JPH116718A - Solder defect inspecting instrument for printed circuit board - Google Patents
Solder defect inspecting instrument for printed circuit boardInfo
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- JPH116718A JPH116718A JP17760097A JP17760097A JPH116718A JP H116718 A JPH116718 A JP H116718A JP 17760097 A JP17760097 A JP 17760097A JP 17760097 A JP17760097 A JP 17760097A JP H116718 A JPH116718 A JP H116718A
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Abstract
Description
【0001】[0001]
【発明の属する技術分野】本発明は、プリント基板に実
装されている多数のピンを備えた表面実装部品の各ピン
の半田付け部の長手方向に対して交差する方向に照明装
置によって照明が照射され、前記プリント基板の上方に
配設されたカメラによって照明が照射された表面実装部
品の各ピンの半田付け部の画像が撮像され、前記カメラ
から出力される画像データに基づき、演算制御装置によ
って前記表面実装部品の各ピンの半田付け部の画像の明
るさにより、半田付け不良部の輝点が検出されることに
より半田付け不良が判別されるプリント基板半田不良検
査装置に関する。BACKGROUND OF THE INVENTION 1. Field of the Invention The present invention relates to a surface mount component having a large number of pins mounted on a printed circuit board. An image of a soldered portion of each pin of the surface mounted component illuminated by the camera disposed above the printed circuit board is captured, and based on image data output from the camera, the arithmetic and control unit The present invention relates to a printed circuit board soldering defect inspection apparatus in which a bright spot of a defective soldering portion is detected based on the brightness of an image of a soldered portion of each pin of the surface mount component, and a defective soldering is determined.
【0002】[0002]
【従来の技術】従来の第1のプリント基板半田不良検査
装置(特開平3−162611、特開平7−6596
8)は、図3に示されるように検査対象部品であるプリ
ント基板Kの一側壁に突設された全べてのピンPをカバ
ーする範囲において前記ピンPの半田付け部の長手方向
に平行な方向において斜め上方から光源Lから光が照射
され、前記プリント基板Kの上方に配設されたカメラC
によって照明が照射された表面実装部品の各ピンPの半
田付け部Hの画像が撮像され、撮像された各ピンPの半
田付け部Hの画像から、半田付け不良が判別されるもの
であった。2. Description of the Related Art Conventional first printed circuit board soldering defect inspection apparatus (Japanese Patent Laid-Open No. Hei 3-162611, Japanese Patent Laid-Open No. 7-6596).
8) is parallel to the longitudinal direction of the soldered portion of the pins P in a range covering all the pins P protruding from one side wall of the printed board K as the inspection target component as shown in FIG. Light is emitted from a light source L obliquely from above in a certain direction, and a camera C disposed above the printed board K
An image of the soldering portion H of each pin P of the surface-mounted component illuminated by the illumination is captured, and a defective solder is determined from the captured image of the soldering portion H of each pin P. .
【0003】従来の第2のプリント基板半田不良検査装
置(特開平1−260586)は、図4に示されるよう
に検査対象部品であるプリント基板Kの各ピンPの半田
付け部Hの長手方向に平行な方向おいて、各ピンPの半
田付け部Hの長手方向に対して交差する方向において斜
め上方から光が照射され、前記検査対象部品の斜め上方
の外方においてピンPの半田付け部Hの長手方向に配設
されたカメラCによって照明が照射した表面実装部品の
各ピンPの半田付け部Hの画像が撮像され、撮像された
各ピンPの半田付け部Hの画像から、半田付け不良が判
別されるものであった。As shown in FIG. 4, a conventional second printed board soldering defect inspection apparatus (Japanese Patent Application Laid-Open No. 1-260686) has a longitudinal direction of a soldered portion H of each pin P of a printed board K which is a component to be inspected. In the direction parallel to the longitudinal direction of the soldering portion H of each pin P, light is applied from obliquely above, and the soldering portion of the pin P An image of the soldering portion H of each pin P of the surface mount component illuminated by the camera C disposed in the longitudinal direction of the pin H is captured. The mounting failure was determined.
【0004】従来の第3のプリント基板半田不良検査装
置は、円形の照明を使用して前記プリント基板の各側壁
面の各ピンの半田付け部の全測定箇所を含む範囲を同一
の照明にて同時期に照射して、前記各側壁面の各ピンの
半田付け部の画像が撮像され、撮像された各ピンの半田
付け部の画像から、半田付け不良が判別されるものであ
った。A third conventional printed circuit board soldering defect inspection apparatus uses a circular illumination to cover a range including all the soldered portions of each pin on each side wall surface of the printed circuit board with the same illumination. Irradiation was performed at the same time, an image of the soldered portion of each pin on each side wall surface was captured, and a soldering failure was determined from the captured image of the soldered portion of each pin.
【0005】[0005]
【発明が解決しようとする課題】上記従来の第1のプリ
ント基板半田不良検査装置は、図3に示されるように前
記プリント基板Kの一側壁に突設された全べてのピンP
をカバーする範囲において前記ピンPの半田付け部Hの
長手方向に平行な方向において斜め上方から光が照射さ
れるので、前記ピンPの半田不良部以外のフラックス部
にも光が照射されるため、フラックス部に発生した輝点
を誤検知するという問題があった。As shown in FIG. 3, the conventional first printed circuit board soldering defect inspection apparatus includes all pins P projecting from one side wall of the printed circuit board K. As shown in FIG.
Is irradiated from obliquely above in a direction parallel to the longitudinal direction of the soldering portion H of the pin P in a range that covers the pin P. Therefore, the light is also applied to the flux portion other than the defective solder portion of the pin P. In addition, there is a problem that a bright spot generated in a flux portion is erroneously detected.
【0006】また従来の第1のプリント基板半田不良検
査装置は、前記ピンPの半田不良部とそれ以外のフラッ
クス部とに同一の明るさの輝点が発生するためS/Nが
悪いとともに、前記プリント基板Kの4つの側壁にそれ
ぞれ突設されたピンPの半田不良部を検知するために
は、4個の照明が必要になるという問題があった。In the first conventional printed circuit board soldering defect inspection apparatus, bright spots having the same brightness are generated in the soldering defective portion of the pin P and the other flux portions, so that the S / N is poor and There is a problem that four illuminations are required to detect defective solder portions of the pins P projecting from the four side walls of the printed board K.
【0007】上記従来の第2のプリント基板半田不良検
査装置は、図4に示されるように前記プリント基板Kの
各ピンPの半田付け部Hの長手方向に対して交差する方
向において全てのピンPをカバーする充分広い矩形範囲
に対して斜め上方から光が照射され、前記各ピンPの半
田付け部Hの長手方向に平行な方向の外方において斜め
上方に配設された前記カメラCによって前記照明が照射
した前記各ピンPの半田付け部Hの画像が撮像されるも
のであるため、前記プリント基板Kの4つの側壁にそれ
ぞれ突設されたピンPの半田不良部を検知するために
は、4組の照明とカメラが必要になり、高価になるとい
う問題があった。[0007] As shown in FIG. 4, the conventional second printed board soldering defect inspection apparatus uses all the pins in a direction intersecting the longitudinal direction of the soldering portion H of each pin P of the printed board K. Light is radiated from obliquely above to a sufficiently wide rectangular area covering P, and the camera C disposed obliquely upward outside in a direction parallel to the longitudinal direction of the soldering portion H of each of the pins P. Since the image of the soldered portion H of each of the pins P irradiated by the illumination is captured, in order to detect defective solder portions of the pins P projecting from the four side walls of the printed board K, respectively. However, there is a problem in that four sets of lighting and a camera are required, which is expensive.
【0008】上記従来の第3のプリント基板半田不良検
査装置は、円形の照明を使用して前記プリント基板の各
側壁面の各ピンの半田付け部の全測定箇所を含む広い範
囲を同一の照明にて同時期に照射して、前記各側壁面の
各ピンの半田付け部の画像が撮像され、撮像された各ピ
ンの半田付け部の画像から、半田付け不良が判別される
ものであるので、全方向から照明が当たるため、前記ピ
ンの半田不良部以外のフラックス部にも光が照射され、
フラックス部に発生した輝点を誤検知するという問題が
あった。The third conventional printed circuit board soldering defect inspection apparatus uses a circular illumination to illuminate a wide area including all the measurement points of the soldered portions of the pins on each side wall surface of the printed circuit board with the same illumination. Irradiated at the same time, an image of the soldered portion of each pin on each side wall surface is captured, and from the captured image of the soldered portion of each pin, a soldering failure is determined. Since the illumination is illuminated from all directions, light is also applied to a flux portion other than the solder defective portion of the pin,
There is a problem that a bright spot generated in the flux part is erroneously detected.
【0009】また上記従来の第3のプリント基板半田不
良検査装置は、前記ピンの半田不良部とそれ以外のフラ
ックス部とに同一の明るさの輝点が発生するためS/N
が悪いという問題があった。In the third conventional printed circuit board soldering defect inspection apparatus, bright spots having the same brightness are generated in the soldering defective portion of the pin and the other flux portion, so that the S / N ratio is high.
There was a problem that was bad.
【0010】本発明者は、プリント基板に実装されてい
る多数のピンを備えた表面実装部品の各ピンの半田付け
部の長手方向に対して交差する方向に照明を照射して、
前記プリント基板の上方に配設されたカメラによって照
明が照射された表面実装部品の各ピンの半田付け部の画
像を撮像し、出力される画像データに基づき、前記表面
実装部品の各ピンの半田付け部の画像の明るさにより、
半田付け不良部の輝点を検出することにより半田付け不
良を判別するという本発明の第1の技術的思想に着眼し
た。The inventor of the present invention illuminates a surface mounting component having a large number of pins mounted on a printed circuit board in a direction intersecting a longitudinal direction of a soldering portion of each pin,
An image of a soldering portion of each pin of the surface mount component illuminated by a camera disposed above the printed circuit board is captured, and soldering of each pin of the surface mount component is performed based on output image data. Depending on the brightness of the image of the attachment part,
The first technical idea of the present invention is that the defective soldering is determined by detecting the bright spot of the defective soldering portion.
【0011】また本発明者は、前記照明装置を、矩形の
前記プリント基板の4面の側壁面にそれぞれ実装されて
いる多数のピンを備えた直交する各側壁面の両側の側壁
面に配設された各ピンの半田付け部の長手方向に対して
直交に近い方向に照明を照射するように直交する方向に
おいてそれぞれ斜め上方に配置された第1および第2の
照明装置によって構成して、前記プリント基板の真上に
配設された前記カメラによって、前記第1および第2の
照明装置の照明が照射した前記プリント基板の各側壁面
に配設された表面実装部品の各ピンの4個の帯状領域内
の半田付け部の画像を撮像し、前記カメラから出力され
る画像データに基づき前記演算制御装置によって、前記
プリント基板の各側壁面に配設された表面実装部品の4
個の帯状領域内の各ピンの半田付け部の画像の明るさに
より、前記プリント基板全体の半田付け不良を判別する
という本発明の第2の技術的思想に着眼した。Further, the inventor of the present invention disposes the illuminating device on the side wall surfaces on both sides of each orthogonal side wall surface having a number of pins mounted on the four side wall surfaces of the rectangular printed circuit board. The first and second illuminating devices arranged obliquely upward in a direction orthogonal to the direction orthogonal to the longitudinal direction of the soldered portion of each pin so as to irradiate the illumination, Four pins for each pin of a surface mount component disposed on each side wall surface of the printed circuit board illuminated by the illumination of the first and second lighting devices by the camera disposed directly above the printed circuit board. An image of the soldering portion in the band-shaped area is taken, and the arithmetic and control unit is used to pick up an image of the surface mount component 4 disposed on each side wall surface of the printed circuit board based on the image data output from the camera.
The second technical idea of the present invention is that the soldering failure of the entire printed circuit board is determined based on the brightness of the image of the soldering portion of each pin in each strip-shaped region.
【0012】さらに本発明者は、研究開発を重ねた結
果、前記ピンの半田不良部以外のフラックス部には光が
照射されないため、フラックス部に発生した輝点の誤検
知を防止し、前記ピンの半田不良部とそれ以外のフラッ
クス部とに同一の明るさの輝点が発生することによるS
/Nの悪化を防止するとともに、照明とカメラを最少限
にし、コストダウンを可能にするという目的を達成する
本発明に到達した。Further, as a result of repeated research and development, the present inventor does not irradiate light to a flux portion other than the defective solder portion of the pin, thereby preventing erroneous detection of a luminescent spot generated in the flux portion, Of bright spots of the same brightness in the solder defective part of the solder and the other flux parts
Thus, the present invention has been achieved which prevents the deterioration of / N and minimizes the number of illuminations and cameras and achieves the objective of enabling cost reduction.
【0013】[0013]
【課題を解決するための手段】本発明(請求項1に記載
の第1発明)のプリント基板半田不良検査装置は、プリ
ント基板に実装されている多数のピンを備えた表面実装
部品の各ピンの半田付け部の長手方向に対して交差する
方向に照明を照射する照明装置と、前記プリント基板の
上方に配設され、照明が照射された表面実装部品の各ピ
ンの半田付け部の画像を撮像するカメラと、該カメラか
ら出力される画像データに基づき、前記表面実装部品の
各ピンの半田付け部の画像の明るさにより、半田付け不
良を判別する演算制御装置とから成るものである。According to a first aspect of the present invention, there is provided a printed board soldering defect inspection apparatus comprising: a plurality of pins of a surface mount component having a large number of pins mounted on the printed board; An illumination device that irradiates illumination in a direction intersecting with the longitudinal direction of the soldering portion, and an image of the soldering portion of each pin of the surface mounted component that is disposed above the printed circuit board and is illuminated and illuminated. The camera comprises a camera for imaging, and an arithmetic and control unit for judging a soldering failure based on the brightness of an image of a soldered portion of each pin of the surface mount component based on image data output from the camera.
【0014】本発明(請求項2に記載の第2発明)のプ
リント基板半田不良検査装置は、前記第1発明におい
て、前記照明装置が、前記表面実装部品の各ピンの半田
付け部の長手方向に対して直交またはそれに近い方向に
照明を照射するように構成されているものである。According to a second aspect of the present invention, there is provided the printed circuit board soldering defect inspection apparatus according to the first aspect, wherein the lighting device is arranged such that the illumination device is arranged such that the pins of the surface mount component are soldered in the longitudinal direction. Is configured to irradiate illumination in a direction orthogonal to or close to the direction.
【0015】本発明(請求項3に記載の第3発明)のプ
リント基板半田不良検査装置は、前記第2発明におい
て、前記照明装置が、矩形の本体によって構成された前
記プリント基板の4面の側壁面にそれぞれ実装されてい
る多数のピンを備え直交する各側壁面の両側の側壁面に
配設された各ピンの半田付け部の長手方向に対して直交
に近い方向に照明を照射するように直交する方向におい
てそれぞれ斜め上方に配置された第1および第2の照明
装置によって構成されているものである。According to a third aspect of the present invention, there is provided the printed circuit board soldering defect inspection apparatus according to the second aspect, wherein the lighting device is configured such that the illuminating device has four surfaces of the printed circuit board formed of a rectangular main body. It has a large number of pins mounted on the side wall surfaces, and irradiates the illumination in a direction almost orthogonal to the longitudinal direction of the soldered portion of each pin disposed on both side wall surfaces of each orthogonal side wall surface. The first and second illumination devices are respectively arranged obliquely upward in a direction orthogonal to.
【0016】本発明(請求項4に記載の第4発明)のプ
リント基板半田不良検査装置は、前記第3発明におい
て、前記カメラが、前記プリント基板の真上に配設さ
れ、前記第1および第2の照明装置によって照明が照射
された前記プリント基板の各側壁面に配設された表面実
装部品の各ピンの4個の帯状領域内の半田付け部の画像
を撮像するように構成されているものである。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a printed circuit board soldering defect inspection apparatus according to the third aspect, wherein the camera is disposed right above the printed board, and It is configured to capture an image of a soldered portion in each of the four band-shaped regions of each pin of the surface mount component disposed on each side wall surface of the printed circuit board illuminated by the second illumination device. Is what it is.
【0017】本発明(請求項5に記載の第5発明)のプ
リント基板半田不良検査装置は、前記第4発明におい
て、前記演算制御装置が、前記カメラから出力される画
像データに基づき、前記プリント基板の各側壁面に配設
された表面実装部品の4個の帯状領域内の各ピンの半田
付け部の画像の明るさにより、半田付け不良を判別する
ように構成されているものである。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the printed board soldering defect inspection apparatus according to the fourth aspect, wherein the arithmetic and control unit is configured to execute the printing based on image data output from the camera. The soldering failure is determined based on the brightness of the image of the soldered portion of each pin in the four strip-shaped regions of the surface mount component disposed on each side wall surface of the substrate.
【0018】(発明の作用)上記構成より成る第1発明
のプリント基板半田不良検査装置は、前記照明装置が、
プリント基板に実装されている多数のピンを備えた表面
実装部品の各ピンの半田付け部の長手方向に対して交差
する方向に照明を照射し、前記プリント基板の上方に配
設された前記カメラが、照明が照射した前記表面実装部
品の各ピンの半田付け部の画像を撮像し、前記演算制御
装置が前記カメラから出力される画像データに基づき、
前記表面実装部品の各ピンの半田付け部の画像の明るさ
により、半田付け不良を判別するものである。(Effect of the Invention) In the printed circuit board soldering defect inspection apparatus according to the first invention having the above-described structure, the illumination device includes:
The camera disposed above the printed circuit board, irradiating illumination in a direction intersecting the longitudinal direction of the soldering portion of each pin of the surface mount component having a large number of pins mounted on the printed circuit board, and disposed above the printed circuit board However, based on image data output from the camera, the arithmetic and control unit captures an image of a soldered portion of each pin of the surface mounted component irradiated with illumination,
The soldering failure is determined based on the brightness of the image of the soldered portion of each pin of the surface mount component.
【0019】上記構成より成る第2発明のプリント基板
半田不良検査装置は、前記第1発明において、前記照明
装置が、前記表面実装部品の各ピンの半田付け部の長手
方向に対して直交またはそれに近い方向に照明を照射す
るものである。In the printed board soldering defect inspection apparatus according to the second invention having the above-mentioned structure, in the first invention, the illumination device may be such that the lighting device is perpendicular to or longitudinal to a longitudinal direction of a soldering portion of each pin of the surface mount component. It irradiates illumination in a near direction.
【0020】上記構成より成る第3発明のプリント基板
半田不良検査装置は、前記第2発明において、前記表面
実装部品の前記各ピンの半田付け部の長手方向に直交す
る方向においてそれぞれ斜め上方に配置された前記照明
装置を構成する前記第1および第2の照明装置が、矩形
の本体によって構成された前記プリント基板のそれぞれ
2面の側壁面にそれぞれ実装されている多数のピンを備
えた表面実装部品の直交する各側壁面の両側の側壁面に
配設された各ピンの半田付け部の長手方向に対して直交
に近い方向にそれぞれ照明を照射するものである。The printed circuit board soldering defect inspection apparatus according to the third aspect of the present invention, which is arranged as described above in the second aspect, is disposed obliquely upward in a direction orthogonal to a longitudinal direction of a soldering portion of each of the pins of the surface mount component. Surface mounting, wherein the first and second illuminating devices constituting the illuminating device are provided with a plurality of pins respectively mounted on two side walls of the printed circuit board formed by a rectangular main body. The illumination is radiated in a direction substantially orthogonal to the longitudinal direction of the soldering portion of each pin disposed on both side wall surfaces of each of the orthogonal side wall surfaces of the component.
【0021】上記構成より成る第4発明のプリント基板
半田不良検査装置は、前記第3発明において、前記プリ
ント基板の真上に配設された前記カメラが、前記第1お
よび第2の照明装置によって照明が照射された前記プリ
ント基板の反対側の側壁面に配設された2個の帯状領域
内の表面実装部品の各ピンの半田付け部の画像を撮像す
るものである。According to a fourth aspect of the present invention, there is provided a printed circuit board soldering defect inspection apparatus according to the third aspect, wherein the camera disposed right above the printed board is provided by the first and second lighting devices. An image of a soldered portion of each pin of a surface mount component in two strip-shaped regions arranged on the opposite side wall surface of the printed circuit board to which the illumination is applied is taken.
【0022】上記構成より成る第5発明のプリント基板
半田不良検査装置は、前記第4発明において、前記演算
制御装置が、前記カメラから出力される画像データに基
づき、前記プリント基板の各側壁面に配設された表面実
装部品の4個の帯状領域内の各ピンの半田付け部の画像
の明るさにより、半田付け不良を判別するものである。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided the printed board soldering defect inspection apparatus according to the fourth aspect, wherein the arithmetic and control unit is arranged on each side wall surface of the printed board based on image data output from the camera. The soldering failure is determined based on the brightness of the image of the soldering portion of each pin in the four strip-shaped regions of the arranged surface mount component.
【0023】[0023]
【発明の効果】上記作用を奏する第1発明のプリント基
板半田不良検査装置は、前記照明装置が、前記プリント
基板の表面実装部品の各ピンの半田付け部の長手方向に
対して交差する方向に照明を照射し、前記プリント基板
の上方に配設された前記カメラが、照明が照射した前記
表面実装部品の各ピンの半田付け部の画像を撮像するの
で、前記ピンの半田不良部以外のフラックス部には光が
照射されないため、フラックス部に発生した輝点の誤検
知を防止し、前記ピンの半田不良部とそれ以外のフラッ
クス部とに同一の明るさの輝点が発生することによるS
/Nの悪化を防止するという効果を奏する。According to the first aspect of the present invention, there is provided a printed circuit board soldering defect inspection apparatus, wherein the illumination device is arranged so that the lighting device intersects the longitudinal direction of the soldering portion of each pin of the surface mount component of the printed circuit board. Irradiates the illumination, and the camera disposed above the printed circuit board captures an image of the soldering portion of each pin of the surface mounted component irradiated by the illumination, so that the flux other than the defective solder portion of the pin is Since no light is applied to the portion, erroneous detection of a bright spot generated in the flux portion is prevented, and bright spots having the same brightness are generated in the solder defective portion of the pin and other flux portions.
/ N is prevented from deteriorating.
【0024】上記作用を奏する第2発明のプリント基板
半田不良検査装置は、前記第1発明において、前記照明
装置が、前記表面実装部品の各ピンの半田付け部の長手
方向に対して直交またはそれに近い方向に照明を照射す
るので、前記ピンの半田不良部以外のフラックス部には
光が照射されないため、フラックス部に発生した輝点の
誤検知を防止し、前記ピンの半田不良部とそれ以外のフ
ラックス部とに同一の明るさの輝点が発生することによ
るS/Nの悪化を防止するという効果を奏する。The printed circuit board soldering defect inspection apparatus according to a second aspect of the present invention having the above-mentioned action is characterized in that, in the first aspect, the illuminating device is perpendicular to or longitudinal to a longitudinal direction of a soldered portion of each pin of the surface mount component. Since the illumination is applied in the near direction, the flux portion other than the solder defective portion of the pin is not irradiated with the light, so that erroneous detection of the bright spot generated in the flux portion is prevented, and the solder defective portion of the pin and other This has the effect of preventing the deterioration of S / N due to the occurrence of bright spots of the same brightness in the flux portion of the present invention.
【0025】上記作用を奏する第3発明のプリント基板
半田不良検査装置は、前記第2発明において、前記表面
実装部品の前記各ピンの半田付け部の長手方向に直交す
る方向に配置された前記照明装置を構成する前記第1お
よび第2の照明装置が、前記プリント基板の4面の側壁
面にそれぞれ実装されている多数のピンを備え直交する
各側壁面の両側の側壁面に配設された各ピンの半田付け
部の長手方向に対して直交に近い方向に照明を照射する
ので、前記ピンの半田不良部以外のフラックス部には光
が照射されないため、フラックス部に発生した輝点の誤
検知を防止し、前記ピンの半田不良部とそれ以外のフラ
ックス部とに同一の明るさの輝点が発生することによる
S/Nの悪化を防止するという効果を奏するという効果
を奏する。The printed board soldering defect inspection apparatus according to a third aspect of the present invention, which has the above-described operation, is characterized in that, in the second aspect, the illumination is arranged in a direction orthogonal to a longitudinal direction of a soldering portion of each of the pins of the surface-mounted component. The first and second illuminating devices constituting the device are provided on a side wall surface on both sides of each orthogonal side wall surface with a large number of pins respectively mounted on four side wall surfaces of the printed circuit board. Since the illumination is radiated in a direction substantially orthogonal to the longitudinal direction of the soldered portion of each pin, the flux portion other than the solder defective portion of the pin is not irradiated with the light, so that the luminescent spot generated in the flux portion is not mistaken. This has the effect of preventing detection and preventing the deterioration of S / N due to the occurrence of bright spots of the same brightness in the defective solder portions of the pins and other flux portions.
【0026】上記作用を奏する第4発明のプリント基板
半田不良検査装置は、前記第3発明において、前記プリ
ント基板の真上に配設された前記カメラが、前記第1お
よび第2の照明装置によってそれぞれ照明が照射された
前記プリント基板の各側壁面に配設された表面実装部品
の各ピンの2個の帯状領域内の半田付け部の画像をそれ
ぞれ一度に撮像することを可能にするという効果を奏す
る。The printed circuit board soldering defect inspection apparatus according to a fourth aspect of the present invention, which has the above-described operation, is characterized in that, in the third aspect, the camera disposed right above the printed circuit board is controlled by the first and second lighting devices. The effect that it is possible to capture the images of the soldering portions in the two band-shaped regions of each pin of the surface mount component disposed on each side wall surface of the printed circuit board respectively illuminated at a time. To play.
【0027】上記作用を奏する第5発明のプリント基板
半田不良検査装置は、前記第4発明において、前記演算
制御装置が、前記カメラから出力される画像データに基
づき、前記プリント基板の各側壁面に配設された表面実
装部品の4個の帯状領域内の各ピンの半田付け部の画像
の明るさにより、前記全ての半田付け部の半田付け不良
を判別するので、照明とカメラを最少限にし、コストダ
ウンを可能にするという効果を奏する。According to a fifth aspect of the present invention, there is provided a printed circuit board soldering defect inspection apparatus according to the fourth aspect, wherein the arithmetic and control unit is arranged on each side wall surface of the printed board based on image data output from the camera. Since the brightness of the image of the soldering portion of each pin in the four strip-shaped regions of the surface mounted component arranged is used to determine the poor soldering of all the soldering portions, the illumination and the camera are minimized. This has the effect of enabling cost reduction.
【0028】[0028]
【発明の実施の形態】以下本発明の実施の形態につき、
図面を用いて説明する。DESCRIPTION OF THE PREFERRED EMBODIMENTS Embodiments of the present invention are described below.
This will be described with reference to the drawings.
【0029】(実施形態)本実施形態のプリント基板半
田不良検査装置は、図1および図2に示されるようにプ
リント基板3に実装されている多数のピン31を備えた
表面実装部品の各ピン31の半田付け部の長手方向に対
して交差する方向に照明を照射する2個の照明装置1
1、12と、前記プリント基板3の上方に配設され、照
明が照射された表面実装部品の各ピンの半田付け部の画
像を撮像するカメラ2と、該カメラ2に接続され出力さ
れる画像データに基づき、前記表面実装部品のプリント
基板3の各ピン31の半田付け部32の画像の明るさに
より、半田付け不良を判別する演算制御装置5とから成
るものである。(Embodiment) As shown in FIGS. 1 and 2, the printed board soldering defect inspection apparatus according to the present embodiment has a plurality of pins 31 of a surface mount component having a large number of pins 31 mounted on a printed board 3. Two illumination devices 1 for irradiating illumination in a direction intersecting the longitudinal direction of the soldering portion 31
1, 2 and a camera 2 arranged above the printed circuit board 3 for picking up an image of a soldered portion of each pin of the illuminated surface mount component, and an image connected to and output from the camera 2 An arithmetic and control unit 5 for determining a soldering failure based on the brightness of the image of the soldering portion 32 of each pin 31 of the printed circuit board 3 of the surface mount component based on the data.
【0030】前記プリント基板3は、図1および図2に
示されるように矩形の本体によって構成され、4面の側
壁面に一端の水平部311が突設され垂直部312を介
して半田付け部32を構成する他端の水平部313とか
ら成る略クランク形状のピン31が多数すなわち本実施
形態においては6本並設して突設されている。As shown in FIGS. 1 and 2, the printed circuit board 3 has a rectangular main body, a horizontal portion 311 at one end protruding from four side walls, and a soldering portion via a vertical portion 312. A large number of substantially crank-shaped pins 31 including the horizontal portion 313 at the other end of the pin 32 are provided, that is, six pins are juxtaposed in the present embodiment.
【0031】前記照明装置11、12が、図1および図
2に示されるように検査対象部品のプリント基板3の各
ピン31の半田付け部32の長手方向に対して直交また
はそれに近い方向に照明を照射するように配置されてい
る。As shown in FIGS. 1 and 2, the illuminating devices 11 and 12 illuminate in a direction orthogonal to or close to the longitudinal direction of the soldering portion 32 of each pin 31 of the printed board 3 of the component to be inspected. It is arranged to irradiate.
【0032】前記照明装置は、矩形の本体によって構成
された前記プリント基板3の4面の側壁面にそれぞれ実
装されている表面実装部品の多数のピン31を備えた直
交する各側壁面の両側の側壁面に配設された各ピン31
の半田付け部32の長手方向に対して直交に近い方向の
全てのピンを含む4個の帯状領域41〜44内の半田付
け部に照明を照射するように、直交する方向においてそ
れぞれ斜め上方に配置された第1および第2の照明装置
11、12によって構成されている。The illuminating device comprises a plurality of pins 31 of surface mount components mounted on the four side walls of the printed circuit board 3 each formed of a rectangular main body. Each pin 31 arranged on the side wall surface
In order to illuminate the soldering portions in the four band-shaped regions 41 to 44 including all the pins in a direction substantially perpendicular to the longitudinal direction of the soldering portion 32, The first and second lighting devices 11 and 12 are arranged.
【0033】前記カメラ2が、図1および図2に示され
るように前記プリント基板3の中心の真上に配設され、
前記第1および第2の照明装置11、12によって照明
が照射された前記プリント基板3の各側壁面に配設され
た表面実装部品の各ピン31の4個の帯状領域41〜4
4内の前記半田付け部32の画像を撮像するように配置
されている。The camera 2 is disposed directly above the center of the printed circuit board 3 as shown in FIGS.
Four strip-shaped areas 41 to 4 of each pin 31 of a surface mount component disposed on each side wall surface of the printed circuit board 3 illuminated by the first and second illumination devices 11 and 12
4 are arranged so as to capture an image of the soldering portion 32.
【0034】前記演算制御装置5が、図1に示されるよ
うに前記カメラ2から出力される画像データに基づき、
前記プリント基板3の各側壁面に配設された表面実装部
品の4個の帯状領域41〜44内の各ピン31の半田付
け部32の画像の明るさにより、半田付け不良を判別す
るものである。Based on the image data output from the camera 2 as shown in FIG.
A soldering failure is determined based on the brightness of the image of the soldering portion 32 of each pin 31 in the four belt-shaped regions 41 to 44 of the surface mount component disposed on each side wall surface of the printed board 3. is there.
【0035】上記構成より成る実施形態のプリント基板
半田不良検査装置は、前記プリント基板の表面実装部品
の前記各ピンの半田付け部の長手方向に直交する方向に
おいてそれぞれ斜め上方に配置された前記照明装置を構
成する前記第1および第2の照明装置11、12が、矩
形の本体によって構成された前記プリント基板3の4面
の側壁面にそれぞれ実装されている表面実装部品の多数
のピン31を備えた直交する各側壁面の両側の側壁面に
配設された各ピン31の前記半田付け部32の長手方向
に対して直交に近い方向において4個の帯状領域41〜
44にそれぞれ照明を照射するものである。In the printed board soldering defect inspection apparatus according to the embodiment having the above-mentioned configuration, the illumination device is disposed obliquely upward in a direction orthogonal to a longitudinal direction of a soldering portion of each of the pins of the surface mounted component of the printed board. The first and second illuminating devices 11 and 12 constituting the device are provided with a large number of pins 31 of surface mount components which are respectively mounted on four side walls of the printed circuit board 3 formed by a rectangular main body. The four band-like regions 41 to 41 in the direction substantially orthogonal to the longitudinal direction of the soldering portion 32 of each pin 31 disposed on both side wall surfaces of each of the provided orthogonal side wall surfaces.
44 is illuminated.
【0036】すなわち、前記プリント基板3の真上に配
設された前記カメラ2が、前記第1および第2の照明装
置11、12によって照明が照射された前記プリント基
板3の両側の側壁面に配設された2個の帯状領域41、
43および42、44内の表面実装部品の各ピン31の
半田付け部32の画像を撮像するものである。That is, the camera 2 disposed right above the printed circuit board 3 is mounted on the side walls on both sides of the printed circuit board 3 illuminated by the first and second lighting devices 11 and 12. Two band-shaped regions 41 provided,
An image of the soldered portion 32 of each pin 31 of the surface mount components 43, 42, and 44 is taken.
【0037】前記2個の帯状領域41および43の検査
時には、前記第1の照明装置11によって照明が前記2
個の帯状領域41および43を照射し、画像データを前
記カメラ2によって取り込み、前記半田付け部32の半
田不良を判定するものである。前記2個の帯状領域42
および44の検査時には、前記第2の照明装置12によ
って照明が前記2個の帯状領域42および44を照射
し、画像データを前記カメラ2によって取り込み、前記
半田付け部32の半田不良を判定するものである。At the time of inspection of the two band-shaped areas 41 and 43, the illumination by the first illumination device 11
Each of the band-shaped regions 41 and 43 is illuminated, image data is captured by the camera 2, and a solder defect of the soldering section 32 is determined. The two strips 42
In the inspection of (2) and (4), the illumination by the second illumination device 12 illuminates the two band-shaped regions 42 and 44, the image data is captured by the camera 2, and the soldering failure of the soldering portion 32 is determined. It is.
【0038】各側壁面の両側の側壁面に配設された各ピ
ン31の半田付け部32の長手方向に対して直交に近い
方向に照明を照射するので、隣り合う前記ピン31の半
田不良部32の間の凹部に相当するフラックス部には光
が直接照射されない。すなわち、前記第1および第2の
照明装置11、12の傾斜角は、フラックス部には光が
直接照射されないような角度に調整されている。The illumination is radiated in a direction substantially orthogonal to the longitudinal direction of the soldering portion 32 of each pin 31 disposed on the side wall surface on both sides of each side wall surface. Light is not directly applied to the flux portion corresponding to the concave portion between 32. That is, the inclination angles of the first and second lighting devices 11 and 12 are adjusted to an angle such that the flux portion is not directly irradiated with light.
【0039】前記演算制御装置5が、前記カメラ2から
出力される画像データに基づき、前記プリント基板3の
各側壁面に配設された4個の帯状領域41〜44内の表
面実装部品の各ピン31の前記半田付け部32の画像の
明るさにより、半田付け不良を判別するものである。Based on the image data output from the camera 2, the arithmetic and control unit 5 controls each of the surface-mounted components in the four strip regions 41 to 44 disposed on each side wall surface of the printed circuit board 3. The soldering failure is determined based on the brightness of the image of the soldering portion 32 of the pin 31.
【0040】上記作用を奏する実施形態のプリント基板
半田不良検査装置は、前記表面実装部品の前記各ピン3
1の前記半田付け部32の長手方向に直交する方向に配
置された前記照明装置を構成する前記第1および第2の
照明装置11、12が、前記プリント基板3の4面の側
壁面にそれぞれ実装されている多数のピン31を備え直
交する各側壁面の両側の側壁面に配設された各ピン31
の半田付け部32の長手方向に対して直交に近い方向に
照明を照射するので、前記ピン31の半田不良部32以
外のフラックス部には光が照射されないため、フラック
ス部に発生した輝点の誤検知を防止し、前記ピン31の
半田不良部32とそれ以外のフラックス部とに同一の明
るさの輝点が発生することによるS/Nの悪化を防止す
るという効果を奏するという効果を奏する。The printed circuit board soldering defect inspection apparatus according to the embodiment having the above-mentioned operation is characterized in that each of the pins 3
The first and second lighting devices 11 and 12 constituting the lighting device arranged in a direction orthogonal to the longitudinal direction of the soldering portion 32 of the first soldering portion 32 are respectively provided on four side wall surfaces of the printed circuit board 3. Each pin 31 provided on the side wall surface on both sides of each orthogonal side wall surface having a large number of mounted pins 31
Since the illumination is radiated in a direction substantially perpendicular to the longitudinal direction of the soldering portion 32, no light is applied to the flux portion other than the solder defective portion 32 of the pin 31. This has the effect of preventing erroneous detection and preventing the deterioration of S / N due to the occurrence of bright spots of the same brightness in the solder defective portions 32 of the pins 31 and the other flux portions. .
【0041】すなわち、各側壁面の両側の側壁面に配設
された各ピン31の半田付け部32の長手方向に対して
直交に近い方向に照明を照射するので、隣り合う前記ピ
ン31の半田不良部32の間の凹部に相当するフラック
ス部には光が直接照射されないので、フラックス部に発
生する輝点の誤検知を防止し、前記ピン31の半田不良
部32とそれ以外のフラックス部とに同一の明るさの輝
点が発生することによるS/Nの悪化を防止するもので
ある。That is, the illumination is radiated in a direction almost orthogonal to the longitudinal direction of the soldering portion 32 of each pin 31 disposed on both side wall surfaces of each side wall surface. Since light is not directly applied to the flux portion corresponding to the concave portion between the defective portions 32, erroneous detection of a luminescent spot generated in the flux portion is prevented, and the solder defective portion 32 of the pin 31 and the other flux portions are removed. This prevents the S / N from deteriorating due to the occurrence of bright spots having the same brightness.
【0042】また本実施形態のプリント基板半田不良検
査装置は、前記プリント基板3の真上に配設された前記
カメラ2が、前記第1および第2の照明装置11、12
によって照明が照射された前記プリント基板3の反対側
の各側壁面に配設された2個の帯状領域41、43およ
び42、44内の表面実装部品の各ピン31の前記半田
付け部32の画像をそれぞれ一度に撮像することを可能
にするという効果を奏する。Further, in the printed board soldering defect inspection apparatus according to the present embodiment, the camera 2 disposed directly above the printed board 3 includes the first and second lighting devices 11 and 12.
Of the pins 31 of the surface mount components in the two band-shaped regions 41, 43 and 42, 44 arranged on the respective side walls on the opposite side of the printed board 3 illuminated by the There is an effect that it is possible to capture images at one time.
【0043】すなわち、測定箇所を、複数のピン31の
半田付け部32を含む限定された帯状領域に分割し、そ
れそれに直交に近い方向から斜め上方の所定の角度から
照明を照射することにより、上方に突出したピン31の
半田不良のみに輝点を発生させ、従来における誤検知を
抑制するものである。That is, the measurement location is divided into a limited band-like region including the soldering portions 32 of the plurality of pins 31, and illumination is radiated from a predetermined angle obliquely upward from a direction substantially orthogonal to the divided band-like region. A bright spot is generated only at a solder defect of the pin 31 protruding upward, thereby suppressing erroneous detection in the related art.
【0044】さらに本実施形態のプリント基板半田不良
検査装置は、前記演算制御装置5が、前記カメラ2から
出力される画像データに基づき、前記プリント基板3の
各側壁面に配設された表面実装部品の4個の帯状領域4
1〜44内の各ピン31の半田付け部32の画像の明る
さにより、前記全ての半田付け部32の半田付け不良を
判別するので、照明とカメラを最少限にし、コストダウ
ンを可能にするという効果を奏する。Further, in the printed board soldering defect inspection apparatus according to the present embodiment, the arithmetic and control unit 5 is arranged so that the arithmetic and control unit 5 is mounted on each side wall of the printed board 3 based on the image data output from the camera 2. Four strips 4 of the part
Since the soldering failure of all the soldering portions 32 is determined based on the brightness of the image of the soldering portion 32 of each pin 31 in 1 to 44, the illumination and the camera are minimized, and the cost can be reduced. This has the effect.
【0045】上述の実施形態は、説明のために例示した
もので、本発明としてはそれらに限定されるものでは無
く、特許請求の範囲、発明の詳細な説明および図面の記
載から当業者が認識することができる本発明の技術的思
想に反しない限り、変更および付加が可能である。The above-described embodiments have been described by way of example only, and the present invention is not limited to these embodiments. Those skilled in the art will recognize from the claims, the detailed description of the invention, and the drawings. Modifications and additions are possible without departing from the technical idea of the present invention.
【0046】上述の実施形態においては、一例として検
査対象部品として1個のプリント基板の側壁の各ピン3
1の半田付け部を検査する例について説明したが、本発
明としてはそれらに限定されるものでは無く、検査対象
部品として複数のプリント基板の側壁の各ピン31の半
田付け部を検査するためにX−Yロボット等により照明
およびカメラを移動させて検査する実施形態を採用する
ことが可能である。In the above-described embodiment, as an example, each pin 3 on the side wall of one printed circuit board is used as a part to be inspected.
Although an example of inspecting one soldering portion has been described, the present invention is not limited to such an example. In order to inspect a soldering portion of each pin 31 on a plurality of side walls of a printed circuit board as a component to be inspected, An embodiment in which the illumination and the camera are moved and inspected by an XY robot or the like can be adopted.
【図1】本発明の実施形態におけるプリント基板半田不
良検査装置を示す正面図である。FIG. 1 is a front view showing a printed board soldering defect inspection apparatus according to an embodiment of the present invention.
【図2】本実施形態における第1および第2の照明装置
の配設位置関係を示す平面図である。FIG. 2 is a plan view showing a positional relationship between first and second lighting devices according to the embodiment.
【図3】従来のプリント基板半田不良検査装置を示す正
面図である。FIG. 3 is a front view showing a conventional printed board soldering defect inspection apparatus.
【図4】従来のプリント基板半田不良検査装置を示す斜
視図である。FIG. 4 is a perspective view showing a conventional printed board soldering defect inspection apparatus.
11、12 照明装置 2 カメラ 3 フリント基板 31 ピン 32 半田付け部 5 演算制御装置 11, 12 Lighting device 2 Camera 3 Flint board 31 Pin 32 Soldering part 5 Arithmetic control device
Claims (5)
ンを備えた表面実装部品の各ピンの半田付け部の長手方
向に対して交差する方向に照明を照射する照明装置と、 前記プリント基板の上方に配設され、照明が照射された
表面実装部品の各ピンの半田付け部の画像を撮像するカ
メラと、 該カメラから出力される画像データに基づき、前記表面
実装部品の各ピンの半田付け部の画像の明るさにより、
半田付け不良を判別する演算制御装置とから成ることを
特徴とするプリント基板半田不良検査装置。An illumination device for irradiating illumination in a direction intersecting a longitudinal direction of a soldering portion of each pin of a surface mount component having a large number of pins mounted on a printed circuit board; A camera that is disposed above and captures an image of a soldering portion of each pin of the surface-mounted component to which illumination is applied; and a soldering of each pin of the surface-mounted component based on image data output from the camera. Depending on the brightness of the part image,
A printed board soldering defect inspection device, comprising: an arithmetic and control unit for determining a soldering defect.
部の長手方向に対して直交またはそれに近い方向に照明
を照射するように構成されていることを特徴とするプリ
ント基板半田不良検査装置。2. The illumination device according to claim 1, wherein the illumination device is configured to irradiate illumination in a direction orthogonal to or close to a longitudinal direction of a soldering portion of each pin of the surface mount component. Characteristic printed circuit board solder defect inspection equipment.
リント基板の4面の側壁面にそれぞれ実装されている多
数のピンを備え直交する各側壁面の両側の側壁面に配設
された各ピンの半田付け部の長手方向に対して直交に近
い方向に照明を照射するように直交する方向においてそ
れぞれ斜め上方に配置された第1および第2の照明装置
によって構成されていることを特徴とするプリント基板
半田不良検査装置。3. The illuminating device according to claim 2, wherein the illuminating device includes a plurality of pins respectively mounted on four side walls of the printed circuit board formed by a rectangular main body. The first and second lighting devices are disposed obliquely upward in a direction perpendicular to the direction perpendicular to the longitudinal direction of the soldering portion of each pin disposed on the side wall surface, respectively. A printed circuit board soldering defect inspection device characterized by being constituted.
記第1および第2の照明装置によって照明が照射された
前記プリント基板の各側壁面に配設された表面実装部品
の各ピンの4個の帯状領域内の半田付け部の画像を撮像
するように構成されていることを特徴とするプリント基
板半田不良検査装置。4. The printed circuit board according to claim 3, wherein the camera is disposed directly above the printed circuit board, and is disposed on each side wall surface of the printed circuit board illuminated by the first and second lighting devices. A printed circuit board soldering defect inspection apparatus configured to capture an image of a soldered portion in each of four strip-shaped regions of each pin of the surface mounted component.
ータに基づき、前記プリント基板の各側壁面に配設され
た表面実装部品の4個の帯状領域内の各ピンの半田付け
部の画像の明るさにより、半田付け不良を判別するよう
に構成されていることを特徴とするプリント基板半田不
良検査装置。5. The computer-readable storage medium according to claim 4, wherein the arithmetic and control unit determines, based on image data output from the camera, four band-shaped regions of the surface-mounted components disposed on each side wall surface of the printed circuit board. A printed circuit board soldering defect inspection apparatus characterized in that a soldering defect is determined based on the brightness of an image of a soldering portion of each pin.
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17760097A JPH116718A (en) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | Solder defect inspecting instrument for printed circuit board |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP17760097A JPH116718A (en) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | Solder defect inspecting instrument for printed circuit board |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPH116718A true JPH116718A (en) | 1999-01-12 |
Family
ID=16033840
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP17760097A Pending JPH116718A (en) | 1997-06-17 | 1997-06-17 | Solder defect inspecting instrument for printed circuit board |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPH116718A (en) |
Cited By (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4569673A (en) * | 1984-01-12 | 1986-02-11 | Battelle Development Corporation | Bacterial barrier for indwelling catheters and other medical devices |
US8026185B2 (en) | 2006-08-07 | 2011-09-27 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method for manufacturing electronic circuit component |
CN103438799A (en) * | 2013-08-27 | 2013-12-11 | 上海美诺福实验自动化有限公司 | Sample defect recognition system |
CN106980721A (en) * | 2017-03-21 | 2017-07-25 | 电子科技大学 | A kind of rosin joint detects Finite Element Simulation Analysis method |
CN115135033A (en) * | 2022-07-29 | 2022-09-30 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | Empty welding detection device and electronic equipment |
-
1997
- 1997-06-17 JP JP17760097A patent/JPH116718A/en active Pending
Cited By (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US4569673A (en) * | 1984-01-12 | 1986-02-11 | Battelle Development Corporation | Bacterial barrier for indwelling catheters and other medical devices |
US8026185B2 (en) | 2006-08-07 | 2011-09-27 | Sumitomo Electric Industries, Ltd. | Method for manufacturing electronic circuit component |
CN103438799A (en) * | 2013-08-27 | 2013-12-11 | 上海美诺福实验自动化有限公司 | Sample defect recognition system |
CN106980721A (en) * | 2017-03-21 | 2017-07-25 | 电子科技大学 | A kind of rosin joint detects Finite Element Simulation Analysis method |
CN115135033A (en) * | 2022-07-29 | 2022-09-30 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | Empty welding detection device and electronic equipment |
CN115135033B (en) * | 2022-07-29 | 2024-02-09 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | Empty detection of welding detection device and electronic equipment |
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