JPS6237906A - Trimming of resistor - Google Patents

Trimming of resistor

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Publication number
JPS6237906A
JPS6237906A JP60177956A JP17795685A JPS6237906A JP S6237906 A JPS6237906 A JP S6237906A JP 60177956 A JP60177956 A JP 60177956A JP 17795685 A JP17795685 A JP 17795685A JP S6237906 A JPS6237906 A JP S6237906A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
trimming
resistor
resistance value
amount
desired resistance
Prior art date
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Pending
Application number
JP60177956A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
博司 高原
遠富 康
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP60177956A priority Critical patent/JPS6237906A/en
Publication of JPS6237906A publication Critical patent/JPS6237906A/en
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
(57) [Summary] This bulletin contains application data before electronic filing, so abstract data is not recorded.

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はセラミック基板上などに作製された膜抵抗体の
素子トリミング方法に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of the Invention The present invention relates to a method for trimming elements of a film resistor fabricated on a ceramic substrate or the like.

従来の技術 近年、機器の小型化が進むにつれ、電子部品実装も高密
度化の傾向にある。その実装方法の1つにハイブリッド
IC(以下HICと呼ぶ)がある。
BACKGROUND OF THE INVENTION In recent years, as devices have become smaller, there has been a trend toward higher density electronic component packaging. One of the implementation methods is a hybrid IC (hereinafter referred to as HIC).

このHICiに用いられる抵抗体の製造方法はセラミッ
ク基板上に抵抗体電極ならびに配線パターンの形成後、
印刷または描画により抵抗体を形成す2ベーノ る。しかし、作製された抵抗体の抵抗値は印刷・焼成条
件などによりバラツキが生じる。そのため抵抗体にトリ
ミングをおこない、抵抗値を増大させ所望抵抗値を得て
いる。このトリミングには抵抗体単体の抵抗値そのもの
を所定値にトリミングする素子トリミングと、回路部品
を実装後、回路を動作させ所定の回路特性(発振周波数
ate )を得るまで調整用抵抗体をトリミングする機
能トリミングの2種類がある。またトリミング方法には
レーザ光で抵抗体にトリミング溝を形成するレーザトリ
ミング法と、アルミナ微粉末を抵抗体に高圧噴射するこ
とによりトリミング溝を形成するサンドブラスト法があ
る。
The manufacturing method of the resistor used in this HICi is that after forming the resistor electrode and wiring pattern on the ceramic substrate,
The resistor is formed by printing or drawing. However, the resistance values of the manufactured resistors vary depending on printing and firing conditions. Therefore, the resistor is trimmed to increase the resistance value and obtain the desired resistance value. This trimming involves element trimming, in which the resistance value of a single resistor itself is trimmed to a predetermined value, and after mounting the circuit components, the adjustment resistor is trimmed until the circuit is operated and a predetermined circuit characteristic (oscillation frequency ate) is obtained. There are two types of functional trimming. Trimming methods include a laser trimming method in which trimming grooves are formed on the resistor using laser light, and a sandblasting method in which trimming grooves are formed by spraying fine alumina powder onto the resistor at high pressure.

近年、抵抗体実装は高密度化の傾向にあり、また抵抗体
形状は微小化の傾向にあるため、ますますトリミングに
よる抵抗値調整が重要となりつつある。
In recent years, there has been a trend toward higher density mounting of resistors, and a trend toward miniaturization of resistor shapes, so adjustment of resistance values by trimming is becoming increasingly important.

以下図面を参照しながら、従来の抵抗体の素子トリミン
グについて説明する。第3図は膜抵抗体に所望抵抗値を
得るためのトリミング量を抵抗体にほどこしたときの膜
抵抗体を示している。1は電極、2は膜抵抗体、3はト
リミング量lのトリミング溝を示している。捷たWは抵
抗体幅、Lは抵抗体長である。
Hereinafter, element trimming of a conventional resistor will be explained with reference to the drawings. FIG. 3 shows a membrane resistor after the resistor has been trimmed by an amount to obtain a desired resistance value. Reference numeral 1 indicates an electrode, 2 a film resistor, and 3 a trimming groove having a trimming amount l. W is the width of the resistor, and L is the length of the resistor.

従来の膜抵抗体のトリミング方法では、捷ず抵抗体の電
極1・1に抵抗値測定用のプローブを圧接し、初期抵抗
値を測定する。つぎに抵抗体の形状値(抵抗体幅W、抵
抗体長L)および所望抵抗値Riより所望抵抗値を得る
ためのトリミング量lを計算手段を用いて算出し、算出
されたトリミング量lを抵抗体長の中火部近傍かつ抵抗
体端のa点より、トリミング手段を用いてトリミング溝
を形成し、所望抵抗値を得ていた。
In the conventional method for trimming a film resistor, a probe for measuring a resistance value is pressed into contact with the electrodes 1 of the resistor, and the initial resistance value is measured. Next, the trimming amount l to obtain the desired resistance value is calculated from the shape value of the resistor (resistor width W, resistor length L) and the desired resistance value Ri using a calculation means, and the calculated trimming amount l is A trimming groove was formed using a trimming means from point a at the end of the resistor near the medium-length part of the body to obtain a desired resistance value.

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記の抵抗体のトリミング方法では、抵
抗体形状値と初期抵抗値および所望抵抗値よりトリミン
グ量を計算により算出しているが、第1図に示すように
、抵抗体の小型化(W(o、smm、 L (o、sm
m ’)につれ、トリミング溝幅(YAGレーザのスポ
ット径> 0−03 mm )の無視できなくなる。そ
のため算idiされた1−リミング量lを抵抗体にほど
こしても抵抗値へ((差が生じてし1う。特に抵抗体幅
に比較して抵抗体長が短かい抵抗体(第2図)の形状で
は抵抗体長に対するトリミング溝幅dがしめる割合が大
きくなり、太きな抵抗値誤差が生じる。捷だサンドプラ
ス1−法により抵抗体にトリミングをおこなう場合、l
−リミング溝幅は0.2mm以上にもなるため、非常に
影響が大きい。
Problems to be Solved by the Invention However, in the above resistor trimming method, the trimming amount is calculated from the resistor shape value, initial resistance value, and desired resistance value, but as shown in FIG. , miniaturization of resistor (W(o, smm, L(o, sm
m'), the trimming groove width (YAG laser spot diameter > 0-03 mm) cannot be ignored. Therefore, even if the calculated 1 - rimming amount l is applied to the resistor, a difference will occur in the resistance value ((1). Especially for resistors whose length is short compared to the resistor width (Fig. 2) In the shape of , the ratio of the trimming groove width d to the length of the resistor becomes large, resulting in a large error in resistance value.
-The rimming groove width is 0.2 mm or more, so it has a very large influence.

したがって従来の抵抗体のトリミング方法では、抵抗体
の微小化および抵抗体形状により所望抵抗値からの誤差
が大きく々るという問題点を有していた。
Therefore, the conventional resistor trimming method has a problem in that the error from the desired resistance value increases due to the miniaturization of the resistor and the shape of the resistor.

本発明の抵抗体のトリミング方法は、上記問題点に鑑み
、従来の問題点を排除した抵抗体のトリミング方法を提
供するものである。
In view of the above problems, the resistor trimming method of the present invention provides a resistor trimming method that eliminates the conventional problems.

問題点を解決するだめの手段 」−記問題点を解決するために本発明の抵抗体のトリミ
ング方法では、絶縁基板上に作製された膜抵抗体の形状
寸法と初期抵抗値とトリミング溝幅と所望抵抗値により
所望抵抗値を得るだめのトリミング量を算出する抵抗体
のトリミング方法である。
In order to solve the problem described in "Means for Solving the Problem," the method for trimming a resistor of the present invention uses the following methods: This is a resistor trimming method that calculates the amount of trimming required to obtain a desired resistance value based on a desired resistance value.

作用 本発明はトリミングにより生じるトリミング溝幅を考慮
し、所望抵抗値を得るためのトリミング量を求めるもの
であるから、抵抗値誤差を大幅に減少させることのでき
るものである。
Function: The present invention takes into account the width of the trimming groove caused by trimming and determines the amount of trimming to obtain a desired resistance value, so that it is possible to significantly reduce resistance value errors.

実施例 以下本発明の抵抗体のトリミング方法について第1図を
参照しながら説明する。まず抵抗体の電極1・1に抵抗
値測定用のプローブを圧接し、初期抵抗値Roを測定す
る。つぎに測定された初期抵抗値ROと抵抗体形状値(
W、L)と所望抵抗値Rtおよびトリミング溝幅dによ
り所望抵抗値Rt を得るためのトリミング量lを計算
手段で求める。また通常、1−IJミング溝溝幅上レー
ザのスポット径で代用できる。トリミング量pは次式を
解くことにより求まる。
EXAMPLE A method for trimming a resistor according to the present invention will be described below with reference to FIG. First, a resistance value measuring probe is pressed into contact with the electrodes 1.1 of the resistor, and the initial resistance value Ro is measured. Next, the measured initial resistance value RO and resistor shape value (
A calculation means calculates the trimming amount l to obtain the desired resistance value Rt from the desired resistance value Rt and the trimming groove width d. Usually, the laser spot diameter on the 1-IJ groove groove width can be used instead. The trimming amount p is found by solving the following equation.

61−ジ ・・・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (1)次
に算出されたトリミング量lの長さだけトリミング手段
を用い、抵抗体長中央近傍かつ抵抗体端のa点よりトリ
ミング溝を形成し、トリミングは終了する。
61-Ji・・・・・・・・・・・・・・・・・・ (1) Next, use the trimming means by the length of the calculated trimming amount l, and remove the resistor near the center of the resistor length and A trimming groove is formed from point a at the end, and the trimming is completed.

発明の効果 以上の説明から明らかなようにトリミング溝幅を考慮し
、トリミング量を求めることにより、高精度の抵抗体ト
リミングをおこなえるため、その生産性にあたえる効果
は大である。
Effects of the Invention As is clear from the above explanation, highly accurate resistor trimming can be performed by taking the trimming groove width into consideration and determining the amount of trimming, which has a great effect on productivity.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図、第2図、第3図は膜抵抗体に本発明によるトリ
ミング方法をおこなったときの平面図である。 1・・・・・・抵抗体電極、2・・・・・・膜抵抗体、
3・・・・・・トリミング溝。
1, 2, and 3 are plan views of membrane resistors subjected to the trimming method according to the present invention. 1... Resistor electrode, 2... Film resistor,
3...Trimming groove.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  絶縁基板上に形成される膜抵抗体のトリミング方法で
あって、前記膜抵抗体の形状の寸法と初期抵抗値とトリ
ミング溝幅と所望抵抗値により、所望抵抗値を得るトリ
ミング量を算出する抵抗体のトリミング方法。
A method for trimming a film resistor formed on an insulating substrate, wherein the amount of trimming to obtain a desired resistance value is calculated based on the dimensions of the shape of the film resistor, an initial resistance value, a trimming groove width, and a desired resistance value. How to trim your body.
JP60177956A 1985-08-13 1985-08-13 Trimming of resistor Pending JPS6237906A (en)

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JPS6237906A true JPS6237906A (en) 1987-02-18

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