JPS6233897B2 - - Google Patents

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Publication number
JPS6233897B2
JPS6233897B2 JP53068966A JP6896678A JPS6233897B2 JP S6233897 B2 JPS6233897 B2 JP S6233897B2 JP 53068966 A JP53068966 A JP 53068966A JP 6896678 A JP6896678 A JP 6896678A JP S6233897 B2 JPS6233897 B2 JP S6233897B2
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
collimator
radiation
subject
scanner
slice
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Expired
Application number
JP53068966A
Other languages
English (en)
Other versions
JPS54160193A (en
Inventor
Kyoto Saito
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Toshiba Corp
Original Assignee
Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Tokyo Shibaura Electric Co Ltd filed Critical Tokyo Shibaura Electric Co Ltd
Priority to JP6896678A priority Critical patent/JPS54160193A/ja
Publication of JPS54160193A publication Critical patent/JPS54160193A/ja
Publication of JPS6233897B2 publication Critical patent/JPS6233897B2/ja
Granted legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明はX線やγ線のような透過性放射線によ
る断層撮影装置、例えば実質的に扇状に広がつた
ビーム状の放射線を発生させる為の放射線源及び
コリーメータを一体として被検体のまわりを旋回
させ被検体を透過した多方向からの放射線を検出
器により検出して被検体断面に於ける放射線吸収
に関する情報データを得、それらのデータを基に
コンピユータにより画像再構成処理をして被検体
の断層像を得るところのCTスキヤナ
(Comptuted Tomography Scanner)に関するも
のである。
そもそも放射線はその発生源から放射状に広が
つて行くものであるから前記放射線ビームの厚さ
は線源からの距離によつて異なつたものとなる。
従つてこのようなビームで断層撮影(CTスキヤ
ン)された被検体のスライスは期待しているよう
な一様な厚さをもつたスライスとは異なり、厚さ
方向から見た断面は第1図に示すように中央部は
薄く周辺部は厚くなるのが実状である。同図にお
いて1は放射線源、2は被検体、3は放射線ビー
ムである。一般に複数のスライスを連続して撮影
して立体的な診断を行なう場合が多いが、第1図
に示したようにスライス幅を例えばd1とした場合
は隣接のスライスとの間で一部重復して2度曝射
されることによる過剰な被曝部4を生じ、例えば
d2とした場合は情報データにあづからない空白部
5を生じ、この部に病巣があるような場合、診断
上これを見落すことになる。等の欠点があつた。
本発明は以上のような問題点を改善してCTス
キヤナの改善を計ることを目的とするものであ
る。
本発明は被検体のまわりを放射線源と一体にな
つて旋回するコリーメータの改良によつて前記目
的を達成しようとするものであり、以下にその詳
細を説明する。
第2図は本発明の1実施例に関する図である。
放射線源1から発生し、コリーメータ6で整形さ
れた扇状ビーム7は被検体2を透過し検出器に入
射する。このとき、扇状ビーム7と被検体間の相
対的回転を考えると扇状ビームの中央部8の放射
線は常に断層面の中央部を通過して結果として断
層像全体に寄与するが、扇状ビームの端縁部9の
放射線は常に断層面の周辺部を透過し結果として
断層像周辺部のみにしか寄与しないという性質が
ある。この性質を考慮すると前記第1図で説明し
たような断層面の断面が中央部で薄く周辺部で厚
くなるということが主として扇状ビームの中央部
の放射線によつて形成されたものであることがわ
かる。本発明は扇状ビーム端縁部の放射線を利用
して中央部の放射線によつて生ずる断層面周辺の
厚みの増大の補正を行なうものである。
第3図はこの補正部の要部であるコリメータの
開口形状の1例を示したものである。同図ではコ
リメータの開口幅を中央部から周辺に行くに従つ
てせばめるようにしたものである。第4図は本発
明の他の実施例を示す図であり、コリメータ6a
の開口幅は均一であるが実質的な開口部位置を中
央部より周辺に向うに従い従来に比して放射線源
に対して遠ざかるようにし、周辺のコリメータ開
口幅を実質的にせばめるようにしたものである。
尚、全円周に検出器を設け放射線源のみを旋回
させる方式のCTスキヤナに於ては検出器側から
見たとき検出器が受取る放射線は刻々違つたスリ
ツト幅から受取ることになるがこれは実際の画像
再構成の段階の前処理でもつて完全に補正される
項目であり、検出器を放射線源と一体として回転
させる方式のCTスキヤナと同様に扱うことがで
きる。
本発明は以上のようになるものであつて、扇状
ビームの中央部の放射線による周辺部の断層面の
厚みの増加を扇状ビーム端縁部のコリメータ開口
幅をせばめることによつて補正して実質的に均一
化できるものであり、CTスキヤナの装置として
のスライス幅を回転中心軸部で指定することによ
つて、数スライスを連続撮影する場合の撮影もれ
部を解消し且つ重複曝射も軽減できる。また意図
した断面情報を正確にもれなく取出せ、断層像と
生体(被検体)との対応が付け易くなる等の効果
が得られるものである。
【図面の簡単な説明】
第1図はスライス幅の不均一性の説明図、第2
図は本発明1実施例の説明図、第3図は第2図の
一部分の拡大図、第4図は本発明他の実施例の説
明図、第5図は第4図の一部分の拡大図である。 1……放射線源、2……被検体、6……コリメ
ータ、7……ビーム状放射線。

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 実質的に扇状に広がつた放射線ビームを発生
    させる為の放射線源及びコリメータを一体として
    被検体のまわりを旋回させ被検体を透過した多方
    向からの放射線を検出して被検体断面像に関する
    情報を得るCTスキヤナにおいて1スライスのス
    キヤン終了時迄に、スライス幅に関し、実質的に
    均等な撮影が行なえるような手段を前記コリメー
    タに具備させたことを特徴とするCTスキヤナ。 2 スライス幅に関し、実質的に均等な撮影が行
    なえるよう手段として扇状ビームの広がりに応じ
    て中央部から端部に向うに従いビームのスライス
    方向厚さを絞るべく開口幅により制限を加えたコ
    リーメータを具備したことを特徴とする特許請求
    の範囲第1項に記載のCTスキヤナ。 3 スライス幅に関し、実質的に均等な撮影が行
    なえるよう手段として扇状ビームの広がりに応じ
    て中央部から端部に向うに従がい射線源からコリ
    ーメータ開口部までの実効的な距離を意識的に遠
    ざけたコリーメータを具備させたことを特徴とす
    る特許請求の範囲第1項に記載のCTスキヤナ。
JP6896678A 1978-06-09 1978-06-09 Ct scanner Granted JPS54160193A (en)

Priority Applications (1)

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JP6896678A JPS54160193A (en) 1978-06-09 1978-06-09 Ct scanner

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JP6896678A JPS54160193A (en) 1978-06-09 1978-06-09 Ct scanner

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Publication Number Publication Date
JPS54160193A JPS54160193A (en) 1979-12-18
JPS6233897B2 true JPS6233897B2 (ja) 1987-07-23

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ID=13388915

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JP6896678A Granted JPS54160193A (en) 1978-06-09 1978-06-09 Ct scanner

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* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP4790324B2 (ja) * 2005-06-15 2011-10-12 株式会社日立ハイテクノロジーズ パターン欠陥検査方法および装置
JP5228080B2 (ja) * 2011-05-11 2013-07-03 株式会社日立ハイテクノロジーズ パターン欠陥検査方法および装置

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JPS54160193A (en) 1979-12-18

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