/D変換されて読み込まれたデ
ータ収集装置4出力をデータとして演算し、解析
するコンピユータ、9はデータの解析結果を出力
する出力装置、10はX線制御器8の制御出力に
応じた電圧電流値のX線管用高圧出力を発生し前
記X線管に与える高圧発生器、11はこの高圧発
生器10とX線管1との間に設けられ、高圧出力
の高速スイツチング(15〜30msec周期で5msec
程度オンする)を行なう高圧スイツチである。
このような構成のCT装置はオペレーシヨンコ
ントローラ5より指令を与えることによつて、コ
ンピユータ6を起動させ、X線制御器8にX線吸
収データ収集のためのX線管電圧、電流の条件設
定を行なわせ、その設定値を高圧発生器10に印
加させる。これによつて高圧発生器10はその設
定値の高圧出力を発生させる。この高圧出力は高
速でスイツチングを行なう高圧スイツチ11を介
してX線管1に印加され、X線管1はフアンビー
ムX線FBを間欠的に即ちパルス化して曝射す
る。このフアンビームX線FBは被検体2を介し
てX線検出装置3に入力され、ここで、被検体2
の透過断面の組成に応じた吸収データとして検出
される。この検出出力はデータ収集装置4によつ
て1パルス分毎に積分され、中央処理装置7に送
られる。そして、この中央処理装置7にて被検体
2の各X線透過位置に応じたデータに分けられた
後、データはコンピユータ6に送られる。このよ
うにして、X線管1及びX線検出装置3を1度ず
つ例えば360゜回転させて、被検体2断層面のあ
らゆる方向からX線吸収データを収集する。X線
吸収データの収集が終ると次にコンピユータ6は
その収集データの解析を行ない断層像の画像再構
成を行なつて、オペレーシヨンコントローラ5上
に設けられているモニタにその画像を表示し、ま
た出力装置9に出力する。
ントローラ5より指令を与えることによつて、コ
ンピユータ6を起動させ、X線制御器8にX線吸
収データ収集のためのX線管電圧、電流の条件設
定を行なわせ、その設定値を高圧発生器10に印
加させる。これによつて高圧発生器10はその設
定値の高圧出力を発生させる。この高圧出力は高
速でスイツチングを行なう高圧スイツチ11を介
してX線管1に印加され、X線管1はフアンビー
ムX線FBを間欠的に即ちパルス化して曝射す
る。このフアンビームX線FBは被検体2を介し
てX線検出装置3に入力され、ここで、被検体2
の透過断面の組成に応じた吸収データとして検出
される。この検出出力はデータ収集装置4によつ
て1パルス分毎に積分され、中央処理装置7に送
られる。そして、この中央処理装置7にて被検体
2の各X線透過位置に応じたデータに分けられた
後、データはコンピユータ6に送られる。このよ
うにして、X線管1及びX線検出装置3を1度ず
つ例えば360゜回転させて、被検体2断層面のあ
らゆる方向からX線吸収データを収集する。X線
吸収データの収集が終ると次にコンピユータ6は
その収集データの解析を行ない断層像の画像再構
成を行なつて、オペレーシヨンコントローラ5上
に設けられているモニタにその画像を表示し、ま
た出力装置9に出力する。
CT装置は以上のように構成されており、X線
検出装置3及びその検出出力を処理する積分器に
よるデータ収集装置4は特に高精度、高安定度が
要求される。しかしながら、いかに高精度、高安
定度を持たせ、且つ環境条件を一定にしても時間
経過による変動は避け得ないため、定期的に基準
被検体(テストフアントム等)にてX線検出装置
とデータ収集部との間の感度を較正する必要があ
る。
検出装置3及びその検出出力を処理する積分器に
よるデータ収集装置4は特に高精度、高安定度が
要求される。しかしながら、いかに高精度、高安
定度を持たせ、且つ環境条件を一定にしても時間
経過による変動は避け得ないため、定期的に基準
被検体(テストフアントム等)にてX線検出装置
とデータ収集部との間の感度を較正する必要があ
る。
通常は基準被検体として、円筒状の容器内に水
を充填した水フアントムを用い、これを人体等の
被検体の場合と同様にX線ビームによりあらゆる
方向からのX線吸収データを収集し、その時の全
データをコンピユータのメモリに記憶させてお
き、このデータを基準データとして用いて、実際
の被検体のX線吸収データを収集したときにその
収集した値をコンピユータによつて較正する方法
が採られている。
を充填した水フアントムを用い、これを人体等の
被検体の場合と同様にX線ビームによりあらゆる
方向からのX線吸収データを収集し、その時の全
データをコンピユータのメモリに記憶させてお
き、このデータを基準データとして用いて、実際
の被検体のX線吸収データを収集したときにその
収集した値をコンピユータによつて較正する方法
が採られている。
水フアントムによるX線検出装置3及びデータ
収集装置4の感度の較正は週に一回或いは日に一
回或いは患者毎にと云う頻度で行なわれるのが普
通である。
収集装置4の感度の較正は週に一回或いは日に一
回或いは患者毎にと云う頻度で行なわれるのが普
通である。
しかしながら、X線検出装置3やデータ収集装
置4は3桁にわたる広範囲の直線性、0.2〜0.3%
程度の標準偏差と云う高精度を伴つて、ナノアン
ペア(nA)と云う微小電流を処理する極めてデ
リケートな特性を有するものであるため、温度、
湿度等の環境変化による影響を皆無とすることは
今のところ不可能であり、わずかではあるが、数
秒単位、数分単位、数十分単位で感度は変動す
る。このわずかの変動が最近のCT装置のように
被検体を中心としてX線管を回転のみさせてデー
タ収集するローテーシヨンのみの走査方式におい
ては画像再構成を行なつたとき、極めて強調され
た線状の雑音として現われ、像を非常に見にくい
ものとする。従つて、この雑音(アーテイフアク
ト)により診断が極めて困難となる。
置4は3桁にわたる広範囲の直線性、0.2〜0.3%
程度の標準偏差と云う高精度を伴つて、ナノアン
ペア(nA)と云う微小電流を処理する極めてデ
リケートな特性を有するものであるため、温度、
湿度等の環境変化による影響を皆無とすることは
今のところ不可能であり、わずかではあるが、数
秒単位、数分単位、数十分単位で感度は変動す
る。このわずかの変動が最近のCT装置のように
被検体を中心としてX線管を回転のみさせてデー
タ収集するローテーシヨンのみの走査方式におい
ては画像再構成を行なつたとき、極めて強調され
た線状の雑音として現われ、像を非常に見にくい
ものとする。従つて、この雑音(アーテイフアク
ト)により診断が極めて困難となる。
尚、キセノン検出器をX線検出装置として使用
した場合には温度、湿度、ドリフト等の面でデー
タ収集装置4の変動に比べ数段優れた安定性を保
つから、画像再構成におけるアーテイフアクトの
発生で問題となるのはデータ収集装置であり、そ
の積分を行なうに際しての感度変動である。この
データ収集装置の感度変動は二種類に分けられ
る。それは入力に対する出力の環境的、経時的誤
差でほぼ入力値に比例する入力比例分Aと、入力
が零であるのに出力が零とならないオフセツト分
Bであり、第2図の如きものである。
した場合には温度、湿度、ドリフト等の面でデー
タ収集装置4の変動に比べ数段優れた安定性を保
つから、画像再構成におけるアーテイフアクトの
発生で問題となるのはデータ収集装置であり、そ
の積分を行なうに際しての感度変動である。この
データ収集装置の感度変動は二種類に分けられ
る。それは入力に対する出力の環境的、経時的誤
差でほぼ入力値に比例する入力比例分Aと、入力
が零であるのに出力が零とならないオフセツト分
Bであり、第2図の如きものである。
このうち、オフセツト分BはX線吸収データの
収集開始前(撮影開始前)に行なうことでほとん
ど問題とならない。即ち、1回の断層面撮影(1
断層面当りのデータ収集)を行なうに必要な時間
は4〜9秒程度であるため、この程度の時間では
オフセツト値はほぼ一定となつているためであ
る。問題となるのは、入力比例分、即ち、データ
収集装置の真の増幅積分感度であり、これは環境
条件、時間等による変動分で、その補正は1断層
面撮影毎程度の頻度で行つても補えるものではな
い。
収集開始前(撮影開始前)に行なうことでほとん
ど問題とならない。即ち、1回の断層面撮影(1
断層面当りのデータ収集)を行なうに必要な時間
は4〜9秒程度であるため、この程度の時間では
オフセツト値はほぼ一定となつているためであ
る。問題となるのは、入力比例分、即ち、データ
収集装置の真の増幅積分感度であり、これは環境
条件、時間等による変動分で、その補正は1断層
面撮影毎程度の頻度で行つても補えるものではな
い。
ところで、ローテーシヨンのみの走査方式の
CT装置は前述したようにX線管よりフアンビー
ム状のX線を間欠的に、即ちパルス状に発生させ
る方式をとつており、データ収集装置はX線検出
装置の検出したX線吸収データを各検出素子毎に
1パルス分単位で積分して出力する。そのため、
データ収集装置はX線管のX線曝射休止期間中に
前回積分したデータを放電させ、且つ次の曝射ま
での間、休止状態となる。従つて、この休止期間
に感度変動を正しく補正するようにすれば1断層
面あたり例えば360回のデータ収集を行なう装置
であると1秒間に360/4〜360/9回も補正が行なわ
れることとなり、入力比例分変動による影響をほ
ぼ完安に除去することができるわけであり、アー
テイフアクトの無い再構成画像を得ることが可能
となる。
CT装置は前述したようにX線管よりフアンビー
ム状のX線を間欠的に、即ちパルス状に発生させ
る方式をとつており、データ収集装置はX線検出
装置の検出したX線吸収データを各検出素子毎に
1パルス分単位で積分して出力する。そのため、
データ収集装置はX線管のX線曝射休止期間中に
前回積分したデータを放電させ、且つ次の曝射ま
での間、休止状態となる。従つて、この休止期間
に感度変動を正しく補正するようにすれば1断層
面あたり例えば360回のデータ収集を行なう装置
であると1秒間に360/4〜360/9回も補正が行なわ
れることとなり、入力比例分変動による影響をほ
ぼ完安に除去することができるわけであり、アー
テイフアクトの無い再構成画像を得ることが可能
となる。
本発明は上記事情に鑑みて成されたもので、デ
ータ収集の際、X線ビームの休止期間に同期させ
て較正用の基準信号をデータ収集装置に与え、そ
の時のデータ収集装置の出力を較正データとして
コンピユータに記憶させておき、較正データによ
り補正を加えながら、収集したX線吸収データを
コンピユータにて解析させることによりアーテイ
フアクトの無い再構成画像を得ることができるよ
うにした断層撮影装置を提供することを目的とす
る。
ータ収集の際、X線ビームの休止期間に同期させ
て較正用の基準信号をデータ収集装置に与え、そ
の時のデータ収集装置の出力を較正データとして
コンピユータに記憶させておき、較正データによ
り補正を加えながら、収集したX線吸収データを
コンピユータにて解析させることによりアーテイ
フアクトの無い再構成画像を得ることができるよ
うにした断層撮影装置を提供することを目的とす
る。
以下、本発明の一実施例について第3図及び第
4図を参照しながら説明する。第3図は本装置の
構成を示すブロツク図であり、図中3は前述のX
線検出装置、4は前述のデータ収集装置、7は中
央処理装置である。31はデータ処理装置4の較
正用の基準電圧を発生して基準となる電流を与え
る高安定な較正用安定化電源、32はX線管の曝
射周期の倍程度の周期で且つX線管の曝射時間分
のパルス幅のデータ収集装置駆動指令を発生する
駆動指令信号発生器であり、この駆動指令信号発
生器32はX線曝射と同期させるように構成して
ある。また、データ収集装置4は駆動指令信号を
受けているときに入力を積分し、駆動指令信号が
無くなるとその積分値を出力し同時に内容をリセ
ツトするものである。33は前記X線検出装置3
の出力と較正用安定化電源31出力とを交互に切
り換えてデータ収集装置4に入力する切換回路で
ある。この切換回路33は前記駆動指令信号発生
器32の発生する駆動指令信号に同期して切り換
えられるものであり、X線曝射時にはX線検出装
置3の出力を、またX線休止期間であるときは較
正用安定化電源31の出力をそれぞれ駆動指令信
号の発生期間だけデータ収集装置4に入力するも
のである。34はデータ収集装置4の出力をデイ
ジタル値に変換して中央処理装置7に与えるA/
D変換器である。
4図を参照しながら説明する。第3図は本装置の
構成を示すブロツク図であり、図中3は前述のX
線検出装置、4は前述のデータ収集装置、7は中
央処理装置である。31はデータ処理装置4の較
正用の基準電圧を発生して基準となる電流を与え
る高安定な較正用安定化電源、32はX線管の曝
射周期の倍程度の周期で且つX線管の曝射時間分
のパルス幅のデータ収集装置駆動指令を発生する
駆動指令信号発生器であり、この駆動指令信号発
生器32はX線曝射と同期させるように構成して
ある。また、データ収集装置4は駆動指令信号を
受けているときに入力を積分し、駆動指令信号が
無くなるとその積分値を出力し同時に内容をリセ
ツトするものである。33は前記X線検出装置3
の出力と較正用安定化電源31出力とを交互に切
り換えてデータ収集装置4に入力する切換回路で
ある。この切換回路33は前記駆動指令信号発生
器32の発生する駆動指令信号に同期して切り換
えられるものであり、X線曝射時にはX線検出装
置3の出力を、またX線休止期間であるときは較
正用安定化電源31の出力をそれぞれ駆動指令信
号の発生期間だけデータ収集装置4に入力するも
のである。34はデータ収集装置4の出力をデイ
ジタル値に変換して中央処理装置7に与えるA/
D変換器である。
次に上記構成の本装置の動作について説明す
る。第4図Aに示す如くコンピユータからの指令
によりX線管には周期の1/4程度のパルス幅のX
線管電圧が印加され、これによつてX線管はこの
パルス幅相当の時間、フアンビームX線を曝射す
る。この曝射X線は被検体を介してX線検出装置
3に入射される(第4図B)。するとX線検出装
置3はそのX線入射期間、入射X線強度に対応し
た検出出力を出す。
る。第4図Aに示す如くコンピユータからの指令
によりX線管には周期の1/4程度のパルス幅のX
線管電圧が印加され、これによつてX線管はこの
パルス幅相当の時間、フアンビームX線を曝射す
る。この曝射X線は被検体を介してX線検出装置
3に入射される(第4図B)。するとX線検出装
置3はそのX線入射期間、入射X線強度に対応し
た検出出力を出す。
これより先、図示しないオペレーシヨンコント
ローラからのX線曝射指令によるコンピユータの
制御動作によつてX線管電圧のX線管への間欠的
な供給が行なわれる直前に、CT装置の前記コン
ピユータにより駆動指令信号発生器32に駆動指
令が与えられる。これにより駆動指令信号発生器
32は作動して第4図Dに示す如くX線管の曝射
X線のパルス幅分でその2倍の周波数の駆動指令
信号を発生する。この駆動指令信号(第4図D)
により切換回路33はそのパルス幅分だけ較正用
安定化電源31側に切換え、この較正用の基準電
圧をデータ収集装置4に入力する。駆動指令信号
はこのデータ収集装置4にも入力されているので
データ収集装置4はその間動作して基準電圧を積
分し第4図Eに示す如く出力する。起動直後は回
路が安定していないので連続二回この動作が行わ
れ、前記積分値(2回目の較正入力による積分
値)はA/D変換器34によりデイジタル化され
て、中央処理装置7に送られた後、図示しないメ
モリに較正用のデータとして記憶される。その
後、第3回目の駆動指令信号発生時にこれと同期
してコンピユータはX線曝射制御を行ない前述し
た如くX線管よりX線曝射が成されこれがX線検
出装置4によつて検出され出力されるが、このと
き、X線曝射と同期した駆動指令信号によつて切
換回路33はX線検出装置3側をその信号の発生
時間の間、閉じデータ収集装置4に与える。この
とき、データ収集装置4にも駆動指令信号が与え
られているので、その信号の発生時間の間、X線
検出装置3出力を積分して出力する。この出力は
A/D変換器34を介して中央処理装置7に送ら
れ、X線吸収データとしてメモリに記憶される。
次に再び駆動指令信号が発生されると今度は切換
回路33は較正用安定化電源31側を選択し、デ
ータ収集装置4に較正用基準電圧のデータを収集
させ、これを記憶させる。次の駆動指令信号発生
時にはX線曝射が行なわれるので、切換回路33
はX線検出装置3側が選択されX線の検出値が収
集されて記憶される。
ローラからのX線曝射指令によるコンピユータの
制御動作によつてX線管電圧のX線管への間欠的
な供給が行なわれる直前に、CT装置の前記コン
ピユータにより駆動指令信号発生器32に駆動指
令が与えられる。これにより駆動指令信号発生器
32は作動して第4図Dに示す如くX線管の曝射
X線のパルス幅分でその2倍の周波数の駆動指令
信号を発生する。この駆動指令信号(第4図D)
により切換回路33はそのパルス幅分だけ較正用
安定化電源31側に切換え、この較正用の基準電
圧をデータ収集装置4に入力する。駆動指令信号
はこのデータ収集装置4にも入力されているので
データ収集装置4はその間動作して基準電圧を積
分し第4図Eに示す如く出力する。起動直後は回
路が安定していないので連続二回この動作が行わ
れ、前記積分値(2回目の較正入力による積分
値)はA/D変換器34によりデイジタル化され
て、中央処理装置7に送られた後、図示しないメ
モリに較正用のデータとして記憶される。その
後、第3回目の駆動指令信号発生時にこれと同期
してコンピユータはX線曝射制御を行ない前述し
た如くX線管よりX線曝射が成されこれがX線検
出装置4によつて検出され出力されるが、このと
き、X線曝射と同期した駆動指令信号によつて切
換回路33はX線検出装置3側をその信号の発生
時間の間、閉じデータ収集装置4に与える。この
とき、データ収集装置4にも駆動指令信号が与え
られているので、その信号の発生時間の間、X線
検出装置3出力を積分して出力する。この出力は
A/D変換器34を介して中央処理装置7に送ら
れ、X線吸収データとしてメモリに記憶される。
次に再び駆動指令信号が発生されると今度は切換
回路33は較正用安定化電源31側を選択し、デ
ータ収集装置4に較正用基準電圧のデータを収集
させ、これを記憶させる。次の駆動指令信号発生
時にはX線曝射が行なわれるので、切換回路33
はX線検出装置3側が選択されX線の検出値が収
集されて記憶される。
このようにして較正用基準電圧とX線の検出値
とが交互に同時間ずつデータ収集され、記憶され
てゆく。従つて、コンピユータにより解析して画
像の再構成を行なう際にはX線の検出値のデータ
の直前に収集した較正用の基準電圧の収集データ
を用いてその変動分だけ補正を加えつつ、解析を
行なうことにより個々の収集データはほぼ瞬
時々々の感度変動分の補正が成されることとな
り、感度変動に起因する雑音分をほとんど取り除
いた高精度の解析が行なわれることになる。従つ
て、アーテイフアクトの全くない極めて良質な再
構成画像を得ることができ、正確な診断が行なえ
ることになる。
とが交互に同時間ずつデータ収集され、記憶され
てゆく。従つて、コンピユータにより解析して画
像の再構成を行なう際にはX線の検出値のデータ
の直前に収集した較正用の基準電圧の収集データ
を用いてその変動分だけ補正を加えつつ、解析を
行なうことにより個々の収集データはほぼ瞬
時々々の感度変動分の補正が成されることとな
り、感度変動に起因する雑音分をほとんど取り除
いた高精度の解析が行なわれることになる。従つ
て、アーテイフアクトの全くない極めて良質な再
構成画像を得ることができ、正確な診断が行なえ
ることになる。
このようにX線ビームがパルス状に曝射される
ことを利用してその休止期間中に較正用基準電圧
等の基準信号をデータ収集装置で収集させ、この
基準信号によるデータとX線検出装置の検出デー
タとを交互に収集して記憶させておき、基準信号
のデータの変動分を補正値として検出データに補
正を加えるようにしたので、データ収集装置の感
度変動分を完全に補正した検出データが得られる
から、アーテイフアクトの全くない再構成画像が
得られ、従つて正確な診断が行なえる等、優れた
特徴を有する断層撮影装置を提供することができ
る。
ことを利用してその休止期間中に較正用基準電圧
等の基準信号をデータ収集装置で収集させ、この
基準信号によるデータとX線検出装置の検出デー
タとを交互に収集して記憶させておき、基準信号
のデータの変動分を補正値として検出データに補
正を加えるようにしたので、データ収集装置の感
度変動分を完全に補正した検出データが得られる
から、アーテイフアクトの全くない再構成画像が
得られ、従つて正確な診断が行なえる等、優れた
特徴を有する断層撮影装置を提供することができ
る。
尚、本発明は上記し且つ図面に示す実施例に限
定することなくその要旨を変更しない範囲内で適
宜変形して実施し得るものであり、例えば、オフ
セツト値の補正を行なわせたい場合には較正用基
準信号を零にすれば良く、従つて較正用基準信号
を一定値と零値を交互に繰り返えすことによつて
オフセツト値と入力比例分の双方の補正が可能で
ある。
定することなくその要旨を変更しない範囲内で適
宜変形して実施し得るものであり、例えば、オフ
セツト値の補正を行なわせたい場合には較正用基
準信号を零にすれば良く、従つて較正用基準信号
を一定値と零値を交互に繰り返えすことによつて
オフセツト値と入力比例分の双方の補正が可能で
ある。
第1図はCT装置の構成を示すブロツク図、第
2図はデータ収集装置の感度変動を説明する図、
第3図は本発明の一実施例を示すブロツク図、第
4図はそのタイムチヤートである。 1……X線管、2……被検体、3……X線検出
装置、4……データ収集装置、6……コンピユー
タ、7……中央処理装置、31……較正用安定化
電源、32……駆動指令信号発生器、33……切
換回路。
2図はデータ収集装置の感度変動を説明する図、
第3図は本発明の一実施例を示すブロツク図、第
4図はそのタイムチヤートである。 1……X線管、2……被検体、3……X線検出
装置、4……データ収集装置、6……コンピユー
タ、7……中央処理装置、31……較正用安定化
電源、32……駆動指令信号発生器、33……切
換回路。
Claims (1)
- 1 X線を間欠的に曝射して被検体断層面の種々
の方向に対するX線吸収データをX線検出装置に
よつて検出しこれを各曝射毎にそれぞれ単位時間
当りの積分値にして出力するデータ収集装置を介
して収集しコンピユータによつてその収集データ
を解析して前記断層面の画像再構成を行なうコン
ピユータ断層撮影装置において、較正用の基準信
号を発生する回路と、この基準信号を前記X線の
曝射休止期間中に前記データ収集装置に与える回
路とを具備し、基準信号とX線吸収データとを交
互に収集させて基準信号の変動分を補正値として
X線吸収データの補正を行なわせることを特徴と
する断層撮影装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP702878A JPS54100281A (en) | 1978-01-24 | 1978-01-24 | Tomograph |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP702878A JPS54100281A (en) | 1978-01-24 | 1978-01-24 | Tomograph |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS54100281A JPS54100281A (en) | 1979-08-07 |
JPS6237978B2 true JPS6237978B2 (ja) | 1987-08-14 |
Family
ID=11654575
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP702878A Granted JPS54100281A (en) | 1978-01-24 | 1978-01-24 | Tomograph |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS54100281A (ja) |
Families Citing this family (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS5568358A (en) * | 1978-11-17 | 1980-05-23 | Hitachi Medical Corp | Xxray tomogram device |
DE3019606A1 (de) * | 1980-05-22 | 1981-11-26 | SIEMENS AG AAAAA, 1000 Berlin und 8000 München | Schichtgeraet zur herstellung von transversalschichtbildern |
JP6257929B2 (ja) * | 2013-06-13 | 2018-01-10 | 東芝メディカルシステムズ株式会社 | X線コンピュータ断層撮影装置 |
JP2015171414A (ja) * | 2014-03-11 | 2015-10-01 | Necプラットフォームズ株式会社 | 測定器、方法およびプログラム |
JP7350527B2 (ja) * | 2019-06-17 | 2023-09-26 | 富士フイルムヘルスケア株式会社 | X線ct装置 |
-
1978
- 1978-01-24 JP JP702878A patent/JPS54100281A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPS54100281A (en) | 1979-08-07 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
EP2433566B1 (en) | System for blood vessel stenosis visualization and quantification using spectral CT analysis | |
EP0942682B1 (en) | Adjustable computer tomography device | |
US6454460B1 (en) | System and method for evaluating and calibrating a radiation generator | |
JP2007195978A (ja) | X線コンピュータ断層撮影装置およびx線断層撮影装置を動作させるための方法 | |
JPH04212333A (ja) | X線検査装置およびその作動方法 | |
US7460643B2 (en) | Radiographic apparatus and radiation detection signal processing method | |
US7377691B2 (en) | Radiographic apparatus that removes time lag by recursive computation | |
US20060251213A1 (en) | Method for presetting the imaging parameters during the generation of two-dimensional fluoroscopic x-ray images | |
JPWO2011030460A1 (ja) | 放射線断層撮影方法および放射線治療装置制御装置 | |
US8100584B2 (en) | Voltage measurement in an imaging system | |
JP4812397B2 (ja) | X線ct装置、x線ct装置の画像生成方法 | |
US20100124312A1 (en) | Tomographic image capturing apparatus | |
US7006599B2 (en) | Radiographic apparatus | |
US5029586A (en) | Image processing method and system for radiological diagnostics | |
JPS6237978B2 (ja) | ||
EP1277376A2 (en) | Method for operating a radiation examination device | |
JP2003010168A (ja) | X線ct装置 | |
JP2006230843A (ja) | X線回転撮影装置 | |
CN107111888B (zh) | 用于校正能量依赖投影值的校正装置 | |
US7073941B2 (en) | Radiographic apparatus and radiation detection signal processing method | |
JP2827425B2 (ja) | 骨塩定量装置 | |
JPS59129053A (ja) | X線ct装置 | |
JP2000023965A (ja) | 放射線撮像装置 | |
EP4254018A1 (en) | X-ray diagnostic apparatus and storage medium | |
US11622741B2 (en) | System and method for imaging a subject |