JPS6230374B2 - - Google Patents

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JPS6230374B2
JPS6230374B2 JP11896080A JP11896080A JPS6230374B2 JP S6230374 B2 JPS6230374 B2 JP S6230374B2 JP 11896080 A JP11896080 A JP 11896080A JP 11896080 A JP11896080 A JP 11896080A JP S6230374 B2 JPS6230374 B2 JP S6230374B2
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JP
Japan
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counter
signal
inspection machine
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abnormality
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Expired
Application number
JP11896080A
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English (en)
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JPS5742844A (en
Inventor
Takeshi Koide
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Ishizuka Glass Co Ltd
Original Assignee
Ishizuka Glass Co Ltd
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Publication date
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Publication of JPS5742844A publication Critical patent/JPS5742844A/ja
Publication of JPS6230374B2 publication Critical patent/JPS6230374B2/ja
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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/84Systems specially adapted for particular applications
    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/8851Scan or image signal processing specially adapted therefor, e.g. for scan signal adjustment, for detecting different kinds of defects, for compensating for structures, markings, edges
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
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    • G01N21/88Investigating the presence of flaws or contamination
    • G01N21/90Investigating the presence of flaws or contamination in a container or its contents
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    • G01N21/93Detection standards; Calibrating baseline adjustment, drift correction

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  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
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  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Signal Processing (AREA)
  • Investigating Or Analyzing Materials By The Use Of Ultrasonic Waves (AREA)
  • Investigating Materials By The Use Of Optical Means Adapted For Particular Applications (AREA)

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は生産ラインに組み込まれて使用される
各種物品の検査機において、不良品検出数の異常
な増加が生じた場合にこれを自動的に検出して警
報を発する装置に関するものである。
例えばガラスビン製造工場においては、ビン成
形ラインに直結されたコンベア上に多くのガラス
ビン検査機が取付けられ、ガラスビンの各種の欠
陥を自動的に検査している。この種の検査機には
非常停止装置が組込まれており、例えば転倒した
ガラスビンが検査機のビンハンドリング部にかみ
込んだ場合などには検査機を自動的に停止させる
とともにブザー等により警報を発して作業員に異
常を知らせるよう構成されている。
ところがこのように検査機自体の保護及びガラ
スビンのハンドリングが正常に行なわれているか
否かの監視の目的で設けられた非常停止装置は、
検査機の検査機能上の異常を検出することは不可
能である。即ち、ガラスビンの転倒等の異常は検
出することができても、ガラスビンが正常にハン
ドリングされている限りは、仮に検査機の検査機
能が故障して良品をすべて不良品として排除して
しまうような事態が生じてもこれを発見すること
はできず、作業員が異常発生に気付くまで検査機
は停止しない。この結果、検査機が生産ラインの
効率を低下させる原因となり、また検査機の作動
状況を常に監視するという非生産的な作業が必要
とされる等の問題が生じている。
本発明は上記の従来技術の欠点を解決するため
になされたものであり、検査機の検査機能に異常
が生じたときこれを自動的に検出して警報を発し
うる異常検出装置を提供することを目的とする。
そしてこの目的を達成するためになされた本発明
の要旨とするところは、検査された物品数をカウ
ントし、プリセツトされたカウント数に達したと
きリセツト信号を発する第1カウンタと、不良と
判定された物品数をカウントし、プリセツトされ
たカウント数に達したときリセツト信号を発する
第2カウンタと、いずれかのカウンタがプリセツ
ト値に達したとき両方のカウンタをリセツトする
ためのリセツト回路と、第2カウンタが第1カウ
ンタよりも早くプリセツト値に達したときに異常
信号を発する手段とから成る物品検査機における
異常検出装置に存する。
以下に図示の実施例に従つて、本発明を更に詳
細に説明する。
第1図は実施例を示すブロツク線図であり、ガ
ラスビン1の口部及び底部の検査機に本発明の異
常検出装置を取付けた例を示している。図中2は
投光器,3は受光器であり、ガラスビン1の口部
にクラツク(割目)が存在するか否かを光電的に
検査する。受光器3に入つた光線は光電変換さ
れ、増幅部4で増幅されて良否判別部5に入り、
予じめ設定された基準値と比較されて良否の判別
がなされ、不良と判定された場合には排出部6に
不良信号が送られてそのビンは自動的に排出され
る。以上はガラスビンの検査機として公知の構成
である。本発明の異常検出装置7は検査されたガ
ラスビンの数を数える第1カウンタ18と、不良
と判定されたガラスビンの数を数える第2カウン
タ19とを有する。第1カウンタ18はカウンタ
部8とプリセツト部10とから成り、第2カウン
タ19も同様にカウンタ部9とプリセツト部11
とから成る。これらのプリセツト部10,11は
任意の数をセツトできるデジタルスイツチにより
構成されるが、第1カウンタ18についてはプリ
セツト値が固定されたものであつてもよい。これ
らのカウンタはカウント数がプリセツトされた値
に達したときリセツト信号を発する。リセツト信
号はリセツト回路12を経て両方のカウンタに入
り、いずれのカウンタからリセツト信号が出た場
合にも両方のカウンタ18,19をゼロにリセツ
トする。
第1図のビンの口部不良率が過去の経験と実積
によつて平均2〜3%であると予測される場合、
例えば第1カウンタ18のデジタルスイツチ10
を「100」にプリセツトし、第2カウンタ19の
デジタルスイツチ11を「10」にプリセツトす
る。
受光器3が受光するたびに第1カウンタ18に
使号が入り、検査されたビンの本数が数えられ、
良否判別部5から不良信号が出るごとに第2カウ
ンタ19が不良品の本数を数えていく。検査機の
形式によつては、ビンの本数を検出するための別
の検出手段から第1カウンタ18に信号を入れて
もよい。通常の場合、第1カウンタ18が
「100」をカウントした時には第2カウンタ19は
「1〜3」をカウントした状態にあるから、第1
カウンタ18が先にプリセツト値に達し、デジタ
ルスイツチ10からリセツト信号が出て第1カウ
ンタ18及び第2カウンタ19はともにゼロにリ
セツトされ、以下これがくりかえされる。しか
し、検査機に異常が生じた場合には第1カウンタ
18が「100」をカウントするより早く第2カウ
ンタ19が「10」に達し、第2カウンタ19のデ
ジタルスイツチ11からリセツト信号が出ると同
時に記憶回路13にも異常信号が送られ、異常発
生を記憶するとともに適当な警報器14を作動さ
せる。これにより異常を知つた作業員が適切な対
応策を講じた後、リセツトスイツチ15を押せば
記憶回路13はリセツトされる。なお、第2カウ
ンタ19に取付けられたデジタルスイツチ11か
らのリセツト信号により、第1及び第2カウンタ
18,19はリセツトされるので、異常信号が出
た後も引続いてこの異常検出装置は作動を続け
る。以上の説明はガラスビン口部の検査装置につ
いて行なつたが、一台の検査機でガラスビン各部
を同時に検査することも多く、例えばガラスビン
底部を検査するための投光器16と受光器17に
対しても同様の装置を接続することが可能であ
る。このほか、受光器3と受光器17の双方をひ
とつの異常検出装置に接続することもでき、更に
は数台の検査機をひとつの異常検出装置に接続す
ることも可能である。
本発明は次のとおりの利点を有する。
○イ 本発明の装置は、不良品数の割合が異常に大
きいことを自動的に検出して異常信号を発する
ので、従来は作業員の監視に頼らざるを得なか
つた検査機能の故障を自動的に検出でき、故障
を早期に修理して生産ラインの効率低下を防止
することができる。
○ロ 本発明の装置は検査機の異常のほか、検査対
象物品の不良発生率が異常に増加した場合にも
これを検出することができる。
○ハ 本発明の装置は任意のカウント数をプリセツ
トすることができるので、物品の品種に応じて
異常判定のレベルを自由に設定することがで
き、合理的な管理が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の実施例を示すブロツク線図で
ある。 18…第1カウンタ、19…第2カウンタ、1
0…デジタルスイツチ、11…デジタルスイツ
チ、12…リセツト回路。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1 検査された物品数をカウントし、プリセツト
    されたカウント数に達したときリセツト信号を発
    する第1カウンタと、不良と判定された物品数を
    カウントし、プリセツトされたカウント数に達し
    たときリセツト信号を発する第2カウンタと、い
    ずれかのカウンタがプリセツト値に達したとき両
    方のカウンタをリセツトするためのリセツト回路
    と、第2カウンタが第1カウンタよりも早くプリ
    セツト値に達したときに異常信号を発する手段と
    から成る物品検査機における異常検出装置。
JP11896080A 1980-08-28 1980-08-28 Fault detector of article checker Granted JPS5742844A (en)

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JP11896080A JPS5742844A (en) 1980-08-28 1980-08-28 Fault detector of article checker

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JP11896080A JPS5742844A (en) 1980-08-28 1980-08-28 Fault detector of article checker

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JPS5742844A JPS5742844A (en) 1982-03-10
JPS6230374B2 true JPS6230374B2 (ja) 1987-07-02

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JP7144207B2 (ja) * 2018-06-19 2022-09-29 サッポロビール株式会社 検査システム監視装置及び検査システム監視方法

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JPS5742844A (en) 1982-03-10

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