JPS62264717A - 疑似フオトンパルス発生装置 - Google Patents

疑似フオトンパルス発生装置

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JPS62264717A
JPS62264717A JP61107977A JP10797786A JPS62264717A JP S62264717 A JPS62264717 A JP S62264717A JP 61107977 A JP61107977 A JP 61107977A JP 10797786 A JP10797786 A JP 10797786A JP S62264717 A JPS62264717 A JP S62264717A
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photon pulse
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 この発明は高速光子計数回路システムやそれを、構成す
る回路の動作確認や性能評価、較正等のために、高速光
電子増倍管から得られるような幅の狭い鋭いパルスく通
常は幅2〜3 r15e(程度)を疑似的に発生させる
だめの疑似フォトンパルス発生装置に関するものである
従来の技術 光電子僧侶管への入射光量が極めて微弱な場合、光電子
増倍管の出力は各光電子パルスが互いに分離した所謂シ
ングルフォトン状態となる。したがって時間的に減衰す
る微弱な螢光を光電子増倍管で受けた場合、その出力は
光電子パルス列となって現われることになる。そこでこ
のような光電子パルス列を計数するための高速光子計数
回路システムが従来から種々提案、実用化されている。
ところで高速光電子増倍管から出力される光電子パルス
は幅2〜3 nSeε程度の極めて幅か狭い鋭い信号パ
ルスとなっている。このような光電子バルスを計数する
装置の全体システムや、その構成回路例えば高速パルス
アンプやディスクリミネータなどに対して動作や確認や
性能評価、較正などを精確に行なうためには、上述のよ
うな幅の狭い信号パルスを入力させる必要がある。その
ための方法の一つとしては、実際の光電子増倍管の出力
を回路に入力させる方法もあるが、その方法を回路やシ
ステムの製作途中で適用するには煩雑な手間を要し、ま
た時間軸の較正や全体の動作確認などの目的は容易には
達成し得ない。
そこで実際の光電子増倍管の出力を用いず、実際の光電
子パルスに対応する幅の狭いパルス(以下これを疑似フ
ォトンパルスと記す)を電気回路により発生させ、これ
を光子計数システムやその回路に入力させて動作確認や
性能評価、較正を行なうことが考えられており、本発明
者等は既に文献「分光研究」第32巻、第4号(198
3)P249〜254の「高速光子計数回路評価用疑似
フォトンパルス発生器の試作」において報告したような
“疑似ダブルフォトンパルス発生器″および“指数分布
型ナノ秒パルス発生器″を設計、製作し、良好な結果を
得ている。これらのうち、“指数分布型ナノ秒パルス発
生器″は、試料の励 ・起パルスに対応する1個のトリ
ガパルスに対して、任意の時定数の指数減衰関数に従っ
た発生頻度を有する疑似フォトンパルスを発生させるも
のでおる。一方“疑似ダブルフォトンパルス発生器゛′
は、2つのパルス間隔が既知でしかも連続的にパルス間
隔を変えることができる一対の疑似フォトンパルス(疑
似ダブルフォトンパルス)を発生するものでおる。
発明が解決すべき問題点 前述の“指数分布型ナノ秒パルス発生器″は、その構成
上、1個のトリガパルスに対して1個の疑似フォトンパ
ルスしか発生させられず、しかもその発生時刻は、トリ
ガパルスに対しである一定の規則(すなわち与えられた
時定数を有する指数関数)に従って規則正しく変化する
しかるに実際の光電子増倍管の出力パルスはポアソン過
程と考えられ、したがってパルスの発生個数はポアソン
分布に従い、時間的にランダムとなる。例えば螢光発光
波形の場合の光電子増倍管の出力状況は、ポアソン分布
に従って時間的にランダムであってこれをざらに指数変
換したような状況となる。そこで実際のシステム動作の
正確な確認、較正にはポアソン分布にしたがって時間的
にランダムなパルス列が入力されることが望ましく、ま
た入射光強度に対するダイナミックレンジの確認のため
には、ポアソン分布の平均値が自由に設定できるように
することが必要である。しかしながら前述のような“指
数分布型ナノ秒パルス発生器パではこのような要請に応
じることはできなかった。
また前述の“疑似ダブルフォトンパルス発生器″は、高
速パルスアンプの動作チェックやディスクリミネータの
パルス対分解能の測定などには適しているものの、シス
テム全体の動作確認や評価などには不適当であり、かつ
前述のようなポアソン分布に従ったランダムなパルス列
は発生させることはてきなかった。
この発明は以上の事情を背景としてなされたもので、前
述の要請に応え、1個のトリガパルスに対して疑似的に
ポアソン分布にしたがう個数の疑似フォトンパルスを発
生させることができ、しかもその疑似フォトンパルス発
生時刻の頻度を予め定めた減衰関数にしたがわせ、かつ
これらの制限下でパルスの発生状況を時間的にランダム
とした疑似フォトンパルス発生装置を提供することを基
本的な目的とすφものである。またこの発明は、上記の
基本的な目的に併せて、前記のポアソン分布平均値を任
意に設定することができるようにした疑似フォトンパル
ス発生装置、ざらには前記の減衰関数の時定数を任意に
設定できるようにした疑似フォトンパルス発生装置を提
供することを目的とする。
問題点を解決するための手段 本願の第1発明の疑似フォトンパルス発生装置は、基本
的には、 クロックパルス発生手段と; そのクロックパルス発生手段からのクロツクパルスに同
期して疑似乱数を発生する疑似乱数発生手段と: 前記疑似乱数発生手段のワード出力をアナログ信号に変
換するためのD/Aコンバータと;前記クロックパルス
の周期より長い周期のトリガパルスを発生するトリガパ
ルス発生手段と:そのトリガパルスに同期して予め定め
た関数波形で周期的に変化する信号を出力する関数発生
器と; 前記D/Aコンバータの出力信号と関数発生器の出力信
号とを比較してその比較信号を出力するコンパレータと
; そのコンパレータの出力信号の立上りもしくは立下りに
同期して、および/またはそのコンパレータの出力信号
の立上りもしくは立下りに対し一定の遅れをもって、幅
の狭い疑似フォトンパルスを発生する疑似フォトンパル
ス発生手段;とを有してなることを特徴とするものであ
る。
ここで、前記クロックパルス発生手段は、そのクロック
の周波数を選択可能に構成することが望ましく、また前
記関数発生器は、関数波形の時定数を可変に構成してお
くことが望ましい。
また前記疑似フォトンパルス発生手段は、正極性の疑似
フォトンパルスと負極性の疑似フォトンパルスの両者を
発生し得るように構成しておくことが望ましい。そして
そのためには、疑似フォトンパルス発生手段を、前記コ
ンパレータの出力が加えられる単安定回路と、その単安
定回路の出力信号パルスの立上りによりトリガされて第
1の極性の疑似フォトンパルスを発生する回路と、単安
定回路の出力信号パルスの立下りによりトリガされて第
2の極性の疑似フォトンパルスを発生する回路とによっ
て構成すれば良い。
ざらに前記疑似フォトンパルス発生手段には、その疑似
フォトンパルスの発生個数を単位時間ごとに計数して表
示するための計数・表示手段を接続しておくことが望ま
しい。
一方本願第2発明の疑似フォトンパルス発生装置は、 クロックパルス発生手段と: そのクロックパルス発生手段からのクロックパルスに同
期して第1の疑似乱数を発生する第1の疑似乱数発生手
段と: 前記クロックパルス発生手段からのクロックパルスに同
期して第2の疑似乱数を発生する第2の疑似乱数発生手
段と; 前記第1の疑似乱数発生手段のワード出力をアナログ信
号に変換する第1のD/Aコンバータと:前記第2の疑
似乱数発生手段のワード出力をアナログ信号に変換する
第2のD/Aコンバータと:前記クロッパルスの周期よ
りも長い周期のトリガパルスを発生するトリガパルス発
生手段と;そのトリガパルスに同期して予め定めた関数
波形で周期的に変化する信号を出力する関数発生器と; 前記第1のD/Aコンバータの出力信号と関数発生器の
出力信号とを比較してその比較信号を出力する第1のコ
ンパレータと; 前記第2のD/Aコンバータの出力信号と関数発生器の
出力信号とを比較してその比較信号を出力する第2のコ
ンパレータと; 前記第1のコンパレータの出力が加えられる第1の単安
定回路と; 前記第2のコンパレータの出力が加えられる第2の単安
定回路と: 前記第1の単安定回路の出力信号および前記第2の単安
定回路の出力信号のうち少なくとも一方の信号の立上り
時にその立上りによりトリガされて幅の狭い第1の極性
の疑似フォトンパルスを発生する第1の疑似フォトンパ
ルス発生回路と;前記第1の単安定回路の出力信号およ
び第2の単安定回路の出力信号のうち少なくとも一方の
信号の立下り時にその立下りによりトリガされて幅の狭
い第2の疑似フォトンパルスを発生する第2の疑似フォ
トンパルス発生回路: とを有してなることを特徴とするものでおる。
この第2発明の場合も、クロックパルス発生手段はクロ
ック周波数を選択可能に構成してあくことか望ましく、
また関数発生器の関数波形の時定数も可変にしておくこ
とが望ましい。
またこの第2発明の場合、計数・表示手段として、第1
の単安定回路の出力パルスと第2の単安定回路の出力パ
ルスとを、単位時間ごとに計数・加算して表示する手段
を設けておくことが望ましい。
作   用 先ず第1発明の装置の作用を第1図の波形図にしたがっ
て説明する。
第1発明の疑似フォトンパルス発生装置において、例え
ば第1図(B)に示すようなりロックパルスが疑似乱数
発生手段に与えられる。その疑似乱数発生手段のワード
出力は、疑似乱数として前記クロックパルスに同期して
変化し、その疑似乱数ワード出力はD/Aコンバータに
よってアナログ信号に変換される。このアナログ信号は
その波高値が疑似乱数ワード出力に対応して変化するこ
とになる。したがってそのD/Aコンバータの出力のア
ナログ信号は例えば第1図(C)の実線で示すように、
波高値が疑似ランダムに変化し、またその変化のタイミ
ングは第1図(B)のクロックパルスによって規定され
ることになる。
一方関数発生器には例えば第1図(A>に示すようなト
リガパルスが与えられ、そのトリガパルスに同期して予
め定めた関数波形で周期的に変化する関数信号が発生せ
しめられる。その関数信号の一例を第1図(C)の破線
で示す。
コンパレータにおいては、D/Aコンバータの出力信号
(例えば第1図(C)の実線で示すもの)と関数発生器
の出力信号(例えば第1図(C)の破線で示すもの)の
信号レベルの高低が比較され、その比較結果に応じた2
値信号が出力される。D/Aコンバータの出力信@(第
1図(C)の実!>のレベルが関数発生器の出力信号(
第1図(C)の破線)のレベルよりも高い場合に出力が
ロウレベルとなり、それ以外の場合に出力ハイレベルと
なるようにコン、パレータを構成した場合のコンパレー
タの出力信号波形を第1図(D>に示す。
コンパレータの出力信号は疑似フォトンパルス発生手段
に与えられ、コンパレータの出力信号波形の立上がりも
しくは立下がりと同期して、または/およびその立上が
りもしくは立下がりに対し一定時間の遅れをもって、例
えば2〜3 n5eCの幅の狭い疑似フォトンパルスが
発生せしめられる。
例えCホ疑似)lトンパルス発生手段の前段に単安定回
路を設けておいて、コンパレータの出力波形(第1図(
D))の立上がりに同期する一定の幅toのパルス(第
1図(E))を得、その単安定回路の出力パルスの立上
がりを微分して反転させることにより第1図(F)に示
すような負極性の幅の狭い疑似フォトンパルスを得、ま
た単安定回路の出力パルスの立下がりを微分して反転さ
せることにより第1図(G)に示すような正極性の幅の
狭い疑似フォトンパルスを得ることができる。
したがってこの場合は、コンパレータの出力信号(第1
図(D))の立上がりに同期して第1図(F)に示す負
極性の疑似フォトンパルスを、またコンパレータの出力
信号の立上がりに対し一定の遅れをもって第1図(G)
に示す正極i生の疑似フォトンパルスが得られる。
ここで、最終的に得られる疑似フオ]〜ンパルス(第1
図(F)もしくは(G))は、第1図(A>に示すトリ
ガパルス1個に対し、通常は辺数個発生せしめられてい
ることになる。モしてトリガパルスの1周期丁の各期間
中における疑似フォトンパルス発生個数は疑似的にポア
ソン分布にしたがうことになる。一方疑似フォトンパル
スの発生時刻の確率密度は、第1図(C)の破線で示す
関数発生器の出力波形に依存している。換言すれば、ト
リガパルスの1周期丁の期間中では、第1図(C)の破
線で示す関数波形に対し逆数の関係の減衰関数にしたか
って疑似フォトンパルスの発生時刻の確率密度が小ざく
なって行く。
また疑似フォトンパルスの発生頻度は第1図(B)のク
ロックパルスの周波数に依存するから、疑似フォトンパ
ルス発生個数のポアソン分布の平均値は、クロックパル
スの周波数を変えることによって変化させることができ
る。一方前述のように疑似フォトンパルス発生時刻の確
率密度は関数発生器の出力波形に依存するから、その関
数波形を変えることによって、具体的には例えば債分回
路の時定数を変えることによって、疑似フォトンパルス
発生時刻の確率密度を変化させることができる。
ところで、疑似フォトンパルス発生手段の前段に前述の
ように単安定回路を用いた場合、疑似フォトンパルスの
発生間隔の最小値は単安定回路の出力パルスの幅to 
(第1図(E)参照)によって規制され、その幅toよ
りも疑似フォトンパルスの間隔を小ざくすることはでき
ない。そこでそれよりも疑似フォトンパルスの発生間隔
を小さくするためには、第2発明の疑似フォトンパルス
発生装置を適用することが望ましい。
すなわち第2発明の装置においては、別の2系列で疑似
乱数が発生せしめられ、各疑似乱数ワード出力がA/D
変換された後、それぞれ関数発生器の出力波形と比較さ
れ、その比較出力がそれぞれ別の単安定回路に加えられ
る。そして一方の単安定回路の出力パルスの立上がりお
よび他方の単安定回路の出力パルスの立上がりにトリガ
されて、ある極性の疑似フォトンパルスが発生せしめら
れ、また一方の単安定回路の出力パルスの立下がりおよ
び他方の単安定回路の出力パルスの立下がりにトリガさ
れて、他の極性の疑似フォトンパルスが発生せしめられ
る。したがってこの場合には疑似フォトンパルスの最小
間隔は、単安定回路の出力パルスの幅に規制されず、疑
似フォトンパルスの発生最小間隔をより小ざくすること
ができ、原理的に間隙を零にまですることが可能である
。このような2つのフォトンパルスがオーバラップした
状態では、実際の測定時によく生じる二元子状態のフォ
トンパルス出力状況に対応させることができる。
実施例 第2図に第1発明の疑似74トンパルス発生装置の一実
施例を示す。
第2図において、パルス発生器1は、第1図(B)に示
すようなりロックパルスを発生するためのクロックパル
ス発生手段2を構成するものであって、周波数選択手段
3によってそのクロックパルス周波数を変化させ得るよ
うに構成されている。パルス発生器1からのクロックパ
ルスは、疑似乱数発生手段4としてのM系列疑似乱数パ
ルス発生回路5に与えられる。このM系列疑似乱数パル
ス発生回路5は、例えば第3図に示すように、基本的に
はnビットのシフトレジスタ6とその任意の2出力から
エクスクル−シブ・オア回路7により排(t!!論理和
をとってその信号をシフトレジスタ6の入力へフィード
バックざぜる構成とされてあり、前記シフトレジスタ6
の並列出力端には、クロックパルスの周期を下とすば、
周期(21−1)T、2°−1種類の疑似乱数のワード
出力がクロックパルスに同期して得られる。このM系列
疑似乱数パルス発生回路5のワード出力は高速D/Aコ
ンバータ8に入力されて、アナログ信号に変換される。
そのD/A変換された信号を第1図(C)の実線で示す
。なおここで疑似乱数発生手段4が発生する疑似乱数の
周期を拡大するためには、例えば第4図に示すようにパ
ルス発生器1からのクロックパルスを前述のM系列疑似
乱数発生回路5(第3図と同じ)にクロックとして与え
ると同時に2ビツトのカウンタ9で計数し、カウンタの
出力とM系列疑似乱数パルス発生回路5のワード出力の
も側Zビットとを2ビツトの加算器10に入力させて、
M系列疑似乱数パルス発生回路5のワード出力の左側(
n−z)ビットと加算器10の出力Zビットを高速D/
Aコンバータ8に入力すれば良く、このようにすれば(
21−1)T・22の周期の疑似乱数を得ることができ
る。
一方パルス発生器11は、トリガパルス発生手段12を
構成するものであって、そのパルス発生器11の出力パ
ルスは分周器13によって適宜分周されてトリガパルス
として関数発生器14に与えられる。そのトリガパルス
は、例えば第1図(A>に示すように、クロックパルス
(第1図(B))と比較して充分に長い周期に設定され
る。
関数発生器14は例えば積分回路からなるものであって
、その時定数が時定数設定手段15によって変えられる
ように構成されている。この関数発生器14の出力波形
の一例が第1図(C)の破線で示されている。
前述のような高速D/Aコンバータ8の出力信号と関数
発生器14の出力信号はオペアンプなどからなる高速コ
ンパレータ16に与えられて比較され、両信号レベルの
大小関係に応じて2値の比較出力が得られる。この例で
は、関数発生器14の出力信号が参照信号としてコンパ
レータ16の同相入力端子に加えられ、高速D/Aコン
パ7り8の出力信号が比較入力信号としてコンパレータ
16の差動入力端子に加えられて、高速D/Aコンバー
タ8の出力信号レベルが関数発生器14の出力信号レベ
ルよりも高い場合にコンパレータ16の出力は低レベル
となり、高速D/Aコンバータ8の出力信号が関数発生
器14の出力信号レベルよりも低い場合にコンパレータ
16の出力は高レベルとなる。第1図(C)の例につい
てのコンパレータ16の出力信号が第1図(D>に示さ
れている。
高速コンパレータ16の出力は疑似フォトンパルス発生
手段29の前段部分を構成する単安定回路17に加えら
れる。この単安定回路17からはコンパレータ16の出
力信号の立上がりに同期して立上がる幅toのパルスが
出力される。その−例が第1図(E)に示される。
単安定回路17の出力パルスは、負極性疑似フォトンパ
ルス発生回路18および正極性フォトンパルス発生回路
19に与えられる。負極性疑似フォトンパルス発生回路
18の一例を第5図に、正極性疑似フォトンパルス発生
回路19の一例を第6図に示す。いずれも短い時定数の
微分回路20とその微分回路20の出力により高速動作
するマイクロ波トランジスタ21とからなるものでおっ
て、例えば負極性疑似フォトンパルス発生回路18にお
いては、単安定回路17の出力信号を短い時定数で微分
してその微分信号の正極性部分を反転増幅することによ
り、単安定回路17の出力パルスの立上がりに同期した
負極性の幅の狭い疑似フォトンパルス(第1図(F)参
照)が得られ、一方正極性疑似フォトンパルス発生回路
1つにおいては、同じく単安定回路17の出力信号を短
い時定数で微分してその微分信号の負極性部分を反転増
幅することにより、単安定回路17の出力パルスの立下
がりに同期した正極性の幅の狭い疑似フォトンパルス(
第1図(G))が得られる。
一方前記単安定回路17の出力パルスは計数・表示手段
22を構成するカウンタ23にも加えられ、そのパルス
数が計数される。このカウンタ23は前述のトリガパル
ス(分周器13の出力パルス)をざらに適宜分周器24
で分周した信号により一定周期でクリヤされる。すなわ
ちカウンタ23はある時間幅で単安定回路17の出力パ
ルスの計数を繰返し、その計数値が表示器25によって
表示される。ここで単安定回路17の出力パルス数は、
負極性疑似フォトンパルス発生回路18もしくは正極性
疑似フォトンパルス発生回路19の発生パルス数に相等
しいから、結局その負極性もしくは正極性疑似74トン
パルスの一定時間内の発生個数が計数・表示されること
になる。
以上の実施例において、パルス発生器1の周波数を変化
させれば、M系列疑似乱数パルス発生回路5の疑似乱数
ワード出力の変化するタイミングが変化し、その結果D
/Aコンバータ8の出力信号の波高値の変化するタイミ
ングも変化して、これにより単安定回路17の出力パル
スの頻度も変化し、最終的な疑似フォトンパルスの発生
頻度も変化することになる。
一方関数発生器14の積分回路の時定数を変化゛させれ
ば、高速コンパレータ16の参照入力が変化する結果、
単安定回路17の出力パルスの発生時刻の確率密度が変
化し、疑似フォトンパルスの発生時刻の確率密度が変化
する。
以上の実施例では、既に述べたように正または負極性疑
似フォトンパルスの発生時刻の最小間隔が単安定回路1
7のパルス幅toによって制限されてしまう。例えばT
TLの単安定回路(74LS123相当品)などを用い
た場合はそのパルス幅toは約50 n5eCとなる。
被測定システムまたは被測定回路のパルス対分解能が5
On5B(程度以上の場合にはこのような構成でも充分
でおるが、それ以下のパルス対分解能が要求される場合
には、第2発明に相当する第7図に示すような実施例の
装置を使用することか望ましい。
第7図の実施例においては、パルス発生器1からのクロ
ックパルスは、第1の疑似乱数発生手段4Aを構成する
第1のM系列疑似乱数パルス発生回路5Aと、第2の疑
似乱数発生手段4Bを構成する第2のM系列疑似乱数パ
ルス発生回路5Bの両者に加えられる。これらの第1お
よび第2のM系列疑似乱数パルス発生回路5△、5Bの
具体的構成はいずれも既に述べたような第3図もしくは
第4図に示す構成とすれば良い。
第1のM系列疑似乱数パルス発生回路5Aのワード出力
(並列出力)は第1の高速D/Aコンバータ8Aにより
アナログ信号に変換されて、第1の高速コンパレータ1
6Aの差動入力端子に加えられる。その信号の一例を第
10図(A>の実線で示す。また第2のM系列疑似乱数
パルス発生回路5Bのワード出力(並列出力)は第2の
高速D/Aコンバータ8Bによりアナログ信号に変換さ
れて、第2の高速コンパレータ16Bの差動入力端子に
加えられる。その信号の一例を第10図(B)の実線で
示す。
第1;I3よび第2の高速コンパレータ16A、16B
の参照入力端子には、既に述べたと同様な関数発生器1
4の出力信号が加えられる。その信号波形の一例を第1
0図(A)、(B)にvj、線で示す。
第1高速コンパレータ16Aの比較出力(第10図(C
)参照)は第1の単安定回路17Aに加えられ、また第
2高速コンパレータ16Bの比較出力(第10図(D>
参照)は第2の単安定回路17Bに加えられる。第1の
単安定回路17Aの出力を第10図(E)に、第2の単
安定回路17Bの出力を第10図(F)に示す。
第1の単安定回路17Aの出力パルスは、負極性疑似フ
ォトンパルス発生回路30の一方の入力端子および正極
性疑似フォトンパルス発生回路3]の一方の入力端子に
加えられ、第2の単安定回路17Bの出力パルスは負極
性疑似フォトンパルス発生回路30の他方の入力端子お
よび正極i生疑似フォトンパルス発生回路31の他方の
入力端子に力0えられる。ここで負)粗性疑似フォトン
パルス発生回路30は、例えば第8図に示すように時定
数の短い一対の微分回路32A、32Bと高速動作用の
一対のマイクロ波トランジスタ33A、33Bによりワ
イヤードノア回路に構成したものであって、第1および
第2の単安定回路17A、17Bの出力パルスを微分し
た信号の正極性部分をそれぞれ反転増幅するように構成
されている。また正極性疑似フォトンパルス発生回路3
1も、例えば第9図に示すように時定数の短い一対の微
分回路34A、348と高速動作用の一対のマイクロ波
1〜ランジスタ35A、35Bによってワイヤードノア
回路に構成したものであって、第1および第2の単安定
回路17A、17Bの出力パルスを微分した信号の負極
性部分をそれぞれ反転増幅するように)育成されている
。負極性疑似フォトンパルス発生回路30の出力信号す
なわち負4両性疑似フォ1〜ンパルスを第10図(G)
に、正僅性疑1!7.74トンパルス発生回路31の出
力信号すなわち正(へi生疑似フォトンパルスを第10
図(ト1)に示す。
この場合、第1の疑似乱数発生手段4Aの側のラインの
第1の高速コンパレータ16Aの出力信号の立上がりの
タイミングと第2の疑似乱数発生手段4Bの側のライン
の第2の高速コンパレータ16Bの出力信号の立上がり
のタイミングとの間隔t1が各単安定回路17A、17
Bのパルス幅toよりも狭くても、それぞれのタイミン
グに対応して第1単安定回路17Aの出力パルスおよび
第2単安定回路17Bの出力パルスの立上がりか得られ
、これによりそれぞれのタイミングに対応して疑似74
トンパルスが発生する。すなわち単安定回路17A、1
7Bのパルス幅toよりも小ざい間隔t1の疑似フォト
ンパルスを得ることができる。
なお第7図の実施例において、計数・表示手段22は、
第1の単安定回路17Aの出力パルスを計数する第1カ
ウンタ23Aと、第2の単安定回路17Bの出力パルス
を計数する第2カウンタ23Bと、第1カウンタ23A
および第2カウンタ23Bの計数結果を加算する加算器
36と、その加算器36による加算結果を表示する表示
器25とによって構成され、このように加算を行なうこ
とによって最終的な正もしくは負極性疑似フォトンパル
スの単位時間当りの発生個数を表示することができる。
なお以上の各実施例においては、関数発生器14として
積分回路を用いたものとしたが、それに限らず、任意の
関数波形を発生する回路で構成することができる。例え
ば1周期の間で波高値が直線的に増加する鋸歯状波を発
生するように構成しても良く、この場合は疑似フォトン
パルスの発生時刻の時系列的分布が疑似的ポアソン分布
にしたがういわゆる疑似ポアソンパルス系列を1qるこ
とかできる。
発明の効果 前述の説明で明らかなように、この発明の疑似フォトン
パルス発生装置によれば、1個のトリガパルスに対して
疑似的にポアソン分布にしたがう個数の疑似フォトンパ
ルスを発生させることができ、しかもその疑似フォトン
パルスの発生時刻の頻度(vl率密度)か予め定めた減
衰関数にしたがわせられ、かつこれらの制限下でパルス
の発生状況が時間的にランダムとされる。したがって実
際の光電子増倍管から得られるフォトンパルスのパルス
発生状況に極めて良く類似したパルス列を得ることがで
きるから、高速光電子パルス計数システムやその構成回
路の動作確認や性能評価、較正などを従来よりも一層正
確に行なうことが可能となる。そして特にクロックパル
スの周波数を選択可能にし、また関数発生器の時定数を
可変とした実PM態様によれば、任意のパルス発生個数
のポアソン分布の平均値を任意に変え、またパルス発生
時刻の確率密度を任意に変えることができるため、一層
汎用性が増す効果が得られる。
ざらに、特に第2発明の装置によれば、疑似フォトンパ
ルスの発生間隔の最小値を50 rtseo程度よりも
小ざくすることができるため、より一六実際の光電子増
倍管の出力パルス発生状況に類似させて、より高精度の
動作確認等を行なうことがてきる。
なおこの発明の装置は、特に統計的サンプリング法に基
づく螢光寿命測定装置に対して有効であるが、それに限
らず任意の高速光電子計数システムやその構成回路に適
用できることは勿論である。
またこの発明の装置は、単独の装置として構成しても良
いが、高速光電子計数装置などの内部に較正用として組
込んでも良いことは勿論である。
【図面の簡単な説明】
第1図は第1発明の実施例である第2図の装置の各部の
信号波形を示す波形図、第2図は第1発明の一実施例の
装置の全体構成を示すブロック図、第3図は第2図の装
置に使用される疑似乱数発生手段を構成するM系列疑似
乱数パルス発生回路の一例を概念的に示すブロック図、
第4図は同じく疑似乱数発生手段の他の例を概念的に示
すブロック図、第5図は第2図の装置に使用される負極
性疑似フォトンパルス発生回路の具体例を示す結線図、
第6図は第2図の装置に使用される正極性疑似フォトン
パルス発生回路の他の具体例を示す結線図、第7図は第
2発明の実施例の装置の全体構成を示すブロック図、第
8図は第7図の装置に使用される負極性疑似フォトンパ
ルス発生回路の具体例を示す結線図、第9図は第7図の
装置に使用される正極性疑似フォトンパルス発生回路の
具体例を示す結線図、第10図は第7図の装置にあける
各部の信号波形を示す波形図である。 2・・・クロックパルス発生手段、 4・・・疑似乱数
発生手段、 8・・・高速D/Aコンバータ、 8A・
・・第1の高速D/Aコンバータ、 8B・・・第2の
高速D/Aコンバータ、 12・・・トリガパルス発生
手段、 14・・・関数発生器、 16・・・高速コン
パレータ、  16A・・・第1の高速コンパレータ、
16B・・・第2の高速コンパレータ、 17・・・単
安定回路、 17A・・・第1の単安定回路、17B・
・・第2の単安定回路、 18.30・・・負極性疑似
フ7tt〜ンパルス発生回路、 19.31・・・正極
[生疑似フォトンパルス発生回路、 22・・・計数表
示手段、 29・・・疑似フォトンパルス発生手段。

Claims (10)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)クロックパルス発生手段と; そのクロックパルス発生手段からのクロックパルスに同
    期して疑似乱数を発生する疑似乱数発生手段と; 前記疑似乱数発生手段のワード出力をアナログ信号に変
    換するためのD/Aコンバータと;前記クロックパルス
    の周期より長い周期のトリガパルスを発生するトリガパ
    ルス発生手段と;そのトリガパルスに同期して予め定め
    た関数波形で周期的に変化する信号を出力する関数発生
    器と; 前記D/Aコンバータの出力信号と関数発生器の出力信
    号とを比較してその比較信号を出力するコンパレータと
    ; そのコンパレータの出力信号の立上りもしくは立下りに
    同期して、および/またはそのコンパレータの出力信号
    の立上りもしくは立下りに対し一定の遅れをもって、幅
    の狭い疑似フォトンパルスを発生する疑似フォトンパル
    ス発生手段; とを有してなることを特徴とする疑似フォトンパルス発
    生装置。
  2. (2)前記クロックパルス発生手段が、周波数を選択可
    能に構成されている特許請求の範囲第1項記載の疑似フ
    ォトンパルス発生装置。
  3. (3)前記関数発生器が、関数波形の時定数を可変に構
    成されている特許請求の範囲第1項記載の疑似フォトン
    パルス発生装置。
  4. (4)前記疑似フォトンパルス発生手段が、正極性の疑
    似フォトンパルスと負極性の疑似フォトンパルスとの両
    者を発生させ得るように構成されている特許請求の範囲
    第1項記載の疑似フォトンパルス発生装置。
  5. (5)前記疑似フォトンパルス発生手段が、前記コンパ
    レータの出力が加えられる単安定回路と、その単安定回
    路の出力信号パルスの立上りによりトリガされて第1の
    極性の疑似フォトンパルスを発生する回路と、単安定回
    路の出力信号パルスの立下りによりトリガされて第2の
    極性の疑似フォトンパルスを発生する回路とによって構
    成されている特許請求の範囲第1項記載の疑似フォトン
    パルス発生装置。
  6. (6)前記疑似フォトンパルス発生手段に、その疑似フ
    ォトンパルスの発生数を単位時間ごとに計数して表示す
    るための計数・表示手段が接続されている特許請求の範
    囲第1項記載の疑似フォトンパルス発生装置。
  7. (7)クロックパルス発生手段と; そのクロックパルス発生手段からのクロックパルスに同
    期して第1の疑似乱数を発生する第1の疑似乱数発生手
    段と; 前記クロックパルス発生手段からのクロックパルスに同
    期して第2の疑似乱数を発生する第2の疑似乱数発生手
    段と; 前記第1の疑似乱数発生手段のワード出力をアナログ信
    号に変換する第1のD/Aコンバータと;前記第2の疑
    似乱数発生手段のワード出力をアナログ信号に変換する
    第2のD/Aコンバータと;前記クロッパルスの周期よ
    りも長い周期のトリガパルスを発生するトリガパルス発
    生手段と;そのトリガパルスに同期して予め定めた関数
    波形で周期的に変化する信号を出力する関数発生器と; 前記第1のD/Aコンバータの出力信号と関数発生器の
    出力信号とを比較してその比較信号を出力する第1のコ
    ンパレータと; 前記第2のD/Aコンバータの出力信号と関数発生器の
    出力信号とを比較してその比較信号を出力する第2のコ
    ンパレータと; 前記第1のコンパレータの出力が加えられる第1の単安
    定回路と; 前記第2のコンパレータの出力が加えられる第2の単安
    定回路と; 前記第1の単安定回路の出力信号と前記第2の単安定回
    路の出力信号とのうち、少なくとも一方の信号の立上り
    があった時にその立上りによりトリガされて幅の狭い第
    1の極性の疑似フォトンパルスを発生する第1の疑似フ
    ォトンパルス発生回路と; 前記第1の単安定回路の出力信号と第2の単安定回路の
    出力信号とのうち少なくとも一方の信号の立下りがあっ
    た時にその立下りによりトリガされて幅の狭い第2の極
    性の疑似フォトンパルスを発生する第2の疑似フォトン
    パルス発生回路;とを有してなることを特徴とする疑似
    フォトンパルス発生装置。
  8. (8)前記クロックパルス発生手段が、周波数を選択可
    能に構成されている特許請求の範囲第7項記載の疑似フ
    ォトンパルス発生装置。
  9. (9)前記関数発生器が、関数波形の時定数を可変に構
    成されている特許請求の範囲第7項記載の疑似フォトン
    パルス発生装置。
  10. (10)前記第1の単安定回路の出力パルスと第2の単
    安定回路の出力パルスとを、単位時間ごとに計数・加算
    して表示する計数・表示手段が設けられている特許請求
    の範囲第7項記載の疑似フォトンパルス発生装置。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004077669A1 (ja) * 2003-02-28 2004-09-10 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 確率的パルス発生器と差分絶対値演算器及びこれを用いたマンハッタン距離演算装置
KR100848578B1 (ko) 2007-03-29 2008-07-25 한국전기연구원 싱글포톤 카운터용 클럭 발생회로
CN109100028A (zh) * 2018-08-28 2018-12-28 南昌大学 一种模拟单光子脉冲信号源的装置及方法
CN112180421A (zh) * 2020-04-21 2021-01-05 宁波甬东核辐射监测有限公司 一种α、β脉冲甄别方法及装置

Cited By (6)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
WO2004077669A1 (ja) * 2003-02-28 2004-09-10 Matsushita Electric Industrial Co., Ltd. 確率的パルス発生器と差分絶対値演算器及びこれを用いたマンハッタン距離演算装置
US7449967B2 (en) 2003-02-28 2008-11-11 Panasonic Corporation Probabilistic pulse generator and differential absolute value computing element and manhattan distance arithmetic unit using this
KR100848578B1 (ko) 2007-03-29 2008-07-25 한국전기연구원 싱글포톤 카운터용 클럭 발생회로
CN109100028A (zh) * 2018-08-28 2018-12-28 南昌大学 一种模拟单光子脉冲信号源的装置及方法
CN109100028B (zh) * 2018-08-28 2020-06-16 南昌大学 一种模拟单光子脉冲信号源的装置及方法
CN112180421A (zh) * 2020-04-21 2021-01-05 宁波甬东核辐射监测有限公司 一种α、β脉冲甄别方法及装置

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