JPS6235220A - 光干渉角速度計 - Google Patents

光干渉角速度計

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JPS6235220A
JPS6235220A JP60174860A JP17486085A JPS6235220A JP S6235220 A JPS6235220 A JP S6235220A JP 60174860 A JP60174860 A JP 60174860A JP 17486085 A JP17486085 A JP 17486085A JP S6235220 A JPS6235220 A JP S6235220A
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optical waveguide
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赤澤 優
Motoharu Ebata
江▲ばた▼ 元治
Masahiko Moriguchi
森口 雅彦
Kazuhiko Ito
和彦 伊藤
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 「産業上の利用分野」 この発明は位相の揃った光を光分配結合器により2分し
、少なくとも一周する先導波路の中を互いに対向する向
きに進行させてから光導波路より取り出し、その2つの
光に生ずる位相差を検出して光導波路の角速度を測定す
る光干渉角速度計に関する。
「従来の技術」 第4図は従来の光干渉角速度計の例を示すブロック図で
ある。
光源11からは位相の揃ったコーヒーレフト光L1が出
射される。このコーヒーレフト光り、はφ(1)=2π
νt(但し、νは光の周波数)で表され、可干渉性の光
である。その出射された光L1 は第1光方向性結合器
12を通り第2光方向性結合器13の結合端13cに入
射する。この入射した光L1 は二条の光Lx、L3に
分けられ分岐端13A、13Bから出射され、少なくと
も1周する例えば光ファイバよりなる光導波路14へ、
各別の入出射路14A。
14B°から入射する。これら二条の光L2.L3 は
それぞれ右廻り光及び左廻り光として対向する向きに光
導波路14を伝播し、先導波路14へのそれぞれの入出
射路14A、14Bとは異なる入出射路14B。
14Aから第2光方向性結合器13の分岐端13B、1
3Aに入射し、再び1つの光L4に結合され、その結合
端13Cから出射される。この結合光り、は第1光方向
性結合器12の結合端12Cから入射し、その分配端1
2Bから分配光り、が出射され、出射された分配光L5
は光検出器15に入射し、電気信号に変換される。この
電気信号はゲート回路16を通り、同期検波回路17に
供給される。
この先導波路14の成す面に垂直な軸の廻りに角速度Ω
がない場合は光導波路14は右廻り光L2及び左廻り光
L3に対して相反性であり、第2方向性光結合器で二条
の光が結合されるときの位相は互いに一致している。し
かし、角速度Ωがある場合は、光導波路14を互いに逆
の向きに伝播する右廻り光L2及び左廻り光り、に対し
非相反性となり、このためサニヤック効果による位相の
差が生じる。
光導波路14の入力角速度がΩの時、環状の光導波路1
4が囲む面積をA、光導波路の屈折率をn、光の真空中
の波長をλ、先導波路の全長をLとすると、右廻り光L
2と左廻り光L3との間に生ずるサニヤック効果の位相
差φ、は φ 1  = 8 π A Ω / λ C・・・ ・
・・ ・・・ ロ)で表される。
この光導波路14の一方の入出射路14Bの近くシこは
位相変調器1日が設けられている。即ち、第1発振器1
9から出力される交番信号と第2発振器21から出力さ
れる鋸歯状波信号との合成信号が増幅器22により増幅
され、その合成増幅された駆動信号が位相変調器18に
供給され、光導波路14を互いに逆の向きに伝播する右
廻り光L2と左廻り光L3とを変:周する。
この光干渉角速度計では、第1発振器19からの交番信
号は、例えば周波数f0の正弦波信号である。
位相変調器18はこの信号により二条の光Lx、Lzに
それぞれ位相変調を加えると、二条の光、つまり右廻り
光L2及び左廻り光り、は ψ(t)=ψ+asin(2πf、I−t)・・・・・
・・・・(2)但し、ψ7は最大位相偏移、f、は変調
周波数である。
の位相変調を受ける。この位相変調を受けた右廻り光L
tは第2光方向性結合器13の分岐端13Bに入射し、
左廻り光L3は光導波路14を周回してからτの時間遅
れで分岐端13Aに入射する。位相変調を受けた右廻り
光L2と左廻り光L3は互いに可干渉性であり、第2光
方向性結合器13内で1つに結合干渉し、この干渉光L
4は第1光方向性結合器12の結合端12Aからその分
配光り、が光検出器15に入射する。
干渉光L4は干渉のため、光の強度が変化し、その強度
1 (t)は 1(t)〜Pa (1+cos (Δφ+ψ(1)  
−ψ(t−τ))〕・・・・・・(3)で表される。但
し、2Poは干渉光り、の最大値、Δφは角速度による
2つの光の位相差、τは右廻り光L2と左廻り光L3と
が、位相変調器18に到達する迄の時間の差である。
この(3)式のψ(1)  は(2)式に示すように周
波数f。
の変調信号であり、(3)式は周波数f。の高調波のス
ペクトル列となっている。
光干渉角速度計ではこのスペクトル列信号に含まれる一
次高調波成分 2Jl(2ψ+*5In(π1m τ))stnΔφ・
cos(2π1.<1−τ/2))・・・・・・(4)
と二次高調波成分 21(2ψ、n5in(πf、Iτ))cosΔφ・c
os (4πf+h(t−r / 2)l −−(51
を取り出して、角速度Ωの測定信号にする。(ここで、
1.、J2は一次及び二次のベッセル関数である。) 光導波路14に角速度がない場合には、光導波路14は
右廻り光L2.左廻り光L3に対して(H反性であり、
Δφ−〇である。従って、(4)式の一次高調波成分は
ゼロであり、式(5)の二次高調波成分のみが得られる
。この二次高調波信号は同期検波回路17で第1発振器
19の発振周波数f、で同期検波されるが、第5図に示
すように、その検波出力はゼロとなる。つまり、干渉光
L4にはサニヤック効果による位相差成分は含まれてな
く、光導波路14の角速度Ωはゼロであることが判る(
特願昭59−168964参照)。
光導波路14に角速度Ωが与えられると、先導波路14
は右廻り光L2と左廻り光L3に対して非相反性となり
、2つの光の間に位相差が生ずる。このサニヤック効果
により生ずる位相差φ、は既に述べたように、φ、=8
πAΩ/λc(=Δφ≠0)で表される。このため、式
(41,f51に示す一次、二次高調波成分を周波数f
、で同期検波すると、第6図に示すように、位相差φ、
に応じたf。成分の位相差検出信号が得られる。
一方、位相変調器18は第2発振器21が出力する鋸歯
状波信号によっても駆動されている(文献、Augus
t 1984/ Vol、9.No、8/ 0PTIC
5LETTER5375〜377)。この鋸歯状波信号
で駆動された位相変調器1Bにより、右廻り光L2と左
廻り光り、とは鋸歯状波の傾きに応じた位相偏移を受け
る。その位相偏移φ(1)は φ(1)−φst、(0<t<t、)  ・・・・・・
・・・(6)但し、ψ8は鋸歯状波の傾きに対応した定
数で表される。第7図Aはこの様子を示す図で、この位
相偏移が期間t、ごとに繰り返されるゼロダイン変調と
なっている。
左廻り光L3はこの偏移を受けてから光導波路工4を周
回するので第2光方向性結合器13の結合端13Cでは
右廻り光L2に対してτの時間遅れを伴っている。従っ
て、第2光方向性結合器で結合される時の、右廻り光f
、2.左廻り光り、との鋸歯状波信号による位相偏移の
位相差φ、τはφ(1)  −φ(t−τ)=φ、τ 
・・・・・・・・・(7)で表される。第7図Bはこの
様子を示す図である。
2つの光は期間1.のうち、時間1.−τの期間だけ一
定の位相差を与えられることが繰り返し連続する。
このように、鋸歯状波の傾斜部分では位相@移により2
つの光には一定の位相差が生ずる。この光干渉角速度計
では角速度Ωを与えられサニヤック効果によって生ずる
位相差φ1と、鋸歯状波で位相変調器18を駆動し、光
に位相偏移を加えて生した位相差φ霊 τとが加算され
た位相差Δφを、位相変調器18を周波数f11でバイ
アス駆動して・取り出す。つまり Δφ=φ、+φ、τ ・・・・・・・・・・・・(8)
を検出する。
従って、サニヤック効果φ2を鋸歯状波による位相偏移
で生ずる位相差φ、τで相殺することができる。この相
殺ざた時の位相偏移φ5と入力角速度Ωとは (1/2π)φ、=(4A/λnL)  Ω ・・・・
・・(9)但し、A:光導波路が囲む面積 λ:光の真空中の波長 n:光導波路の屈折率 L:光導波路の全長 の関係がある。ところで、光導波路14内の右廻り光L
2は光′a11から出射された時の周波数νをもち、Φ
(t)=2πνLで表され、左廻り光L3は位相変調器
18で鋸歯状波信号の位相偏移を受けΦ’(t)=2π
シt+φ、τと表される。このことから、右廻り光L2
と左廻り光り、との周波数の差φ、/2πを測定すれば
、角速度Ωを求めることができる。
しかし、これらの光Lz、Lt は光導波路14の中に
あり、直接それらの周波数の差φ、/2πを測定するこ
とはできない。
従来の光干渉角速度計では、同期検波回路17がらの位
相差検出出力を測定し、その検出出力がゼロとなるよう
にφ5を調整する。つまり、φ3 τ=−φ、に制御す
る。このφ1は位相変調器18の駆動信号Vに対して、 φよ= (π/λ)・n”r(V/d)・I・・・・・
・・・・a〔の関係がある。但し、nは光導波路14の
屈折率、rは電気光学定数、■は駆動電圧、1は電極の
有効長、λは光の真空中の波長である。
つまり、φ5は位相変調器18に加える駆動電圧Vに比
例しており、同期検波回路17の検波出力がゼロになっ
た時の、この駆動電圧■を測定することによりφ、を求
めることができ、その値から角速度Ωを知ることが可能
とされている。
「発明が解決しようとする問題点」 しかし、位相変調器を駆動している駆動電圧と・その駆
動電圧に駆動される位相変化の関係は、位相変調器の温
度特性、周波数特性或いは誘電率の変化等の影響を受け
、正確な比例関係を常に保ていることはない。そのため
、入力角速度Ωによる位相偏移と位相変調器による位相
偏移とが釣り合った時の位相変調器の駆動電圧を測定し
ても、精度良い入力角速度を求めることができない。
「問題点を解決するための手段」 ループ状の光導波路に二条の光を互いに逆の向きに伝播
させると共に、ループ状の先導波路への一方の人出射路
で、二条の光に正弦波信号により駆動される位相変調器
とは別の周波数偏移器で周波数偏移を与え、または位相
変調器でセロダイン変調を与える。
これら周波数偏移あるいはセロゲイン変調された右廻り
光と左廻り光とを互いに干渉させ、その干渉出力から両
光の位相差、つまり、ループ状の光導波路に入力された
角速度によるサニヤック効果φ、と右廻り光と左廻り光
に位相偏移を与えて生じた位相差φ5 τとの加算され
た位相差検出出力を周波数偏移器あるいは位相変調器を
帰還側?IOする帰還制御手段に与えて位相差検出出力
をゼロになるように制御し、位相差検出出力がゼロのと
きの周波数偏移器で周波数偏移を受けた光あるいは位相
変調器でセロゲイン変調を受けた光と、周波数偏移ある
いはセロゲイン変調を受けていない光との干渉ビート信
号により、計数器で計数して角速度の大きさを計測し、
また角速度の方向を検出する手段を設ける。
「実施例」 第1図はこの発明の一実施例を示すブロック図である。
第4図と対応する部分には同し符号を付けである。この
実施例ではループ状光導波路への光の人出射路には光導
波路を用いて構成された例を示す。
光源11から出射された位相の揃った可干渉性の光り、
は第1Y分岐光導波路12の一方の分岐端12Aから入
射し、その結合端12Cから出射され第2Y分岐光導波
路13の結合端13Cに入射する・第2Y分岐光導波路
13に入射した光L1は二条の光り、t・L3にされ、
それぞれ分岐端13A、13Bから出射され、出射され
た光Lx、Liはループ状の光導波路14へ、異なる人
出射路14A、14Bから入射され・一方の人出射路1
4Aから入射した光L2は光導波路14を右廻りに伝播
する右廻り光となり、他方の人出射路14Bから入射し
た光り、は左廻りに伝播する左廻り光となって、互いに
逆の向きに光導波路14内を伝播し、先導波路14への
入射時とは異なる人出射路14B、14Aから第2Y分
岐光導波路13の分岐端13B、13Aにそれぞれ入射
する。
第2Y分岐光導波路13へ、その2つの分岐端13B。
13Aからそれぞれ入射した光L2.L3は第2Y分岐
光導波路13内で干渉結合し4され、その結合端13C
から出射される。
光導波路14の一方の人出射路14Bには第1位相変調
器18Aが設けられ、この位相変調器18Aを通る右廻
り光L2及び左廻り光L3を位相変調する。
また、その位相変調器18Aと第2Y分岐光導波路13
の分配端13Bとの間には第2位相変調器18Bが設け
られ、右廻り光L2及び左廻り光り、にセロゲイン変調
を加えその位相を偏移させる。位相偏移φ(1)は既に
述べたように、φ(t)=φ、1で表される。従って、
この位相偏移により、光はその周波数をφ1/2πだけ
偏移させられる。この例では第2位相変調器でセロゲイ
ン変調をしているが、周波数偏移器を用いて、周波数偏
移をしても良い。
第2Y分岐光導波路13で結合されて互いに干渉し合っ
た光L4は、図には示してないが偏光フィルタ及び空間
シングルモード・フィルタを通過して第1Y分岐光導波
路12へ戻り、その分配端12Bから取り出される。取
り出された分配光り、は光検出器15に入射し、光の強
度に応じて変化する電気信号に変換され、ゲート回路1
6に供給される。
ゲート回路16は第2発振器21からの信号をゲ−ト制
御信号として与えられ、第2発振器21の発信する鋸歯
状波信号の同一周期で変調された光信号のみを通すよう
にゲート開状態に制御される(第7図参照)。このゲー
ト回路16の出力は同期検波回路17に供給され、第1
発振2′i19の発振周波数f。
で同期検波される。
この発明では、このようにして同期検波回路17から得
られる右廻り光L2と左廻り光L ’+ との位(日差
出力は1債分器23に供給され、積分器23からの積分
出力が第2発振器21に、帰還信号として与えられる。
また、この例では、比較器24が設けられている。
この比較器24は第7図Bに示す信号の負の期間(ゲ−
l−回路16を閉にする期間)に、第2発振器21によ
る鋸歯状波が適性な制御がされているかをチェックし、
そのチェック信号が第2発振器21に与えられる。つま
り、鋸歯状波はその振幅が、kを整数として2π・kに
あるように制御する。このように制御することにより角
速度の測定誤差を少なくすることができる。
この発明では、例えば光導波路14の入出射路14Aに
第1方向性光分配器25を設け、第2Y分岐光専波路1
3からの、第2位相変調器+8I3から位相偏移を受け
ていない光L2の一部L2 Aを分岐端25八から分岐
して取り出し、この取り出された分岐光LEAを受光器
26に入射させる。また、位相変調器18Δと第2位相
変調器18Bとの間に第2方向性光分配器27が設けら
れ、第2Y分岐光導波路I3の分岐端13Bから出射さ
れ、第2位相変調器18Bにより位相偏移を受けた光L
3の一部り、Aを分岐端27Aから取り出し、第1方向
性光分配器25の分配端25Aからの光Lz Aと所定
の角度で、互いに干渉させて受光器26に入射させる。
なお、第1.第2方向性光分配器25.27の他の分岐
端25B、27B4こは無反射処理をしておく。
受光器26はこの干渉光L6を、その光強度に応じた電
気信号に変換して出力する。この電気信号は計数器28
に計数信号として供給され、計数される。
また、この発明では、角速度Ωの方向を検出する手段が
設けられる。例えば1.2つの受光器を干渉模様が移動
そる方向に干渉縞の4分の1ピンチill Lで配列し
、それら受光器からの信号のどちらの信号が進み位相に
あるかを検出する。
「作 用」 光導波路14に角速度が与えられると、光4波路14は
二条の光に対して非相反性となりサニヤック効果による
位相差φ、はφ、=8πAΩ/λc(=Δφ≠0)で表
される。このため二条の光の干渉した光を同期検波すれ
ば、前にのべたように、サニヤック効果に対応した検波
信号が出力される。
(第6図) 一方、第2位相変調器18Bは第2発振器21の鋸歯状
波信号で駆動され、2つの光の位相偏移の位相差はφ(
1)  −φ(L−τ)−φ、τ・・・・・・(7)で
表された。
即ち、これら2つの位相差の加算された位相差検出出力
が検出される。この検出出力をゼロになるように制御で
きれば、角速度Ωによるサニヤック効果によって生ずる
右廻り光L2と左廻り光L2との位相差φ、は位相変調
器により生ずる位相差φ、τで相殺することができる。
この発明では、同期検波回路17の検波出力を積分器2
3に与え、その積分出力は第2発振器21への帰還制御
信号として与えられる。例えば、第2発振器21はこの
帰還制御信号により発振信号の傾斜の傾きが変わり、第
2位相変調器18Bへの駆動電圧Vが変化する。この駆
動電圧Vの変化により、第2位相変調器18Bの位相偏
移による2つの光I、2゜L3の位相差が変化し、同期
検出回路17からの位相差検出出力の大きさが変わって
くる。
このように、位相差検出出力の大きさがゼロに成る方向
に第2位相変調器18Bを帰還制御し、サニヤック効果
φ、と位相偏移による位相差の効果φ、τとが拮抗され
る。よって、 Δφ=φ、+φ、τ−0  ・・・・・・・・・Oll
この発明では、この時の第2位相変調器18Bにより、
一様に増加する位相偏移っまり周波数偏移を受けた光を
光導波路14内から取り出し、受けた周波数偏移を直接
測定する手段が設けられる。
即も、第1方向性光分配器25からの分配された光Lz
Aは何も変調されておらず、光源11力・ら出射された
時の位相Φ(t)−2πνtであり・第2方向性光分配
器27からの光LiA4よ第2位相変二周器18Bによ
りφ、tの位相偏移を受けてΦ’(t)−2πνt+φ
stである。これら光り、A、L3 Aは可干渉性の光
であり、受光面では互1,14こ干渉し合って、その光
強度がφ、/2πの周波数の正弦波的に変化を繰り返す
光信号L6となる。この正弦波的に変化する光信号は受
光器26で電気信号に変換される。この変換された電気
信号は受けた周波数偏移の程度に応した周波数φ5/2
π=Fの正弦波であり、その正弦波の電気信号は例えば
計数器2Bの計数13号入力端に供給され、その波数が
計数され、ビート周波数Fがt、lI定される。係数器
28は所定の時間が経過するとその計数値を出力して、
図には示してないが、計数値保持回路などGこ与え、又
、ゼロから正弦波信号の波数の計数が始められる。
従って、光導波路14の入力角速度Ωの大きさに対応し
、第2位相変調器18Bなどの特性に影響されることな
く、φ5の大きさに対応した正確な計数値fが得られる
。この計数値rにより角速度Ωを求めることができる。
即ち、角速度ΩはΩ−(λCτ/4A)f   ・・・
・・・・・・・・・(121である。
尚、光導波路14が半径Rの円ループであり、その全長
をLとすれば、 Ω−(λn/2R)f    ・・・・・・・・・・・
・OJ但し、nは光導波路14の屈折率 で表すことができる。
また、この発明では、必要に応して角速度Ωの方向を検
出する手段が設けられる。例えば、2つの光L2A、L
! Aが互いに所定の入射角で受光器26に入射するの
で、受光器25の受光面には、明と暗との干渉模様が形
成される。その干渉模様は干渉平面上を、2つの入射光
L2.L3がつくる面とが交差する交差線上を移動し、
光導波路14に入力される角速度Ωが右廻りであるか左
廻りであるかによりその移動する向きを変える。従って
、繰り返される干渉模様の4分の1ピ1.、チ離して2
つの受光器を配列し、それら受光器の信号のどちらの信
号が進み位相にあるかを検出すれば、角速度の向きを知
ることができる。
また、この検出した角速度の方向信号を、第2発振器に
供給して銅山状波発振信号の発振振幅を大きくするか或
いは小さくするかを制御する信号とすることもできる。
第2図は光源11及び光検出器15と、ループ状光専波
路14との間を光導波路ではなく、第4図と同様の光フ
プイハを用いて構成した例である。また2つの位相変調
器にピエゾエレクトリンク・シリンダを用い、そのシリ
ンダに光導波路を巻きつけて、光を変調するように構成
している。
第3図はセロダイン変調した光と干渉させるための参照
光を、右廻り光と左廻り光の二条の光に分ける前の光か
ら導くように構成した例を示す。
以上では、サニヤック効果を相殺させるために、鋸歯状
波信号を用いてセロゲイン変調を加え、間欠的に2つの
光に位相偏移を与える構成で説明したが、セロゲイン変
調による間欠的な位相偏移でなく、例えば音容光学素子
のような周波a偏移器を用い、二条の光に連続的に周波
数偏移を与え続けるようにしても良い。
「効 果」 以上のように、この発明によれば角速度によって生ずる
サニヤック効果の出力を位相変調器に供給して位相変調
器を制御する閉ループ制御系を用いて、サニヤック効果
を相殺する構成とした。また光導波路内から、位相変調
器により変調された光を取り出す手段を設け、取り出さ
れた光の被変調の程度を直接測定する構成とした。即ち
、従来のように、位相変調器の駆動信号電圧Vを測定す
る間接測定による場合に比べて、この発明の光干渉角速
度系によれば、位相変調器の温度特性、周波数特性、或
いはまた誘電率の変化等による影響を受けない正確な角
速度の測定が可能となる。また二条の光の干渉によるビ
ート信号を計数するのでディジタル出力が得られる。従
って、取り出された角速度データを電子計算機などによ
り処理するにも容易である。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明の光干渉角速度計の一実施例を示すプ
ロ、り図、第2図はこの発明の他の実施例を示すブロッ
ク図、第3図はこの発明のもう一つの他の実施例を示す
プロ・7り図、第4図は従来の光干渉角速度計の例を示
すブロック図、第11;図は角速度がゼロのときの同期
検波回路による同期検波出力波形を示す図、第6図は入
力角速度があるときの同期検波回路の検波出力の波形図
、第7図Aは鉱山状波信号で制御された第2位相変調器
により二条の光がセロゲイン変調される説明図、第7図
Bは二条の光の位相の差を示す図である。 11:光源、12:第1Y分岐光導波路(第1光方向性
結合器)、13:第2Y分岐光導波路(第2光方向性結
合器)、14:光導波路、15:光検出器、16:ゲー
ト回路、17:同期検波回路、18.18A :位相変
調器、18B=第2位相変調器、19:第1発振器、2
1:第2発振器、22:増幅器、23:積分器、24:
比較器、25:第1方向性光分配器、26:受光器、2
7:第2方向性光分配器、28:計数器。 特許出願人   日本航空電子工業株式会社代  理 
 人      草    野       卓オ 5
図 1千多参縞の9虫度 時間 オ6 図 I 千ン歩縞の 時間

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)ループ状の光導波路に互いに反対向に伝播するよ
    うに二条の光を入射し、これら二条の光に周波数偏移器
    で周波数偏移を与え、あるいは位相変調器でセロダイン
    変調を与えると共に、上記二条の光を干渉させて、その
    干渉出力から両光の位相差と対応した出力を検出する手
    段を設け、上記光導波路のつくる平面に垂直な軸のまわ
    りの角速度成分を測定する光干渉角速度計において、 上記位相差に対応した出力の検出出力により、その検出
    出力がゼロになるように上記周波数偏移器あるいは位相
    変調器を制御する帰還制御手段と、上記周波数偏移器で
    周波数偏移あるいは位相変調器でセロダイン変調を受け
    た光と、その周波数偏移あるいはセロダイン変調を受け
    ていない光とを干渉させビート信号をつくり、上記二条
    の光の位相の差を測定する手段とを特徴とする光干渉角
    速度計。
JP60174860A 1985-08-08 1985-08-08 光干渉角速度計 Granted JPS6235220A (ja)

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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH02145911A (ja) * 1988-11-28 1990-06-05 Tech Res & Dev Inst Of Japan Def Agency 光ファイバ・ジャイロ
JPH04310820A (ja) * 1991-04-10 1992-11-02 Tokimec Inc 光ファイバジャイロ

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JPS606823A (ja) * 1983-04-25 1985-01-14 ザ・ボ−ド・オブ・トラステイ−ズ・オブ・ザ・レランド・スタンフオ−ド・ジユニア・ユニバ−シテイ フアイバ光学回転センサ

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