JPS62273633A - ２レ−ザ光ヘツド - Google Patents

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 ３、発明の詳細な説明 産業上の利用分野 本発明は光デイスク装置における光ヘッドに関し、特に
２個の光源からの光ビームを合成して情報媒体に照射し
、その反射光は分離して取り出す２レーザ光ヘッドに関
する。

従来の技術 近年光源として半導体レーザを用い、前記半導体レーザ
光をφ１μｍ以下の微小スポット光に絞シ、感光材料を
蒸着したディスク状の情報媒体に照射し、ビデオ信号や
デジタル信号を同心円状あるいはスパイラル状に記録再
生する光デイスク装置が提案されている。

この装置の応用例として、ふたつのレーザ光源を持ち、
両レーザビームを同時に絞り、ディスク上に互いを近接
させて照射する装置が考えられる。

かかる装置の例として、一方の光をトラック方向に長い
長円形に絞り、この絞られた微小スポット光で情報を消
去し、他方の光はディスク上で略円形に絞り、この略円
形の微小スポｙト光で情報の記録再生を行なうようにし
た装置や、あるいは一方の光で熱的バイアスを与え、他
方の光で記録再生を行なう装置や、あるいは再光ビーム
をディスク上で略円形に絞り、一方の光で記録し、同時
に他方の光で前記記録された信号を読み出して記録信号
を瞬時に再生し、正しい記録が行なわれたかどうかをチ
ェックできる装置等が考えられる。

従来の２レーザ光ヘッドとしては、例えば特開昭８０−
６１９２８号公報に示されているように、第２図のよう
な構成になっていた。第２図ａは平面図、同図すは側面
図、同図Ｃは正面図である。

まず第１の半導体レーザ１０よシの波長λ１の光ビーム
１０　ａは、集光レンズ１１により平行光になった後、
拡大プリズム１２で拡大（拡大倍率ｍ＝工２／工、）さ
れＳ偏光で偏光ビームスプリッタ１３に入射する。この
偏光ビームスプリフタ１３で反射した光ビーム１０　ａ
は第１のλ／４板１４゜絞りレンズ４を経て、記録再生
用の光スポット２５を形成する。また第２の半導体レー
ザ２０よりの波長λ２の光ビーム２０ａは集光レンズ２
１で集められた後、三角プリズム２４で光路変更されＳ
偏光で偏光ビームスプリフタ１３に入射する。次に偏光
ビームスプリッタ１３で反射した光ビーム２０ａは、第
２のλ／４板１板金５り、第３図に示すような波長λ１
を透過し、波長λ２を反射する特性を持つ波長選択フィ
ルタ１６で反射され、再度筒２のλ／４板１板金５てＰ
偏光となって偏光ビームスプリッタ１３に入射する。従
って光ビーム１０ａは、偏光ビームスプリッタ１３を透
過し、第１のλ／４板１６、絞りレンズ４を経てディス
ク６に設けられたトラック２７上に消去用の光スポット
２６を形成する。つぎにディスク５よシの前記両スポッ
トの反射光は、第１のλ／４板１４と偏光ビームスプリ
ッタ１３、波長選択フィルタ１６により、波長λ１の光
ビーム１０ａのみが分離され、分割プリズム１７を経て
、再生信号およびサーボ信号を得るための光検出器１８
．１９に照射され前記各信号が取り出される。

発明が解決しようとする問題点 上記のような構成において、以下にその問題点を説明す
る。実用上、波長選択フィルタ１６は波長λ２の光ビー
ムに対して、透過率を０％（反射率が１００％　）にす
ることはできない。第３図は波長選択フィルタ１６の分
光特性を示したものであり、波長選択フィルタ１６を構
成する誘電体多層膜の層数を偏光ビームスプリフタ等光
学部品に使われる多層膜の層数より多くしても（３０層
−６０層）、波長λ２の透過率Ｔλ２は０１層程度存在
する。一方、波長選択フィルタ１６は、ディスク５で反
射して比較的エネルギー密度の低くなった波長λ１の光
ビーム１０　ａと半導体レーザよりのエネルギー密度の
高い波長λ２の光ビーム２０ａとを分離するため、光検
出器への影響度合は、波長λ２の透過率より大きくなる
。さらに光ビーム１０ａと光ビーム２０ａのパワー比、
波長選択フィルタ１６までの光伝達効率等によシ、光検
出器１８．１９の受光量の２〜８％は光ビーム２０ａが
漏れ込んでいる。

このため、ディスク５を反射した光ビーム１０ａより検
出されるフォーカス信号及びトラッキング信号に光ビー
ム２０ａがノイズとして重畳し、制御性能を劣化してい
る。

問題点を解決するための手段 本発明は上記のような問題点を解決するため、波長λ１
．λ２の光ビームを合成して略同一方向に出射する偏光
ビームスプリッタと、波長λ１の光ビームを透過し波長
λ２の光ビーム反射する特性を持ち、かつディスクよシ
反射した波長λ１の光ビームとレーザ光源からの波長λ
２の光ビームが各々対称な一定の角度を持って入射する
よう配された波長選択フィルタと、波長λ１のディスク
よりの反射光ビームを検出する光検出器を備え、波長選
択フィルタで若干溝れる波長λ２の光ビームが光検出器
へ入射しないよう構成したものである。

作　　用 本発明は上記のような構成によシ、波長選択フィルタで
若干溝れる波長λ２の光ビームと、ディスクから反射し
た波長λ１の光ビームの光軸は一定の角度を持つため光
路が異な９波長λ２の光ビームが光検出器に入射するこ
とはない。このため、従来のように波長λ２の光ビーム
がフォーカス及びトラッキング信号を乱すことは無くな
り、安定してフォーカス制御、トラッキング制御を分け
ることができる。

実施例 以下本発明の実施例を図面にもとづいて説明する。第１
図は本発明の一実施例を示した図で、ａはディスク側か
ら見た平面図、ｂは側面図である。

第１図において１０は第１の半導体レーザで、波長λ１
の光ビーム１０ａを出力する。第１の半導体レーザ１０
は、たとえばディスク上で略円形に絞られ、記録、再生
およびフォーカス、トラッキング制御等のサーボ信号検
出のために用いられる。

まず波長λ１の光ビーム１０ａは、集光レンズ１１で平
行な光ビームになシ、反射ミラー３２によって反射され
、拡大面Ａを有するプリズム２２に入射する。拡大面Ａ
では屈折する時に一方向のビーム幅が１１から１２　＜
　Ｉ　２／　Ｉ　１１２．５　）へと拡大され、光ビー
ム１０ａが略円形になるよう整形される。プリズム２３
のＢ面には誘電体多層膜から成る偏光ビームスプリッタ
膜がコートされ、プリズム２２と共に偏光ビームスプリ
ッタを形成している。略円形となった前記光ビーム１０
ａはこの偏光ビームスプリッタ膜にＰ偏光で入射し、こ
の面を透過して光路変更用の三角プリズム２８、第１の
λ／４板１４、絞りレンズ４を経てディスク上で略円形
の光スポット２５をつくる。一方ディスクよりの光スポ
ツト２６０反射光は、絞りレンズ４、第１のλ／４板１
４、三角プリズム２８を経て、λ／４板１４の作用によ
りＳ偏光となって偏光ビームスプリッタ膜がコートされ
たＢ面に入射し、この面で反射する。Ｂ面で反射した光
ビーム１０ａは第２のλ／４板１板金５過した後、従来
例と同様。

に波長λ１を透、過し波長λ２を反射する第３図のよう
な特性を持った波長選択フィルタ１６に入射角θ１で入
射する。従って波長λ、の光ビーム１０ａはここを出射
角θ２で透過し、反射ミラー２９、検出レンズ３３、反
射ミラー３ｏを経て、公知の方法でフォーカス、トラッ
キングサーボ信号および再生信号を得るための光検出器
３１に照射する。

次に第２の半導体レーザ２ｏより出射する波長λ２の光
ビーム２０ａの光路について述べる。この光ビーム２０
　ａは、たとえばディスクＳ上のトラック方向に細長い
長円形・に絞られ、情報の消去用に用いられる。

まず第２の半導体レーザ２ｏからの光ビーム２０ａ［、
集光レンズ２１にて集光され、ディスク上で長円形の光
スポット２６にするための光学素子３４（例えばシリン
ドリカルレンズ）を透過し、前記Ｂ面のビームスプリッ
タ膜へＰ偏光で入射され、この面を透過する。前記透過
した光ビーム２０ａは第２のλ／４板１板金６て、波長
選択フィルタ１６に入射角θ１で入射する。波長選択フ
ィルタ１６は波長λ２を反射するから光ビーム２０ａは
反射角θ１で反射し、再び第２のλ／４板１板金５過し
て、今度はＳ偏光となってＢ面の偏光ビームスプリッタ
膜に入射する。偏光ビームスプリッタ膜に入射した光ビ
ーム２０ａは、この膜で反射するが、プリズム２３０角
度θ３はこの反射した光ビーム２０ａが光ビーム１０ａ
と略同一方向になるよう設定されている。この光ビーム
２０ａは光路変更用の三角プリズム２８、第１のλ／４
板１４、絞りレンズ４を経て、ディスク６上で長円形の
光スポット２６がつくられる。次に、ディスクＳ上の光
スポット２６の反射光は、絞りレンズ４、第１のλ／４
板１４、三角プリズム２８を経てλ／４板１４０作用に
よりＰ偏光となり、偏光ビームスプリッタ膜を透過して
プリズム２２のＡ面から出射する。なお、Ａ面から出射
した光ビーム２０ａと光ビーム１０　ａはその光軸を僅
かにずらしておくことで、光ビーム２０ａが第１の半導
体レーザ１０に集中して入射することを避けるよう構成
している。

一方、波長選択フィルタ１６は、実用上第３図に示すよ
うに若干の透過率Ｔλ２を持つため、前記波長選択フィ
ルタ１６に入射角θ１で入射した光ビーム２０ａは一部
が透過する。しかしこの透過した光ビーム２０　ａの出
射角θ２は、この波長選択フィルタ１６を透過する波長
λ１の光ビーム１０　ａと反対方向になるため、ここを
透過した両党ビームは２θ２の角度で光軸がずれること
になる。−例としてプリズム２３の屈折率を１．５１と
し入射角θ１を５°とすると出射角θ２ば７．５゜とな
り、両光ビームの光軸のひらき角は１５°になる。従っ
て波長選択フィルタ１６を出射した両党ビームの光路長
が２０閣あれば５．４ｖａｎ離れることになる。光ビー
ム１０ａと光ビーム２０ａのビーム径は、レンズ開口径
等で制限され一般的には４〜５閣程度であるから、上記
両党ビームが６．４団離れれば、光ビーム２０ａの干渉
は無くなる。

よって本発明によれば、波長選択フィルタ１６で波長λ
２の光ビーム２０ａが漏れても光検出器３１に到達する
ことはなく、光検出器はディスク５から反射した波長λ
１の光ビーム１０ａのみを検出スるため、光ビーム２０
　ａによる外乱を避けることができる。

発明の詳細 な説明したように本発明の構成によれば、実用上避けら
れない波長選択フィルタでの漏れを除去できるため、波
長λ２の光ビームが漏れても光検出器に入射することは
ない。従って光検出器から得られるフォーカス制御信号
、及びトラッキング制御信号のＣ／Ｎを向上でき、精度
よく安定した制御を行なうことができる。

また、波長選択フィルタから波長λ２の光ビームが若干
もれてもよいことから、波長選択フィルタを構成する誘
電体多層膜を低層化できるため、製造する上からも有利
である。

【図面の簡単な説明】

第１図は本発明の一実施例における２レーザ光ヘッドの
原理図、第２図は従来の２ビーム光ヘッドの原理図、第
３図は２レーザ光ヘッドで用いる波長選択フィルタの特
性図である。 ４・・・・・・絞りレンズ、６・・・・・・ディスク、
１０・・・・・・第１の半導体レーザ、１０ａ・・・・
・・波長λ１の光ビーム、１６・・・・・・波長選択フ
ィルタ、２ｏ・・・・・・第２の半導体レーザ、２０ａ
・・・・・・波長λ２の光ビーム、３１・・・・・・光
検出器、Ｂ・・・・・・偏光ビームスプリッタ膜面。 代理人の氏名　弁理士　中　尾　敏　男　ほか１名筆　
１　図 三轡ブリズへ 第２図 ／９太挟戚も

Claims (1)

【特許請求の範囲】
1. それぞれの出射光が略平行な光ビームになるよう構成さ
   れたλ＿１、λ＿２の波長を持つ２個のレーザ光源と、
   両光ビームを合成して略同一方向に出射する偏光ビーム
   スプリッタと、波長λ＿１の光ビームを透過し波長λ＿
   ２の光ビームを反射する特性を持ち、かつディスクより
   反射した波長λ＿１の光ビームとレーザ光源からの波長
   λ＿２の光ビームが各々対称な一定の入射角を持って入
   射するよう配された波長選択フィルタと、波長λ＿１の
   ディスクよりの反射光ビームを検出する光検出器を備え
   た２レーザ光ヘッド。