JPH0345882B2 - - Google Patents

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JPH0345882B2
JPH0345882B2 JP59235519A JP23551984A JPH0345882B2 JP H0345882 B2 JPH0345882 B2 JP H0345882B2 JP 59235519 A JP59235519 A JP 59235519A JP 23551984 A JP23551984 A JP 23551984A JP H0345882 B2 JPH0345882 B2 JP H0345882B2
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JP
Japan
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resistor
trimming
resistance value
point
amount
Prior art date
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Expired - Lifetime
Application number
JP59235519A
Other languages
Japanese (ja)
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JPS61113214A (en
Inventor
Hiroshi Takahara
Yasushi Tootomi
Yoshiaki Yano
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication of JPS61113214A publication Critical patent/JPS61113214A/en
Publication of JPH0345882B2 publication Critical patent/JPH0345882B2/ja
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  • Apparatuses And Processes For Manufacturing Resistors (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明はセラミツク基板などの上に作製された
厚膜、薄膜抵抗体素子のトリミング方法に関する
ものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION Field of Industrial Application The present invention relates to a method for trimming thick film or thin film resistor elements fabricated on ceramic substrates or the like.

従来の技術 近年、機器の小型化が進むにつれ、電子部品の
実装も高密度化の傾向にある。その実装方法の1
つにハイブリツドIC(以下HICと称ぶ)がある。
このHICに用いられる抵抗体の製造方法はセラミ
ツク基板上に抵抗体電極ならびに配線パターンの
形成後、印刷あるいは蒸着により抵抗体を形成す
る。しかし、作製された抵抗体の抵抗値は印刷・
焼成あるいは蒸着条件によりバラツキが生じる。
そのため抵抗体の抵抗値を所望の値とするため
に、抵抗体にトリミングをおこない、抵抗値を増
大させ、所望抵抗値を得ている。この抵抗値調整
には、抵抗体単体の抵抗値そのものを所定値にト
リミングする素子トリミングと、回路を動作さ
せ、その回路特性(発振周波数etc)を計測しな
がら、所定値まで調整用抵抗体をトリミングする
機能トリミングの2種類がある。近年、抵抗体実
装の高密度化および抵抗体の小型化の傾向にある
ため、ますますトリミングによる抵抗値調整が重
要となりつつある。
BACKGROUND ART In recent years, as devices have become smaller, electronic components have also been mounted in higher density. One of the implementation methods
One of them is hybrid IC (hereinafter referred to as HIC).
The method for manufacturing the resistor used in this HIC is to form resistor electrodes and wiring patterns on a ceramic substrate, and then form the resistor by printing or vapor deposition. However, the resistance value of the fabricated resistor is
Variations occur depending on firing or vapor deposition conditions.
Therefore, in order to set the resistance value of the resistor to a desired value, the resistor is trimmed to increase the resistance value and obtain the desired resistance value. This resistance value adjustment involves element trimming, which trims the resistance value of a single resistor itself to a predetermined value, and the adjustment of the resistor to a predetermined value while operating the circuit and measuring its circuit characteristics (oscillation frequency, etc.). There are two types of trimming functions. In recent years, there has been a trend toward higher density mounting of resistors and miniaturization of resistors, and thus adjustment of resistance values by trimming is becoming increasingly important.

以下、図面を参照しながら、従来の抵抗体のト
リミング方法について説明する。第5図は、従来
の抵抗体のトリミング方法を説明するためのブロ
ツク図で、1はHIC基板、2,3は抵抗値Rp1
Rp2を有する印刷抵抗体、4,5,6,7は抵抗
体電極部に圧接されたプローブ、8は抵抗体2,
3の抵抗値を順番に測定する初期抵抗値計測手
段、9は初期抵抗値計測手段8より得られた抵抗
体の初期抵抗値Rpi(i=1、2)と抵抗体2,3
の形状寸法ならびに所望抵抗値Rti(i=1、2)
からトリミング量lpi(i=1、2)を計算するト
リミング量計算手段、10は抵抗体2,3上にレ
ーザ11の集光点12をトリミング量lpiだけ移動
させトリミングをおこなうトリミング手段であ
る。また、第5図中の破線部Aは抵抗値計測位置
決めステージ、破線部Bはトリミング位置決めス
テージである。
Hereinafter, a conventional method for trimming a resistor will be described with reference to the drawings. FIG. 5 is a block diagram for explaining the conventional method of trimming a resistor, in which 1 is the HIC board, 2 and 3 are the resistance values R p1 ,
A printed resistor having R p2 , 4, 5, 6, 7 are probes pressed into contact with the resistor electrodes, 8 is a resistor 2,
Initial resistance value measuring means 9 sequentially measures the resistance values of the resistors 3 and 9, the initial resistance value R pi (i=1, 2) of the resistor obtained by the initial resistance value measuring means 8 and the resistors 2 and 3
Geometry and desired resistance value R ti (i=1, 2)
10 is a trimming amount calculating means for calculating the trimming amount l pi (i=1, 2) from the above, and 10 is a trimming means for moving the focal point 12 of the laser 11 on the resistors 2 and 3 by the trimming amount l pi . be. Moreover, the broken line part A in FIG. 5 is a resistance value measurement positioning stage, and the broken line part B is a trimming positioning stage.

以下、第5図を参照しながら、その動作を説明
する。まずHIC基板1を抵抗値計測ステージAに
位置決めして、プローブ4,5,6,7を抵抗体
電極部に圧接し、抵抗体2,3の初期抵抗値Rpi
(i=1、2)を初期抵抗値計測手段8にて計測
する。次にプローブ4,5,6,7を外した後、
HIC基板1をトリミングステージBに移動して位
置決めすると共に、トリミング量lpi(i=1、2)
をトリミング量計算手段9にて計算する。トリミ
ング手段10はレーザ集光点12を前記計算で求
めたトリミング量lp1だけ抵抗体2上を、また、
トリミング量lp2だけ抵抗体3上をそれぞれ移動
させ、トリミングが完了する。第6図にトリミン
グ後の外観図を示す。13a,13bは抵抗体に
付加された電極、14はトリミング溝である。ま
たWは抵抗体幅、Lは抵抗体長を表す。
The operation will be explained below with reference to FIG. First, position the HIC board 1 on the resistance value measurement stage A, press the probes 4, 5, 6, and 7 to the resistor electrode parts, and set the initial resistance value R pi of the resistors 2 and 3.
(i=1, 2) is measured by the initial resistance value measuring means 8. Next, after removing probes 4, 5, 6, and 7,
Move the HIC board 1 to the trimming stage B, position it, and trim the amount l pi (i=1, 2).
is calculated by the trimming amount calculating means 9. The trimming means 10 trims the laser focal point 12 by the trimming amount l p1 determined by the above calculation, and
The resistor 3 is moved by the trimming amount l p2 , and the trimming is completed. FIG. 6 shows an external view after trimming. 13a and 13b are electrodes added to the resistor, and 14 is a trimming groove. Further, W represents the resistor width, and L represents the resistor length.

発明が解決しようとする問題点 しかしながら、上記のような方法では、求めら
れたトリミング量を精度よく抵抗体にトリミング
をおこなう必要があるがHIC基板上に抵抗体を作
製する場合、通常、所望抵抗値により数種類の印
刷インクと、印刷マスクを用いる必要があるた
め、印刷マスクの位置決めバラツキにより、抵抗
体が作製される位置はHIC基板ごとにバラツキが
生じる。そのため、抵抗体位置を正確に知ること
が不可能になる。したがつて、抵抗体に精度よ
く、計算量のトリミングを施すことが不可能とな
り、抵抗値誤差が大きくなるという問題があつ
た。
Problems to be Solved by the Invention However, with the method described above, it is necessary to precisely trim the resistor by the required trimming amount. Because it is necessary to use several types of printing ink and printing masks depending on the value, the positioning of the resistor will vary from HIC board to HIC board due to variations in the positioning of the printing masks. Therefore, it becomes impossible to accurately know the position of the resistor. Therefore, it has become impossible to trim the resistor with high accuracy and the amount of calculation required, resulting in a problem that the resistance value error becomes large.

本発明の目的は、従来の問題点を排除した抵抗
体のトリミング方法を提供することにある。
An object of the present invention is to provide a method for trimming a resistor that eliminates the conventional problems.

問題点を解決するための手段 上記問題点を解決するため、本発明の抵抗体の
トリミング方法は、抵抗体の複数回のトリミング
を施すことにより、所望抵抗値を得るトリミング
方法であつて、最終回目以外のトリミング後、抵
抗体の抵抗値を測定し、測定された抵抗値と初期
抵抗値とトリミング終了位置と抵抗体の形状値か
ら実際に抵抗体に施こされたトリミング量を算出
し、前記トリミング量から抵抗体のエツジ位置を
検出し、この検出した抵抗体位置よりトリミング
開始位置を補正して次回のトリミングをおこなう
ものである。
Means for Solving the Problems In order to solve the above problems, the resistor trimming method of the present invention is a trimming method that obtains a desired resistance value by trimming the resistor multiple times. After trimming other than the first time, measure the resistance value of the resistor, calculate the amount of trimming actually performed on the resistor from the measured resistance value, initial resistance value, trimming end position, and shape value of the resistor, The edge position of the resistor is detected from the trimming amount, and the trimming start position is corrected based on the detected resistor position to perform the next trimming.

作 用 本発明は上記したように、抵抗体に複数回のト
リミングを施し、抵抗体位置を検出するものであ
るから、高精度にトリミングをおこなうことがで
きる。
Function As described above, the present invention performs trimming on the resistor multiple times and detects the resistor position, so that trimming can be performed with high precision.

実施例 以下本発明の一実施例の抵抗体のトリミング方
法について、図面を参照しながら説明する。
Embodiment A method for trimming a resistor according to an embodiment of the present invention will be described below with reference to the drawings.

第1図は本発明の抵抗体のトリミング方法を説
明するためのブロツク図であり、15は抵抗値測
定手段、16は抵抗体2,3のそれぞれの抵抗体
の形状値である抵抗体の幅Wおよび長さLと、初
期抵抗値と所望抵抗値からトリミング量を算出す
るトリミング量および抵抗体位置計算手段(以下
計算手段という)である。第2図は本発明におけ
る抵抗体のトリミング方法の説明図であり、18
は抵抗体、17a,17bは電極、19は第1回
目のトリミング溝、20は第2回目のトリミング
溝であり、2回目のトリミングにより所望抵抗値
を得るための説明図である。
FIG. 1 is a block diagram for explaining the method of trimming a resistor according to the present invention, in which 15 is a resistance value measuring means, and 16 is a width of the resistor which is the shape value of each of resistors 2 and 3. This is a trimming amount and resistor position calculation means (hereinafter referred to as calculation means) that calculates a trimming amount from W and length L, an initial resistance value, and a desired resistance value. FIG. 2 is an explanatory diagram of the method of trimming a resistor according to the present invention, and is 18
17a and 17b are resistors, 17a and 17b are electrodes, 19 is a first trimming groove, and 20 is a second trimming groove, and is an explanatory diagram for obtaining a desired resistance value by the second trimming.

なお、a点は抵抗体近傍の第1回目のトリミン
グ始点、bは第1回目のトリミング終了点、cは
計算により求まる抵抗体エツジ点であり、dは第
2回目のトリミング終了点である。ここでは、簡
単のために3の抵抗体についてのみ、かつ2回の
トリミングにより、所望抵抗値を得る方法につい
て説明する。まず、HIC基板1を抵抗値計測ステ
ージAに位置決めして、電気的接続手段としての
プローブ6,7を抵抗体3の電極に圧接して、初
期抵抗値Rpを測定する。
Note that point a is the first trimming start point near the resistor, b is the first trimming end point, c is the resistor edge point determined by calculation, and d is the second trimming end point. Here, for the sake of simplicity, a method of obtaining a desired resistance value using only three resistors and trimming twice will be described. First, the HIC substrate 1 is positioned on the resistance value measurement stage A, and the probes 6 and 7 as electrical connection means are pressed against the electrodes of the resistor 3 to measure the initial resistance value R p .

次に計算手段16により、第1回目のトリミン
グ量l1を算出するとともに、HIC基板をトリミン
グステージBに位置決めする。このl1は抵抗体幅
をW、抵抗体長をLとし、また、所望抵抗値を
Rtとし、i=1とすれば、等角写像座標変換手
法および楕円関数を解くことにより、次式が算出
され、トリミング量l1を求めることができる。
Next, the calculation means 16 calculates the first trimming amount l 1 and positions the HIC substrate on the trimming stage B. For this l 1 , the resistor width is W, the resistor length is L, and the desired resistance value is
If R t and i=1, the following equation is calculated by solving the conformal mapping coordinate transformation method and the elliptic function, and the trimming amount l 1 can be obtained.

li=W〔1−2/πsin-1exp {Lπ/4W(1−Rt・x/Rp)}〕 (1) 但し、πは円周率、0<x≦1、iは整数 (1)式において、xは通常0.9程度の定数が選ば
れる。つまり、Rtは所望抵抗値であるから、
Rt・Xで所望抵抗値の90%にすることを目標に
第1回目のトリミングが行なわれることを意味す
る。これは、第1回目のトリミングにより、所望
抵抗値と許容抵抗値範囲の和よりも高抵抗値とな
ることを防止するためである。したがつてXの値
は作製されているトリミング前の抵抗値のバラツ
キにより定められ、バラツキが大きく、また許容
抵抗値範囲が狭い場合は、Xの値を小さく設定す
る必要がある。次に、HIC基板をトリミングステ
ージBにおくり、トリミング手段10により、(1)
式により求まつたl1を抵抗体近傍点aより、抵抗
体長に垂直の方向に施す。その時の外観図を(第
2図a)に示す。なお、トリミング位置は、電極
17a,17bの中央付近に施す。いま、b点で
トリミングが終了したとする。したがつて、抵抗
体エツジ点cを知るためには、距離l12を知れば
よい。次に、HIC基板1をステージAに移動さ
せ、プローブ6,7を再び抵抗体3の電極に圧接
し、その抵抗値をR1とすればl12は次式でi=1
として求まる。
l i = W [1-2/πsin -1 exp {Lπ/4W (1-R t・x/R p )}] (1) However, π is pi, 0<x≦1, i is an integer In equation (1), x is usually a constant of about 0.9. In other words, since R t is the desired resistance value,
This means that the first trimming is performed with the goal of making R t ·X 90% of the desired resistance value. This is to prevent the resistance value from becoming higher than the sum of the desired resistance value and the allowable resistance value range due to the first trimming. Therefore, the value of X is determined by the variation in the manufactured resistance value before trimming, and if the variation is large and the allowable resistance value range is narrow, it is necessary to set the value of X small. Next, the HIC board is sent to the trimming stage B, and the trimming means 10 performs (1)
l 1 determined by the formula is applied from a point a near the resistor in a direction perpendicular to the length of the resistor. The external view at that time is shown in (Figure 2a). Note that the trimming position is performed near the center of the electrodes 17a and 17b. Suppose now that trimming has finished at point b. Therefore, in order to know the resistor edge point c, it is sufficient to know the distance l12 . Next, move the HIC substrate 1 to stage A, press the probes 6 and 7 again to the electrodes of the resistor 3, and let the resistance value be R 1 .
It is found as

li2=W〔1−2/πsin-1exp {Lπ/4W(1−Ri/Rp)}〕 ………(2) 但し、πは円周率、iは整数 したがつて、(2)式で求まつたl12とb点位置よ
り、c点を求めることができる。以上のように計
算手段16により、l12を求めb点位置とからc
点を計算により求めることができ、つまり、抵抗
体位置(抵抗体エツジ点)が検出されたことにな
る。
l i2 = W [1-2/πsin -1 exp {Lπ/4W (1-R i /R p )}] ......(2) However, π is pi and i is an integer. Therefore, ( Point c can be found from l 12 found using equation 2) and the position of point b. As described above, the calculation means 16 calculates l 12 from the position of point b and c
The point can be determined by calculation, which means that the resistor position (resistor edge point) has been detected.

次に第2図bを用いて、第2回目のトリミング
により、所望抵抗値を得る方法について説明す
る。第2図bは第2回目のトリミングを終了した
抵抗体の外観を示している。今、Rtを得るため
のトリミング量l2は(1)式でx=1、i=2として
求めることができる。以上のl2は計算手段16に
より求められ、トリミング手段10におくられる
とともに、HIC基板は、トリミングステージB
に、位置決めされる。次に、トリミング手段10
は、l2量だけc点よりトリミングをおこなう。以
上の手つづきにより、抵抗体位置が検出され、ト
リミングがおこなわれ、Rtを得ることができる。
なお、第2図において、l1,l2を同一位置におこ
なうと表現したが、第3図のように、l1,l2を離
しておこなつてもよい。また、l2はc点よりおこ
なうとしたが、b点より(l2−l12)量のトリミン
グをおこなつてもよいことは明らかである。ま
た、l1を求める際、x=0.9としたが、これはx=
0.9に限定されるものではなく、求められたl1がc
点より内側つまり、抵抗体に十分トリミングが施
されるトリミング量になる定数であれば、0<x
≦1の範囲でいくらでもよい。以上、抵抗体3に
ついて説明したが、抵抗体2についても同様であ
り、また、多数の抵抗体がHIC基板上に作製され
ていても同様の手続きにより、トリミングするこ
とができる。以上のことは以下の説明についても
同様である。
Next, a method for obtaining a desired resistance value by the second trimming will be explained using FIG. 2b. FIG. 2b shows the appearance of the resistor after the second trimming. Now, the amount of trimming l 2 to obtain R t can be found using equation (1) with x=1 and i=2. The above l 2 is calculated by the calculation means 16 and sent to the trimming means 10, and the HIC board is transferred to the trimming stage B.
is positioned. Next, trimming means 10
performs trimming from point c by l2 amount. By continuing the steps above, the resistor position is detected, trimming is performed, and R t can be obtained.
In addition, in FIG. 2, it is expressed that l 1 and l 2 are performed at the same position, but as shown in FIG. 3, l 1 and l 2 may be performed separately. Further, although l 2 is performed from point c, it is clear that trimming by an amount of (l 2 −l 12 ) may be performed from point b. Also, when calculating l 1 , we set x=0.9, but this means that x=
It is not limited to 0.9, and the obtained l 1 is c
If it is inside the point, that is, if the constant is the amount of trimming that sufficiently trims the resistor, then 0<x
Any number may be used within the range of ≦1. Although the resistor 3 has been described above, the same applies to the resistor 2, and even if a large number of resistors are fabricated on the HIC substrate, they can be trimmed by the same procedure. The above also applies to the following description.

次に、3回のトリミングによりRtを得る方法
について、第1図と第4図を参照しながら説明す
る。第4図は、3回のトリミングによりRtを得
る説明図であり、21は第3回目のトリミング溝
であり、c′は2回目のトリミング後、計算により
求まる抵抗体エツジ点である。以下の説明も抵抗
体3に限つて説明する。まず、HIC基板1に抵抗
値計測ステージに位置決めして、プローブ6,7
を抵抗体3の電極に圧接して、初期抵抗値Rp
測定する。次に、計算手段16により、第1回目
のトリミング量l1を算出するとともに、HIC基板
をトリミングステージBに位置決めする。このl1
は(1)式でi=1、x=0.9として求まる。次に(1)
式により求まつたl1を抵抗体3の近傍点aより、
抵抗体長に垂直の方向に施す。その時の外観図を
〔図4a〕に示す。今、トリミング手段10によ
りトリミングをおこない、b点でトリミングが終
了したとする。したがつて、エツジ点cを知るた
めには距離l12を知ればよい。次に、HIC基板1
をステージAに移動させ、プローブ6,7を再び
抵抗体3の電極に圧接し、その抵抗値をR1とす
れば、l12は(2)式でi=1とすることにより求ま
る。したがつて、(2)式で求まつたl12とb点位置
により、c点を求めることができる。次に第4図
bを用いて、第2回目のトリミングにより、c点
を補正し、さらに抵抗体エツジ点として適正な
c′点を求める方法について説明する。第4図bは
第2回目のトリミングを終了した抵抗体の外観を
示している。第2回目のトリミング量l2は(1)式で
x=0.95、i=2として求めることができる。以
上l12,l2とc点位置は計算手段16により求めら
れ、それらは、トリミング手段10におくられる
とともに、HIC基板はトリミングステージBに位
置決めされる。次に、トリミング手段10は、l2
量だけc点よりトリミングをおこなう。次に、
HIC基板を抵抗値測定ステージAにおくり、再び
プローブ6,7を電極に圧接し、抵抗値を測定す
る。今、その抵抗値をR2とする。次に、(2)式で
i=2としてl22を求め、またd点とl22よりc′点を
求め、また(1)式でx=1.0、i=3として所望抵
抗値を得るためのl3を、計算手段16により求め
るとともに、HIC基板をトリミングステージBに
位置決めする。次に、c′点よりl3量のトリミング
をトリミング手段によりおこないトリミングは完
了する。以上のように、c点を求め、次にc点か
らトリミングをおこないc′点を求めることによ
り、より正確な抵抗体エツジ点を検出することが
でき、したがつて、高精度のトリミングをおこな
うことができる。上記の説明において、1回目の
l1を求める際、x=0.9(このxをx1とする)、2回
目のl2を求める際x=0.95(このxをx2とする)と
したが、この定数にかぎつたものではなく、l1
十分抵抗体にトリミングが施される値でかつ、0
<x1<x2≦1の関係であればいくらでもよい。
Next, a method for obtaining R t by trimming three times will be explained with reference to FIGS. 1 and 4. FIG. 4 is an explanatory diagram of obtaining R t by trimming three times, 21 is the third trimming groove, and c' is the resistor edge point determined by calculation after the second trimming. The following explanation will also be limited to the resistor 3. First, position the resistance value measurement stage on the HIC board 1, and
is pressed against the electrode of the resistor 3, and the initial resistance value R p is measured. Next, the calculation means 16 calculates the first trimming amount l 1 and positions the HIC substrate on the trimming stage B. this l 1
is determined by equation (1) with i=1 and x=0.9. Next (1)
l 1 found by the formula from the point a near the resistor 3,
Apply in the direction perpendicular to the length of the resistor. The external view at that time is shown in [Fig. 4a]. Now, it is assumed that trimming is performed by the trimming means 10 and the trimming is completed at point b. Therefore, in order to know the edge point c, it is sufficient to know the distance l12 . Next, HIC board 1
is moved to stage A, the probes 6 and 7 are again pressed into contact with the electrodes of the resistor 3, and the resistance value is R1 , then l12 can be found by setting i=1 in equation (2). Therefore, point c can be determined from l 12 determined by equation (2) and the position of point b. Next, using Fig. 4b, correct the point c by a second trimming, and furthermore, correct the point c as the edge point of the resistor.
The method for finding point c′ will be explained. FIG. 4b shows the appearance of the resistor after the second trimming. The second trimming amount l 2 can be determined using equation (1) with x=0.95 and i=2. The above l 12 , l 2 and the position of point c are determined by the calculation means 16 and sent to the trimming means 10, and the HIC substrate is positioned on the trimming stage B. Next, the trimming means 10 performs l 2
Trimming is performed from point c by the amount. next,
The HIC board is placed on the resistance value measurement stage A, and the probes 6 and 7 are pressed against the electrodes again to measure the resistance value. Now let the resistance value be R 2 . Next, use equation (2) to find l 22 with i = 2, find point c' from point d and l 22 , and use equation (1) to obtain the desired resistance value with x = 1.0 and i = 3. l 3 is determined by the calculation means 16, and the HIC substrate is positioned on the trimming stage B. Next, the trimming means performs trimming by an amount of l 3 from point c′, and the trimming is completed. As described above, by finding point c, then trimming from point c, and finding point c', it is possible to detect the resistor edge point more accurately, and therefore perform trimming with high precision. be able to. In the above explanation, the first
When calculating l 1 , we set x = 0.9 (this x is x 1 ), and when calculating the second l 2 , we set x = 0.95 (this x is x 2 ), but this constant is not enough. l 1 is a value that sufficiently trims the resistor, and 0
Any number may be used as long as the relationship satisfies <x 1 <x 2 ≦1.

発明の効果 以上の説明から明らかなように、抵抗体に複数
回のトリミングを施すことにより、所望抵抗値を
得るトリミング方法であつて、トリミング量は、
抵抗体の形状値と初期抵抗値と所望抵抗値から算
出し、最終回目以外のトリミング後、抵抗体の抵
抗値を測定し、測定された抵抗値と初期抵抗値と
トリミング終了位置と抵抗体の形状値から抵抗体
に実際に施こされたトリミング量を算出すること
により抵抗体のエツジ位置を検出し、検出した抵
抗体位置より次回のトリミングをおこなう抵抗体
のトリミング方法であるから、抵抗体基板の位置
決めは低精度でよく、また、基板ごとに抵抗体の
位置がバラツクため、抵抗体に施すトリミング量
に誤差が生じるという問題点がなくなり、高精度
にトリミングをおこなうことができ、その生産性
にあたえる効果は大である。
Effects of the Invention As is clear from the above description, this is a trimming method for obtaining a desired resistance value by trimming a resistor multiple times, and the amount of trimming is as follows:
Calculate from the shape value, initial resistance value, and desired resistance value of the resistor, measure the resistance value of the resistor after trimming other than the final time, and calculate the measured resistance value, initial resistance value, trimming end position, and resistance value of the resistor. This is a resistor trimming method that detects the edge position of the resistor by calculating the amount of trimming actually performed on the resistor from the shape value, and performs the next trimming from the detected resistor position. The positioning of the board can be done with low precision, and since the position of the resistor varies from board to board, there is no problem of errors in the amount of trimming applied to the resistor, which makes it possible to perform trimming with high precision and improve production. It has a great effect on sexuality.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明の抵抗体のトリミング方法を示
す図、第2図、第4図はトリミング方法を示す
図、第3図は本発明のトリミング方法を抵抗体に
ほどこしたときの外観図、第5図は従来の抵抗体
のトリミング方法を示す図、第6図は従来のトリ
ミング方法を抵抗体にほどこしたときの外観図で
ある。 1……HIC基板、2,3……抵抗体、4,5,
6,7……プローブ、8……初期抵抗値測定手
段、9……トリミング量計算手段、10……トリ
ミング手段、11……レーザ光、12……レーザ
集光点、13a,13b……電極、14……トリ
ミング溝、15……抵抗値測定手段、16……ト
リミング量および抵抗体位置計算手段、17a,
17b……電極、18……抵抗体、19……第1
回目のトリミング溝、20……第2回目のトリミ
ング溝、21……第3回目のトリミング溝。
FIG. 1 is a diagram showing the trimming method of a resistor of the present invention, FIGS. 2 and 4 are diagrams showing the trimming method, and FIG. 3 is an external view of the resistor when the trimming method of the present invention is applied to the resistor. FIG. 5 is a diagram showing a conventional trimming method for a resistor, and FIG. 6 is an external view of a resistor after the conventional trimming method is applied. 1... HIC board, 2, 3... Resistor, 4, 5,
6, 7... Probe, 8... Initial resistance value measuring means, 9... Trimming amount calculation means, 10... Trimming means, 11... Laser light, 12... Laser focusing point, 13a, 13b... Electrode , 14...trimming groove, 15...resistance value measuring means, 16...trimming amount and resistor position calculating means, 17a,
17b... Electrode, 18... Resistor, 19... First
2nd trimming groove, 20...2nd trimming groove, 21...3rd trimming groove.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 1 抵抗体に複数回のトリミングを施すことによ
り所望抵抗値を得るトリミング方法であつて、抵
抗体電極部に電気的接続手段を圧接し、前記抵抗
体の初期抵抗値を測定する第1段階と、抵抗体の
形状値と前記測定された初期抵抗値と所望抵抗値
よりも小さい第1の目標抵抗値から第1のトリミ
ング量を算出し、前記電気的接続手段を抵抗体電
極部から外した状態で前記第1のトリミング量を
抵抗体に施こす第2段階と、前記第1のトリミン
グ後に前記電気的接続手段を抵抗体電極に圧接し
て前記抵抗体の抵抗値を測定し、前記測定された
抵抗値と初期抵抗値とトリミング終了位置と抵抗
体の形状値から抵抗体に施されたトリミング量を
算出することにより抵抗体のエツジ位置を検出す
る第3段階と、抵抗体の形状値と初期抵抗値と所
望抵抗値もしくは前記第1の目標抵抗値よりも大
きい第2の目標抵抗値から第2のトリミング量を
算出する第4段階と、前記電気的接続手段を抵抗
体電極部から外した状態で前記検出された抵抗体
のエツジ位置より前記第2のトリミング量を抵抗
体に施す第5段階からなる抵抗体のトリミング方
法。
1. A trimming method for obtaining a desired resistance value by trimming a resistor multiple times, the first step being to press an electrical connection means to an electrode part of the resistor and measure the initial resistance value of the resistor. , a first trimming amount was calculated from the shape value of the resistor, the measured initial resistance value, and a first target resistance value smaller than the desired resistance value, and the electrical connection means was removed from the resistor electrode part. a second step of applying the first trimming amount to the resistor in the state; and after the first trimming, press the electrical connection means to the resistor electrode to measure the resistance value of the resistor; The third step is to detect the edge position of the resistor by calculating the trimming amount applied to the resistor from the initial resistance value, the trimming end position, and the shape value of the resistor, and the shape value of the resistor. and a fourth step of calculating a second trimming amount from the initial resistance value and the desired resistance value or a second target resistance value larger than the first target resistance value, and connecting the electrical connection means from the resistor electrode part. A method for trimming a resistor comprising a fifth step of applying the second trimming amount to the resistor from the detected edge position of the resistor in a detached state.
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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS59188158A (en) * 1983-04-08 1984-10-25 Hitachi Ltd Function trimming system

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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JPS59188158A (en) * 1983-04-08 1984-10-25 Hitachi Ltd Function trimming system

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