JPS6234244Y2 - - Google Patents

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JPS6234244Y2
JPS6234244Y2 JP1980181118U JP18111880U JPS6234244Y2 JP S6234244 Y2 JPS6234244 Y2 JP S6234244Y2 JP 1980181118 U JP1980181118 U JP 1980181118U JP 18111880 U JP18111880 U JP 18111880U JP S6234244 Y2 JPS6234244 Y2 JP S6234244Y2
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Description

【考案の詳細な説明】 本考案は、記録ペンの位置検出に光学式スケー
ル読取器を用いて高速、高精度の位置検出ができ
るようにしたX−Yプロツタに関する。
従来のX−Yプロツタの位置検出には、ステツ
ピングモータのモータ軸に取付けられたシヤフト
エンンコーダ等が用いられている。このような方
式では、モータの回転はギア若しくはベルト等を
介して伝達されペンヘツドを移動させる。従つ
て、途中の伝達機構の誤差がそのままペンヘツド
の位置誤差になつてしまうので高精度な位置決め
が不可能である。
本考案は、このような点に鑑みてなされたもの
で、非接触の光学式スケール読取器を用いること
により高速動作を可能ならしめかつ高精度のX−
Yプロツタを実現したものである。以下、図面を
参照して本考案を詳細に説明する。
第1図は、本考案の一実施例を示すX−Yプロ
ツタの全体を示す図である。1は、それ自身がX
軸方向に移動する移動軸である。2は、移動軸1
に沿つて摺動自在の第1の光学式スケール読取器
(以下単に応取器と略す)である。3は、該読取
器に取付けられた記録ペンである。読取器2は、
記録ペン3のY軸方向即ち移動軸1方向の位置を
検出する。4は、読取器2と対向して配されかつ
移動軸1の軸方向(Y軸方向)に沿つて取付けら
れている第1のスケールである。該スケールは、
透過部と反射部がそれぞれ等間隔に並んだ格子状
をなしている。5は、移動軸1のX軸方向の位置
を検出する第2の読取器である。6は、該第2の
読取器と対向して配されかつX軸方向に沿つて取
付けられた第2のスケールである。
このように構成されたX−Yプロツタにおい
て、X軸方向の位置信号PX、及びY軸方向の位
置信号PYが外部より与えられて、記録ペン3は
X信号及びPY信号に対応した位置で停止する。
以上の動作を回路図を参照して、詳しく説明す
る。
第2図は、本考案の一実施例を示す構成図であ
る。第1図に示すと同一のものは、同一の番号を
付して示す。同図において、10はX方向読取器
2のパルス信号出力を受けてY方向の位置信号に
変換する第1の変換器である。11は、該変換器
10のY方向位置信号とY方向の外部設定信号P
Yとを受ける第1の比較器である。12は、該比
較器の出力を受けて記録ペン3をY軸方向に移動
させる第1のサーボ系である。
13は、X方向読取器5のパルス信号出力を受
けてX方向の位置信号に変換する第2の変換器で
ある。14は、該変換器のX方向位置信号とX方
向の外部設定信号PXとを受ける第2の比較器で
ある。15は、該比較器14の出力を受けて移動
軸1をX軸方向に移動させる第2のサーボ系であ
る。このように構成された回路の動作を以下に説
明する。
先ず最初は、記録ペン3を所定の位置に置き初
期値化する。このとき、読取器2,5の内容は0
にセツトされる。次に、コンピユータ等の外部装
置から、X方向の位置信号PX,PYを第1及び第
2の比較器11,14に入力する。変換器10、
比較器11及びサーボ系12とで構成される第1
のサーボループは、比較器11の出力が0になる
ように記録ペン3を移動させる。同じく、変換器
13、比較器14及びサーボ系15とで構成され
る第2のサーボループは、比較器14の出力が0
になるように移動軸1を移動させる。第1及び、
第2の比較器11,14の出力が0になつた状態
で、記録ペン3は停止する。この停止した位置が
(PX,PY)に対応した位置となつている。停止
した後、記録ペン3は記録紙上に記録をする。又
は、移動の間記録する。
以後、次の外部設定信号(PX,PY)が入力さ
れるたびごとに、記録ペン3はX−Y平面を移動
し所望の記録を行わせることができる。
第3図は、上記した読取器の具体的な構成を示
す図である。同図において、21は可干渉性光源
である。該光源としては例えば半導体レーザが用
いられる。22は、光源21の光出力を受けるハ
ーフミラーである。Lは、該ハーフミラーの透過
光を受けるレンズである。23は、前述したスケ
ールである。該スケールには、反射面と透過面が
等間隔で並んでいる。
レンズLを通過した光は収束球面波となつたの
ち、該スケールで反射する際、多モードの回折光
を生じる。24は、これら多モードの回折光のう
ち、0次モードの光を阻止するストツパである。
25は、ハーフミラー22の反射光を受ける衝立
である。Sは、該衝立に生じた干渉縞である。
S1,S2は、これら干渉縞のうち互いに隣接して生
じた干渉縞である。d1乃至d4は、これら干渉縞間
にそれぞれ90゜ずつ位相をずらして配置された受
光素子である。受光素子としては、例えばフオト
ダイオードが用いられる。
A乃至Dは、前記受光素子d1〜d4の出力を受け
るバツフア増幅器である。26は、該バツフア増
幅器のそれぞれの出力PA〜PDを受けて、前記ス
ケール23の移動距離及び移動方向を示す信号を
出力する制御器である。該制御器は、前記した信
号の他に受光素子d1〜d4の信号出力に対応した制
御信号も出力している。27は、この制御信号出
力を受けて、該制御信号の値が一定となるように
前記光源21を駆動する駆動回路である。OUT
1は、スケール23の移動距離に対応した信号を
出力する出力端子である。OUT2は、スケール
23の移動方向を示す信号を出力する出力端子で
ある。このように構成された装置の動作を以下に
説明する。
光源21から発射された光は、続くハーフミラ
ー22で一部が反射し残りは通過する。この通過
した光は、続くレンズLによつて集光される。集
光された光は、収束球面波となつてスケール23
に入射し入射した光の一部は反射する。このと
き、スケール23は反射形の回折格子として働
き、光が反射する際に0次から±n次(nは整
数)までの多モードの回折が生じる。これら多モ
ード回折光のうち、0次モード光即ち単なる反射
光はストツパ24によつて阻止される。回折した
反射光は、再びレンズLによつて集光される。こ
のとき、該レンズの開口比を適当に選んでおけ
ば、±2次モード光以上の光の通過を阻止するこ
とができる。
従つて、レンズLを通過する光は±1次モード
光のみとなる。第3図の破線で示す光は+1次モ
ード光を、一点線で示す光は−1次モード光を示
す。この±1次モード光は、続くハーフミラー2
2で一部が反射する。反射した光は互いに干渉し
合つて衝立25に干渉縞Sを生じさせる。互いに
隣り合つた干渉縞S1,S2に配置された受光素子d1
〜d4は光の明暗に応じた電気信号を発生させてい
る。
今、光源21から可干渉性の光が照射されてい
る状態で、スケール23を或る方向に移動させた
とする。このとき、受光素子d1〜d4に入力する光
は、スケールの格子ピツチと対応したピツチの周
期的明暗を生じる。これら受光素子は、前述した
ようにそれぞれ90゜ずつ位相がずれた位置に取り
つけられているので、その出力はそれぞれ90゜ず
つ位置のずれた正弦波となる。これら出力は、そ
れぞれ続くバツフア増幅器A〜Dに入力する。A
〜Dは入力信号を適当な信号レベルに増幅すると
ともにインピーダンス変換を行う。
制御器26は、増幅器A〜Dの出力PA〜PD
受けて出力端子OUT1に(PA−PC)に対応し
たパルスを出力する。OUT1から出力されるパ
ルスの数は、スケール23の移動距離に対応した
ものとする。また、制御器26の他の出力端子
OUT2からは、(PA−PC)と(PB−PD)の位
相差を利用してスケール23の移動方向を示す信
号が出力される。該信号の出力形式としては、例
えばスケールが右方向に移動したとき“0”に、
左方向に移動したとき“1”にそれぞれ対応させ
ることが考えられる。或いはこの逆でもよい。出
力端子OUT1及びOUT2からの両出力を利用す
ることにより、本装置を光学式スケール読取器と
して利用することができる。
第3図では、0次光を阻止するためにストツパ
を用いたが、例えば絞りを用いて+1次モード光
或いは−1次モード光のいずれか一方を阻止する
ようにしてもよい。このような方法を採ると、干
渉縞は0次モード光と+1次モード光、或いは0
次モード光と−1次モード光との間に生じる。
第3図の読取器によれば、受光素子の配置によ
つて出力信号の位相をずらせており、しかもスケ
ール上の目盛格子のピツチに対して干渉縞の間隔
がレンズにより拡大されるので、正確に90゜異な
る位相のずれを実現するのが容易である。また衝
立のスリツトの製作も容易である。
また、上記のレンズの拡大率が大きいので、レ
ンズ・フオトダイオード間距離が比較的小さくて
も大きな干渉縞ピツチが得られ、装置全体の小型
化が容易である。
またレンズL1つで照射と干渉を行なわせるこ
とができ、さらにハーフミラーを用いることによ
り、部品の点数を少なくし、構成を簡単にするこ
とができる。したがつて、小型でシンプルな装置
が実現できる。構成が簡単なので調整も容易であ
る。
また干渉縞は原理的に冗長性があるので、スケ
ール上に多少のごみ、ほこりあるいは傷があつて
も測定誤差とならない。
また阻止手段が、スポツトに集光した点で遮光
するのでストツパなどが小さくて済み遮光が容易
である。
ここで上記読取器の動作の理解を容易にするた
め、以下に干渉縞の形成原理や縞の移動原理等に
ついて補足説明する。以下の説明ではスケールが
移動しているが、スケールが静止して読取器が移
動する場合も同様である。
(A) スケール上で生じる回折について スケール23にレーザ光Ciが角度θoで入射
すると、第4図に示すように回折する。Coは0
次回折光を、C+は1次回折光を示す。図でスケ
ールの(読取器に対する相対的な)移動方向をx
軸とし、スケール面と垂直方向をy軸としてい
る。このとき入射角θoと回折角θdの関係は sinθo+sinθd=mλ/d …(4) を満たしている。ただしm=0,±1,±2…、
λ:光の波長、d:スケールピツチである。した
がつて、0次回折光Coについてはm=0より θd=−θo …(5) が成立ち、+1次回折光C+についてはm=1よ
り sinθo−sinθ=λ/d …(6) の関係が成立つ。ただしθは+1次回折光C+
の回折角である。
(B) スケール移動に伴う位相変化について 第5図に示すようにスケール23がxだけ移動
したとき、+1次回折光C+に着目すると、入射
光Ciが観測面51に達するまでの距離は、入射
光Ciが反射面52に達する距離がxsinθoだけ増
し、反射面52から観測面51に達する距離が
xsinθだけ減少する。これに伴う観測面での位
相変化△φは △φ=kx(sinθo−sinθ) (ただしk=2π/λ) となる。これに(6)式の関係を代入すると △φ=kxλ/d =2πx/d …(7) 同様に0次回折光Coの位相変化は △φo=0 …(8) となり、−1次回折光C-の位相変化は △φ=−2πx/d …(9) となる。
(C) 収束球面波の影響 スケール23に入射する収束球面波に対して局
所的に(A)(B)の議論が全て成立つので、各回折光は
第6図のように3つの点に集光する。ここで
po,p+,p-はそれぞれ0次,+1次,−1次回折
光の集光点である。この場合、さらに高次の回折
光による集光点もできるが、それらがスケールヘ
ツド内には入らないように構成できる。
また厳密にいえば、+1次回折光および−1次
回折光について(4)の条件式をあてはめると、1点
には集光せず収差がでるが、0次と±1次の集光
点の間隔をあまり広げなければ問題にならない。
(D) 干渉縞の形成について(第7図) (C)で説明した集光点po,p+,p-はそれぞれ点
光源と同様に再び拡散し、レンズLを介して光束
(拡散光でも収束光でもよい)が重畳する部分で
互いに干渉を起こす。ここでは理解の容易のた
め、ハーフミラー22を省略して考える。また−
1次回折光をストツパで取除いて、0次回折光と
+1次回折光によつて生じる干渉縞について考え
る。スケールヘツドの受光素子面上の点Pに達す
る光の電界はそれぞれ Eo=Aocos(ωt+φo−kro) E+=A+cos(ωt+φ−kr+) となる。
ただしAo:0次回折光の電界の振幅 A+:+1次回折光の電界の振幅 ro:0次回折光の集光点poから点Pまで
の光路長 r+:+1次回折光の集光点p+から点Pま
での光路長 これらの重ね合せによる干渉縞は =|Eo+E+naxcos2〔(φo−φ)/2+△/2〕 ここで+1次回折光の集光点p+の虚像pυを
考えると △=k(ro−r+) =2πDsinθ/λ またy≒roθよりθ=y/ro ∴△≒2πDy/λro ∴=naxcos2 〔(φo−φ)/2+πDy/λro〕…(10) したがつてy方向にピツチλro/Dで明暗を繰返
す干渉縞となる。スケールをxだけ動かしたとき
のφo,φの変動はそれぞれ(8)(7)式より△φo
=0,△φ=2πx/dであるから、(10)式より =naxcos2〔{φo−(φ +2πx/d)}/2+πDy/λro〕 =naxcos2〔(φo−φ)/2 −πx/d+πDy/λro〕 となる。したがつて前記干渉縞はx=dを周期と
して移動する。
ストツパで0次回折光を除去して±1次回折光
による干渉縞を考えると、同様に =naxcos2 〔(φ−φ)/2+2πDy/λro〕 となり、ピツチはλro/2Dと半分となる。スケ
ールを移動したときは、△φ=2πx/d,△
φ=−2πx/dであるから、 =naxcos2〔(φ−φ)/2 −2πx/d+2πDy/λro〕 となり、x=d/2を周期として移動する。
以上、詳細に説明したように、本考案によれば
非接触の光学式スケール読取器を用いることによ
り高速動作を可能ならしめかつ高精度のX−Yプ
ロツタを実現することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、本考案の一実施例を示す図である。
第2図は、本考案の一実施例を示す構成図であ
る。第3図は、光学式スケール読取器の具体的な
一構成例を示す図、第4図〜第7図は読取器の動
作の基本原理を説明する図である。 1……移動軸、2,5……光学式スケール読取
器、4,6,23……スケール、10,13……
変換器、11,14……比較器、12,15……
サーボ系、21……可干渉性光源、22……ハー
フミラー、24……ストツパ、25……衝立、2
6……制御器、27……駆動回路、L……レン
ズ、d1〜d4……受光素子。

Claims (1)

    【実用新案登録請求の範囲】
  1. X軸方向に摺動自在の移動系と、それに記録ペ
    ンが取付けられてY軸方向に摺動自在の移動系
    と、これら一対の移動系のそれぞれに対して前記
    各方向の移動距離を測定する一対の測定手段を具
    備するX−Yプロツタにおいて、前記測定手段と
    して可干渉性光源と、該光源の光出力を受けて収
    束球面波を回折格子状をなすスケールに照射する
    レンズと、前記スケールの反射回折光のうち特定
    のモードの回折光を阻止する阻止手段とを備え、
    所定モードの回折光の干渉縞を電気的パルス信号
    に変換し該パルス信号を演算処理して前記記録ペ
    ンの移動距離及び移動方向を求めるようにした光
    学式スケール読取器を用いたことを特徴とするX
    −Yプロツタ。
JP1980181118U 1980-12-17 1980-12-17 Expired JPS6234244Y2 (ja)

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JPS57102807U JPS57102807U (ja) 1982-06-24
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Citations (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS49134353A (ja) * 1973-04-26 1974-12-24
JPS5174659A (ja) * 1974-12-24 1976-06-28 Nippon Electric Co
JPS5187067A (ja) * 1975-01-28 1976-07-30 Rikuchi Shashin Kk Zahyoyomitorisochi
JPS5230459A (en) * 1975-09-03 1977-03-08 Hitachi Ltd Optical position detecting device

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