JPS62276798A - Ｘ線断層撮影装置 - Google Patents
Ｘ線断層撮影装置Info
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- JPS62276798A JPS62276798A JP61119166A JP11916686A JPS62276798A JP S62276798 A JPS62276798 A JP S62276798A JP 61119166 A JP61119166 A JP 61119166A JP 11916686 A JP11916686 A JP 11916686A JP S62276798 A JPS62276798 A JP S62276798A
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Landscapes
- X-Ray Techniques (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
３、発明の詳細な説明
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は、被写体を介してＸ線管及びこれと対向して配
置されたフィルムが一体的に回転することによりフィル
ムに被写体の断層像を撮影するＸ線断層撮影装置に関す
るものでおる。
置されたフィルムが一体的に回転することによりフィル
ムに被写体の断層像を撮影するＸ線断層撮影装置に関す
るものでおる。
（従来の技術）
Ｘ線断層撮影装置として第６図に示すように被写体１を
支持する寝台２及びこれ己直交する向きに支柱３が設け
られ、支柱３の上部にはＸ線管４が取り付けられると共
に寝台２の下部にはフィルム５が配置された構造のもの
が知られている。
支持する寝台２及びこれ己直交する向きに支柱３が設け
られ、支柱３の上部にはＸ線管４が取り付けられると共
に寝台２の下部にはフィルム５が配置された構造のもの
が知られている。
被写体１を介してＸ線管４及びこれに対向して配置され
たフィルム５は、第７図のように支点Ｐを中心として図
の中心位置Ｃから左方向位置りにθ° （−θ°とする
）及び右方向位置Ｒにθ。
たフィルム５は、第７図のように支点Ｐを中心として図
の中心位置Ｃから左方向位置りにθ° （−θ°とする
）及び右方向位置Ｒにθ。
（＋θ°とする）一体的に回転可能となっており、位置
りからＲに至る（又はこの逆方向に至る）２θ°角度（
曝射角度）Ｘ線管４が移動しながらＸ線を曝射すること
により、フィルム５には支点Ｐを含んだ点Ａ、Ｂを結ぶ
被写体１の断層像が跋影される。
りからＲに至る（又はこの逆方向に至る）２θ°角度（
曝射角度）Ｘ線管４が移動しながらＸ線を曝射すること
により、フィルム５には支点Ｐを含んだ点Ａ、Ｂを結ぶ
被写体１の断層像が跋影される。
中心位置Ｃから見た左右方向角度−θ°及び＋θ°に対
しては等しくＸ線曝射を行うことが、左右領域でバラン
スのとれた断層＠（像の濃さにバラツキがない）を得る
上での望ましい条件となる。
しては等しくＸ線曝射を行うことが、左右領域でバラン
スのとれた断層＠（像の濃さにバラツキがない）を得る
上での望ましい条件となる。
曝射角度２θ°は目的、用途等に応じて任意に設定する
ことができる。
ことができる。
Ｘ線管４が位置しからＲに至る時計方向に向って移動す
る場合を例にとると、Ｘ線管４は位置し及びＲにおいて
各々！！！！射開始及び曝射終了のタイミングを正確に
とることが必要である。このようなＸ線管４の曝射開始
及び終了のタイミングはＸ線コントローラ９によって制
御される。Ｘ線管曝射位置検出手段６はに線管４の回転
角度２θ°に応じて第８図のようにリニア関係で電圧■
（信号）に変換されるような機能を有しており、Ｘ線管
４が中心位置Ｃ（０°）にあるときはＯ■を出力するよ
うに設定され、ポテンショメータ等によって構成するこ
とができる。
る場合を例にとると、Ｘ線管４は位置し及びＲにおいて
各々！！！！射開始及び曝射終了のタイミングを正確に
とることが必要である。このようなＸ線管４の曝射開始
及び終了のタイミングはＸ線コントローラ９によって制
御される。Ｘ線管曝射位置検出手段６はに線管４の回転
角度２θ°に応じて第８図のようにリニア関係で電圧■
（信号）に変換されるような機能を有しており、Ｘ線管
４が中心位置Ｃ（０°）にあるときはＯ■を出力するよ
うに設定され、ポテンショメータ等によって構成するこ
とができる。
従って出力電圧■を読むことによりＸ線管４の位置を知
ることができる。
ることができる。
Ｘ線＠剣開始及び終了電圧発生手段７は、Ｘ線管曝射位
置検出手段６の出力との関係でＸ線曝射開始時の電圧（
例えば第８図で角度−θ１°に対応した一■１）及びＸ
線ＩＨＭ終了時の電圧（例えば第８図で角度十θ１°に
対応した十Ｖ１ ）を設定する。比較手段８は前記Ｘ線
管曝射位置検出手段６及び、Ｘ線曝射開始及び終了電圧
発生手段７の両出力を比較し、前者６の値が後者７のＸ
線曝射開始電圧及び終了電圧間（例えば第８図で一■１
〜＋■１間）に含まれる場合のみ前記Ｘ線コントローラ
９に曝射信号を出力する。従ってＸ線コントローラ９は
高圧電源１０を介してＸ線管４を１ｍ！躬開始及び終了
させるようにそのタイミングを制御する。
置検出手段６の出力との関係でＸ線曝射開始時の電圧（
例えば第８図で角度−θ１°に対応した一■１）及びＸ
線ＩＨＭ終了時の電圧（例えば第８図で角度十θ１°に
対応した十Ｖ１ ）を設定する。比較手段８は前記Ｘ線
管曝射位置検出手段６及び、Ｘ線曝射開始及び終了電圧
発生手段７の両出力を比較し、前者６の値が後者７のＸ
線曝射開始電圧及び終了電圧間（例えば第８図で一■１
〜＋■１間）に含まれる場合のみ前記Ｘ線コントローラ
９に曝射信号を出力する。従ってＸ線コントローラ９は
高圧電源１０を介してＸ線管４を１ｍ！躬開始及び終了
させるようにそのタイミングを制御する。
ところでこのようなＸ線断層撮影装置において前記Ｘ線
コントローラ９は一般にリレーを用いて構成されている
ため、第９図のように時刻ｔ１〜ｔ３の幅の曝射信＠（
ａ）を受けてからＸ線管４に対して曝射を開始させ又は
終了させるまでに各々遅れ時間τ１．τ２が生じること
になる。このためＸ線管４に加えられる管電圧（ｂ）は
各々時刻ｔ２〜ｔ４に遅れたものとなる。この結果中心
位置Ｃから見た左右方向角度−θ°及び＋θ°に対して
等しくＸ線曝射が行われなくなるので、左右領域でバラ
ンスのとれた断層像が得られなくなる。
コントローラ９は一般にリレーを用いて構成されている
ため、第９図のように時刻ｔ１〜ｔ３の幅の曝射信＠（
ａ）を受けてからＸ線管４に対して曝射を開始させ又は
終了させるまでに各々遅れ時間τ１．τ２が生じること
になる。このためＸ線管４に加えられる管電圧（ｂ）は
各々時刻ｔ２〜ｔ４に遅れたものとなる。この結果中心
位置Ｃから見た左右方向角度−θ°及び＋θ°に対して
等しくＸ線曝射が行われなくなるので、左右領域でバラ
ンスのとれた断層像が得られなくなる。
（発明が解決しようとする問題点）
このように従来のＸ線断層撮影装置ではＸ線コントロー
ラが曝射信号を受けてから実際に動作するまでに遅れ時
間が生じるので、曝射角度全体にわたって均一なＸ線＠
銅が行われないという問題がある。
ラが曝射信号を受けてから実際に動作するまでに遅れ時
間が生じるので、曝射角度全体にわたって均一なＸ線＠
銅が行われないという問題がある。
本発明は以上の問題に対処して成されたもので、Ｘ線コ
ントローラの動作遅れ時間を補正するようにしたＸ線断
層撮影装置を提供することを目的とするものである。
ントローラの動作遅れ時間を補正するようにしたＸ線断
層撮影装置を提供することを目的とするものである。
し発明の構成］
（問題点を解決するための手段）
上記目的を達成するために本発明は、Ｘ線コントローラ
が陽射信号を受けてからＸ線管が＠銅を開始し又は終了
するまでの遅れ時間を予め計測しこの遅れ時間分を信号
に変換して前記Ｘ線曝射開始及び終了信号発生手段に加
える曝射開始タイミング補正手段及び＠躬終了タイミン
グ補正手段を備えることを特徴としている。
が陽射信号を受けてからＸ線管が＠銅を開始し又は終了
するまでの遅れ時間を予め計測しこの遅れ時間分を信号
に変換して前記Ｘ線曝射開始及び終了信号発生手段に加
える曝射開始タイミング補正手段及び＠躬終了タイミン
グ補正手段を備えることを特徴としている。
（作 用）
曝射開始タイミング補正手段及び曝射終了タイミング補
正手段による補正信号（電圧）がＸ線曝射開始及び終了
信号補正手段に加えられるので、比較手段からＸ線コン
トローラに出力される曝射信号は予めＸ線コントローラ
の動作遅れ時間を見込んだものとなる。従ってＸＩＳコ
ントローラは早目にＸ線管に対して＠躬を開始させ又は
終了させるので、正確なタイミングでｌ［射開始又は終
了させることができる。
正手段による補正信号（電圧）がＸ線曝射開始及び終了
信号補正手段に加えられるので、比較手段からＸ線コン
トローラに出力される曝射信号は予めＸ線コントローラ
の動作遅れ時間を見込んだものとなる。従ってＸＩＳコ
ントローラは早目にＸ線管に対して＠躬を開始させ又は
終了させるので、正確なタイミングでｌ［射開始又は終
了させることができる。
（実施例）
第１図は本発明実施例のＸ線断層撮影装置を示すブロッ
ク図で、１２は被写体１１を支持する寝台、１３はＸ線
管１４が取り付けられた支柱、１５は被写体１１を介し
てＸ線管１４と対向する位置に配置されたフィルムであ
る。
ク図で、１２は被写体１１を支持する寝台、１３はＸ線
管１４が取り付けられた支柱、１５は被写体１１を介し
てＸ線管１４と対向する位置に配置されたフィルムであ
る。
１６はＸ線管曝射位置検出手段でポテンショメータ等か
ら構成されたＸ線管１４の回転角度 ２θ°に応じて対
応した電圧を出力する。Ｘ線＠射開始及び終了電圧発生
手段１７は、前記Ｘ線管曝射位置検出手段１６の出力と
の関係でＸ線曝射開始時の電圧−ｖｌ及びＸ線曝射終了
時の電圧十Ｖ１を設定するａ１８・は比較手段で前記Ｘ
線管曝射位置検出手段１６及び、ＸＩ９曝射開始及び終
了電圧発生手段１７の両出力を比較し、前者１６の値が
後者１７のｘｍａｍ射開始電圧及び終了電圧間（−Ｖ１
〜＋Ｖ１）に含まれる場合のみＸ線コントローラ１９に
曝射信号を出力する。Ｘ線コントローラ１９は曝射信号
を受けると高圧電源２０を介してＸ線管１４の曝射開始
及び終了のタイミングを制御する。
ら構成されたＸ線管１４の回転角度 ２θ°に応じて対
応した電圧を出力する。Ｘ線＠射開始及び終了電圧発生
手段１７は、前記Ｘ線管曝射位置検出手段１６の出力と
の関係でＸ線曝射開始時の電圧−ｖｌ及びＸ線曝射終了
時の電圧十Ｖ１を設定するａ１８・は比較手段で前記Ｘ
線管曝射位置検出手段１６及び、ＸＩ９曝射開始及び終
了電圧発生手段１７の両出力を比較し、前者１６の値が
後者１７のｘｍａｍ射開始電圧及び終了電圧間（−Ｖ１
〜＋Ｖ１）に含まれる場合のみＸ線コントローラ１９に
曝射信号を出力する。Ｘ線コントローラ１９は曝射信号
を受けると高圧電源２０を介してＸ線管１４の曝射開始
及び終了のタイミングを制御する。
前記比較手段１８は例えばＸ線管１４を時計方向に移動
させる場合、第２図（ａ＞、（ｂ）のように構成するこ
とができる。比較器２１の一方の端子Ｔ１には後述の曝
射開始タイミング補正手段２５によって前記−■１が補
正されたＸ Ｉ２ ＠ 開開始時の電圧Ｖｓ ［第２図
（ａ）の場合］又は後述の曝射終了タイミング補正手段
２６によって前記＋Ｖ１が補正されたＸ線＠躬終了時の
電圧ＶＥ［第２図（ｂ）の場合］を加えておく。また他
方の端子Ｔ２にはＸ線管曝射位置検出手段１６の出力電
圧Ｖｐを加えるようにする。
させる場合、第２図（ａ＞、（ｂ）のように構成するこ
とができる。比較器２１の一方の端子Ｔ１には後述の曝
射開始タイミング補正手段２５によって前記−■１が補
正されたＸ Ｉ２ ＠ 開開始時の電圧Ｖｓ ［第２図
（ａ）の場合］又は後述の曝射終了タイミング補正手段
２６によって前記＋Ｖ１が補正されたＸ線＠躬終了時の
電圧ＶＥ［第２図（ｂ）の場合］を加えておく。また他
方の端子Ｔ２にはＸ線管曝射位置検出手段１６の出力電
圧Ｖｐを加えるようにする。
比較器２１にはフォトカプラ２２が接続され、フォトカ
プラ２２はＬＥＤ２３及びフォトダイオード２４を含ん
でいる。
プラ２２はＬＥＤ２３及びフォトダイオード２４を含ん
でいる。
第２図（ａ）の場合他方の端子Ｔ２に前記Ｖｓ以上のＶ
ｐが加えられると、比較器２１は電流を出力するように
動作するのでフォトカプラ２２のＬＥＤ２３及びフォト
ダイオード２４が共にオンするため、フォトカプラ２２
は端子ＴＯから接地電位（＆、ＯＶ）を出力し前記Ｘ線
コントローラ１９に曝射信号として加える。前記Ｖｓ以
下のＶｐが加えられると、比較器２１は電流を出力しな
いのでフォトカプラ２２は端子Ｔｏから電源電位を出力
するが、これは曝射信号とはならないように予め設定さ
れているのでＸ線コントローラ１９は動作しない。
ｐが加えられると、比較器２１は電流を出力するように
動作するのでフォトカプラ２２のＬＥＤ２３及びフォト
ダイオード２４が共にオンするため、フォトカプラ２２
は端子ＴＯから接地電位（＆、ＯＶ）を出力し前記Ｘ線
コントローラ１９に曝射信号として加える。前記Ｖｓ以
下のＶｐが加えられると、比較器２１は電流を出力しな
いのでフォトカプラ２２は端子Ｔｏから電源電位を出力
するが、これは曝射信号とはならないように予め設定さ
れているのでＸ線コントローラ１９は動作しない。
同様にして第２図（ｂ）の場合は端子Ｔ２に前記ＶＥ以
下のＶｐが加えられているときは比較器２１は電流を出
力するが、ＶＥ以上のＶｐが加えられたときは比較器２
１は電流を出力しないのでフォトカプラ２２はオフする
。
下のＶｐが加えられているときは比較器２１は電流を出
力するが、ＶＥ以上のＶｐが加えられたときは比較器２
１は電流を出力しないのでフォトカプラ２２はオフする
。
従って比較器２１はＶｓ−ＶＥ間のＶｐがＸ線管曝射位
置検出手段１６から出力された場合のみ、Ｘ線コントロ
ーラ１９にＩｌｊ信号を出力することができる。
置検出手段１６から出力された場合のみ、Ｘ線コントロ
ーラ１９にＩｌｊ信号を出力することができる。
Ｘ線管１４を反時計方向に移動させる場合にも同じ原理
で第３図（ａ＞、（ｂ）のように構成することができる
。ただしこの場合にはＶｓとＶＥとは逆の関係となり、
ＶＥが曝射開始電圧、Ｖｓが曝射終了電圧となる。
で第３図（ａ＞、（ｂ）のように構成することができる
。ただしこの場合にはＶｓとＶＥとは逆の関係となり、
ＶＥが曝射開始電圧、Ｖｓが曝射終了電圧となる。
２５はｆｆｌ射開始タイミング補正手段で、Ｘ線コント
ローラ１９が陽射信号を受けてからＸ線管１４が＠銅を
開始するまでの遅れ時間τ１を予め計測しこの時間分を
電圧に変換し補正電圧として前記Ｘ！１Ｑｌｌｊｌ射開
始及び終了電圧発生手段１７に加える。同様にして２６
は曝射終了タイミング補正手段で、Ｘ線コントローラ１
９が曝射信＠（この場合は曝射を終了するための信号）
を受けてからＸ線管１４がａ射を終了するまでの遅れ時
間τ２を予め計測しこの遅れ時間分を電圧に変換し補正
電圧として前記ｘｌｉＱ曝躬開始及び終了電圧発生手段
１７に加える。Ｘ線コントローラ１９の遅れ時間τ１．
τ２は予め曝射角度２θ°の設定ごとに、例えばピンホ
ールが設けられた鉛試料を用いて躍影を行った後に計算
によって求められる。このτ１．τ２に基づいて補正電
圧Ｖｃは次式のようにして計算される。
ローラ１９が陽射信号を受けてからＸ線管１４が＠銅を
開始するまでの遅れ時間τ１を予め計測しこの時間分を
電圧に変換し補正電圧として前記Ｘ！１Ｑｌｌｊｌ射開
始及び終了電圧発生手段１７に加える。同様にして２６
は曝射終了タイミング補正手段で、Ｘ線コントローラ１
９が曝射信＠（この場合は曝射を終了するための信号）
を受けてからＸ線管１４がａ射を終了するまでの遅れ時
間τ２を予め計測しこの遅れ時間分を電圧に変換し補正
電圧として前記ｘｌｉＱ曝躬開始及び終了電圧発生手段
１７に加える。Ｘ線コントローラ１９の遅れ時間τ１．
τ２は予め曝射角度２θ°の設定ごとに、例えばピンホ
ールが設けられた鉛試料を用いて躍影を行った後に計算
によって求められる。このτ１．τ２に基づいて補正電
圧Ｖｃは次式のようにして計算される。
Ｖｃ＝τ１ （又はτ２ ）（Ｓ）ＸＳＰ （０／５
）ＸＶＵここで、τ１．τ２ ：Ｘ線コントローラ１９
の遅れ時間、 ５ｐＳＸ線管１４の移動速度、 ＶＵ二角度１°当りの電圧。
）ＸＶＵここで、τ１．τ２ ：Ｘ線コントローラ１９
の遅れ時間、 ５ｐＳＸ線管１４の移動速度、 ＶＵ二角度１°当りの電圧。
上式から明らかなように補正電圧ＶｃはＸ線管１４の移
動速度（Ｘ＃Ｑ曝躬角度／ＸｔｉＱ＠射時間）によって
異なってくる。次表はＸ線曝射角度とＸ線曝削時間の一
例を示すものである。
動速度（Ｘ＃Ｑ曝躬角度／ＸｔｉＱ＠射時間）によって
異なってくる。次表はＸ線曝射角度とＸ線曝削時間の一
例を示すものである。
前記曝射開始タイミング補正手段２５による補正電圧の
設定原理を説明する。
設定原理を説明する。
第４図に示すような角度θ−電電圧時特性おいて、時計
方向にＸ線管１４が移動して２θ°の曝射角度（−θ°
〜＋θ°）にわたってＸ線曝射が行われるとすると、Ｘ
線コントローラ１９の動作開始遅れ時間τ１に相当した
＋Δθ１°の位置だけ一θ°の位置よりも早めた位置に
おいてＸ線曝射開始を行う必要がある。従って＋Δθ１
°に対応したーΔ■１を補正電圧として設定してＸ線陽
射開始及び終了電圧発生手段１７に加える。これに楽っ
て第２図（ａ）の端子Ｔ１に加えられるＶｓは前記手段
１７の電圧−Ｖｌが＋Δ■１によって補正されたＩＶｓ
ｌ＝１＋Δｖ１が設定され、Ｖｓ＝−Ｖｌ−Δ■１がＸ
線＠剣開始電圧として設定されることになる（Ｖｌ ＞
Ｏ，Δｖ１〉Ｏ）。
方向にＸ線管１４が移動して２θ°の曝射角度（−θ°
〜＋θ°）にわたってＸ線曝射が行われるとすると、Ｘ
線コントローラ１９の動作開始遅れ時間τ１に相当した
＋Δθ１°の位置だけ一θ°の位置よりも早めた位置に
おいてＸ線曝射開始を行う必要がある。従って＋Δθ１
°に対応したーΔ■１を補正電圧として設定してＸ線陽
射開始及び終了電圧発生手段１７に加える。これに楽っ
て第２図（ａ）の端子Ｔ１に加えられるＶｓは前記手段
１７の電圧−Ｖｌが＋Δ■１によって補正されたＩＶｓ
ｌ＝１＋Δｖ１が設定され、Ｖｓ＝−Ｖｌ−Δ■１がＸ
線＠剣開始電圧として設定されることになる（Ｖｌ ＞
Ｏ，Δｖ１〉Ｏ）。
一方＠躬終了タイミング補正手段２６は、第４図におい
てＸ線コントローラ１９の動作終了遅れ時間τ２に相当
した＋Δθ１°の位置だけ＋θ１の位置よりも早めた位
置においてＸ線曝射終了を行う必要がある。従って＋Δ
θ１°に対応した＋Δｖ１を補正電圧として設定してＸ
線曝射開始及び終了電圧発生手段１７に加える。これに
よって第２図（ｂ）の端子Ｔ１に加えられるＶＥは前記
手段１７の電圧＋■１からΔ■１がマイナスされた電圧
すなわちＶＥ ＝Ｖｔ −４Ｖｔ がＸ線ＩＩ！！射終
了電圧として設定されることになる。
てＸ線コントローラ１９の動作終了遅れ時間τ２に相当
した＋Δθ１°の位置だけ＋θ１の位置よりも早めた位
置においてＸ線曝射終了を行う必要がある。従って＋Δ
θ１°に対応した＋Δｖ１を補正電圧として設定してＸ
線曝射開始及び終了電圧発生手段１７に加える。これに
よって第２図（ｂ）の端子Ｔ１に加えられるＶＥは前記
手段１７の電圧＋■１からΔ■１がマイナスされた電圧
すなわちＶＥ ＝Ｖｔ −４Ｖｔ がＸ線ＩＩ！！射終
了電圧として設定されることになる。
すなわちＸ線曝射開始電圧は絶対値が大きくなる方向に
補正され、逆にｘｍａｉ射終了電圧は絶対値が小さくな
る方向に補正されることになる。
補正され、逆にｘｍａｉ射終了電圧は絶対値が小さくな
る方向に補正されることになる。
Ｘ線管１４が反時計方向に移動した場合には、移動方向
が逆になることによりＶＳ、ＶＥの関係も逆となり、第
３図（ａ）、（ｂ）のようになる。
が逆になることによりＶＳ、ＶＥの関係も逆となり、第
３図（ａ）、（ｂ）のようになる。
その動作は第２図（ａ）、（ｂ）に準じて行われる。
このように比較手段１８に加えられる一方の入力電圧を
補正することにより、他方の入力電圧としてＸ線管曝射
位置検出手段１６からの検出電圧が加えられたとき、比
較手段１８は検出電圧が［（−Ｖｌ−八Ｖ１ （ＯＮ）
１〜［（Ｖｔ−ΔＶｔ ）（ＯＦＦ）］間に含まれる場
合のみＸ線コントローラ１つに曝射信号を出力するよう
に動作する。
補正することにより、他方の入力電圧としてＸ線管曝射
位置検出手段１６からの検出電圧が加えられたとき、比
較手段１８は検出電圧が［（−Ｖｌ−八Ｖ１ （ＯＮ）
１〜［（Ｖｔ−ΔＶｔ ）（ＯＦＦ）］間に含まれる場
合のみＸ線コントローラ１つに曝射信号を出力するよう
に動作する。
従ってＸ線コントローラ１９は第５図のように遅れ時間
τ１．τ２分早められて曝射信＠（ａ）を受けるので、
Ｘ線管１４に対してτ１．τ２だけ早めた管電圧（ｂ）
を加えるように動作する。このためＸ線管１４は曝射開
始及び終了タイミングを各々位置り及びＲに正確にとる
ことができる。
τ１．τ２分早められて曝射信＠（ａ）を受けるので、
Ｘ線管１４に対してτ１．τ２だけ早めた管電圧（ｂ）
を加えるように動作する。このためＸ線管１４は曝射開
始及び終了タイミングを各々位置り及びＲに正確にとる
ことができる。
従って中心位置Ｃから児た左右方向角度−θ。
及び＋θ°にわたる曝射角度２θ°に対して等しくＸ線
曝射を行うことができるので、左右領域でバランスのと
れた断層像を得ることができる。Ｘ線管１４のＩ曝射角
度２θ°は任意に設定することができ、各曝射角度に応
じて補正電圧を設定することができる。
曝射を行うことができるので、左右領域でバランスのと
れた断層像を得ることができる。Ｘ線管１４のＩ曝射角
度２θ°は任意に設定することができ、各曝射角度に応
じて補正電圧を設定することができる。
し発明の効果］
以上述べたように本発明によれば、Ｘ線コントローラの
動作遅れ時間が補正されるので、曝射角度全体にわたっ
て均一なＸ線曝射を行うことができる。
動作遅れ時間が補正されるので、曝射角度全体にわたっ
て均一なＸ線曝射を行うことができる。
第１図は本発明実施例のＸ線断層撮影装置を示すブロッ
ク図、第２図（ａ）、（ｂ）及び第３図（ａ）、（ｂ）
は共に本発明Ｘ線断層撮影装置の比較手段の一構成例を
示す回路図、第４図は本発明を説明するための電圧−角
度特性図、第５図（ａ）、（ｂ）は本発明により得られ
る信号のタイムチャート、第６図は従来のＸ線断層撮影
装置を示すブロック図、第７図はＸ線管の動作を説明す
る概略図、第８図はＸ線管ｌ躬位置検出手段の原理を説
明する電圧−角度特性図、第９図は従来得られる信号の
タイムチャートである。 １１・・・被写体、１４・・・Ｘ線管、１５・・・フィ
ルム、１６・・・Ｘ線管曝射位置検出手段、 １７・・・Ｘ線曝射開始及び終了電圧発生手段、１８・
・・比較手段、１９・・・Ｘ線コントローラ、２１・・
・比較器、２２・・・フォトカプラ、２５・・・ＩＩＩ
射開始タイミング補正手段、２６・・・曝射終了タイミ
ング補正手段。 第１図 ２１しこ虻孫 （ａ）−ｅ イＱ・」 （ｂ） ＋ θ イ刺 九門セ七゛の子引東才南」丑 ） （ぞミＪ、ｒ、Ａと
才痢゛正伺も ２ 図 Ｌ−Ｒの工易イト２
１メ弊咎 （ａ） −〇イｅ弓 第３図Ｒ−Ｌ遜・爺 ｑコ ＋ 璽 弔６図
ク図、第２図（ａ）、（ｂ）及び第３図（ａ）、（ｂ）
は共に本発明Ｘ線断層撮影装置の比較手段の一構成例を
示す回路図、第４図は本発明を説明するための電圧−角
度特性図、第５図（ａ）、（ｂ）は本発明により得られ
る信号のタイムチャート、第６図は従来のＸ線断層撮影
装置を示すブロック図、第７図はＸ線管の動作を説明す
る概略図、第８図はＸ線管ｌ躬位置検出手段の原理を説
明する電圧−角度特性図、第９図は従来得られる信号の
タイムチャートである。 １１・・・被写体、１４・・・Ｘ線管、１５・・・フィ
ルム、１６・・・Ｘ線管曝射位置検出手段、 １７・・・Ｘ線曝射開始及び終了電圧発生手段、１８・
・・比較手段、１９・・・Ｘ線コントローラ、２１・・
・比較器、２２・・・フォトカプラ、２５・・・ＩＩＩ
射開始タイミング補正手段、２６・・・曝射終了タイミ
ング補正手段。 第１図 ２１しこ虻孫 （ａ）−ｅ イＱ・」 （ｂ） ＋ θ イ刺 九門セ七゛の子引東才南」丑 ） （ぞミＪ、ｒ、Ａと
才痢゛正伺も ２ 図 Ｌ−Ｒの工易イト２
１メ弊咎 （ａ） −〇イｅ弓 第３図Ｒ−Ｌ遜・爺 ｑコ ＋ 璽 弔６図
Claims (1)
- 被写体を介してＸ線管及びこれと対向して配置されたフ
ィルムを一体的に回転させてフィルムに被写体の断層像
を撮影し、Ｘ線管の曝射開始位置及び終了位置を検出す
るＸ線管曝射位置検出手段と、曝射開始時及び終了時の
信号を設定するＸ線曝射開始及び終了信号発生手段と、
Ｘ線管の曝射開始及び終了タイミングを制御するＸ線コ
ントローラと、前記Ｘ線管曝射位置検出手段とＸ線曝射
開始及び終了信号発生手段の両出力を比較して前記Ｘ線
コントローラを制御する比較手段とを備えるＸ線断層撮
影装置において、Ｘ線コントローラが曝射信号を受けて
からＸ線管が曝射を開始し又は終了するまでの遅れ時間
を予め計測しこの遅れ時間分を信号に変換して前記Ｘ線
曝射開始及び終了信号発生手段に加える曝射開始タイミ
ング補正手段及び曝射終了タイミング補正手段を備える
ことを特徴とするＸ線断層撮影装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61119166A JPS62276798A (ja) | 1986-05-26 | 1986-05-26 | Ｘ線断層撮影装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61119166A JPS62276798A (ja) | 1986-05-26 | 1986-05-26 | Ｘ線断層撮影装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62276798A true JPS62276798A (ja) | 1987-12-01 |
Family
ID=14754543
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61119166A Pending JPS62276798A (ja) | 1986-05-26 | 1986-05-26 | Ｘ線断層撮影装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62276798A (ja) |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2413670A1 (en) | 2010-07-30 | 2012-02-01 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray imaging apparatus and measurement method |
| JP2012115367A (ja) * | 2010-11-30 | 2012-06-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1986
- 1986-05-26 JP JP61119166A patent/JPS62276798A/ja active Pending
Cited By (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP2413670A1 (en) | 2010-07-30 | 2012-02-01 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray imaging apparatus and measurement method |
| CN102342840A (zh) * | 2010-07-30 | 2012-02-08 | 佳能株式会社 | X射线成像装置和测量方法 |
| JP2012029920A (ja) * | 2010-07-30 | 2012-02-16 | Canon Inc | Ｘ線撮影装置及び測定方法 |
| US8611500B2 (en) | 2010-07-30 | 2013-12-17 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray imaging apparatus and measurement method |
| US8948342B2 (en) | 2010-07-30 | 2015-02-03 | Canon Kabushiki Kaisha | X-ray imaging apparatus and measurement method |
| JP2012115367A (ja) * | 2010-11-30 | 2012-06-21 | Ge Medical Systems Global Technology Co Llc | Ｘ線ｃｔ装置 |
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