JPS62265584A - 受動距離測定方法および装置 - Google Patents

受動距離測定方法および装置

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JPS62265584A
JPS62265584A JP62040514A JP4051487A JPS62265584A JP S62265584 A JPS62265584 A JP S62265584A JP 62040514 A JP62040514 A JP 62040514A JP 4051487 A JP4051487 A JP 4051487A JP S62265584 A JPS62265584 A JP S62265584A
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    • G01S3/46Systems for determining direction or deviation from predetermined direction using antennas spaced apart and measuring phase or time difference between signals therefrom, i.e. path-difference systems
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、方向および距離(range)の受動探知に
関し、特に、移動中のプラットホームと静止した非協働
エミッタとの間の距離を受動測定する方法と装置に関す
る。
(従来技術およびその問題点) 低空航空機および海陸運搬クラフトの生存性および軍事
効果は、敵のレーダに向かう防御兵器を、迅速かつ正確
に位置決めして、回避、鎮圧および破壊する能力にかか
っている。
移動中のプラットホームから、静止した地上設置エミッ
タの位置を受動探知する多くの方法があり、その最も一
般的なものとしては、方位角/仰角測定(AZ/EL)
法、三角測量法、および多航空機到着時間別測定(TD
OA)法がある。これらの方法は、さらに、到着方向(
DOA)を測定するだけのものと。
DOA情報と距離情報とを与えるものとに分けられる。
現用のDOA測定法としては、振幅比較法と位相干渉法
とがあり、前者は通常、360度をカバーする4台の広
帯域直交アンテナから成り、隣接アンテナに入来する信
号の振幅を比較して、 DOA情報とするものであるが
、両者の精度は共に、3乃至10度である(rマイクロ
波ジャーナル(Microwave Journal)
J誌、1982年9月号、59乃至76ページに記載さ
れているエイ・アール・バロン(A、R,Baron)
その他による論文「受動方向探知および信号発信地探査
(Passive Directisn and Si
gnal Location)J参照、)。
位相干渉法の最も簡単なものは、移動中のプラットホー
ムに、離間設置された一対のアンテナから成り、平面波
が通過するバスレングス(pathlength)に差
があるため、両アンテナに対して斜角入来する平面波を
一方のアンテナで他より早く受信する。両アンテナから
出される信号を処理すると、それらの位相差により、雨
アンテナに対するDOAを間接測定できる。
干渉計によるDOA 31g定精度は、アンテナ間隔お
よび方位角と仰角の関数であり、装置は、0.1乃至1
度RMSの操作精度を有するように構成されている。ま
た、2つ以上の素子から成る干渉計も知られている。
エミッタ位置探査に関しては、TDOA法が最も正確で
あり、1個のエミッタに照準を合わせる複数(通常3台
)のプラットホームを用いて、各プラットホームレシー
バの到着時間差を測定し、プラットホームの周知位置と
共に処理して、エミッタの位置を探査する。この方法は
複数のプラットホームと、複雑な距離測定および計時装
置を必要とするため、単一移動プラットホーム方式には
適しない。
AZ/EL法は、信号が到着する方位角と仰角、および
プラットホーム高度を測定することにより。
エミッタ位置を探査し、エミッタが地上レベルにあると
想定した、三角法による関係から、傾斜距離を算出する
。距離誤差は、標的距離および高度の関数であり、プラ
ットホームの高度が高い場合に限り、精度が高くなる。
また、地形の関係から、外部情報が“得られない場合は
、測定誤差が大きくなる。
AX/EL位置探査システムは、方位角と仰角情報を与
える一対の直交位相干渉計から成っている。
三角測量法は、プラットホームが、エミッタに対する移
動路を通過後に2回以上DOA測定を行い、周知の三角
法により、距離を算出する。
また、三角測量法を、振幅比較法または干渉法と組合せ
て、DOA情報を測定することもできるが、干渉法を用
いても、精度はせいぜい10乃至1程度しか向上しない
ため、装置の複雑化より、精度向上が優先する場合に限
られる。
このため、干渉計ベースのAX / EL法、または干
渉計ベースの三角法を利用する単一移動プラットホーム
用の高精度受動距離測定システムを想定することができ
るが、双方共に問題があり、その用途が限定されてしま
う。先ず、特にプラットホーム飛行方向に関する、非常
に正確な航行情報を必要とする。
上記のように、AX / ELシステムは、プラットホ
ームの高度およびエミッタ距離に対する依存度が高いた
め、地形が引起す誤差を生じ易い。
三角測量法は、相対的に手間取り、実際の相対的位置幅
(true bearing 5pread)、すなわ
ち測定値間の、エミッタに対する移動プラットホームの
路程角度に依存するばかりでなく、傍受角が小さい、す
なわち、干渉計の視距離(boresight )に対
する角度が大きいと、性能および精度が低下するととも
に、何秒間かにわたって、エミッタ信号データを収集し
なければならないため、山の多い地形で、エミッタを走
査したり、また低空飛行をすると、信号が散発的に中断
されるため、性能が低下する。
(問題点を解決するための手段) したがって、本発明の目的は、移動中の単一プラットホ
ームから、静止した非協働エミッタまでの距離を、受動
測定する方法および装置であって、干渉計ベースシステ
ムの高精度を備えるとともに、プラットホーム高度およ
びまたはエミッタ距離に依存せず、従来の三角測定法よ
り早いばかりでなく、傍受角が小さくても効果的であり
、所望のプラットホーム飛行方向精度を、現用の演算装
置で容易に達成できるレベルまで下げることができる方
法および装置を提供することにある。
本発明の上記その他の目的および利点は、プラットホー
ム航路に沿った2点で、DOA角を測定する全解析式(
fully resolved)短基線干渉計(Sho
rtBaseline Interferomete)
(SBI)+2点間の位相差の正確(ρrecise)
であるがかなりあいまいな(ambiguous)変化
を測定する微分解析式%式%( ズリンキング(phase linking)処理で、
SBI測定値を用いて、LBI%定値のあいまいさを解
決する、コンピュータを含む信号処理手段を用いる技術
によって達成される。
狭範の実施態様では1本発明は、位相コード化、周波数
コード化、またはランダム周波数ホップ化(rando
m−frequency−hopped)信号に対して
も、機能し得る方法および装置を提供している。
また、装置が予測可能な高精度で、確実に作動するよう
にする、誤差モデルおよび最適化判定基準が示されてい
る。
(実施例) 次に、添付図面を参照して、本発明の好適実施例を説明
する。
第1図は、従来の信号プラットホーム受動距離測定方法
に共通する理論モデルを示す基本的相関図である。
移動するプラットホームは、辺R,−R,間の頂点に、
エミッタを配した三角形の他辺りを通過する。
正弦法を用いて、エミッタまでの距離R2を導く。
上記の導関数を用いて、角度θ0.e2測定誤差に対す
る距離誤差E(R2)感度を求める。
角度差(0□−01)が大きくなるにつれ、距離誤差E
(R2)が小さくなり、測定点間の時間が長びくにつれ
、角度差(θ、−O工)が大きくなることが分かる。
このため、距離誤差を最小にするには、エミッタに対す
る角変化、および測定時間を最大にする必要がある。測
定時間を短縮するには、測定精度を高めなければならな
い。
上式中、最初の2項の分母に、Sin (θ2−θ□)
を有し、第3項に5in2(θ2−θ、)を有している
ため、角変化測定誤差E(θ2−01)は、他項より距
離誤差に大きく影響する。
したがって、角変化測定を改善することにより、(a)
所定距離測定時間で精度を高めたり、(b)短時間で所
望距離精度を得ることができる。
第2図は、長さDを有するとともに、移動するプラット
ホームの移動線に対して角度αで配向された2素子干渉
計を示す。
入来する電磁波を、平面波で概算できるように受信アン
テナ間距離りが、エミッタまでの距離より小さくなると
、平面波がカバーする路程長(length ofρa
th)の差δによって、一方のアンテナが他のアンテナ
より早く、プラットホーム進路に対して角度θでアンテ
ナを打撃する平面波を受信する。
受信信号を処理すると、到着時間差、すなわち2πラジ
アン係数に比例する位相差φが得られる。
δ  φ λ 2π δ=DS工0β 、 式中β=(α−θ)−π/2 およびλ=信号波長である。
三角法から Sinβ=Cos(θ−α)。
したがって、 ん および 上記微分から、信号到来角変化dθ に対する位相変化
dφが得られる。したがって、 ん および 上式に関し、プラットホーム移動路に沿った2点で、そ
れぞれ干渉計による測定を行うとともに、エミッタに対
するプラットホームの角位置変化を、微分方程式で表わ
せるに充分程度、前記測定値を近づけ、(θ2−0□)
をΔθで、またLを■Δt(Vは、測定点間を通過する
プラットホーム速度である)で代入すると、次式が得ら
れる。
位相で示す到来角導関数を、微分方程式にし、距離を代
入すると、距離Rを、時間に対する位相変化率で表わす
次式が得られる。
上記公式中、干渉計の長さを任意に長くして、エミッタ
に対するプラットホーム移動の結果である位相変化率を
最大にできるため、精度を高めることができる。
しかし、位相測定に固有の2πあいまいさくambig
uity)を無視すると、極度な誤差が生じる。
この方法は、一般に長基線干渉計測定法と呼ばれる。
したがって、単一の長基線干渉計(LBI)を用いるシ
ステムにより、測定値を所望精度にすることができるが
、かなりの制約がある。
干渉計は、係数2π位相を測定できるだけであるため、
+πから−πへの遷移を観察するには、位相周波数測定
を行う必要があり、このため、地形の変化に妨害されて
、信号が中断されたり、信号伝送が間欠的または短時間
に行われたりすると、性能が低下する。また、レシーバ
を使用できなくなるため、多くの標的を同時測定し、新
たな動きを捜索する能力が低下する。
上記の説明から、その他は全て等価として、干渉計アパ
ーチャ、すなわちアンテナ間の距離りを大きくすること
により、所定の位相誤差dφに対して、θを非常に正確
に測定できることがわかる。
また、干渉計は、係数2πに対する位相差を測定するた
め、エミッタに対する角度を正確に測定できる最大視野
は、次式から求められる。
したがって、干渉計に、πラジアン程度の比較的広い視
野を持たせるには、その基線りを、半波長以下程度にす
る。
しかし、上記のように、D値が大きいと、測定精度が最
大になる。このため、単一の干渉計を用いる測定システ
ムの場合は、正確な測定値を算出するに充分程度、基線
りを長くしつつも、相対的に視野が広いシステムで、y
s定値をフェーズリンキングできる程度の間隔を置いて
、正確に測定するに充分程度、基線を短かくして、エミ
ッタ位置を測定しなければならない。
しかし、角度θ1.θ2を正確に測定する全解析式SB
Iと、エミッタに対する角変化(θ2−01)を測定す
る微分解析式LBIとを組入れたシステムであれば、何
度もLBI位相を測定せずに、測定点間の角度差(θ2
−θ、)を、非常に正確に測定しつつ、上記矛盾を解消
できる。
LBIは、非常に正確であると同時にかなりあいまいな
測定手段であるが、これを、実際角度ではなく、角変化
の測定に限定して使用すれば、その高精度性を活かせる
次に、SBI角測定値と、LBI31定値とを相関づけ
て、LBI測定値をフェーズリンキングできるようにす
れば、あいまいさを許容レベルまで低減できる。
SBIは、地形的妨害により信号積をなくし、レシーバ
を時分割することにより、同時に多数のエミッタの距離
を測定できるようにするとともに、信号獲得機能を果た
せるようにする。
本発明の方法は、SBI機能と、LBI機能とを組合せ
て、フェースリンキングすることにより、LBI長さ:
 SBI長さ比におおむね比例するSBI単独使用以上
に、受動距離測定精度を高めることができるとともに、
所定時間内で高精度測定したり、短時間で所定精度を達
成できる。
第3図は、本発明の基本的等式を得るより一般的な距離
測定相関図である。
移動プラットホームは、エミッタに対する任意航路をた
どり、時間の関数として、高度、飛行方向、横揺れ、縦
揺れ、片揺れ、および位置等の、公知の慣性航法装置で
得られるデータを含む航行データ(NAV)の取得手段
を装備しているものとする。
また、進路に沿って時間T0およびT、に2点で測定し
、2点間の線分り中間点における、測定等式を引出し、
距離Rおよび中間点線分に対するエミッタの角位置θを
求める。
これらの中間点値が得られたら、従来の三角法を応用し
て、その他任意地点にあるプラットホームの現在位置か
らの距離、または緯度経度、07M座標等の包括的基準
システムにおけるエミッタ位置を計算する。
三角法および得られた距離測定等式を用いることにより
、2つの定式が得られる。
。。、G、=0°゛(0・)+0°t(o・)。
式中、■=中間点における線分りに対するエミッタ角位
置、 θ。=時間t=T、における線分に対するエミッタ角位
置、 θ、=時間t=71における線分りに対するエミッタ角
位置。
△ R=線分り中間点におけるエミッタ傾斜距離、α=ニブ
ラットホーム動線に対するLBI角方位、N、=プラッ
トホームLBIの信号サイクル長=2πD/λ、 Δφ=2点T0・T1間における計算されたLBI位相
差変化。
あいまいな2つのLBI位相測定間で発生する2π軸番
数を計算して、フェーズリンキングを達成する。この方
法では、2つのSBI角度を用いて、 LBIの正確な
位相差範囲を算定する。誤差バジェット(error 
budgets)を処理すると、この幅は、0.999
の確率で≦2πとなる。
次に正確だがあいまいなLBH位相差を、適宜2πイン
クレメントに照合し、次式により、明確な予測位相差Δ
φp(サイクル)を求める。
式中Δθは、測定されたあいまいな位相差、およびnは
、その解消整数である。
次に、次式から、地点T、、TL間の明確な位相差変化
を求める。
Δφ=Δφ+2πn 。
上記で、次式から算出されるプラットホーム一時移動路
に対する地点T。およびT8におけるエミッタ角位置か
ら、エミッタの角位置θ。およびθ1を求める。
式中、β=ニブラットホーム動路に対するSBI角位置
、およびα=SBI長さ。
次に、オイラー(Euler)角変換を用いて、上記数
値およびLBI位相測定値を修正して、2点におけるプ
ラットホームの横揺れおよび縦揺れを求める。
同様に、2測定点における航行方向に差が出る場合は、
LBI位相変化を示しているためこれを計算して、明確
な位相変化から減算する。
2点間の直線に対する2測定点におけるプラットホーム
航行方角H0およびHl、LBI配向角α、および第2
測定点におけるSBI測定測定角上1し1次式から、航
行方向差の原因となる位相変化ΔφHを計算する。
ΔφH=N、[Co5(θ、+a+H1)−Cos(θ
、+(!+HO)コ。
上式から、θ。およびθ1を用いる式より精度の高い数
値が求められる。
線分り中間点から、エミッタまでの正確な距離Rが得ら
れれば、第2点T1におけるプラットホームエミッタ間
の正確な距離は、次式から求められる。
1機の移動するプラットホームから、レーダ信号の非協
働エミッタまでの距離を受動測定する好適方法は、プラ
ットホーム航路に沿った2連続点において、信号波長を
測定する工程、 SBIにより、2点間の明確な信号位相差を測定する工
程、 LBIにより、2点間のあいまいな信号位相差を測定す
る工程、 航路装置(NAU)により、2点および2点間における
プラットホームの位置および高度を測定する工程、 NAUm定値から、2点間の直−線距離および方向を計
算する工程。
SBI 測定値から、2点におけるプラットホーム一時
移動線に対するエミッタの明確な角位置を計算する工程
得られたエミッタ角位置から、2点におけるプラットホ
ームの横揺れ、縦揺れおよび片揺れに対して修正された
直線分に対するエミッタの明確な角位置を計算する工程
、 LBI測定値から、2点間の信号位相差のあいまいな変
化を計算する工程、 得られた角位置およびあいまいな変化から、2点間の信
号位相差の明確な変化を計算する工程。
2点におけるプラットホーム横揺れ、縦揺れ、および飛
行方向に対して修正された信号位相差の明確な変化を計
算する工程、 得られた信号波長、直線長さ、直線分に対するエミッタ
の2点における角位置、および修正された明確な2点間
位相差変化から、線分中間点からエミッタまでの正確な
斜距離および角位置を計算する工程、および °  第2点におけるエミッタまでの正確なプラットホ
ーム斜距離および角位置を計算する工程から成る。
上式は、線分中間点から、エミッタまでの斜距離を計算
するものであるが、次式から、実測プラットホーム高度
Aに対して、算定値を修正することにより、直角(Ca
rtesian)座標距離Rc、および角度θ。に変換
できる。
R,=4 第4図は、斜距離Rと斜角θ、および直角座標距離R6
と角θ。の関係を示す相関図である6上記分析では、2
点T、、T1で、一時的な測定を行うことを想定してい
るが、実際は、信号反射その他の多重路誤差により、性
能が低下する。
そのため、好適実施例では、誤差源を最少にするため2
点で測定した、1つ以上のパルスの短時間の初期部分に
わたって、関係パラメータを測定するものとし、特に、
例証実施例では、パルスの最初の100ナノ秒にわたっ
て、信号パラメータを測定するものとする(干渉計によ
る位相周波数測定に用いられている現用位相量子化器の
範ちゅうに入る)。
したがって、確率論的理由により、多数パルスにわたる
関連パラメータ測定値を平均化することにより、ff(
Nは、各点で行う個別パルス測定数である)の関数で、
ノイズ誘発位相誤差を低減できることが分かる。
その結果、好適実施例では、2点の各点で、複数の連続
パルスにわたって、関連パラメータが、平均化されるも
のとし、また例証実施例では、各点で、少くとも12個
の連続パルスにわたって、関連パラメータが平均化され
るものとしている。
したがって、本発明方法の代替実施例では、各点で、信
号波長、SBI位相差およびLBI位相差等の関連パラ
メータを、12連続パルスの最初の100ナノ秒にわた
って測定し、平均化する。
差モデルの税目 距離測定式を微分し、距離で割ることにより、次の3つ
の代表誤差項(その二乗和様が、距離誤差(%)になる
)から成る理論上の誤差モデルが得られる。
Sin (θ+α)Sun(θ) L 2 πDLSin(θ+α)Sin(θ) 一KE
 (S) =SBI RMS位相誤差、E (L) =
LBI RMS位相誤差(振動を含む)、E(H)=飛
行方向誤差、 λ=波長。
■=2測定点を結ぶ、直線の中間点からのエミッタ角、 α=LBIプラットホームノーズオフ角、β=SBIプ
ラットホームノーズオフ角。
0S=SBI長さ、 oL = LBI長さ、および L=ニブラットホーム通過する2点間直線分の長さ。
上記モデルから、モンテカルロ(Monte Carl
o)シミュレーション法により、シミュレーションモデ
ルを作成して、本発明によるSBI/LBIシステムの
性能を、予測して最適化できる。特に、 SBI・LB
I寸法と装着角度、測定誤差、およびLBIi!動振幅
の間には、上首尾のフェーズリンキングを達成するため
、満たす必要がある次式に示す重大な関連性がある。
犬山、E(φ) = RMS位相測定誤差(任意成分)
、E(θ)=SBIバイアス誤差、 Av = LBI振動振幅、および に=フェーズリンキング誤差の可能性を決定する定数(
8なら、0.1%の誤差率である)。
平均化測定数を変えることにより、E(φ)値を調整で
きる。
上記関係式が満たされない場合は、システムが。
従来の単式干渉計システムと変わらないグロス誤差を生
むことになるため、本発明方法は、上記関係を満たすこ
とを前提としている。
SBI/LBIシステムの・験例 本発明システムの精度および性能を査定するため、実際
の飛行テストモデルを作成して飛行テストを行った。
第5図は、被験SBI/LBIシステムのブロック線図
であるが、該システムは、 22.92cm (9,0
24インチ)長の、4素子型短基線干渉計(Short
 BaselineInterferometer)ア
レイ(1)、および361.8cm(142,44イン
チ)長の単アンテナ型LBIアレイ(2)から成ってお
り、SBIアレイ(1)の第2素子として、基準アンテ
ナを使用した。また各アレイには、SBI RF−IF
コンバータ(3)およびLBI RF−IFコンバータ
(4)を接続し、得られたダウン変換SBI・LBI・
IF倍信号、IFプロセッサ(5)に送った。
手動ローカルオシレータ(6)として、8−12GHz
のヒユーレットパラカード(Hewlett Pack
ard)8645Bシンセサイザを用い、分岐ネットワ
ーク(6a)を介して、L0信号を2個のコンバータ(
3)(4)に伝送した。
コックピット表示装置(8)を備える市販の慣性航法装
置(NAV) (7)は、8i11定/秒の割合で緯度
、経度、横揺れ、縦揺れおよび飛行方向情報を提供した
インタフェース装置(9)は、IFプロセッサ(5)か
らのパルス測定値、およびNAt1(7)からの航行お
よび飛行姿勢データを緩衝し、入出力(Ilo)エクス
テンダ(extender) (10)を介して、カラ
ーグラフィック表示器(12)を備えるデジタルプロセ
ッサ(11)、およびデジタル磁気テープカセットレコ
ーダ(13)にデータ伝送した。
オシロスコープ(14)を使用し、同調エイドとして、
信号ビデオをモニタした。
インバータ・給電装置(15) (16)および(17
)を設けて、28UDC航空機出力を、コンバータ(3
) (4)、NAU(7)、およびビデオ処理/モニタ
装置に適した波形に変換した。
本システムを、メルリン(Marlin) IV機に搭
載したため、装備詳細は、最適化より、利用可能空間お
よび便宜の産物である。
SDIアンテナアレイ(1)を、通常、気象レーダを備
える機首レードームに配備し、LBIアンテナ(2)を
、副操縦士側の窓に配備したが、前者については、縦揺
れ0°で、機体中心線に対して28.124°の角度、
および後者については、縦揺れ6.Ooで前記中心線に
対して11.2°の角度で取付けた。
コンピータ(11)をプログラム編成し、2つの作動モ
ードを作成し、第1モードで、リアルタイム距離解式を
得、その結果を、カラー表示器(12)に表示し、第2
モードで、IFプロセッサ(5)およびNAU(7)か
らの原始データを、コンピュータ(11)でとらえ、そ
の内部磁気ディスク媒体に記録した。
各テストの終りに、ディスクから、カセット(13)に
データコピーし、ディスクファイルをイレースして、次
のテスト用の余地を空けた。各飛行の終りに、テープ記
録データを、地上処理した。
SBI/LBI飛行テストは、ニューヨーク州ロングア
イランド(Long l5land)にある試験場で行
われたものであり、ターゲットエミッタの役目もするナ
イキ(Nike)追跡レーダで、地上実相をとらえたが
、その特徴を以下に示す。
周波数: 8.6GHz。
PRF : 500pps、 パルス幅: 0.25マイクロ秒、 距離精度=12m、 角度精度=0.1°。
コンピュータクロックセットに使用する携帯用電池式時
間標準化装置で、機上システムと、追跡レーダクロック
とを同期化した0時間、斜距離、方位角、および仰角か
ら成る地上実相データを、磁気テープに記録したが、そ
の解析値は、次の通りである。
時間:0.2秒、 距離: 91.4cm(1ヤード)、 角度: 0.01’。
10乃至50海里(NM)範囲、 15乃至90@オフ
ノ一ズ角度、および2°/秒(回転速度)・±20°(
横揺れ)を上限とする。航空機動力を含む3通りの異な
る軌道を用いて、6回飛行テストした。
上記3軌道は、それぞれ、「スネーク(snake)J
、「クロージング(closing)J、および「クレ
セント(crescent) J と呼ばれている。「
スネーク」は、飛行方向を正弦曲線状に変化させる軌道
であり、それぞれ、2°/秒、および1″/秒の回転速
度で、2度スネーク飛行した。
「クロージング」は、エミッタに対する距離および角度
を、単調に変化させるほぼ直線的に水平飛行するもので
あり、1度行った。
rクレセント」は、定速(0,51/秒)に保つことに
より、エミッタまでの距離をほぼ一定にしたままで、角
度を徐々に変化させるものであり、それぞれ、17NM
、 4ONM、および48.5NM範囲で3度飛行した
コンピュータ(11)ディスク容量により、各テストは
、3分間に限定されたが、それぞれ、5BI(1)位相
(3位相)、 LBI(2)位相、、および4信号振幅
に対して、86,800のモノパルス測定値、および航
空機の緯度、経度、横揺れ、縦揺れ、飛行方向に対して
、 1440のパルス測定値を収集した。
各テストの終りに、データを磁気テープにコピーし、デ
ィスク余地をクリアし、次のテストに備えた。
2工程に分けて、地上処理を行った。第1工程では、磁
気テープから、モノパルスデータをリードパック(re
ad back) L/、パルス測定平均値を計算した
。次に、緯度、経度、横揺れ、縦揺れおよび飛行方向デ
ータを、読出し、パルスデータの到着時間に書込み、平
均パルスデータと共に、単一ファイルにマージした。
第2工程では、ファイルデータに、測定式を代入して、
性能統計を計算した。最後に、測定されたRMS距離測
定誤差を、理論上の誤差モデルと比較し、゛該モデルの
誤差予測精度を査定した。
テストの概略を、第6図の表に示す。
LBI(2)測定誤差の算定に使用した路線3に係る2
ケースを別として、 13,656距離測定値に対する
総RMS誤差は、8.9%であった(理論的には8.6
%)。
コード化信号に対する有 性 周波数掃引1位相コード化、および周波数ホップされた
信号は、本発明方法に与える影響を理解し、補償しない
限り、SBI/LBI距離劃定精度距離上定精度可能性
がある。
航空機中心線から、30°の角度で配向された、53.
3cm(20,99インチ)長のSBI、および同様に
15″の角度で配向された518.2cm(204イン
チ)長のLBIを用いる。別の例証システムに対して、
上記影響を分析した。
2相コード化チヤープ(chirp)信号の場合、 S
BI・LBI測定は、位相測定値に、±180℃の位相
「グリッチ(glitch) Jが入ると乱れる。性能
に与える影響は、信号に対する角度、ビデオ帯域幅、お
よび位相測定値の積分期に左右される。
しかし、従来システムの最悪な分析結果では、SBIア
レイに対する最悪角度は、0°であり、LBIについて
は15@である。O@倍信号場合、SBIの飛行距離差
が、約45.72cm(18インチ)であり、光は約3
0CI11(1フイート)ナノ秒で走行するため、位相
グリッチ幅は、1.5ナノ秒になる。立上り時間が35
ナノ秒である10MHzビデオフィルタは、この180
0グリツチを約7.7°に減衰する。
これを、好適実施例の100ナノ秒にわたって平均化す
ると、この値は、約0.12°に低下して無視できる値
になる。
相対角度を15°にしたLBIの場合、飛行胤離差は約
180cm(15フイート)であり、 IOM)!ビデ
オフィルタに通し、100ナノ秒にわたって平均化する
と、グリッチは、約11.14°の誤差を生む。
プラットホームを約45ONM/時間で動かし、約10
秒後に、第2SBIルBI測定を行うとすると、グリッ
チに起因する測定誤差は、14.09°になる。得られ
る位相差の誤差は、 2.95’で、無視できるもので
ある。
このように、最悪の場合でも、位相コード化信号は、本
発明システムに無視できる程度の影響を与えるにすぎな
いことが分かる。また、疑似ランダム位相コード化信号
の場合は、好適実施例による12パルス平均化方法で、
誤差がさらに小さくなる。
±180°の位相変化が均等にあるとすると、上記誤差
は、さらに6の因数だけ小さくなることが分かる。
周波数掃引信号の場合は、SLB/LBI距離測定性能
に与える影響が最も少ない。
線形掃引FM信号は、2つの異常を引起す。
第1に、各アンテナにおける位相測定を、可変周波数で
行うことになり、そのため、バイアス誤差に影響する。
第2は、非常に長い基線を有する干渉計の場合に限られ
るが、アンテナ間の時分割により、周波数がオフセット
する結果、さ、らに別の位相誤差を引起す。
前者に対しては、上記のように、パルスの初期100ナ
ノ秒にわたって、位相・周波数測定を平均化する。すな
わち、測定路が一致しているため、平均的に位相測定す
ると、同時に周波数も平均的に測定することになり、測
定精度が低下しない。
後者の場合は、パルス内の線形FM信号のスロープに正
比例して、性能が低下する。1マイクロ秒のパルス幅、
および100MHzの線形FMを有する最悪信号の場合
は、そのスロープが、100MHz/マイクロ秒になる
アンテナが離間されており、またアンテナ間隔が広くな
るに従って、遅延が大きくなるため、、干渉計の一方の
アンテナが他方より早く信号を受信する。位相検出器で
処理された2つのチャネルは、時間的(したがって周波
数も)にずれているため、位相にずれが生じて、その結
果性能が低下する。
周波数チャープ(chirp)位相ずれφ6は、次式で
求められる。
φ、= 27CDCos(θ+a )・C−CHIRP
RATE−t S 、式中、C=光速、および ts=測定時間。
上記の最悪の場合、位相ずれは、SBIについては0.
09’(無視できる)、LBIについては1°である。
したがって1本発明によるSBI/LBIシステムは、
既存の脅威信号をしのぐ、上記の最悪ケースを含む全て
の敵対環境で、高精度に機能する。
周波数が広範にわたって変化し、乱パルス周波数パター
ンを有する信号の場合は、2つの要件を満たす必要があ
る。すなわち、異なる周波数で発生するパルスを、正し
くフェーズリンキングするとともに、フェーズリンキン
グしたパルスの周波数の差によって生じる位相誤差を修
正する。
これに対処するため、本発明の好適実施例におけるSB
I/LBIデータ収集工程を1次のように弯える。
周波数が変化するレーダを検出したら、多数パルスNの
波長およびLBI位相差を測定し、プロセッサに記憶さ
せる(定周波数エミッタの場合は、測定値を平均化した
)。
第2測定時に、ベアリングによって、所望周波数範囲Δ
F内のパルス対を検出する。前記範囲ΔFに入るに充分
な大きさを有するパルス対が得られたら、あいまいな実
測LBI位相差に1周波数オフセット位相修正を加え、
その結果を平均化してから、フェーズリンキングする。
トレードオフ(tradeoff)を行って、数値ΔF
および記憶処理されるパルス数Nを最適化する必要があ
る。すなわち、LBIの、周波数オフセット位相修正の
結果である位相誤差により、誤差の平均化精度またはフ
ェーズリンキング性が低下しない程度小さく、かつ平均
化基準に合う少くとも12個のパルス対を、高確率で検
出できる程度大きい値ΔFを探し出す。
このため、先ず、周波数オフセット位相修正アルゴリズ
ムを引出し、当該の特定システムに関する誤差特性、お
よび満たすべき精度要件を査定する導関数を取り、これ
ら判定基準から、フェーズリンキング性を高め得る。数
値ΔFおよび測定数Nを予測するに のため、周波数F2で測定されたあいまいな位相値をφ
2とし9F□で測定されたあいまいな位相値をφ、とじ
、SBIの単独測定値をθとし、LBI配向をαとする
と1位相修正は、次式で求められる。
式中、rは、 LBrアンテナおよび基準アンテナから
1位相検出器までのケーブル長さに差がある場合に起り
得る位相バイアス環である。ケーブル長さ差はわかるた
め、該項は算出されるが、同一周波数を有するパルスに
は作用しない。
上式の導関数を取り、SBI角測定差項を代入すると、
次の誤差式が得られる。
上記の例証システムの場合、2GHzおよび120#の
ノーズオフ角で、周波数オフセット修正誤差が最大にな
るが、この角度では、SBI角測定誤差は、距離測定精
度を上回る。
距離誤差が、 LBI位相測定誤差に対して最も感応す
る角度は、82.5°である。したがって、2GHzで
82.5°とすると、次式が成立する。
E(φF2−φFJ=、O05ΔFE(φ)。
上記は、モノパルス誤差を表わすが、好適実施例では、
処理前に12パルスを平均化するため、想定した周波数
ランダム分布では、ΔFを、−ΔFから+ΔFまで均一
に分布する乱変数として処理できる。
12パルス平均化後の、そのRMS値は、0.167Δ
Fになり1次式が成立する E(φF2−φF、)=、000837ΔFE(φ)、
この誤差を、ランダムLBI位相測定誤差の4分の1以
下に保てば、フェーズリンキング性能および距離測定精
度への影響は、無視できる程度小さくなる。
このため、例証システムでは、バイアス誤差を10’と
すると、ΔFを約96MHz以下にする必要がある。
こうすると、バイアス誤差が0.8°に低下し、他の誤
差に比して無視できるものになる。
トレードオフの他の要素は、少くとも12個のパルス対
を、高確率で検出するのに要する測定数を求めることで
ある。250MHz帯域幅において、1個のパルス対が
ΔFに入り得る可能性は、次式の通りである。
NXNサーチで、少くとも12個のパルス対を発見でき
る可能性は、次式の通りである。
工と− N      12 12      0.607 13      0.979 14      0.998 したがって、本発明システムの場合、確率0.998で
12個の相対パルスを得るには、2度余計に測定するだ
けでよい。11対しか発見できない0.2%の場合は、
距離誤差は1.05だけ増加するが、2GHzで充分な
マージンがあるため、フィーズリンキングには影響しな
い。
上記の説明から分かるように1本発明によるSBI/L
BI距離測定法は、振動、マルチパス、レードーム効果
、航空機演習および測定誤差の存在下で有効に作用する
実測飛行テスト結果と、上記の理論的誤差モデルとの間
には、秀でた相関性がある。すなわち、前記誤差モデル
を、現存するあらゆる信号コード化ターゲットエミッタ
に対するシステム性能を予測する有効ツールとしている
(効 果) 本発明により、地形変化に妨害されず、従来より簡便か
つ正確に、距離測定することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図は、2点受動距離測定に係る相関図である。 第2図は、干渉計技術に係る相関図である。 第3図は、本発明による2点受動距離測定方法を説明す
るための相関図である。 第4図は、本発明による斜距離およびエミッタDOA8
N!I定値と、これらを直角座標距離および角度に変換
したものとの相関図である。 第5図は、飛行テストを行った、SBI/LBIシステ
ムの機能ブロック線図である。 第6図は、飛行テストの概略を示す表である。 (1) 5I3I         (2) LBI(
3) SKI RF・IFコンバータ   (4) L
BI RF−IFコンバータ(5) IFプロセッサ 
     (6)オシレータ(6a)ネットワーク  
     (7) NAV(8)コックピット表示器 
  (9)インタフェース装置(10)I10エクステ
ンダ    (11)デジタルプロセッサ(12)カラ
ーグラフィック表示器 (13)カセットレコーダ    (14)オシロスコ
ープ(15) (16) (17)インバータ・給電装
置手続補正書彷幻 昭和62年5月27日 特許庁長官 黒 1)明 雄 殿 1、事件の表示 昭和62年特許願第040514号 2、発明の名称 受動距離測定方法および装置 3、補正をする者 事件との関係   特許出願人 4、代理人 7、補正の内容   願書に最初に添付した明細書の浄
書。 別紙の通り(内容に変更なし)

Claims (17)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)任意時間および距離毎に分断された航路に沿った
    複数点間を移動する、プラットホームに搭載した長基線
    干渉計(LBI)で、前記複数点間で発生するエミッタ
    信号位相の象限不明変化を測定する改良型受動距離測定
    方法であって、前記プラットホームに搭載した短基線干
    渉計(SBI)で、前記位相を明確に測定する工程、お
    よび前記SBI位相測定値を用いて、前記LBI位相変
    化測定のあいまいさを解消する工程から成ることを特徴
    とする受動距離測定方法。
  2. (2)SBIにより、第1および第2点で前記信号の波
    長、および明確な位相差を測定する工程、前記SBI測
    定値から、前記2点における前記船路に対するエミッタ
    の明確な角位置を計算する工程、 前記計算された角位置から、明確なLBI位相差範囲を
    予測する工程、 前記予測範囲および前記あいまいな測定値から、前記2
    点間において、前記信号に発生する2π輪番整数を計算
    する工程、および 前記あいまいな位相変化値、および計算された2π輪番
    数から、前記2点間における、明確なLBI位相変化を
    計算する工程から成ることを特徴とする特許請求の範囲
    第(1)項に記載の受動距離測定方法。
  3. (3)寸法、取付角度、測定誤差および振動振幅を含む
    前記SBIとLBIとの関係が、次の判定基準KE(φ
    )[{D_LSin(■+α+@E@(θ))/D_S
    Sin(■+β)}+1]+4πAv/λSin(■+
    α)≦2π、式中、E(φ)=RMS位相測定誤差(ラ
    ンダム成分)、D_L=LBI長、 D_S=SBI長、 ■=2測定点を結ぶ、直線中間点からのエミッタ角、 α=プラットホーム中心線からのLBI角、β=プラッ
    トホーム中心線からのSBI角、@E@(θ)=SBI
    バイアス誤差、 Av=LBI振動振幅、 λ=信号波長、および K=A定数、 を満足することを特徴とする特許請求の範囲第(1)項
    に記載の受動距離測定方法。
  4. (4)移動するプラットホームから、固定された非協働
    パルス信号エミッタまでの距離を受動測定する方法であ
    って、 前記プラットホーム航路に沿った第1および第2点にお
    ける前記信号の少なくとも1パルスの少なくとも一部の
    波長を測定する工程、 短基線干渉計(SBI)により、前記第1・第2点にお
    ける前記信号の少なくとも1パルスの少なくとも一部の
    明確な位相差を測定する工程、長基線干渉計(LBI)
    により、前記第1・第2点における前記信号の少なくと
    も1パルスの少なくとも一部のあいまいな位相差を測定
    する工程、 航法装置(NAV)により、前記点および点間における
    前記プラットホームの位置および飛行姿勢を測定する工
    程、 前記NAV測定値から、前記点間の直線長さおよび方向
    を計算する工程、 前記SBIおよびNAV測定値から、前記プラットホー
    ムの横揺れ、縦揺れ、および飛行方向に対して修正され
    た前記直線に対する前記第1・第2点における前記エミ
    ッタの明確な角位置を計算する工程、 前記LBI測定値から、前記点間における前記信号位相
    差のあいまいな変化を計算する工程、前記計算された角
    位置、NAV測定値、および計算された位相差変化から
    、前記点における前記プラットホームの横揺れ、縦揺れ
    、および飛行方向に対して修正された前記点間における
    前記信号位相差の明確な変化を計算する工程、および 前記測定された信号波長、計算された直線長さ、前記直
    線に対する計算された前記エミッタ角位置、および前記
    点間の計算された明確な位相差変化から、前記直線中間
    点に対する前記エミッタの斜距離および角位置を計算す
    ることにより、空間中のその他任意点に対する前記エミ
    ッタの現在の角位置および距離を計算する工程、から成
    ることを特徴とする方法。
  5. (5)それぞれ、第1、第2点における前記信号波長、
    明確な位相差、およびあいまいな位相差を測定する工程
    が、さらに、 前記点における前記信号の少なくとも1パルスの初期部
    にわたって、数値測定する工程、および 前記数値を平均化する工程 から成ることを特徴とする特許請求の範囲第(4)項に
    記載の方法。
  6. (6)1パルスの少なくとも第1の100ナノ秒にわた
    って、前記数値を平均化することを特徴とする特許請求
    の範囲第(5)項に記載の方法。
  7. (7)それぞれ、第1、第2点における前記信号波長、
    明確な位相およびあいまいな位相差を測定する工程が、
    さらに、 前記点における前記信号の複数個の連続パルスにわたり
    前記数値を測定する工程、および前記複数個のパルスに
    わたって、前記数値を平均化する工程、 から成ることを特徴とする特許請求の範囲第(6)項に
    記載の方法。
  8. (8)各点における前記信号の少なくとも12個の連続
    パルスにわたって、前記数値を平均化することを特徴と
    する特許請求の範囲第(7)項に記載の方法。
  9. (9)第2点における前記プラットホームに対する前記
    エミッタの斜距離および角位置を計算する工程、 前記第2点における前記プラットホームの高度を測定す
    る工程、および 前記エミッタの測定された高度、計算された斜距離およ
    び角位置から、前記第2点における前記プラットホーム
    に対するエミッタの直角座標距離および角位置を計算す
    る工程 から成ることを特徴とする特許請求の範囲第(4)項に
    記載の方法。
  10. (10)移動するプラットホームから、エミッタ信号位
    相を測定する改良された受動距離測定方法であって、 前記プラットホームに搭載した長基線干渉計(LBI)
    により、航路づたいの複数点間で発生する精密かつあい
    まいなエミッタ位相変化を測定して、前記点からエミッ
    タに向かう角度差を求める工程、 前記プラットホームに搭載した短基線干渉計(SBI)
    により、前記点間で発生する前記エミッタ信号の明確な
    位相を測定して、前記エミッタから前記点に向かう角度
    を求める工程、および前記SBI角度測定値を用いて、
    前記LBIによる角度測定差のあいまいさを解消するこ
    とにより、前記エミッタにいたる距離を求める工程、 から成ることを特徴とする受動距離測定方法。
  11. (11)任意時間および間隔をあけて、分断された航路
    づたいの2つ以上の地点間で発生するエミッタ信号の精
    密かつあいまいな位相変化を測定するべく、移動するプ
    ラットホームに搭載された長基線干渉計(LBI)を備
    える改良型受動距離測定装置であって、前記位相を明確
    測定するべく、前記プラットホームに搭載された短基線
    干渉計(SBI)、および前記LBIによる位相測定変
    化のあいまいさを解消する手段から成ることを特徴とす
    る受動距離測定装置。
  12. (12)SBI測定値から、前記点における前記航路に
    対する明確なエミッタ角位置を計算する手段、前記計算
    された角位置から、明確なLBI位相差がある範囲を予
    測する手段、 前記予測範囲およびあいまいな測定値から、前記点間に
    おける前記信号の2π輪番整数を計算する手段、および 前記あいまいな変化、および計算された2π輪番数から
    、前記点間における明確なLBI位相変化を計算する手
    段、 を備える信号処理手段 から成ることを特徴とする特許請求の範囲第(11)項
    に記載の受動距離測定装置。
  13. (13)移動するプラットホームから、固定された非協
    働パルス信号エミッタにいたる距離を受動測定する装置
    であって、 前記プラットホーム航路づたいの第1・第2点における
    前記信号の少なくとも1パルスの少なくとも一部の波長
    および明確な位相差を測定するべく、前記プラットホー
    ムに搭載された短基線干渉計(SBI)、 前記点における前記信号の少なくとも1パルスの少なく
    とも一部のあいまいな位相差を測定するべく、前記プラ
    ットホームに搭載された前記SBIより長い基線を有す
    る長基線干渉計(LBI)、前記点および点間における
    前記プラットホームの位置および飛行姿勢を測定する航
    法(NAV)手段、および 前記NAV測定値から、前記点間の直線長さおよび方向
    を計算する手段、 前記SBIおよびNAV測定値から、前記第1・第2点
    における前記プラットホームの横揺れ、縦揺れ、および
    飛行方向に対して修正された前記直線に対する前記エミ
    ッタの明確な角位置を計算する手段、 前記LBI測定値から、前記点間における前記信号位相
    差のあいまいな変化を計算する手段、前記計算された角
    位置、NAV測定値、およびあいまいな変化から、前記
    点における前記プラットホームの横揺れ、縦揺れ、およ
    び飛行方向に対して修正された明確な信号位相差変化を
    計算する手段、および 前記測定された信号波長、計算された直線長さ、計算さ
    れたエミッタ角位置、前記点間における明確な位相差変
    化から、前記直線中間点に対する前記エミッタの斜距離
    および角位置を計算する手段を備えることにより、空間
    のその他任意点におけるエミッタの現在角位置および距
    離を計算する信号処理手段 から成ることを特徴とする装置。
  14. (14)点における、前記信号の複数パルスの初期部分
    にわたって、前記信号波長、明確な位相差、およびあい
    まいな位相差を測定して平均化する手段から成ることを
    特徴とする特許請求の範囲第(13)項に記載の装置。
  15. (15)プラットホームの高度測定手段から成り、信号
    処理手段が、さらに、前記測定された高度、および前記
    第2点におけるエミッタ斜距離と角位置から、前記第2
    点における前記プラットホームに対するエミッタの直角
    座標距離、および角位置を計算する手段を備えることを
    特徴とする特許請求の範囲第(13)項に記載の装置。
  16. (16)寸法、取付角度、測定誤差、および振動振幅を
    含む、前記SBIとLBIとの関係が、次の判定基準 KE(φ)[{D_LSin(■+α+@E@(θ))
    /D_SSin(■+β)}+1]+(4πAv/λ)
    Sin(■+α)≦2π、式中、E(φ)=RMS位相
    測定誤差(ランダム成分)、D_L=LBI長さ、 D_S=SBI長さ、 ■=2測定点を結ぶ直線の中間点からのエミッタ角、 α=プラットホーム中心線からのLBI角度、β=プラ
    ットホーム中心線からのSBI角度、@E@(θ)=S
    BIバイアス誤差、 Av=LBI振動振幅、 λ=信号波長、および K=A定数である を満足することを特徴とする特許請求の範囲第(11)
    項に記載の装置。
  17. (17)移動するプラットホームから、エミッタ信号位
    相を測定する改良型距離測定装置であって、航路づたい
    の複数地点間で発生するエミッタ信号の正確かつあいま
    いな位相変化を測定し、前記点からエミッタに向かう正
    確な角度差を求めるべく、プラットホームに搭載された
    長基線干渉計(LBI)、 前記航路づたいの前記点間で発生するエミッタ信号の明
    確な位相を測定し、前記点からエミッタに向かう角度を
    求めるべく、前記プラットホームに搭載された短基線干
    渉計(SBI)、および 前記SBI角度測定値を用いて、前記LBIによる角度
    測定差のあいまいさを解消することにより、前記エミッ
    タまでの距離を求める手段 から成ることを特徴とする距離測定装置。
JP62040514A 1986-02-25 1987-02-25 受動距離測定方法および装置 Expired - Lifetime JP2701025B2 (ja)

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