JPS62265508A - Inspecting device for package of parts - Google Patents

Inspecting device for package of parts

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Publication number
JPS62265508A
JPS62265508A JP61108317A JP10831786A JPS62265508A JP S62265508 A JPS62265508 A JP S62265508A JP 61108317 A JP61108317 A JP 61108317A JP 10831786 A JP10831786 A JP 10831786A JP S62265508 A JPS62265508 A JP S62265508A
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JP
Japan
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image
step width
pixels
component
reference value
Prior art date
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Pending
Application number
JP61108317A
Other languages
Japanese (ja)
Inventor
Motohiko Yoshida
元彦 吉田
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Alps Alpine Co Ltd
Original Assignee
Alps Electric Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Alps Electric Co Ltd filed Critical Alps Electric Co Ltd
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Publication of JPS62265508A publication Critical patent/JPS62265508A/en
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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
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  • Closed-Circuit Television Systems (AREA)
  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)

Abstract

PURPOSE:To inspect the package of parts at a high speed by photographing the parts mounted on a printed circuit board and comparing the number of picture elements of each step width of the image with a reference value for inspection at intervals of step width. CONSTITUTION:The image in the visual field 6a of a television camera 6 is supplied to a fast image processor 10 through a CPU 4 and divided into many picture elements. Those picture elements are sectioned by plural-step width according to density level and stored as the reference value in the CPU 4. Then, the inspected value of the number of picture elements sectioned by the step width of the image obtained by photographing the chip parts 1 mounted on the printed circuit board 2 is compared with the corresponding reference value by the CPU 4, step by step, to decide whether or not the parts 1 is arranged at a correct position.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、プリント基板上に実装された部品が正しい位
置に配置されているか否かを判別するための部品実装検
査装置に関するものである。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Field of Industrial Application) The present invention relates to a component mounting inspection device for determining whether components mounted on a printed circuit board are placed in correct positions.

(従来の技術) 従来の部品実装検査装置のブロック回路図を第5図に示
す。第5図において、チップ部品1の実装されたプリン
ト基板2がX−Yテーブル3上に配置され、このX−Y
テーブル3が中央g算処理装置(以後CPUと称す)4
の信号に基づいてX−Yテーブルコントローラ5で位置
制御される。また、X−Yテーブル3の上方にはチップ
部品1を撮影するテレビカメラ6が設けられるとともに
、チップ部品1を斜め上方の異なる方向から照射する一
対のランプ7.8が設けられている。
(Prior Art) A block circuit diagram of a conventional component mounting inspection device is shown in FIG. In FIG. 5, a printed circuit board 2 on which a chip component 1 is mounted is placed on an X-Y table 3.
Table 3 is the central arithmetic processing unit (hereinafter referred to as CPU) 4
The position is controlled by the X-Y table controller 5 based on the signal. Further, above the XY table 3, there is provided a television camera 6 for photographing the chip component 1, and a pair of lamps 7.8 for illuminating the chip component 1 from different directions diagonally above.

そして、これらのランプ7.8は、CPU4に制御され
る照射用電源9て時間をずらして点灯され、それぞ九の
点灯時にテレビカメラ6で撮、彰が・行われる。さらに
、テレビカメラ6の画像は、CPU4を介して高速画像
処理装置10に与えられて適宜に処理され、そのデータ
がCPU4に与えられる。また、CPU4から画像がモ
ニタテレビ11に与えられる。
These lamps 7 and 8 are turned on at different times by an irradiation power source 9 controlled by the CPU 4, and when each lamp is turned on, a photograph is taken by the television camera 6 and the lighting is performed. Furthermore, the image of the television camera 6 is provided to the high-speed image processing device 10 via the CPU 4 and processed appropriately, and the data is provided to the CPU 4. Further, an image is provided from the CPU 4 to the monitor television 11.

かかる構成において、まずランプ7.8のいずれか一方
の点灯による一方からの照射によりテレビカメラ6は、
第6図のごとく、チップ部品1とその反対側にできる’
ls 1 aとをiiする。次に、ランプ7.8の他方
の点灯による他方からの照射によりテレビカメラ6は、
第7図のごとく、チップ部品1とその反対側にできるF
 1 bとを11!影する。そして、二わらの2画像が
、第8図のごとく、高速画像処理装置10で合成され、
影1a。
In this configuration, first, by lighting one of the lamps 7 and 8, the television camera 6 is illuminated with light from one side.
As shown in Figure 6, it is formed on the chip component 1 and the opposite side.
ls 1 a and ii. Next, the television camera 6 is illuminated by the lighting of the other lamp 7.8.
As shown in Figure 7, F formed on chip component 1 and its opposite side.
1 b and 11! shadow Then, the two images of the two layers are combined by the high-speed image processing device 10 as shown in FIG.
Shadow 1a.

1bからチップ部品1の縦11と横I1.2の寸法を推
測して部品の誤り等を判別するとともにその実装位置が
正確であるか否かをCPU4で判別する。
The vertical dimension 11 and the horizontal dimension I1.2 of the chip component 1 are estimated from 1b to determine if there is an error in the component, and the CPU 4 determines whether the mounting position is accurate.

(発明が解決しようとする問題点) ところで、上記従来の部品実装検査装置は、目視による
部品実装検査を自動化できるという優れたものであるが
、この部品実装検査装置では、テレビカメラ6による2
回のWi影と、この2つの画像を合成して所定の演算を
行うための時間が必要であり、1つのチップ部品1の検
査に0.2〜0.3秒の検査時間が必要で検査が遅いと
いう問題点があフた。また、チップ部品1の影1a。
(Problems to be Solved by the Invention) By the way, the above-mentioned conventional component mounting inspection device is excellent in that it can automate visual component mounting inspection, but this component mounting inspection device has two
Time is required to combine the two images and perform predetermined calculations, and inspection time of 0.2 to 0.3 seconds is required to inspect one chip component 1. The problem of slow speed was solved. Also, a shadow 1a of the chip component 1.

1bよりチップ部品1の寸法と位置ずれを判別するので
、チップ部品1が黒色であれば、チップ部品1と影1a
、lbの区分ができないために検査できないという問題
点があった。
Since the dimensions and positional deviation of chip component 1 are determined from 1b, if chip component 1 is black, chip component 1 and shadow 1a are
There was a problem that inspection was not possible because it was not possible to distinguish between , lb and lb.

本発明の目的は、上記従来の部品実装検査装置の問題点
を解決すべくなされたもので、検査時間の速い部品実装
検査装置を提供することにある。
SUMMARY OF THE INVENTION An object of the present invention is to solve the problems of the conventional component mounting inspection apparatus described above, and to provide a component mounting inspection apparatus that can perform inspections quickly.

(問題点を解決するための手段) かかる目的を達成するために、本発明の部品実装検査装
置は、プリント基板上の正確な位置に配置された部品を
テレビカメラで撮影した画像を画像処理装置で多数の画
素に分割して濃淡レベルによる複数のステップ幅で区分
けし、各ステップ幅の画素数を基準値として中央演算処
理装置に記憶し、さらに前記プリント基板上に実装され
た部品をテレビカメラで撮影した画像を、前記多数の画
素に分割して濃淡レベルによる前記複数のステップ幅て
区分けし、各ステップ幅の画素数を検査値として前記基
準値と前記ステップ幅毎に比較して前記部品か正しい位
置に配置されているか否かを面記中央演算処理装置で判
別するように構成されている。
(Means for Solving the Problems) In order to achieve the above object, the component mounting inspection device of the present invention uses an image processing device to capture an image of a component placed at a precise position on a printed circuit board using a television camera. The parts mounted on the printed circuit board are divided into a large number of pixels and divided into multiple step widths based on the gray level, and the number of pixels of each step width is stored as a reference value in the central processing unit. The image photographed is divided into the plurality of pixels and divided into the plurality of step widths based on the density level, and the number of pixels of each step width is used as an inspection value and compared with the reference value for each step width to determine the part. The central processing unit is configured to determine whether or not the image is placed in the correct position.

(作用) プリント基板上の正確な位置に配置された部品を撮影し
た画像を、多数の画素に分割して濃淡レベルによる複数
のステップ幅で区分けし、各ステップ幅の画素数を基準
値とし、プリント基板上に実装された部品を撮影した画
像の各ステップ幅の画素数を検査値として基準値と各ス
テップ幅毎に比較するので、実装された部品が正しい位
置に配置されていなければ画像の変化により各ステップ
幅の検査値が基準値と相違し、実装された部品を一度の
Ik 影で正しい位置に配置されているか否かを判別で
き、従来に比較して高速に検査を行うことができる。ま
た、画像の濃淡に基づいて検査を行うので、部品の色に
かかわりなく検査することができる。さらに、色の異な
る異神の部品の混入をも検出できる。
(Function) An image taken of a component placed at a precise position on a printed circuit board is divided into a large number of pixels, divided into multiple step widths based on gray level, and the number of pixels in each step width is used as a reference value. The number of pixels in each step width of an image taken of a component mounted on a printed circuit board is compared with the reference value for each step width as an inspection value, so if the mounted component is not placed in the correct position, the image will be The inspection value for each step width differs from the reference value due to the change, and it can be determined whether the mounted component is placed in the correct position with a single Ik shadow, and inspection can be performed faster than before. can. Furthermore, since the inspection is performed based on the shading of the image, the inspection can be performed regardless of the color of the part. Furthermore, it is possible to detect the presence of foreign parts of different colors.

(実施例の説明) 以下、本発明の実施例を第1図ないし第4図を参照して
説明する。第1図は、本発明の部品実装検査装置の一実
施例のブロック回路図であり、第2図は、プリント基板
の正確な位置に配置されたチップ部品を撮影した画像の
一例であり、第3図は、位置がずれて配置されたチップ
部品を撮影した画像の一例であり、第4図は、チップ部
品の位置ずれによる各ステップ幅の画素数の変化の比率
の一例を示す図である。第1図において、第5図と同一
回路ブロックには同一符号を付して重複する説明を省略
する。
(Description of Embodiments) Embodiments of the present invention will be described below with reference to FIGS. 1 to 4. FIG. 1 is a block circuit diagram of an embodiment of the component mounting inspection apparatus of the present invention, and FIG. 2 is an example of an image taken of a chip component placed at an accurate position on a printed circuit board. Figure 3 is an example of an image taken of a chip component placed with a misalignment, and Figure 4 is a diagram showing an example of the ratio of change in the number of pixels in each step width due to the misalignment of the chip component. . In FIG. 1, circuit blocks that are the same as those in FIG. 5 are given the same reference numerals and redundant explanations will be omitted.

第1図において、X−Yテーブル3の上方にチップ部品
1を照明するために設けられたランプ7.8は照明用電
源12で同時に点灯される。こわらのX−Yテーブル3
とテレビカメラ6およびランプ7.8等は暗室+3に設
けられでいる。そして、テレビカメラ6の視野6a内の
画像は、CPU4を介して高速画像処理装置IOに与え
られて多数の画素に分割され、これらの画素を濃淡レベ
ルに応じて複数のステップ幅で区分けする。例えば、第
2図のごとく、正しく配置されたチップ部品1を撮影し
た画像は、チップ部品1の本体ICの茶色、端子部1d
の半田色、プリント基板2のパターン2aの銅色、レジ
スト部2bの緑色等のある一定の面積比で構成される。
In FIG. 1, lamps 7.8 provided above the X-Y table 3 for illuminating the chip component 1 are simultaneously turned on by the illumination power source 12. Kowara's X-Y Table 3
A television camera 6, lamps 7, 8, etc. are installed in the dark room +3. The image within the field of view 6a of the television camera 6 is then provided to the high-speed image processing device IO via the CPU 4, where it is divided into a large number of pixels, and these pixels are divided into a plurality of step widths according to the gray level. For example, as shown in FIG. 2, an image taken of the correctly placed chip component 1 shows the brown color of the main body IC of the chip component 1, and the terminal portion 1d.
The pattern 2a of the printed circuit board 2 has a copper color, the resist portion 2b has a green color, and the like.

そして1画像を多数の画素に分割し、濃淡レベルにより
複数のステップ幅(例えば、濃淡レベル0〜255を1
0のステップ幅に分割)に区分けされる画素数は、ある
一定の割合で構成される。そこで、この各ステップ幅に
区分けされた画素数を基準値としてCPU4に記憶する
Then, one image is divided into a large number of pixels, and multiple step widths are determined depending on the gray level (for example, gray level 0 to 255 is divided into 1
The number of pixels divided into steps (divided into step widths of 0) is configured at a certain rate. Therefore, the number of pixels divided into each step width is stored in the CPU 4 as a reference value.

そして、プリント基板2上に実装されたチップ部品1を
テレビカメラ6で撮影する。ここで、チップ部品1が、
第3図のごとく、位置ずれして配置されたとすれば、視
野6a内の画像は構成する色の面積比が第2図の面積比
と相違する。そして、画像を多数の画素に分割し、濃淡
レベルにより複数のステップ幅に区分けされた画素数も
第2図の割合と相違する。なお、色の異なる異種のチッ
プ部品でも割合は相違する。
Then, the chip component 1 mounted on the printed circuit board 2 is photographed with a television camera 6. Here, chip component 1 is
If they are arranged in a shifted position as shown in FIG. 3, the area ratio of the constituent colors of the image within the visual field 6a will be different from the area ratio in FIG. 2. The number of pixels divided into a large number of pixels and divided into a plurality of step widths depending on the gray level is also different from the ratio shown in FIG. 2. It should be noted that the proportions also differ for different types of chip components with different colors.

そこで、プリント基板2上に実装されたチップ部品1を
撮影した画像が各ステップ幅に区分けされた画素数の検
査値と記憶された基準値とをCPU4で比較演算する。
Therefore, the CPU 4 compares and calculates the inspection value of the number of pixels in which the image of the chip component 1 mounted on the printed circuit board 2 is divided into each step width with the stored reference value.

この比較演算としては、例えば、各ステップ幅−毎に、
基準値に対する基準値と検査値との差の比率を求める。
As this comparison operation, for example, for each step width,
Find the ratio of the difference between the standard value and the test value to the standard value.

そして、第4図のごとく、各ステップ幅毎の比率で例え
ば±10%のしきい値を越えるステップ幅が存在すれば
、チップ部品1は正しい位置に配置されていないと判別
する。なお、色の異なる異種部品も正しい位置に配置さ
れていないと判別される。
Then, as shown in FIG. 4, if there is a step width that exceeds a threshold value of, for example, ±10% in the ratio of each step width, it is determined that the chip component 1 is not placed at the correct position. Note that different types of parts with different colors are also determined to be not placed in the correct position.

ここで、チップ部品1が許容範囲内の正しい位置に配置
されていても、チップ部品1の色むらや反射率の違い、
さらにはプリント基板2の色むら等によって、各ステッ
プ幅に区分けされる画素数が少しずつずれ易い。そして
、このようなずれに対して、基準値の小さいステップ幅
では、(iかな検査値の変化により、基準値に対する基
準値と検査値との差の比率が大きくなってチップ部品1
が正しい位置に配置されていないと判別されてしまう。
Here, even if the chip component 1 is placed at the correct position within the allowable range, there may be uneven color or difference in reflectance of the chip component 1.
Furthermore, due to color unevenness of the printed circuit board 2, etc., the number of pixels divided into each step width tends to shift slightly. In response to such a deviation, if the step width of the reference value is small, (i) due to a change in the inspection value, the ratio of the difference between the reference value and the inspection value to the reference value increases, and the chip component 1
It will be determined that the is not placed in the correct position.

そこで、基準値と検査値との差がある一定の画素数以下
、例えば画像全体の画素数をステップ幅の数で割った画
素数の判別しきい値以下であれば、比率がしきい値を越
えてもこれを無視し、判別しきい値以上のものについて
のみCPU4は濃淡分布のステップ幅毎の画素数を比較
してチップ部品1の位置ずわを判別する。このように、
判別しきい値を設定することで、判定能力の向上を図り
、判定結果の安定度を向上させることができる。
Therefore, if the difference between the reference value and the test value is less than a certain number of pixels, for example less than the discrimination threshold of the number of pixels in the entire image divided by the number of step widths, the ratio will exceed the threshold. Even if it exceeds the threshold, the CPU 4 ignores this and determines the positional deviation of the chip component 1 by comparing the number of pixels for each step width of the gradation distribution only for those above the determination threshold. in this way,
By setting the discrimination threshold, it is possible to improve the judgment ability and improve the stability of the judgment results.

なお、検査される部品は、チップ部品1に限られず、ト
ランジスタやIC等の電子部品に適用しても良い。また
、上記実施例では、暗室13内でチップ部品1をテレビ
カメラ6で撮影する構成としたが、こわに限られず、テ
レビカメラ6の絞りを適宜に調整することで暗室13以
外の場所でチップ部品1を撮影するようにしても良いこ
とは勿論である。
Note that the component to be inspected is not limited to the chip component 1, and may be applied to electronic components such as transistors and ICs. Further, in the above embodiment, the chip component 1 is photographed with the television camera 6 in the dark room 13, but the invention is not limited to this, and by appropriately adjusting the aperture of the television camera 6, the chip component 1 can be photographed in a place other than the dark room 13. Of course, the part 1 may also be photographed.

(発明の効果) 以上説明したように、本発明の部品実装検査装置によれ
ば、プリント基板上の正確な位置に配置された部品をW
L影した画像を、多数の画素に分割して濃淡レベルによ
る複数のステップ幅で区分けし、各ステップ幅の画素数
を基準値とし、プリント基板上に実装された部品をw1
影した画像の各ステップ幅の画素数を検査値として基準
値と各ステップ幅毎に比較するので、実装された部品が
正しい位置に配置されていなければ画像の変化により各
ステップ幅の検査値が基準値と相違し、実装された部品
を一度の撮影で正しい位置に配置されているか否かを判
別でき、従来に比較して高速に検査を行うことができる
。また、画像の−J5淡に基づいて検査を行うので、部
品の色にかかわりなく検査することができる。さらに、
色の異なる異種の部品の混入をも検出できるという優れ
た効果を奏する。
(Effects of the Invention) As explained above, according to the component mounting inspection device of the present invention, components placed at accurate positions on a printed circuit board can be
The L-shaded image is divided into a large number of pixels and divided into multiple step widths depending on the gray level, and the number of pixels in each step width is used as a reference value, and the components mounted on the printed circuit board are divided into w1.
The number of pixels in each step width of the shaded image is used as an inspection value and compared with the reference value for each step width, so if the mounted component is not placed in the correct position, the inspection value for each step width may change due to a change in the image. Unlike the reference value, it is possible to determine whether a mounted component is placed in the correct position with a single photograph, and inspection can be performed faster than in the past. Furthermore, since the inspection is performed based on the -J5 light of the image, inspection can be performed regardless of the color of the component. moreover,
It has the excellent effect of being able to detect the mixing of different types of parts with different colors.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は、本発明の部品実装検査装置の−実施例のブロ
ック回路図であり、第2図は、プリント基板の正確な位
置に配Xとされたチップ部品を撮影した画像の一例であ
り、第3図は、位置がずれて配置されたチップ部品を撮
影した画像の一例であり、第4図は、チップ部品の位置
ずれによる各ステップ幅の画素数の変化の比率の一例を
示す図であり、第5図は、従来の部品実装検査装置のブ
ロック回路図であり、第6図および第7図は、それぞれ
第5図で撮影される2つの画像の説明図であり、第8図
は、第6図と第7図の2つの画像が合成された画像の説
明図である。 1:チップ部品、2ニブリント基板、 4:CPU、   6:テレビカメラ、6a:視野、1
0:高速画像処理装置。 特許出願人  アルプス電気株式会社 代理人 弁理士  森  山  哲  夫第」図
FIG. 1 is a block circuit diagram of an embodiment of the component mounting inspection apparatus of the present invention, and FIG. 2 is an example of an image taken of a chip component placed at an accurate position X on a printed circuit board. , FIG. 3 is an example of an image taken of a chip component placed with a misalignment, and FIG. 4 is a diagram showing an example of the ratio of change in the number of pixels of each step width due to the misalignment of the chip component. 5 is a block circuit diagram of a conventional component mounting inspection apparatus, FIGS. 6 and 7 are explanatory views of two images taken in FIG. 5, and FIG. 8 is a block circuit diagram of a conventional component mounting inspection apparatus. 7 is an explanatory diagram of an image obtained by combining the two images of FIG. 6 and FIG. 7. 1: Chip parts, 2 Niblint board, 4: CPU, 6: TV camera, 6a: Field of view, 1
0: High-speed image processing device. Patent applicant: Alps Electric Co., Ltd. Representative: Patent attorney: Tetsuo Moriyama

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  プリント基板上の正確な位置に配置された部品をテレ
ビカメラで撮影した画像を、画像処理装置で多数の画素
に分割して濃淡レベルによる複数のステップ幅で区分け
し、各ステップ幅の画素数を基準値として中央演算処理
装置に記憶し、さらに前記プリント基板上に実装された
部品をテレビカメラで撮影した画像を、前記多数の画素
に分割して濃淡レベルによる前記複数のステップ幅で区
分けし、各ステップ幅の画素数を検査値として前記基準
値と前記ステップ幅毎に比較して前記部品が正しい位置
に配置されているか否かを前記中央演算処理装置で判別
することを特徴とする部品実装検査装置。
An image of a component placed in a precise position on a printed circuit board is taken by a television camera, and an image processing device divides it into many pixels, divides it into multiple step widths based on the gray level, and calculates the number of pixels in each step width. storing it in a central processing unit as a reference value, and further dividing an image taken by a television camera of the component mounted on the printed circuit board into the plurality of pixels and dividing it into the plurality of step widths depending on the gray level, Component mounting characterized in that the central processing unit determines whether or not the component is placed in the correct position by comparing the number of pixels of each step width as a test value with the reference value for each step width. Inspection equipment.
JP61108317A 1986-05-12 1986-05-12 Inspecting device for package of parts Pending JPS62265508A (en)

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