JP2002328058A - 物品検査装置 - Google Patents
物品検査装置Info
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Abstract
常の発生を確実に検出して、不良品の通過を防止する。 【解決手段】 異常発生検出手段26は、判定手段24
を構成している回路と独立した回路で構成され、物品セ
ンサ23が物品Wを検出してから所定時間が経過する間
に、判定手段24からその物品についての判定信号が出
力されたか否かを調べ、判定信号が出力されないときに
異常の発生を示す異常信号Eを報知手段27に出力す
る。報知手段27は、判定手段24を構成している回路
と独立した回路で構成され、異常発生検出手段26から
出力された異常信号Eを受けて、異常の発生を報知す
る。
Description
ら検査する物品検査装置において、物品の良否の判定を
行う回路等の異常による不良品の通過を防止するための
技術に関する。
造ラインから搬出される物品を検査ラインに搬入して、
その物品に対する検査を搬送中に行い、不良と判定され
た物品をライン上から排除して、良品のみを後続ライン
へ通過させている。
が許容範囲内にあるか否かを検査する重量選別機や、物
品内に異物があるか否かを検査する異物検査機等の物品
検査装置が設けられている。
物品の検査対象となる重量の大きさや異物の有無に応じ
た情報を検出し、その検査用センサから出力される情報
に基づいて物品の良否を判定し、その物品が不良と判定
されたときに不良信号を後続の選別機に出力して不良品
をライン上から排除させている。
の物品検査装置では、一般的にマイクロコンピュータを
用いて物品の良否を判定する機能を含めた多くの機能を
実現しているので、周囲温度の上昇や電源変動や外来雑
音等の影響を受けてマイクロコンピュータが暴走したと
きに、全ての機能が停止してしまう。
ンピュータで実現している判定機能だけでなく、アラー
ム機能等も全く作用しなくなってしまい、物品は良否の
区別なく後続ラインへ搬出されてしまう。
否を判定する回路の暴走等による異常の発生を確実に検
出して、不良品の通過を防止することができる物品検査
装置を提供することを目的としている。
に、本発明の物品検査装置は、検査対象の物品を搬送す
る搬送手段と、前記搬送手段によって搬送される物品が
所定の検査領域にある間に該物品の検査に必要な情報を
検出する検査用センサと、前記検査領域に進入する物品
を検出する物品センサと、前記検査用センサが検出した
情報に基づいて物品の良否の判定を行い、その判定結果
に対応する判定信号を出力する判定手段と、前記判定手
段を構成している回路と独立した回路で構成され、前記
物品センサが物品を検出してから所定時間が経過する間
に、前記判定手段からその物品についての判定信号が出
力されたか否かを調べ、該判定信号が出力されないとき
に異常の発生を示す異常信号を出力する異常発生検出手
段と、前記判定手段を構成している回路と独立した回路
で構成され、前記異常発生検出手段から出力された異常
信号を受けて、異常の発生を報知する報知手段とを備え
ている。
施の形態を説明する。図1は、本発明を適用した物品検
査装置20の構成を示している。
ンベアで構成され、検査対象の物品を所定方向に搬送す
る。
品Wの検査に必要な情報を検出するための検査用センサ
22が配置されている。
検査装置20が重量選別機の場合には、図2のように搬
送手段21の一部を形成する計量用のコンベア22a上
に搬入された物品Wの荷重に対応した信号を荷重センサ
22bによって検出する。
の場合には、図3のように磁界発生器22cによって物
品Wの搬送路に磁界(直流磁界または交番磁界のいずれ
でもよい)を発生し、物品Wがこの磁界中を通過する際
の磁界の変化を磁気センサ22dで検出する。なお、図
3では、磁界を搬送路に直交するように発生している
が、磁界を搬送路に沿った方向に発生させる構成しても
よい。
検出機の場合には、図4のようにX線発生器22eから
物品WにX線を出射し、物品Wを透過したX線をX線セ
ンサ22fで受けて、物品Wの内部の画像情報を検出す
る。
サ22の検査領域に進入する物品Wを検出するための物
品センサ23が配置されている。この物品センサ23
は、例えば物品Wの搬送路を挟んで対向する投光器と受
光器からなり、投光器から出射されて受光器で受光され
る光を物品Wが遮ったときに、受光器から例えばハイレ
ベルの信号を出力する。
入力される。判定手段24は、マイクロコンピュータを
含む回路によって構成されており、検査用センサ22か
ら出力される情報に基づいて、その物品Wが良品か否か
を判定し、その良否の判定結果にそれぞれ対応する判定
信号を出力する。
した検査用センサ22を有している重量選別機であれ
ば、物品Wが検査領域であるコンベア22a上に完全に
搬入してから荷重センサ22bが安定したタイミングに
その出力信号から物品Wの重量を求め、その重量が予め
設定されている許容範囲内にあれば良品判定信号Gを出
力し、重量が許容範囲内になければ不良判定信号NGを
出力する。
センサ22の安定を待って検査に必要な情報を検出する
場合には、物品センサ23で物品が検出されたタイミン
グを基準タイミングとして用いる。
た検査用センサ22を有している金属検出機であれば、
磁気センサ22dの出力信号から物品自体の磁界への影
響分を取り除いた信号のピーク値あるいはボトム値を求
め、この求めた値と予め設定されている基準値とを比較
し、例えば求めた値が基準値より小さいときに良品判定
信号Gを出力し、基準値以上のときに不良判定信号NG
を出力する。
た検査用センサ22を有しているX線異物検出機であれ
ば、X線センサ22fから出力される画像情報と、予め
設定されている良品の画像情報とを比較して、画像情報
が一致したときに良品判定信号Gを出力し、画像情報が
一致しないときに不良判定信号NGを出力する。
品にそれぞれ対応する2つの並列な信号経路で判定信号
を出力するものとし、物品Wを良品と判定したときには
一方の信号経路にハイレベルの2個のパルスを良品判定
信号Gとして出力し、物品Wを不良品と判定したときに
は他方の信号経路にハイレベルの2個のパルスを不良判
定信号NGとして出力する。
査用センサ22の後段に配置された選別機25に入力さ
れる。選別機25は、判定手段24から良品判定信号G
を受けると、検査用センサ22の検査領域を通過した物
品Wを良品としてそのまま通過させ、判定手段24から
不良判定信号NGを受けると、検査用センサ22の検査
領域を通過した物品Wを不良品としてライン上から排除
する。
構成しているマイクロコンピュータとは全く独立し、し
かもソフトウエアによらない回路で構成され、物品セン
サ23が物品Wを検出してから所定時間T(監視時間)
が経過する間に、判定手段24からその物品Wについて
の良否いずれからの判定信号が出力されたか否かを調
べ、いずれの判定信号も出力されないときに異常の発生
を示す異常信号Eを出力する。
された物品Wに対して判定手段24が良否の判定信号を
出力するまでの時間Tsより僅かに長くなるように予め
設定されている。
手段24に対して測定タイミングを決定する時間情報を
設定するように構成されている物品検査装置の場合に
は、この異常発生検出手段26が判定手段24に設定さ
れる時間情報に基づいて監視時間Tを決定する。
示している。この異常発生検出手段26は、物品センサ
23で物品Wが検出される毎に起動して監視時間Tだけ
ハイレベルの信号を出力するタイマ26aと、判定手段
24の良品判定信号Gと不良定信号NGの論理和をとる
オア回路26bと、タイマ26aの出力とオア回路26
bの出力の論理積をとるアンド回路26cと、物品セン
サ23で物品Wが検出される毎にリセットされ、アンド
回路26cから出力されるパルスを計数し、その計数結
果にそれぞれ対応する出力端子にハイレベルの信号を出
力する3進以上のカウンタ26dと、カウンタ26dの
計数結果「2」に対応する出力端子の信号をタイマ26
aの出力の立ち下がりでラッチするラッチ回路26eと
によって構成されている。
は、物品センサ23による物品Wの検出によってタイマ
26aが起動されて監視時間Tが経過するまでに判定手
段24から良品判定信号Gまたは不良判定信号NGの2
個のパルスが出力されるとカウンタ26dの計数結果
「2」に対応する出力端子のデータがハイレベルとな
り、ラッチ回路26eの出力Qがハイレベルとなる。
段24から良品判定信号Gまたは不良判定信号NGの2
個のパルスが出力されないときには、カウンタ26dの
計数結果「2」に対応する出力端子のデータがローレベ
ルとなり、ラッチ回路26eの出力Qがローレベルにな
る。
は、ラッチ回路26eの出力Qが常にハイレベルとな
り、判定手段24に異常が発生して良品判定信号Gまた
は不良判定信号NGがローレベルあるいはハイレベルに
固定された状態になると、ラッチ回路26eの出力Qが
ローレベルに変化することになり、このローレベルの信
号が異常発生信号Eとなる。
信号Eは、報知手段27に入力される。
に所定の音や光を発したり、搬送手段21による物品の
搬送を停止させたり、あるいは選別機25に対して不良
判定信号NGを連続出力して全ての物品をライン上から
排除させることで、異常の発生を近くにいる者に報知
し、良否判定を正しく受けていない物品が後続ラインへ
通過するのを防止する。
は、搬送手段21によって搬送される検査対象の物品W
(i)、W(i+1)、…が物品センサ23を通過する
毎に、物品センサ23から図5の(a)に示すようにハ
イレベル信号が出力され、これらの各物品Wが検査用セ
ンサ22の検査領域に進入すると、その物品の検査に必
要な情報が検査用センサ22によって順次検出されて判
定手段24に入力される。
域に進入した各物品Wに対する良否の判定を順次行い、
例えばi番目の物品W(i)、i+2番目の物品W(i
+2)が良品であれば、図5の(b)のように2つのパ
ルスからなる良品判定信号Gをその物品が物品センサ2
3で検出されたタイミングから時間Tsが経過するまで
に出力し、i+1番目の物品W(i+1)が不良品であ
れば、図5の(c)のように2つのパルスからなる不良
判定信号NGをその物品が物品センサ23で検出された
タイミングから時間Tsが経過するまでに出力する。
が物品センサ23で検出される毎に、図5の(d)のよ
うに時間Tのタイマを起動し、その時間T内に入力され
る判定信号のパルスを図5の(e)のように計数する。
て時間T内に良否いずれかの判定信号を出力している状
態では、常に計数出力「2」に対応する出力端子のハイ
レベル信号がラッチ回路26eでラッチされるため、そ
のラッチ出力は図5の(f)のようにハイレベルとな
る。
で判定手段24の機能が停止して、i+n番目の物品W
(i+n)が検出されてから時間Tが経過する間に良否
いずれの判定信号も出力されなくなると、異常発生検出
手段26内のカウンタ26dの計数結果が「0」(判定
手段24の異常で判定信号のレベルがハイレベルに固定
された場合には「1」となる)となって計数出力「2」
に対応する出力端子のローレベル信号がラッチされるの
で、異常発生検出手段26からは異常発生を示すローレ
ベルの異常信号Eが出力されることになり、この異常の
発生が報知手段27で報知される。
ことが直ちに判り、良否の判定を正しく受けていない物
品の後続ラインへの搬出を防ぐことができる。
のパルスからなる良品判定信号G、不良判定信号NGを
それぞれ別の信号経路から出力し、異常発生検出手段2
6が、それらの判定信号のパルスを計数して異常の発生
を検出していたが、これは本発明を限定するものではな
い。
品判定信号Gと不良判定信号NGを同一の信号経路から
出力し、異常発生検出手段26がその良否2種類のコー
ドと判定手段24に異常が発生したときに出力される信
号とを識別して異常の発生を検出するように構成しても
よい。
装置は、検査対象の物品を搬送する搬送手段と、前記搬
送手段によって搬送される物品が所定の検査領域にある
間に該物品の検査に必要な情報を検出する検査用センサ
と、前記検査領域に進入する物品を検出する物品センサ
と、前記検査用センサが検出した情報に基づいて物品の
良否の判定を行い、その判定結果に対応する判定信号を
出力する判定手段と、前記判定手段を構成している回路
と独立した回路で構成され、前記物品センサが物品を検
出してから所定時間が経過する間に、前記判定手段から
その物品についての判定信号が出力されたか否かを調
べ、該判定信号が出力されないときに異常の発生を示す
異常信号を出力する異常発生検出手段と、前記判定手段
を構成している回路と独立した回路で構成され、前記異
常発生検出手段から出力された異常信号を受けて、異常
の発生を報知する報知手段とを備えている。
走等による異常の発生を確実に検出することができ、良
否判定を正しく受けていない物品の通過を防止すること
ができる。
Claims (1)
- 【請求項1】検査対象の物品を搬送する搬送手段と、 前記搬送手段によって搬送される物品が所定の検査領域
にある間に該物品の検査に必要な情報を検出する検査用
センサと、 前記検査領域に進入する物品を検出する物品センサと、 前記検査用センサが検出した情報に基づいて物品の良否
の判定を行い、その判定結果に対応する判定信号を出力
する判定手段と、 前記判定手段を構成している回路と独立した回路で構成
され、前記物品センサが物品を検出してから所定時間が
経過する間に、前記判定手段からその物品についての判
定信号が出力されたか否かを調べ、該判定信号が出力さ
れないときに異常の発生を示す異常信号を出力する異常
発生検出手段と、 前記判定手段を構成している回路と独立した回路で構成
され、前記異常発生検出手段から出力された異常信号を
受けて、異常の発生を報知する報知手段とを備えた物品
検査装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP2001134377A JP3525252B2 (ja) | 2001-05-01 | 2001-05-01 | 物品検査装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
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JP2001134377A JP3525252B2 (ja) | 2001-05-01 | 2001-05-01 | 物品検査装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JP2002328058A true JP2002328058A (ja) | 2002-11-15 |
JP3525252B2 JP3525252B2 (ja) | 2004-05-10 |
Family
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Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP2001134377A Expired - Fee Related JP3525252B2 (ja) | 2001-05-01 | 2001-05-01 | 物品検査装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
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JP (1) | JP3525252B2 (ja) |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JP2007237069A (ja) * | 2006-03-08 | 2007-09-20 | Anritsu Sanki System Co Ltd | 物品選別装置 |
JP2011031200A (ja) * | 2009-08-04 | 2011-02-17 | Yamato Scale Co Ltd | 検査選別システム |
-
2001
- 2001-05-01 JP JP2001134377A patent/JP3525252B2/ja not_active Expired - Fee Related
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Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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