JPH05165734A - Fixed fault diagnostic device for main storage device - Google Patents

Fixed fault diagnostic device for main storage device

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Publication number
JPH05165734A
JPH05165734A JP3329203A JP32920391A JPH05165734A JP H05165734 A JPH05165734 A JP H05165734A JP 3329203 A JP3329203 A JP 3329203A JP 32920391 A JP32920391 A JP 32920391A JP H05165734 A JPH05165734 A JP H05165734A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
redundant data
circuit
data
redundant
memory
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
JP3329203A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Yasuaki Saida
安亮 齋田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
NEC Communication Systems Ltd
Original Assignee
NEC Communication Systems Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by NEC Communication Systems Ltd filed Critical NEC Communication Systems Ltd
Priority to JP3329203A priority Critical patent/JPH05165734A/en
Publication of JPH05165734A publication Critical patent/JPH05165734A/en
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

PURPOSE:To generate a diagnostic program detecting the fixed fault of a redundant data memory part without considering complicated correction logic by providing a redundant data inversion circuit for the input/output part of a redundant data memory. CONSTITUTION:A redundant data generation circuit 2 generates redundant data written into the redundant memory 3 from write data written into a main storage data memory 1. A redundant data inversion flag 6 is directly set by a central processing unit and the outputs of selectors 5a and 5c are selected by the signal state of the flag 6. Thus, redundant data is logic-operated by logic inverting it by a NOT circuit 5b and writing it into the redundant data memory 3 or by writing it in a logical state as it is. Furthermore, a signal obtained by logic-inversion in a NOT circuit 5d or a signal as it is selected in the selector 5c by the signal state of the flag 6, and it is outputted to an error detection/correction circuit 4.

Description

【発明の詳細な説明】Detailed Description of the Invention

【0001】[0001]

【産業上の利用分野】本発明は主記憶装置の固定障害診
断方法に関し、特に主記憶装置に具備させた冗長構成部
の固定障害を診断する主記憶装置の固定障害診断装置に
関する。
BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a fixed failure diagnosis method for a main memory device, and more particularly to a fixed failure diagnosis device for a main memory device for diagnosing a fixed failure of a redundant component provided in the main memory device.

【0002】[0002]

【従来の技術】中央処理装置から直接アクセスできるリ
ード/ライトメモリのハードウェアエラーによるリード
データのビット誤りを検出し、その誤り訂正を行う冗長
検査を行うECC(Error checking a
nd correction)回路等を備えた冗長構成
部付の主記憶装置が従来よりあるが、この冗長構成部の
回路故障等による固定障害を検出する診断方法として以
下の二通りの方法がある。
2. Description of the Related Art An ECC (Error checking a) which detects a bit error of read data due to a hardware error of a read / write memory directly accessible from a central processing unit and carries out a redundancy check for correcting the error.
Although there has been a main memory device with a redundant configuration unit including an nd correction) circuit and the like, there are the following two diagnostic methods for detecting a fixed fault due to a circuit failure or the like of the redundant configuration unit.

【0003】第一の方法は、ハードウェアである誤り検
出/訂正回路の訂正論理を考慮し、診断プログラムによ
り冗長構成部のデータが変化する様なデータを作成し
て、そのデータによって冗長構成部の固定障害を検出す
る方法である。
The first method considers the correction logic of an error detection / correction circuit, which is hardware, and creates data such that the data in the redundant configuration section changes according to a diagnostic program, and uses the data to create the redundant configuration section. This is a method of detecting the fixed fault of.

【0004】第二の方法は、冗長構成部に中央処理装置
が直接アクセスできるように、独立した主記憶空間を割
り当てることで直接冗長部分のデータを変化させて、そ
れによって冗長構成部の固定障害を診断する方法であ
る。
The second method is to directly change the data in the redundant part by allocating an independent main memory space so that the central processing unit can directly access the redundant part, thereby fixing a fixed fault in the redundant part. It is a method of diagnosis.

【0005】[0005]

【発明が解決しようとする課題】しかしながら、診断プ
ログラムで訂正論理を考慮する、上記第一の方法では診
断プログラムがハードウェアの訂正論理に依存するた
め、ハードウェアの変更により訂正論理が変わった場合
に、診断プログラムをそれに追随して変更しなければな
らない。この冗長構成部の固定障害検出のみを行う診断
プログラムの変更という作業は、システム設計段階にお
いては付加的な作業であり、その変更は非常に煩わしも
のである。
However, in the above-mentioned first method in which the correction logic is considered in the diagnostic program, the diagnostic program depends on the correction logic of the hardware. Therefore, when the correction logic is changed by the change of the hardware. In addition, the diagnostic program must be changed accordingly. The work of changing the diagnostic program that only detects the fixed fault in the redundant component is an additional work in the system design stage, and the change is very troublesome.

【0006】また、独立した中央処理装置の主記憶空間
を割り当てる上記第二の方法では限られた主記憶空間を
冗長構成部の診断のためだけに確保する必要があり、通
常のシステム稼働状態における中央処理装置のアクセス
できるメモリ空間を減少させると共に、システム稼働中
に偶発的に冗長構成部のデータが外部因子によって書き
換えられてしまう恐れもある等の欠点を生じさせてい
る。
Further, in the above-mentioned second method of allocating the main memory space of the independent central processing unit, it is necessary to reserve a limited main memory space only for the diagnosis of the redundant constituent parts, and in the normal system operating state. In addition to reducing the accessible memory space of the central processing unit, it also has the drawback that the data of the redundant component may be accidentally rewritten by an external factor during system operation.

【0007】[0007]

【課題を解決するための手段】本発明の冗長構成部はソ
フトウェアからの指示により記憶データを反転させる回
路を備えている。診断プログラムは、まず冗長部を反転
させずに主記憶のライト/リードを行い、次に冗長部を
反転させて主記憶に同一データのライト/リードを行
う。この動作により冗長構成部のデータを変化させる。
The redundant component of the present invention comprises a circuit for inverting the stored data according to an instruction from software. The diagnostic program first writes / reads the main memory without inverting the redundant part and then inverts the redundant part to write / read the same data in the main memory. This operation changes the data in the redundant component.

【0008】[0008]

【実施例】次に本発明について図1を参照し説明する。
図1は本発明の一実施例の読取り書込み主記憶装置とそ
れに付随する回路のブロック構成図である。主記憶デー
タメモリ1にはライトデータが直接書き込めるよう、デ
ータバスが主記憶データメモリ1のデータ入出力端子に
接続されており、さらにこの主記憶データメモリ1から
読み出されたデータは誤り検出/訂正回路4に入力され
るようにも接続されている。そして、この誤り検出/訂
正回路4の出力端子はデータバスに接続され、図示しな
い中央処理装置のデータ入出力端子と接続される。また
データバスは冗長データ作成回路2に接続されている。
この冗長データ作成回路2の出力は冗長データ反転回路
5のNOT回路5bとセレクタ5aの一方の入力端子と
にそれぞれ入力されており、さらにNOT回路5bの出
力端子はセレクタ5aの他方の入力端子に接続されてい
る。そしてこのセレクタ5aの出力端子は冗長データメ
モリ3への書込みデータ用信号として冗長データメモリ
3に接続されてる。またこの冗長データメモリ3から読
み出されたデータが冗長データ反転回路5のNOT回路
5dとセレクタ5cの一方の入力端子にそれぞれ入力さ
れるように接続されており、上記NOT回路5dの出力
端子はセレクタ5cの他方の入力端子と接続されてる。
そうして、セレクタ5cの出力は誤り検出/訂正回路4
に入力されている。なお上記セレクタ5a,5cのセレ
クト端子は冗長データ反転フラグ6からの信号が入力さ
れるように接続されていて、此の冗長データ反転フラグ
6の信号によって各セレクタはそれぞれの二つの入力信
号の何れかを選択して出力する。
DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Next, the present invention will be described with reference to FIG.
FIG. 1 is a block diagram of a read / write main memory device and circuits associated therewith according to an embodiment of the present invention. A data bus is connected to the data input / output terminal of the main memory data memory 1 so that the write data can be directly written to the main memory data memory 1, and the data read from the main memory data memory 1 is used for error detection / It is also connected so as to be input to the correction circuit 4. The output terminal of the error detection / correction circuit 4 is connected to the data bus and is connected to the data input / output terminal of the central processing unit (not shown). Further, the data bus is connected to the redundant data creating circuit 2.
The output of the redundant data creating circuit 2 is input to the NOT circuit 5b of the redundant data inverting circuit 5 and one input terminal of the selector 5a, and the output terminal of the NOT circuit 5b is input to the other input terminal of the selector 5a. It is connected. The output terminal of the selector 5a is connected to the redundant data memory 3 as a write data signal to the redundant data memory 3. Further, the data read from the redundant data memory 3 is connected so as to be input to the NOT circuit 5d of the redundant data inverting circuit 5 and one input terminal of the selector 5c, respectively, and the output terminal of the NOT circuit 5d is It is connected to the other input terminal of the selector 5c.
Then, the output of the selector 5c is the error detection / correction circuit 4
Has been entered in. The select terminals of the selectors 5a and 5c are connected so that the signal from the redundant data inversion flag 6 is input, and each selector selects one of the two input signals according to the signal of the redundant data inversion flag 6. Select or output.

【0009】以上の構成において、冗長データメモリ3
に書き込まれる冗長データは、主記憶データメモリ1に
書き込まれるライトデータから冗長データ作成回路2に
より作成されており、この冗長データは冗長データ反転
回路5において次のような処理を受ける。冗長データ反
転フラグ6は中央処理装置によって直接設定され、この
フラグ6の信号状態によって上記したように、セレクタ
5a,5cの出力が選択されるので、冗長データはNO
T回路5bによって論理反転されて冗長データメモリ3
に書き込まれるか、若しくはそのままの論理状態で書き
込まれるかの何れかの論理操作をうける。
In the above configuration, the redundant data memory 3
The redundant data written in the redundant memory is written by the redundant data creating circuit 2 from the write data written in the main memory data memory 1. The redundant data is subjected to the following processing in the redundant data inverting circuit 5. The redundant data inversion flag 6 is directly set by the central processing unit, and the outputs of the selectors 5a and 5c are selected by the signal state of the flag 6 as described above.
The redundant data memory 3 is logically inverted by the T circuit 5b.
, Or is written in the logical state as it is.

【0010】また、主記憶データメモリ1から読み出さ
れたリードデータは主記憶データメモリ1と冗長データ
メモリ3の内容から誤り検出/訂正回路4で誤りが検出
された場合にのみ誤りが訂正されて出力されているが、
この場合の冗長データメモリ3から読み出された冗長デ
ータはフラグ6の信号状態によって、セレクタ5cにお
いてNOT回路5dで論理反転させられた信号か、また
は論理操作を受けないそのままの信号の何れかが選択さ
れて誤り検出/訂正回路4の出力される。つまり、反転
回路5で上記冗長データの書込み時とは全く反対の論理
操作をなされて誤り検出/訂正回路4に出力されること
となる。これは上記NOT回路5bとセレクタ5aとに
よる操作の逆を行っていることになる。
The read data read from the main memory data memory 1 is corrected for errors only when the error detection / correction circuit 4 detects an error from the contents of the main memory data memory 1 and the redundant data memory 3. Is output,
The redundant data read from the redundant data memory 3 in this case is either a signal logically inverted by the NOT circuit 5d in the selector 5c or a signal that is not subjected to logical operation depending on the signal state of the flag 6. It is selected and output from the error detection / correction circuit 4. In other words, the inverting circuit 5 performs a logical operation that is completely opposite to that at the time of writing the redundant data and outputs it to the error detecting / correcting circuit 4. This means that the operations performed by the NOT circuit 5b and the selector 5a are reversed.

【0011】図2は図1で示した主記憶装置の主記憶デ
ータメモリと冗長データメモリの部分の固定障害を検出
する診断プログラムの流れの一例である。全主記憶デー
タメモリ1にデータを全て“0”かまたは“1”とした
ものを一度書込み、そして再び読み出してその読出しデ
ータが、書込みデータと異なっていないかどうかを識別
することで主記憶データメモリ1の固定障害を検出でき
る。また、この主記憶データメモリ1へのデータ書込み
読出しによる固定障害チェツクで固定障害が無いことを
確認した後、冗長データ反転フラグ6のフラグを変更さ
せることで、冗長データメモリ3に書き込む冗長データ
を意図的に変換させ、そして読み出し時に再度逆変換さ
せる。これによって仮に冗長データメモリ3に固定障害
があると、その障害部位からの出力データは常に一定値
に固定されてしまっているので、この書込み冗長データ
のみを変化させることによって冗長データメモリ3に固
定障害があるか否かを判定できる。
FIG. 2 shows an example of the flow of a diagnostic program for detecting a fixed failure in the main memory data memory and the redundant data memory portion of the main memory device shown in FIG. All main memory data Main memory data is obtained by writing once all data with "0" or "1" to memory 1 and reading again to identify whether the read data is different from the write data. The fixed failure of the memory 1 can be detected. Also, after confirming that there is no fixed fault by the fixed fault check by writing / reading data to / from the main memory data memory 1, the redundant data inversion flag 6 is changed so that the redundant data to be written in the redundant data memory 3 can be written. The data is intentionally converted, and is inversely converted again at the time of reading. As a result, if there is a fixed fault in the redundant data memory 3, the output data from the faulty portion is always fixed to a fixed value. Therefore, by changing only this write redundant data, it is fixed in the redundant data memory 3. It can be determined whether there is a fault.

【0012】[0012]

【発明の効果】以上説明した様に、本発明は冗長構成部
の診断の為に主記憶空間を確保することなく、しかも複
雑な訂正論理を考慮することなく、診断プログラムの作
成が可能であり、しかも訂正論理に変更が生じた場合で
も診断プログラムをなんら変更するなどの影響を与えな
いという効果を有する。従って、ハードウェアが種々な
る回路的素因によって変更しなければならない場合であ
っても、過去に作成した診断プログラムをそのまま使用
できるので、より敏速なハードウェアチェックを行うこ
ともできる。
As described above, according to the present invention, it is possible to create a diagnostic program without allocating a main memory space for diagnosing a redundant component and without considering a complicated correction logic. In addition, even if the correction logic is changed, there is an effect that it does not affect the diagnosis program. Therefore, even when the hardware has to be changed due to various circuit factors, the diagnostic program created in the past can be used as it is, so that more rapid hardware check can be performed.

【図面の簡単な説明】[Brief description of drawings]

【図1】本発明の一実施例のハードウェアのブロック図
である。
FIG. 1 is a block diagram of hardware according to an embodiment of the present invention.

【図2】図2は図1で示したハードウェアの診断プログ
ラムの流れ図である。
FIG. 2 is a flow chart of a diagnostic program for the hardware shown in FIG.

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims] 【請求項1】読取り書込み記憶装置と、この読取り書込
み記憶装置への書込みデータを用いてその書込みデータ
のビット誤り訂正の為の冗長データを作成する冗長デー
タ作成回路と、前記読取り書込み記憶装置から読出した
データのビット誤り訂正機能を持つ誤り検出/訂正回路
とを備える主記憶装置の固定障害診断装置において、 前記冗長データ作成回路で作成した前記冗長データを論
理操作させたデータと、論理操作させない冗長データと
の何れかを選択して、前記読取り書込み記憶装置内に確
保した冗長データメモリ領域に書き込ませる第一の選択
回路と、 前記冗長データメモリへの書込みの後、前記冗長データ
メモリより出力された冗長データを前記第一の選択回路
の論理操作とは逆の論理操作を加えたデータと、論理操
作しない冗長データとを選択して前記誤り検出/訂正回
路に出力する第二の選択回路と、 前記第一と第二の選択回路のセレクト指示を与える冗長
データ反転フラグとで構成された冗長データ反転回路を
備えることを特徴とする主記憶装置の固定障害診断装
置。
1. A read / write storage device, a redundant data creating circuit for creating redundant data for bit error correction of the write data by using write data to the read / write storage device, and the read / write storage device. In a fixed fault diagnosis device of a main memory device having an error detection / correction circuit having a bit error correction function for read data, the redundant data created by the redundant data creation circuit is logically operated and is not operated logically. A first selection circuit for selecting one of the redundant data and writing it in the redundant data memory area secured in the read / write storage device; and after writing to the redundant data memory, output from the redundant data memory Logical operation is not performed on the redundant data that has been subjected to the logical operation that is the reverse of the logical operation of the first selection circuit. Redundant data inversion circuit composed of a second selection circuit for selecting long data and outputting it to the error detection / correction circuit, and a redundant data inversion flag for giving a selection instruction to the first and second selection circuits. A fixed failure diagnosis apparatus for a main storage device, comprising:
JP3329203A 1991-12-13 1991-12-13 Fixed fault diagnostic device for main storage device Pending JPH05165734A (en)

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
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