JPS6234436A - Data trouble detecting circuit - Google Patents

Data trouble detecting circuit

Info

Publication number
JPS6234436A
JPS6234436A JP17344385A JP17344385A JPS6234436A JP S6234436 A JPS6234436 A JP S6234436A JP 17344385 A JP17344385 A JP 17344385A JP 17344385 A JP17344385 A JP 17344385A JP S6234436 A JPS6234436 A JP S6234436A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
parity
information
circuit
selector
output
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
JP17344385A
Other languages
Japanese (ja)
Other versions
JPH0666759B2 (en
Inventor
Chukichi Ono
小野 忠吉
Koji Kogure
木暮 光司
Kiyohiko Kuroda
黒田 清彦
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Fujitsu Ltd
NEC Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Original Assignee
Fujitsu Ltd
NEC Corp
Nippon Telegraph and Telephone Corp
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Fujitsu Ltd, NEC Corp, Nippon Telegraph and Telephone Corp filed Critical Fujitsu Ltd
Priority to JP17344385A priority Critical patent/JPH0666759B2/en
Publication of JPS6234436A publication Critical patent/JPS6234436A/en
Publication of JPH0666759B2 publication Critical patent/JPH0666759B2/en
Anticipated expiration legal-status Critical
Expired - Lifetime legal-status Critical Current

Links

Abstract

PURPOSE:To reduce the quantity of the hardware used in a data trouble detecting circuit so as to make maintenance of the circuit easier, by making the selecting designation of a selector the same as parity rule designating information. CONSTITUTION:Usually, command from a parity rule designating information line 70 is an odd parity rule and a 2-1 selector 9 selects an OR circuit 8a. If a trouble occurs on at least one side of memory circuits 41 and 42 under this condition, the output of the OR circuit 8a becomes to have a logic '1' and trouble information is outputted to the check result outputting information line 60 of the 2-1 selector 9. When the information from the information line 70 is changed to an even parity rule, the selector 9 selects an AND circuit 8b. The output of the AND circuit 8b becomes to have a logic '1' only when the trouble information is outputted to both check result outputting information lines 61 and 62 and trouble information indicating that normality of parity generating circuits 21 and 22 and parity checking circuits 51 and 52 is confirmed is outputted to the check result outputting information line 60 of the 2-1 selector 9.

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はハIJティ情報を使用したデータ障害検出回路
に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION [Field of Industrial Application] The present invention relates to a data failure detection circuit using high IJT information.

〔従来の技術〕[Conventional technology]

第2図はこの種のパリティ情報を使用したデータ障害検
出回路の従来例の構成図である。
FIG. 2 is a block diagram of a conventional example of a data failure detection circuit using this type of parity information.

パリティ発生回路21(または22、以下同様)は、n
ビット(n≧1)のデータ線11 (1,2)が引き込
まれ、パリティ則指定情報線71 (72)カラの奇数
パリティ則指定に従いnビットデータに対するパリティ
情報を発生し、パリティ情報線31 (8B)に出力す
る。メモリ回路41(42)は、データ線11(12)
とパリティ情報線31(82)が引き込まれ、データお
よびパリティ情報を蓄積し、さらに蓄積されたデータお
よびパリティ情報をそれぞれデータ線11(12)とパ
リティ情報、581(82)に出力する。パリティチェ
ック回路51 (52)はメモリ回路41<42)から
のパリティ情報がメモリ回路41(42)からのデータ
に対して奇数パリティになっているか否かをチェックし
、誤りの場合のみチェック結果出力情報1a61(62
)に障害情報を出力する。
The parity generation circuit 21 (or 22, the same applies hereinafter) has n
The bit (n≧1) data line 11 (1, 2) is drawn in, and the parity rule specification information line 71 (72) generates parity information for n-bit data according to the odd parity rule specification of the color, and the parity information line 31 ( 8B). The memory circuit 41 (42) is connected to the data line 11 (12)
and parity information line 31 (82) are drawn in to accumulate data and parity information, and further output the accumulated data and parity information to data line 11 (12) and parity information line 581 (82), respectively. The parity check circuit 51 (52) checks whether the parity information from the memory circuit 41<42) is an odd parity with respect to the data from the memory circuit 41 (42), and outputs the check result only in case of error. Information 1a61 (62
) outputs failure information.

つまり、メモリ回路41(42)が正常の場合チェック
結果出力情報線61 ((32)には障害情報が現われ
ず、メモリ回路41 (42)がビットスタック等の障
害になった場合にチェック結果出力情報線61(62)
に障害情報が出力されるので、パリティ発生回路21(
22)とパリティチェック回路51(52)の間に位置
するメモリ回路41(4z)の正常性をチェックしてい
ることになる。
In other words, if the memory circuit 41 (42) is normal, the check result output information line 61 ((32) does not show fault information, and if the memory circuit 41 (42) has a fault such as bit stack, the check result is output. Information line 61 (62)
Since fault information is output to the parity generation circuit 21 (
22) and the parity check circuit 51 (52), the normality of the memory circuit 41 (4z) is being checked.

さらに、パリティ発生回路21(22)とパリティチェ
ック回路51 (52)が正常に動作しているか否かを
チェックする必要がある。これに対しては、パリティ則
指定情報線71(72)からのパリティ則指定を通常の
奇数パリティ則から偶数パリティ則に切り替えることに
より、パリティ情報線81(82)上のパリティ情報は
nビットデータに対する偶数パリティになっているため
、パリティチェック回路51 (52)での奇数ハIJ
ティチェックによりチェック結果出力情報線61(62
)に障害情報が出力される。この偶数パリティ則指定時
の障害情報はパリティ発生回路21(22)とパリティ
チェック回路51(52)の動作正常性を示すものであ
り、逆に障害情報が出力されない場合Fi障害である。
Furthermore, it is necessary to check whether the parity generation circuit 21 (22) and the parity check circuit 51 (52) are operating normally. In contrast, by switching the parity rule specification from the parity rule specification information line 71 (72) from the normal odd parity rule to the even parity rule, the parity information on the parity information line 81 (82) can be changed to n-bit data. Since the parity is even for the parity check circuit 51 (52),
Check result output information line 61 (62)
) failure information is output. This failure information when specifying the even parity rule indicates the normal operation of the parity generation circuit 21 (22) and the parity check circuit 51 (52), and conversely, if failure information is not output, it is an Fi failure.

パリティ発生回路21 (22)からパリティチェック
回路51(52)tでの区間をパリティ区間と称し、第
2図では2つのパリティ区間を示している。
The section from the parity generation circuit 21 (22) to the parity check circuit 51 (52)t is called a parity section, and FIG. 2 shows two parity sections.

〔発明が解決しようとする問題点〕[Problem that the invention seeks to solve]

上述した、パリティ情報を使用した従来のデータの障害
検出回路は、m(m≧2)個のパリティ区間が存在する
と、m個のパリティ則指定情報線とm個のチェック結果
出力情報線が必要となるため、パリティ則指定情報線の
前段に設置され、試験診断プログラムからのパリティ則
指示情報を保持するクリップ70ツブがm個必要となり
、またチェック結果出力情報線の後段にはオンラインプ
ログラムによる保守走査読取りオーダに対するアンサ回
路がm個必要となる。
The conventional data failure detection circuit using parity information described above requires m parity rule specification information lines and m check result output information lines when m (m≧2) parity sections exist. Therefore, m clips of 70 pieces are required to be installed before the parity rule specification information line and hold the parity rule instruction information from the test diagnosis program, and after the check result output information line, maintenance using an online program is required. m answer circuits are required for scanning reading orders.

装置が障害を検出し、保守用品と取り替える最小保守単
位において、従来は1個のパリティ区間が存在するのみ
であったが、最近の高集積化技術により複数個のパリテ
ィ区間が存在するようになってきており、このため従来
のデータの障害検出回路は、パリティ則指示情報を保持
するフリップ70ツブおよび保9走査用アンサ回路の増
大によるコストアップや、障害表示ボイ/トの増加によ
り保守が煩雑になるという欠点がある。
Traditionally, there was only one parity section in the minimum maintenance unit in which equipment detects a failure and replaces it with maintenance supplies, but with recent high integration technology, there are now multiple parity sections. For this reason, conventional data failure detection circuits have increased costs due to the increase in flip 70 tubes that hold parity law instruction information and answer circuits for maintenance 9 scanning, and have become complicated to maintain due to an increase in the number of failure indication voices. It has the disadvantage of becoming

〔問題点を解決するための手段〕[Means for solving problems]

本発明のデータ障害検出回路は、パリティ則指定情報を
共通化するために各パリティ則指定情報線が共通に接続
され、m個(m:パリティ区間で2以上)のパリティチ
ェック回路のチェック結果出力情報の少なくとも1つが
障害有りを示しているときに所定の論理値信号を出力す
る第1のゲート回路と、m個のパリティチェック回路の
チェック結果情報が全て障害有りを示しているときに所
定の論理値信号を出力する第2のゲート回路と、パリテ
ィ則指定情報線のパリティ則指定情報を入力選択信号と
して、第1のゲート回路の出力ま九は第2のゲート回路
の出力を選択し、障害情報として出力する2i−1セレ
クタを備えたことを特徴とする。
In the data fault detection circuit of the present invention, each parity rule designation information line is commonly connected to share parity law designation information, and the check results of m (m: 2 or more in a parity section) parity check circuits are output. A first gate circuit that outputs a predetermined logic value signal when at least one piece of information indicates that there is a fault, and a first gate circuit that outputs a predetermined logical value signal when at least one of the pieces of information indicates that there is a fault, and A second gate circuit that outputs a logical value signal and parity rule designation information on a parity law designation information line as an input selection signal, the output of the first gate circuit selects the output of the second gate circuit, It is characterized by having a 2i-1 selector that outputs as failure information.

すなわち、本発明によればパリティ則指定情報線、チェ
ック結果出力情報線は共に1本で済むので、パリティ則
指示情報を保持するクリップフロップおよび保守走査用
アンサ回路の数はそれぞれ1個になる。
That is, according to the present invention, since only one parity law designation information line and one check result output information line are required, the number of clip-flops and maintenance scanning answer circuits that hold parity law designation information is one each.

〔実施例〕〔Example〕

本発明の実施例についてi面を参照して説明する。 An embodiment of the present invention will be described with reference to the i-plane.

第1図は本発明によるデータ障害検出回路の−実施例の
構成図である。本実施例は、第2図の従来例と同様に、
パリティ発生回路21からパリティチェック回路51ま
でと、パリティチェック回路2zからパリティチェック
回路52までの2つのパリティ区間を示している。第1
図において第2図の従来例の構成と同一の部分には同一
の符号を付して重複する説明は省略する。
FIG. 1 is a block diagram of an embodiment of a data failure detection circuit according to the present invention. This embodiment is similar to the conventional example shown in FIG.
Two parity sections are shown, from the parity generation circuit 21 to the parity check circuit 51 and from the parity check circuit 2z to the parity check circuit 52. 1st
In the figure, parts that are the same as the configuration of the conventional example shown in FIG. 2 are given the same reference numerals, and redundant explanation will be omitted.

パリティ発生回路21.22はパリティ則指定情報線7
0が共通に接続されている。論理和回路3a、論理積回
路8bはそれぞれパリティチェック回路51.52のチ
ェック結果出力情報線61゜62の障害情報の論理和、
論理積をとる。2−1セレクタ9はパリティ則指定情報
線70の情報が奇数パリティ則指定の場合に論理和回路
8alの出力を、偶数パリティ則指定の場合に論理積回
路8bの出力をチェック結果出力情報1fJ60に出力
する。
The parity generation circuits 21 and 22 are connected to the parity rule specification information line 7.
0 are commonly connected. The logical sum circuit 3a and the logical product circuit 8b are the logical sum of the fault information of the check result output information lines 61 and 62 of the parity check circuits 51 and 52, respectively.
Take a logical product. 2-1 selector 9 outputs the output of the logical sum circuit 8al when the information on the parity rule specification information line 70 specifies the odd parity rule, and outputs the output of the AND circuit 8b when the information specifies the even parity rule as check result output information 1fJ60. Output.

次に、本実施例の動作を説明する。Next, the operation of this embodiment will be explained.

(1)通常時、パリティ則指定情報線70からの指示ハ
寄数パリティ則となっており、2−1セレクタ9は論理
和回路8aを選択している。このときメモリ回路41ま
たは42の少なくも一方に障害があると、論理和回路8
aの出力が論理lとなり、2−lセレクタ9のチェック
結果出力情報線60に障害情報が出力される。
(1) Normally, the instruction from the parity law specification information line 70 is the parity parity law, and the 2-1 selector 9 selects the OR circuit 8a. At this time, if there is a failure in at least one of the memory circuits 41 or 42, the OR circuit 8
The output of a becomes logic l, and failure information is output to the check result output information line 60 of the 2-l selector 9.

■ 次に、パリティ発生回路21と22およびパリティ
チェック回路51と52の動作正常性をチェックする場
合は、パリティ則指定情報線70からの情@iを偶数パ
リティ則に変化させる。これにより、2−1セレクタ9
は論理積回路8bを選択する。そして、チェック結果出
力情報線61と62の両方に障害情報が出力された場合
のみ論理積回路8bの出力が論理@1”となり、2−1
セレクタ9のチェック結果出力情報線60に、パリティ
発生回路21と22およびパリティチェック回路51と
52の正常性が確認されたことを示す障害情報が出力さ
れる。
(2) Next, when checking the normal operation of the parity generation circuits 21 and 22 and the parity check circuits 51 and 52, the information @i from the parity rule designation information line 70 is changed to the even parity rule. As a result, 2-1 selector 9
selects the AND circuit 8b. Then, only when fault information is output to both the check result output information lines 61 and 62, the output of the AND circuit 8b becomes logic @1'', and 2-1
Fault information indicating that the normality of the parity generation circuits 21 and 22 and the parity check circuits 51 and 52 has been confirmed is output to the check result output information line 60 of the selector 9.

なお、論理和回路8aの代りにノア回路、論理積回路8
bの代りにナンド回路を使用してもよい。
Note that a NOR circuit and an AND circuit 8 are used instead of the OR circuit 8a.
A NAND circuit may be used instead of b.

〔発明の効果〕〔Effect of the invention〕

以上説明したように本発明は、m個のパリティ発生回路
に対してそのパリティ則指定情報を共通化し、さらにm
個のパリティ発生回路に対応したm個のパリティチェッ
ク回路の障害情報のオアまたノアをとるゲート回路の出
力を一方に、同障害定情報と同一にすることにより、パ
リティ則指示情報を保持するフリップフロップや保守走
査用アンサ回路のハードウェア肴を削減でき、また障害
表示ポイントの削減により保守が簡易になるという効果
がある。
As explained above, the present invention makes the parity rule specification information common to m parity generation circuits, and furthermore, m
By making the output of a gate circuit that takes an OR or a NOR of failure information of m parity check circuits corresponding to m parity generation circuits on one side the same as the failure determination information, a flip-flop that holds parity rule instruction information can be used. This has the effect of reducing the amount of hardware required for the loops and answer circuits for maintenance scanning, and also simplifies maintenance by reducing the number of failure display points.

【図面の簡単な説明】 第1図は本発明によるパリティ情報を使用したデータ障
害検出回路の一実施例の構成図、第2図はパリティ情報
を使用したデータ障害検出回路の従来例の構成図である
。 11.12・・・データ線、 21.22・・・パリティ発生回路、 81.82・・・パリティ情報線、 41.42・・・メモリ回路、 51.52・・・パリティチェック回路、60.61.
(52・・・チェック結果出力情報線、70・・・パリ
ティ則指定情報線、 8a・・・論理和回路、 8b・・・論理積回路、 9・・・2−1セレクタ。
[Brief Description of the Drawings] Fig. 1 is a block diagram of an embodiment of a data failure detection circuit using parity information according to the present invention, and Fig. 2 is a block diagram of a conventional example of a data failure detection circuit using parity information. It is. 11.12...Data line, 21.22...Parity generation circuit, 81.82...Parity information line, 41.42...Memory circuit, 51.52...Parity check circuit, 60. 61.
(52... Check result output information line, 70... Parity rule specification information line, 8a... OR circuit, 8b... AND circuit, 9... 2-1 selector.

Claims (1)

【特許請求の範囲】 nビット(n≧1)のデータに対しパリティ情報を発生
するパリティ発生回路と、該パリティ情報と前記nビッ
トデータを引き込み正常性のチェックを行うパリティチ
ェック回路を有し、前記パリティ発生回路には発生され
るパリティ情報のパリティ則を指定するパリティ則指定
情報線が引き込まれている、パリティ区間がm個(m≧
2)のデータ障害検出回路において、 パリティ則指定情報を共通化するために前記各パリティ
則指定情報線が共通に接続され、 前記m個のパリティチェック回路のチェック結果出力情
報の少なくとも1つが障害有りを示しているときに所定
の論理値信号を出力する第1のゲート回路と、 前記m個のパリティチェック回路のチェック結果情報が
全て障害有りを示しているときに所定の論理値信号を出
力する第2のゲート回路と、前記パリティ則指定情報線
のパリティ則指定情報を入力選択信号として、前記第1
のゲート回路の出力または前記第2のゲート回路の出力
を選択し、障害情報として出力する2−1セレクタを備
えたことを特徴とするデータ障害検出回路。
[Scope of Claims] A parity generation circuit that generates parity information for n-bit (n≧1) data, and a parity check circuit that draws in the parity information and the n-bit data to check the normality, The parity generating circuit has m parity sections (m≧
In the data failure detection circuit of 2), each of the parity rule specification information lines is commonly connected to share the parity rule specification information, and at least one of the check result output information of the m parity check circuits indicates that there is a failure. a first gate circuit that outputs a predetermined logic value signal when the m parity check circuits indicate a failure; and a first gate circuit that outputs a predetermined logic value signal when the check result information of the m parity check circuits all indicate that there is a failure. a second gate circuit, and the first
A data failure detection circuit comprising a 2-1 selector that selects the output of the second gate circuit or the output of the second gate circuit and outputs it as failure information.
JP17344385A 1985-08-06 1985-08-06 Data failure detection circuit Expired - Lifetime JPH0666759B2 (en)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17344385A JPH0666759B2 (en) 1985-08-06 1985-08-06 Data failure detection circuit

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP17344385A JPH0666759B2 (en) 1985-08-06 1985-08-06 Data failure detection circuit

Publications (2)

Publication Number Publication Date
JPS6234436A true JPS6234436A (en) 1987-02-14
JPH0666759B2 JPH0666759B2 (en) 1994-08-24

Family

ID=15960565

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
JP17344385A Expired - Lifetime JPH0666759B2 (en) 1985-08-06 1985-08-06 Data failure detection circuit

Country Status (1)

Country Link
JP (1) JPH0666759B2 (en)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04153838A (en) * 1990-10-18 1992-05-27 Fujitsu Ltd Error check circuit for dual system

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04153838A (en) * 1990-10-18 1992-05-27 Fujitsu Ltd Error check circuit for dual system
JP2559531B2 (en) * 1990-10-18 1996-12-04 富士通株式会社 Redundant system error check circuit

Also Published As

Publication number Publication date
JPH0666759B2 (en) 1994-08-24

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US6385755B1 (en) Information processing system and logic LSI, detecting a fault in the system or the LSI, by using internal data processed in each of them
US6625684B1 (en) Application specific integrated circuit with dual-mode system for externally accessible data buses and visibility buses
US4224681A (en) Parity processing in arithmetic operations
JPS6234436A (en) Data trouble detecting circuit
US3559168A (en) Self-checking error checker for kappa-out-of-nu coded data
JPH05165734A (en) Fixed fault diagnostic device for main storage device
JP4574761B2 (en) Interface device
JPH0520219A (en) Input/output controller
JPS59107499A (en) Multiplexed memory circuit
JPS63156465A (en) Data storage area monitoring system for time switch circuit
JPS58101302A (en) Process controlling system provided with back-up controller
JPH08328602A (en) Duplex system switching system
JPS636642A (en) Detecting device for card packing state
JPH0454643A (en) Parity generating and checking circuit
JPH06214822A (en) Digital signal processor
JPH05341003A (en) Error check system for multiplexed logical circuit
JPS63254821A (en) Logic circuit with c-mos structure
JPH05142299A (en) Shift control circuit
JPH05165735A (en) Identification system for parity error occured memory element
JPS63280342A (en) Shift path trouble diagnosing system
JPS58219646A (en) Pipeline control system
JPH11184723A (en) System for detecting failure
JPH06259333A (en) Parity error inspecting mechanism
JPH03128470A (en) Test facilitating circuit
JPH0542016B2 (en)