JPS6230935A - さらしテスト装置 - Google Patents

さらしテスト装置

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JPS6230935A
JPS6230935A JP17037485A JP17037485A JPS6230935A JP S6230935 A JPS6230935 A JP S6230935A JP 17037485 A JP17037485 A JP 17037485A JP 17037485 A JP17037485 A JP 17037485A JP S6230935 A JPS6230935 A JP S6230935A
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Shuzo Sasaki
佐々木 修造
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Espec Corp
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TABAI ESUPETSUKU KK
Tabai Espec Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は、不良品の洗い出し、物品の耐熱性及び(又は
)耐寒性を知る等の目的で耐熱テスト、耐寒テスト、冷
熱サイクルテスト、冷熱衝撃テスト等を受けるべき被検
査物(電子部品などの各種物品各種試料等)を、所望の
高温や低温にさらすためのさらしテスト装置に関する。
従来゛、不良品の洗い出し、物品の耐熱性及び(又は)
耐寒性を知る等の目的で被検査物を所望の高温や低温に
さらすためのさらし装置として、各種恒温槽のほか高温
槽及び低温槽の双方を備えた冷熱サイクルテスト装置や
冷熱衝撃テスト装置があった。しかしながら、この種の
恒温槽やテスト装置では、いずれも一定員の被検査物が
、そのまま、或はバスケット等の適当な容物にいれられ
て人手によりテストエリアにセットされ、テストが終了
すると再び人手によυ取り出されていたので、被検査物
が多量ある場合に、これを早く能率よくさらしテストす
ることは困難であった。
この難点を解消するため、被検査物の搬送ライッを高温
さらし槽及び(又は)低温さらし槽に通過させて被検査
物を順次自動的に処理することが試みられた。だが、高
温さらし槽内は周辺気温と比べて極めて高温に、低温さ
らし槽内は周辺気温に比べて極めて低温に維持される。
従って耐熱性、耐寒性の点で、搬送手段を一つに連続さ
せることはできず、高温さらし槽には耐熱構造コンベア
を設置し、低温さらし槽には耐寒乃至耐冷構造コンベア
を設置するという様に、搬送手段を分割構造としてそれ
ぞれ独自の保全を行う必要があった。
また、さらし檜において、移送されてくる被検査物を一
旦停止させるストッパの駆動装置として簡便なエヤじス
トンシリンダ装)aを用いようとすれば、低温さらし槽
についてはエアーピストンシリンターに供給する圧縮空
気中の水分除去の必要があシ、そのため除湿能力の大き
いドライヤの設置を余儀なくされる。その結果、被検査
物のライン自動化処理を試みると、イニシャルコスト、
ランニンクコストが増加するという問題があった。
そこで本発明の目的は、被検査物を従来のようなバッチ
式ではなく順次能率よくさらしテストすることができ、
それでいて被検査物搬送手段を既述のように分割構造と
する場合に比べて製造コスト、維持コストが安価に済む
さらしテスト装置を提供することにある。
本発明の前記目的は、 (+)  気体流入用開口部及び気体流出用開口部を備
えた被検査物支持体と、 (ii)  前記支持体に支持された被検査物を該支持
体ごと搬送する搬送装置であって周辺気温域で作動する
ように設けられた該搬送装置と、(ii)  被検査物
を周辺気温とは異なるテスト温度気体にさらすためのテ
ストエリア、該テスト温度気体の発生装置、該発生装置
にょシ発生したテ   □スト温度気体を前記テストエ
リアに流すだめの該テストエリアに開口した気体吹出し
口及び気体吸込み口であって前記被検査物支持体の気体
流入用及び流出用開口部に対応する該吹出し口及び吸込
み口を備え、被検査物の搬送路に臨設され、前記テスト
エリアは、前記支持体に支持されて搬送される被検査物
が通過可能に形成さ   □れている少なくとも1つの
さらし装置と、(iV)  前記支持体に支持された被
検査物が前記さらし装置のテストエリアに位置した状態
で前記支   □特休の気体流入用及び流出用開口部が
前記テストエリアの気体吹出し及び吸込み口にそれぞれ
合うように該支持体と前記さらし装置とを分離可能に結
合するための装置と を備えたことを特徴とするさらしテスト装置にょシ達成
される。
斯かるテスト装置によると、被検査物は支持体に支持さ
れ、該支持体ごと搬送装置によって搬送される。この搬
送の途中、該被検査物は各さらし槽においてそのテスト
エリアに入れられるとともに、そのさらし槽と支持体と
が結合装置により結合され、この状態で該被検査物が一
定時間さらしテストを受ける。さらしテスト終了後は、
支持体がさらし槽から分離され、被検査物は該支持体と
共に搬送装置により再び搬送される。この間搬送装置は
常に周辺気温域、従ってさらし槽外で作動し、さらし槽
における高温、低温にさらされない。
前記搬送装置としては、被検査物支持体を下から支持し
て搬送するベルドコンベア、チェーンコンベア等の搬送
機器、該支持体を上から吊シ下げて搬送するトロリーコ
ンベア、チェーンコンベア等の搬送機器、これらの適当
な組み合せ、前記支特休を自走させる装置(例えば支持
体に設けた車輪及びその駆動装置並びに車輪が転動する
レールからなるもの)、支持体を適当な軌道に沿って移
動自在としておいて該支持体を押し又は引き或はどれを
組み合せて搬送できるようにした装置その他種々の搬送
装置を適宜用いることができる。
前記支持体の搬送路としては、1本に延びたもの、ルー
プを描くもの、これらの組み合せ等種々のものを適宜使
用できる。
前記さらし装置のテストエリアを、例えば前記被検査物
の搬送方向両端を開放した溝形に形成し、前記支持体を
、該支持体の気体流入用及び流出用開口部が該テストエ
リアに開口した気体吹出し及び吸込み口にそれぞれ合う
ように該テストエリア   ゛に嵌着できるように形成
し、前記結合装置は、前   □記支持体を前記テスト
エリアに嵌着させるように前記支持体及びさらし装置の
少なくとも一方を駆   □動する装置と十ふととがで
六乙。          :この場合、前記溝形とは
、前記さらし装置が、被検査物搬送路に下方から臨んで
いるときには口形、U字形等であり、該さらし装置が被
検査物搬送路に上方から臨んでいるときには倒立口形、
U字形等乃至トンネル状であり、該さらし装置が被検査
物搬送路に側方から臨んでいるときは、横倒しの口形、
U字形等である。
またこの場合、前記テストエリア及び前記支持体は、テ
ーパ嵌合するように形成されていることが望ましい。す
なわち、該支持体をテストエリアに嵌着させる方向にテ
ストエリアの奥へ入るに従って次第に該テストエリアが
狭くなるように該テストエリアにテーパが付けられ、該
支持体にも該テーパに見合ったテーパが付けられること
が望ましい0 更に別の例として、前記さらし装置のテストエリアを、
前記被検査物の搬送方向両端を開放した溝形に形成する
とともに該テストエリアに臨む前記支持体の気体流入用
及び流出用開口部に該テストエリアに開口した気体吹出
し及び吸込み口をそれぞれ合わせられるように伸縮可能
とし、前記結合装置を、前記テストエリアを伸縮させる
ように前記さらし装置を駆動する装置とすることができ
る。
この場合、テストエリアの溝形とは、先の例において説
明した溝形と同様である。また、この例の場合、前記テ
ストエリアをトンネル状に形成し、前記気体吹出し及び
吸込み口を該テストエリアの両側面に開口させ、該テス
トエリアの該両側面を互いに接近離反自在に形成するこ
とにより該テストエリアを伸縮可能とし、前記支持体の
気体流入用及び流出用開口部を前記気体吹出し及び吸込
み口に対応するように支持体の両側に設けることができ
る。
前述のようにさらし装置のテストエリアを伸縮可能とす
ることに代え、又はこれと共に、前記支特休を伸縮でき
る構造とすることも可能である。
しかし、支持体を被検査物搬送路に多数配置する場合が
あることを考えると、前述のようにさらし装置テストエ
リアを伸縮させる方が良い。
本発明において、さらし装置の数及び種類(高温さらし
用、低温さらし用)は、必要に応じ適宜決定し得る。ま
た、各さらし装置には、その不使用時に、テストエリア
に開口した気体吹出し口及び気体吸込み口を閉じるシャ
ッタを設けるとか、低温さらし装置については、そのよ
うなシャッタと共に、或は該シャッタに代え、さらし装
置全体を収容する囲繞室を設け、その室の入口と出口と
をシャッタで開閉できるようにすると共に該室に乾燥炭
酸ガス又はチッ素カスを充満させるようにしてもよい。
以下本発明の実施例を図面を参照しつつ説明する。
図示の実施例は、被検査物(例えば電子部品)を冷熱衝
撃テスト又は冷熱サイクルテストするさらしテスト装置
である。
第1図に平面図で示したさらしテスト装置は、ループを
描くように配置されたコンベア(11,12,13,1
4)からなる搬送装置(1)、この搬送装置によって運
ばれる被検査物支持体(2)、コンベア(ロ)に上方か
ら臨む低温さらし装置(3)及び高温さらし装置(4)
、各さらし装置に対応させて設けた2つの結合装置(5
,5)並びに常温さらし用の3つのファ、装置(6,6
,6)を備えている。
搬送装置(1)のコンベア01)は、支持体(2)を下
から支持するように配置された一対の無端チェーン(1
11)と該チェーンの図外駆動装置とを備えている。コ
ンベアθカは、コンベアαηと平行に配置されており、
コンベア0ηと同構造であってコンベア01)とは逆方
向に運転される。
コンベアα埠はその一端がコンベア01)の送り込み端
に、他端がコンベア(6)の送シ出し端に臨むように配
置されている。コンベア(至)は、支持体(2)を下か
ら支持してコンベア(ロ)及び0力と同じ搬送方向に搬
送できる小チェーンコンベア(131)を、被駆動チェ
ーン(132)で引っ張ってコンベアαηの送シ込み端
及びコンベア(2)の送υ出し端間に往復動させるもの
である。
コンベアQ4は、その一端がコンベア0υの送シ出し端
に、他端がコンベア(2)の送シ込み端に臨むように配
置されている。コンベアQ4は、前記小チェーンコンベ
ア(131)と同じ小コンベア(141)を有し、コン
ベア(至)と同構造のコシベアである。なおコンベア(
至)の送シ出し端には前工程ライン(ハ)が、コンベア
a4の送シ込み端には後工程ラインのが臨んでいる。
低温さらし装置(3)は、第2図に示すようにトンネル
形状のテストエリアC(η、該テストエリアに開口した
低温気体吹出し口(至)及び気体吸込み口に)、吸込み
口に)から吹出し口に)へ至る気体通路■、並びに該通
路中に設けた低温気体発生装置(クーラ及び蓄令材)に
)−と送気ファン(至)を備えている。
テストエリア6浪は上方へ向かうほど次第に狭くなるよ
うにテーパが付けられておシ、全体としてトンネル状に
形成されていてコンベア0◇に臨んでいる。
テストエリア6Dに開口した気体吹出し口に)の周縁及
び気体吸込み口付の周縁に沿って低温用シーリンク材(
ロ)が設けられている。
被検査物支持体(2)は、第2図及び第3図から分かる
ように、矩形底板Q■の前後端に台形状板翰を立設した
ものであり、その両側は気体流入用開口部(ハ)及び気
体流出用開口部(ハ)となっていて、内部には被検査物
01を数段に支持できる。前記面白形状板(イ)の両側
縁の傾きは、前記テストエリアのテーパに見合ったもの
である。
低温さらし装置(3)に対応する結合装置(5)は、該
装置(3)の下方、且つ、コンベアaηの両チェーン(
111)間に設けられておシ、複数のエヤじストシシリ
ンダ装置II)とそのピストン0ツドに支持された水平
台輪とを備えている。
高温さらし装置(4)は、低温さらし装置(3)におけ
る低温気体発生装置に代えて高温気体発生装置(し−タ
を含む)を、また低温用シーリンク材に)に代えて耐熱
性シーリンク材を設けたもので、その余は低温さらし装
置と実質上同構造である。
また高温さらし装置(4)に対応する結合装M(5)は
前記低温さらし装置(3)に対応する結合装置(5)と
同一構造で同様に配置されている。
低温さらし装置(3)は、大きい室6])に囲繞されて
おり、この室6りには乾燥チッ素ガス又は炭酸ガスが充
填される。これは被検査物支持体(2)の搬送中に外気
水分が流入して低温さらし装置(3)の冷却器に霜付が
発生するのを防ぎ、また装置(3)によ多発生した低温
気体吹出をできるだけ維持するためである。室6N)は
コンベアQl)に対し、開閉自在の入口シャッタ(81
1)及び出口シャッタ(812)を有する。
従って例えば、前工程ライン(ハ)で支持体(2)に被
検査物α1を支持させ、該支持体をコンベア03の小コ
ンベア(131)を介してコシベア01)上に載せ、該
コンベアαηにて低温さらし装置(3)、次いで高温さ
らし装置(4)へ順次搬送し、低温さらし装置(3)で
は低温さらしテストを、高温さらし装置(4)では高温
さらしテストを行うことができる。
また、低温さらしテストを行う前段階、高温さらしテス
トの前及び後の段階のすべて又は一部で、前述のファン
装置(6)を作動させて常温さらしを行うことができる
高温さらしテストを終えた被検査物は、支持体(2)と
共にファン装置(6)による常温さらしを受けたあと又
はそのtまコンベアQ→中の小コンベア(141)を介
して後工程ライ:J(ハ)へ送シ出されるか、或げ小コ
ー、べ? (141)M!つfrネ肯ココ1〆1^’i
−iで運ばれてコンベア(イ)上へ載せられる。:]、
7ペア(l)上へ移った被検査物は、そこから取り出さ
れ、別のラインへ移されることもできるし、再びさらし
テストを受けるためにコンベアa→にてコンベア0→へ
運ばれることもできる。
支持体(2)へ被検査物顛を載置する作業は、コンベア
(イ)上で行うこともできる。なお、低温、高温、常温
さらし等を行うだめの支持体(2)の停止位置決めは、
搬送路に沿って出没自在に設けた図外ストッパで行う。
ここでコンベア0◇ラインにおける動作を詳述すると次
のとおシである。
コンベア0])で運ばれる支持体(2)が室Q3υまで
来ると、室6υのシャッタ(811)が開かれ、支持体
(2)は室61)へ入シ、シャッタ(811)は再び閉
じられる。
支持体(2)はそのまま低温さらし装置(3)のテスト
エリア6つに臨み、ここでコンベアαηが停止される。
次に結合装w(5)においてエヤピストンシリ:J’)
装置6◇により水乎台饅が上昇せしめられ、該水平合一
により支特体(2)が持ち上げられてテストエリア0υ
に嵌着する。このときテストエリアの気体吹出し及び吸
込み口(32及び33)は支持体(2)の気体流入用及
び流出相開D in< (24及び25)に、シーリン
ク材(ロ)の助けを借りて気密に合致する。
斯くして支持体(2)に支持された被検査物O* U 
一定時間低温さらしされる。所定時間の低温さらしのあ
と、結合装置(5)は解放され、支持体(2)は下降し
てテストエリアOpから脱離する。このあとコンベア0
】)は再び始動され、室θ0の出目シャッタ(812)
が開かれ、支持体(2)は室θυ外へ出る。ここで、必
要に応じ、ファン装置(6)による常温さらしを受り、
次の高温さらし装置(4)へ運ばれる。高温さらし装置
テストエリアへの支持体(2)の嵌着、脱離操作は、低
温さらしの場合と同じである。
搬送装置(1)上には所望数の支持体(2)を配置する
ようにして、多量の被検査物を順次能率よくさらしテス
トすることができる。斯かるさらしテストの間搬送装置
はさらし装置(3,4)外で運転される。
次に第4図には、低温さらし装置の別の例(9)が示さ
れている。
装置(9)は、正面四角形状のトンネル状のテストエリ
アOv1該テストエリアに開口した低温気体吹出し口に
)及び気体吸込み口に)、吸込み口に)から吹出し口に
)へ至る気体通路−1並びに該通路中に設けた低温発生
装置(至)と送気ファン(1)を備えている。
気体通路−のうち、テストエリア01)の天井に当る部
分は、例えば蛇腹状の伸縮自在材料で伸縮可能に形成さ
れている。
気体吹出し口e4及び吸込み口輪はテストエリアOメの
両側面に開口してい゛る。
気体吹出し口及び吸込み口(92及び93)の周縁には
低温用シーリンク材に)が設けられている。
で形成されている。
第4図のさらし装置が用いられる場合の支持体は第5図
に示すもの(2′)である。支持体(21)は、中空直
方体形状に3&成されており、その対向する両側は、気
体流入用開口部(21’)及び気体流出用開口部(22
’ )となっており、内部には被検査物を数段に支持で
きる。
第4図のさらし装置(9)を用いる場合の結合装置の例
(5′)は同じく第4図に示されている。
装置(5′)は、さらし装置(0)における気体吹出し
口に)を含む可動部分に)及び気体吸込み口(1を含む
可動部分(拘の各下面に設けた右雌ネジ部(51’)及
び左雌ネジ(52’ )に左右ネジを刻設したネジ捧(
53’)を螺合させ、該ネジ俸(53勺を図外℃−タを
含む駆動装置にて回すようにしたもので、該ネジ棒(5
3勺の回転により、テストエリア0υが伸縮でき、該テ
ストエリアに入った支持体(2′)の両口(92,93
)が気密に合致できる。
第4図の低温さらし装置が用いられる場合は、その低温
気体発生装置(ハ)を高温気体発生装置に、その低温用
シーリ:Jジ材に)を高温用シーリンク材にそれぞれ置
き替えて得られる高温さらし装置を併せ用いる。
かくの如く本発明によれば、被検査物を順次能率よくさ
らしテストすることができ、それでいて被検査物搬送装
置を各さらし装置ごとに分割する必要がなく、搬送装置
全体を周辺気体温度で運転でき、それだけ製造コスト、
維持コストが安価に済むさらしテスト装置を提供するこ
とができる。
【図面の簡単な説明】
第1図から第3図は本発明の1実施例を示すもので、第
1図は全体概略平面図、第2図は低温さらし装置とその
周辺部及び支持体並びに結合装置の概略断面図、第3図
は支持体の斜面図であり、第4図は低温さらしテスト装
置の他の例とそれに関連する支持体及び結合装置の他の
例の概略断面図、第5図は第4図に示す支持体の斜面図
である。 (1)・・・搬送装置、(2)、(21)・・・支持体
、    □(3)、(0)・・・低温さらし装置、(
4)・・・高温さらし装置 (5)、(5′)・・・結
合装置、(6)・・・ファン装置、 (財)、(21’)・・・気体流入用開口部、(ハ)、
(22’)・・・気体流出用開口部、6つ、411υ・
・・テストエリア、 に)、(イ)・・・気体吹出し口、 (2)、に)・・・気体吸込み口、 OIG、に)・・・低温気体発生装置。 (以 上)

Claims (8)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)(i)気体流入用開口部及び気体流出用開口部を
    備えた被検査物支持体と、 (ii)前記支持体に支持された被検査物を該支持体ご
    と搬送する搬送装置であつて周辺気温域で作動するよう
    に設けられた該搬送装置と、(iii)被検査物を周辺
    気温とは異なるテスト温度気体にさらすためのテストエ
    リア、該テスト温度気体の発生装置、該発生装置により
    発生したテスト温度気体を前記テストエリアに流すため
    の該テストエリアに開口した気体吹出し口及び気体吸込
    み口であつて前記被検査物支持体の気体流入用及び流出
    用開口部に対応する該吹出し口及び吸込み口を備え、被
    検査物の搬送路に臨設され、前記テストエリアは、前記
    支持体に支持されて搬送される被検査物が通過可能に形
    成されている少なくとも1つのさらし装置と、 (iv)前記支持体に支持された被検査物が前記さらし
    装置のテストエリアに位置した状態で前記支持体の気体
    流入用及び流出用開口部が前記テストエリアの気体吹出
    し及び吸込み口にそれぞれ合うように該支持体と前記さ
    らし装置とを分離可能に結合するための装置と を備えたことを特徴とするさらしテスト装置。
  2. (2)前記さらし装置のテストエリアが、前記被検査物
    の搬送方向両端を開放した溝形に形成されており、前記
    支持体が、該支持体の気体流入用及び流出用開口部を該
    テストエリアに開口した気体吹出し及び吸込み口にそれ
    ぞれ合わせて該テストエリアに嵌着できるように形成さ
    れており、前記結合装置が、前記支持体を前記テストエ
    リアに嵌着させるように前記支持体及びさらし装置の少
    なくとも一方を駆動する装置である特許請求の範囲第1
    項記載のさらしテスト装置。
  3. (3)前記テストエリア及び前記支持体が、テーパ嵌合
    するように形成されている特許請求の範囲第2項記載の
    さらしテスト装置。
  4. (4)前記テストエリアがトンネル状に形成されている
    とともに前記支持体が上昇して該テストエリアに嵌着で
    きるように形成されており、前記結合装置が前記支持体
    を持ち上げ駆動する装置である特許請求の範囲第2項又
    は第3項記載のさらしテスト装置。
  5. (5)前記さらし装置のテストエリアが、前記被検査物
    の搬送方向両端を開放した溝形に形成されているととも
    に該テストエリアに臨む前記支持体の気体流入用及び流
    出用開口部に該テストエリアに開口した気体吹出し及び
    吸込み口をそれぞれ合わせられるように伸縮可能となつ
    ており、前記結合装置が、前記テストエリアを伸縮させ
    るように前記さらし装置を駆動する装置である特許請求
    の範囲第1項記載のさらしテスト装置。
  6. (6)前記テストエリアがトンネル状に形成されている
    とともに前記気体吹出し及び吸込み口が該テストエリア
    の両側面に開口しており、該テストエリアの該両側面が
    互いに接近離反自在に形成されていることにより該テス
    トエリアが伸縮可能となつており、前記支持体の気体流
    入用及び流出用開口部が前記気体吹出し及び吸込み口に
    対応するように支持体の両側に設けられている特許請求
    の範囲第5項記載のさらしテスト装置。
  7. (7)前記さらし装置が2つ設けられ、そのうち一方は
    高温さらし装置であり、他方は低温さらし装置である特
    許請求の範囲第1項から第6項のいずれかに記載のさら
    しテスト装置。
  8. (8)前記被検査物の搬送路がループを描く部分を含ん
    でおり、前記さらし装置は該ループ部分に臨んでいる特
    許請求の範囲第1項から第7項のいずれかに記載のさら
    しテスト装置。
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100442866B1 (ko) * 2000-11-20 2004-08-02 삼성전자주식회사 전자 장치의 환경 테스트 방법 및 이를 적용한 환경 챔버
CN103234999A (zh) * 2013-05-10 2013-08-07 南方英特空调有限公司 常温暴露热冲击试验设备及方法

Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
KR100442866B1 (ko) * 2000-11-20 2004-08-02 삼성전자주식회사 전자 장치의 환경 테스트 방법 및 이를 적용한 환경 챔버
CN103234999A (zh) * 2013-05-10 2013-08-07 南方英特空调有限公司 常温暴露热冲击试验设备及方法

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