JPS62299026A - 露光装置 - Google Patents
露光装置Info
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- JPS62299026A JPS62299026A JP61142174A JP14217486A JPS62299026A JP S62299026 A JPS62299026 A JP S62299026A JP 61142174 A JP61142174 A JP 61142174A JP 14217486 A JP14217486 A JP 14217486A JP S62299026 A JPS62299026 A JP S62299026A
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- Japan
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- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 claims description 3
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 claims description 3
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Classifications
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70858—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
- G03F7/70866—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of mask or workpiece
- G03F7/70875—Temperature, e.g. temperature control of masks or workpieces via control of stage temperature
-
- G—PHYSICS
- G03—PHOTOGRAPHY; CINEMATOGRAPHY; ANALOGOUS TECHNIQUES USING WAVES OTHER THAN OPTICAL WAVES; ELECTROGRAPHY; HOLOGRAPHY
- G03F—PHOTOMECHANICAL PRODUCTION OF TEXTURED OR PATTERNED SURFACES, e.g. FOR PRINTING, FOR PROCESSING OF SEMICONDUCTOR DEVICES; MATERIALS THEREFOR; ORIGINALS THEREFOR; APPARATUS SPECIALLY ADAPTED THEREFOR
- G03F7/00—Photomechanical, e.g. photolithographic, production of textured or patterned surfaces, e.g. printing surfaces; Materials therefor, e.g. comprising photoresists; Apparatus specially adapted therefor
- G03F7/70—Microphotolithographic exposure; Apparatus therefor
- G03F7/708—Construction of apparatus, e.g. environment aspects, hygiene aspects or materials
- G03F7/70858—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature
- G03F7/70883—Environment aspects, e.g. pressure of beam-path gas, temperature of optical system
- G03F7/70891—Temperature
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
3、発明の詳細な説明
〔産業上の利用分野〕
本発明は半導体を製造する際使われるウェーハ。
マスク及びレチクル等に塗布した感光材(レジスト)を
露光する露光装置、特に縮小投影露光装置に関するもの
である。
露光する露光装置、特に縮小投影露光装置に関するもの
である。
従来、この種の露光装置では第5図に示すように、光源
1から発生する熱のうち赤外線(熱線)をコルドミラ−
3でカットする工夫がなされている程度が普通であり、
その他に配慮されていたとしても、ある温度の幅をもっ
た冷却水16を冷却コイル15を使って照明系支持部1
7のまわりに流し、あまり熱が投影系支持部13側に直
接伝わらないようにするというような受動的な対策がな
されている程度であった。2はパラボラミラー、4はフ
ィルター等、5は方向変換ミラー、6はレチクル、7は
レチクルプラテンである。8は投影レンズ鏡筒、9は投
影レンズ、 10はウェーハ、 Itはウェーハ移動用
ステージ、12はウェーハステージ用ベアリング、14
はベースである。
1から発生する熱のうち赤外線(熱線)をコルドミラ−
3でカットする工夫がなされている程度が普通であり、
その他に配慮されていたとしても、ある温度の幅をもっ
た冷却水16を冷却コイル15を使って照明系支持部1
7のまわりに流し、あまり熱が投影系支持部13側に直
接伝わらないようにするというような受動的な対策がな
されている程度であった。2はパラボラミラー、4はフ
ィルター等、5は方向変換ミラー、6はレチクル、7は
レチクルプラテンである。8は投影レンズ鏡筒、9は投
影レンズ、 10はウェーハ、 Itはウェーハ移動用
ステージ、12はウェーハステージ用ベアリング、14
はベースである。
上述した従来の露光装置は光源1の熱が照明系支持部1
7、投影系支持部13やベース14を通じて矢印18に
示したように伝わる。
7、投影系支持部13やベース14を通じて矢印18に
示したように伝わる。
このため、光源点灯状態ではレチクル6、レチクルプラ
テン7、投影レンズ鏡筒8、投影レンズ9、ウェーハ1
0、ウェーハ移動用ステージ11等がある程度加熱され
た状態にある。
テン7、投影レンズ鏡筒8、投影レンズ9、ウェーハ1
0、ウェーハ移動用ステージ11等がある程度加熱され
た状態にある。
ところが、光源1には寿命があるため、一定期間毎に交
換が必要であり、或いはオペレータが長時間不在の場合
には安全上光源を消灯しなければならない等の理由によ
り光源1を消灯する必要がある。
換が必要であり、或いはオペレータが長時間不在の場合
には安全上光源を消灯しなければならない等の理由によ
り光源1を消灯する必要がある。
光源1を消灯すると、発熱源の温度が低下し、前述した
レチクル6、・・・・・・等の温度も低下する。すると
、温度差分だけ各部が物理的伸縮を起し、それが原因で
投影光学系の変動が起こる。
レチクル6、・・・・・・等の温度も低下する。すると
、温度差分だけ各部が物理的伸縮を起し、それが原因で
投影光学系の変動が起こる。
このため、再点灯時、光学特性が安定状態になるまで数
十時間もかかり、各部によっては温度が安定しても光学
特性が元に戻らないという問題がある。
十時間もかかり、各部によっては温度が安定しても光学
特性が元に戻らないという問題がある。
又、光源を定輝度に保つタイプの照明系では光源の経時
的輝度変化を電流等を増加させることにより補償してい
るが、この方式では光源の発熱量も経時変化するため、
光学特性が変動するという問題がある。
的輝度変化を電流等を増加させることにより補償してい
るが、この方式では光源の発熱量も経時変化するため、
光学特性が変動するという問題がある。
本発明は半導体製造用のウェーハ、マスク及びレチクル
等の露光を行う装置において、露光用光源の消灯時と点
灯時との装置温度差をなくし、装置主要部の温度を常に
一定に保つ光源温度補償機構を備えたことを特徴とする
露光装置である。
等の露光を行う装置において、露光用光源の消灯時と点
灯時との装置温度差をなくし、装置主要部の温度を常に
一定に保つ光源温度補償機構を備えたことを特徴とする
露光装置である。
以下、本発明の一実施例を図面により説明する。
本発明の露光装置は温度コントロールをクローズトルー
プで行う場合に装置各部の温度補償を行う光源温度補償
機構として、温調ユニット、温度センサ、ヒータ又は冷
却器を有している。
プで行う場合に装置各部の温度補償を行う光源温度補償
機構として、温調ユニット、温度センサ、ヒータ又は冷
却器を有している。
又、温度コントロールをオープンループで行う場合に装
置各部の温度補償を行う光源温度補償機構としてシーケ
ンサ又はマイクロコンピュータ、ヒータ又は冷却器を有
している。
置各部の温度補償を行う光源温度補償機構としてシーケ
ンサ又はマイクロコンピュータ、ヒータ又は冷却器を有
している。
実際はこれら2つの方式を組み合わせて使うほうがより
精密な温度コントロールができる。以下、具体例を示す
。
精密な温度コントロールができる。以下、具体例を示す
。
(実施例1)
第1図は本発明の第1の実施例を示すものである。
光源室23内にヒータ22を取り付け、このヒータ22
の発熱量を温調器20から得られる信号によりコントロ
ールし、温度センサ19部の温度が一定になるように保
つ。21は電源を示す。また一方、ある温度幅をもった
冷却水16を冷却コイル15を使って照明系支持部17
のまわりに流し、熱が投影系支持部13側に直接伝わら
ないようにする。
の発熱量を温調器20から得られる信号によりコントロ
ールし、温度センサ19部の温度が一定になるように保
つ。21は電源を示す。また一方、ある温度幅をもった
冷却水16を冷却コイル15を使って照明系支持部17
のまわりに流し、熱が投影系支持部13側に直接伝わら
ないようにする。
これにより、光源1の点灯時と消灯時とにおける装置の
温度差をなくし、レチクル6、レチクルプラテン7、投
影レンズ鏡WJ8、投影レンズ9、ウェーハ10、ウェ
ーハ移動用ステージ11等の温度コントロールをクロー
ズトループ方式にて行う。
温度差をなくし、レチクル6、レチクルプラテン7、投
影レンズ鏡WJ8、投影レンズ9、ウェーハ10、ウェ
ーハ移動用ステージ11等の温度コントロールをクロー
ズトループ方式にて行う。
センサ19位置とヒータ22位置は図に示した位置でな
くとも良い。例えば、特に温度変化の問題となる投影レ
ンズ鏡筒8にセンサ19をつけるのが理想的ではあるが
、この位置では熱が分散され温度変化が小さいため、温
度変化にたいする感度が高く、安定なセンサを使う必要
がある。
くとも良い。例えば、特に温度変化の問題となる投影レ
ンズ鏡筒8にセンサ19をつけるのが理想的ではあるが
、この位置では熱が分散され温度変化が小さいため、温
度変化にたいする感度が高く、安定なセンサを使う必要
がある。
又、ヒータ22を取り付ける位置は第1図以外のところ
でも良いが、投影系支持部13以降の温度分布を一定に
することが大切なため照明系支持部17より上につける
ことが望ましい。
でも良いが、投影系支持部13以降の温度分布を一定に
することが大切なため照明系支持部17より上につける
ことが望ましい。
(実施例2)
第2図はヒータ22のかわりに冷却器24によって投影
系支持部13以降の温度分布を一定に保つ例である。温
度センサ19で目標温度との差を検出し、温調器20に
よって冷却器24の冷却能力を変化させ、冷却水16を
冷却コイル15に送り込んで照明系支持部17のまわり
に流し、投影系支持部13以降の温度分布を一定に保つ
クローズトループの制御を第1図同様に行っている6 (実施例3) 第1図と第2図の実施例ではクローズトループの制御例
を説明したが、第3図にオープンループの制御例を示す
。第1図の実施例ではヒータはなるべく発熱源に近いほ
うが全体の温度分布が変わらないという観点から光源室
23内に入れたが、ここでは温度コントロールする際の
時間遅れを少なくしたいという観点から照明系支持部1
7に取り付けた例を示す。光源信号に基づいてシーケン
サ又はマイクロコンピュータ25により温度設定を行い
、その出力により温調器20にてヒータ22の温度を変
化させる。一方、冷却水16を冷却コイル15を使って
照明系支持部17のまわりに流す。第4図にオープンル
ープでコントロールする場合の光源信号と照明系支持部
温度とヒータパワーの関係例を示す。
系支持部13以降の温度分布を一定に保つ例である。温
度センサ19で目標温度との差を検出し、温調器20に
よって冷却器24の冷却能力を変化させ、冷却水16を
冷却コイル15に送り込んで照明系支持部17のまわり
に流し、投影系支持部13以降の温度分布を一定に保つ
クローズトループの制御を第1図同様に行っている6 (実施例3) 第1図と第2図の実施例ではクローズトループの制御例
を説明したが、第3図にオープンループの制御例を示す
。第1図の実施例ではヒータはなるべく発熱源に近いほ
うが全体の温度分布が変わらないという観点から光源室
23内に入れたが、ここでは温度コントロールする際の
時間遅れを少なくしたいという観点から照明系支持部1
7に取り付けた例を示す。光源信号に基づいてシーケン
サ又はマイクロコンピュータ25により温度設定を行い
、その出力により温調器20にてヒータ22の温度を変
化させる。一方、冷却水16を冷却コイル15を使って
照明系支持部17のまわりに流す。第4図にオープンル
ープでコントロールする場合の光源信号と照明系支持部
温度とヒータパワーの関係例を示す。
光源が消灯されると照明系支持部17の温度はだんだん
下がるが、その下がる分を補償すべくシーケンシャルに
ヒータパワーを上昇させるわけである。
下がるが、その下がる分を補償すべくシーケンシャルに
ヒータパワーを上昇させるわけである。
点灯時は全く逆の変化となる。
実際に本発明を実施する場合にはこれまで述べたいくつ
かの方法を組み合わせて使うのが良い結果が得られる。
かの方法を組み合わせて使うのが良い結果が得られる。
又、クローズトループ、オープンループいずれの場合で
も光源の発熱量(消費電力、温度でも可)を光源信号と
して取り込み、それに応じた温度コントロールを行えば
、さらにきめ細いコントロールができ、特に、光源が定
輝度化されている場合の光源温度変化や、光源の故障、
事故等にも光学特性が影響されないものとできる。
も光源の発熱量(消費電力、温度でも可)を光源信号と
して取り込み、それに応じた温度コントロールを行えば
、さらにきめ細いコントロールができ、特に、光源が定
輝度化されている場合の光源温度変化や、光源の故障、
事故等にも光学特性が影響されないものとできる。
これまでの例では温度補償系は装置側とは別の独立した
形であったが、より緻密な制御を行うには装置側にドツ
キングし、装置の稼働状態にマツチしたものとすればな
お良い。
形であったが、より緻密な制御を行うには装置側にドツ
キングし、装置の稼働状態にマツチしたものとすればな
お良い。
以上説明したように本発明は光源部の温度変化を補償し
、装置主要部の温度を一定に保つようにしたので、光源
の点灯、消灯、光源を定輝度化した場合の光源発熱量の
変化により起こる光学特性の変動をなくすことができる
。これにより装置の調整、検査時間を短縮し、装置の稼
働率を向上し、装置が安定することによる製品品質を安
定化できる効果がある。
、装置主要部の温度を一定に保つようにしたので、光源
の点灯、消灯、光源を定輝度化した場合の光源発熱量の
変化により起こる光学特性の変動をなくすことができる
。これにより装置の調整、検査時間を短縮し、装置の稼
働率を向上し、装置が安定することによる製品品質を安
定化できる効果がある。
第1図、第2図、第3図は本発明の具体的実施例を示す
構成図、第4図は第3図のオープンループを行う際の温
度制御例を示す図、第5図は従来の露光装置例を示す構
成図である。 1・・・光源、2・・・パラボラミラー、3・・・コー
ルドミラー、4・・・フィルター等、5・・・方向変換
ミラー、6・・レチクル、7・・・レチクルプラテン、
8・投影レンズ鏡筒、9・・・投影レンズ、10・・・
ウェーハ、11・・・ウェーハ移動用ステージ、12・
・ウェーハステージ用ベアリング、13・・・投影系支
持部、14・・・ベース、15・・・冷却コイル、16
・・・冷却水、17・・・照明系支持部、19・・温度
センサ、20・・・温調器、21・・・電源、22・・
・ヒータ、23・・・光源室、24・・・冷却器、25
・・・シーケンサ又はマイクロコンピュータ 特許出願人 山形日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 菅 野 中′・1−1第1図 1光源 1光源 第4図
構成図、第4図は第3図のオープンループを行う際の温
度制御例を示す図、第5図は従来の露光装置例を示す構
成図である。 1・・・光源、2・・・パラボラミラー、3・・・コー
ルドミラー、4・・・フィルター等、5・・・方向変換
ミラー、6・・レチクル、7・・・レチクルプラテン、
8・投影レンズ鏡筒、9・・・投影レンズ、10・・・
ウェーハ、11・・・ウェーハ移動用ステージ、12・
・ウェーハステージ用ベアリング、13・・・投影系支
持部、14・・・ベース、15・・・冷却コイル、16
・・・冷却水、17・・・照明系支持部、19・・温度
センサ、20・・・温調器、21・・・電源、22・・
・ヒータ、23・・・光源室、24・・・冷却器、25
・・・シーケンサ又はマイクロコンピュータ 特許出願人 山形日本電気株式会社 代 理 人 弁理士 菅 野 中′・1−1第1図 1光源 1光源 第4図
Claims (1)
- (1)半導体製造用のウェーハ、マスク及びレチクル等
の露光を行う装置において、露光用光源の消灯時と点灯
時との装置温度差をなくし、装置主要部の温度を常に一
定に保つ光源温度補償機構を備えたことを特徴とする露
光装置。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61142174A JPS62299026A (ja) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | 露光装置 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61142174A JPS62299026A (ja) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | 露光装置 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62299026A true JPS62299026A (ja) | 1987-12-26 |
Family
ID=15309081
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61142174A Pending JPS62299026A (ja) | 1986-06-18 | 1986-06-18 | 露光装置 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62299026A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999028789A1 (de) * | 1997-11-28 | 1999-06-10 | Carl Zeiss | Uv-optisches system mit reduzierter alterung |
-
1986
- 1986-06-18 JP JP61142174A patent/JPS62299026A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
WO1999028789A1 (de) * | 1997-11-28 | 1999-06-10 | Carl Zeiss | Uv-optisches system mit reduzierter alterung |
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