JPS62264594A - Elデイスプレイパネル及びその製造方法 - Google Patents
Elデイスプレイパネル及びその製造方法Info
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- JPS62264594A JPS62264594A JP61106690A JP10669086A JPS62264594A JP S62264594 A JPS62264594 A JP S62264594A JP 61106690 A JP61106690 A JP 61106690A JP 10669086 A JP10669086 A JP 10669086A JP S62264594 A JPS62264594 A JP S62264594A
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Landscapes
- Electroluminescent Light Sources (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(産業上の利用分野)
本発明はディスプレイ装置等に用いられるEL(エレク
トロルミネッセンス)ディスプレイハネルに関し、特に
印加電圧が低くてすむELディスプレイパネル並びにそ
の製造方法に関する。
トロルミネッセンス)ディスプレイハネルに関し、特に
印加電圧が低くてすむELディスプレイパネル並びにそ
の製造方法に関する。
(従来の技術)
従来、この種の技術として本願出願人の先の出願に係る
特願昭6.0−193135号に開示される技術がある
。
特願昭6.0−193135号に開示される技術がある
。
従来、この種の装置は第2図に示す様にガラス基板11
上に複数本の電極子としてパターニングされた透明電極
12を設け、さらにその上に高抵抗率S IO2膜13
、→低抵抗率T a 2Os膜14→発光層15→低抵
抗率Ta2O5膜16→高抵抗率S 102膜17と順
次積層し、更に背面電極18を前記透明電極12と直角
に交差するように積層されている。
上に複数本の電極子としてパターニングされた透明電極
12を設け、さらにその上に高抵抗率S IO2膜13
、→低抵抗率T a 2Os膜14→発光層15→低抵
抗率Ta2O5膜16→高抵抗率S 102膜17と順
次積層し、更に背面電極18を前記透明電極12と直角
に交差するように積層されている。
高抵抗率SiO□膜13およびI7はスパッタ法にょ膜
形成されており、また低抵抗率Ta2O5膜14および
I6は電子ビーム蒸着法で形成されている。
形成されており、また低抵抗率Ta2O5膜14および
I6は電子ビーム蒸着法で形成されている。
また発光層はZnS:Mnを電子ビーム蒸着法で形成さ
れている。このようなELディスプレイパネルの透明電
極12と背面電極18との間に交流電圧を印加すると両
電極の交差点部の発光層15がドツト状として発光する
。ところで、特願昭60−193135号に示されてい
る通シ発光層15の両側に低抵抗率Ta2O5膜を設け
ると高輝度発光が得られ、良好な文字又は画素を表示で
きる。
れている。このようなELディスプレイパネルの透明電
極12と背面電極18との間に交流電圧を印加すると両
電極の交差点部の発光層15がドツト状として発光する
。ところで、特願昭60−193135号に示されてい
る通シ発光層15の両側に低抵抗率Ta2O5膜を設け
ると高輝度発光が得られ、良好な文字又は画素を表示で
きる。
前述のELディスプレイノRネルの印加電圧の低電圧化
を図るには高抵抗率SiO□膜13および17と低抵抗
率Ta2O5膜14および16の誘電率を大きくする必
要がある。ところで、高抵抗率SiO2膜13および1
7は電流制限の役割ととくに高抵抗率S iO2O2膜
上7面電極18のバターニング工程中にエツチング液に
発光層15が腐食されないようにするパッシベーション
膜としての役割があるため、実験の結果、高抵抗率5i
o2膜17が用いられている。従って低抵抗率T &
2O s膜14.16を高誘電率なものとすることが望
ましい。
を図るには高抵抗率SiO□膜13および17と低抵抗
率Ta2O5膜14および16の誘電率を大きくする必
要がある。ところで、高抵抗率SiO2膜13および1
7は電流制限の役割ととくに高抵抗率S iO2O2膜
上7面電極18のバターニング工程中にエツチング液に
発光層15が腐食されないようにするパッシベーション
膜としての役割があるため、実験の結果、高抵抗率5i
o2膜17が用いられている。従って低抵抗率T &
2O s膜14.16を高誘電率なものとすることが望
ましい。
(発明が解決しようとする問題点)
しかしながら、低抵抗率Ta2O5膜の誘電率は2O〜
30程度であシ低電圧化を図るには限度がある。
30程度であシ低電圧化を図るには限度がある。
このTa2O5膜に代わる高誘電率材料、例えば、T
i O2膜は誘電率が50〜100と非常に太きいが、
電子ビーム蒸着法で薄膜形成することは難しく、また、
誘電率が50〜100のTiO2膜を形成するにはガラ
ス基板を800〜1000℃に加熱して膜形成しなけれ
ばならないが、非常に高温であるためガラス基板が溶融
してしまい、高誘電率のT iO2膜は得られず、この
ため印加電圧の低電圧化を図ったELディスプレイノぐ
ネルを実現できないという欠点がおった。
i O2膜は誘電率が50〜100と非常に太きいが、
電子ビーム蒸着法で薄膜形成することは難しく、また、
誘電率が50〜100のTiO2膜を形成するにはガラ
ス基板を800〜1000℃に加熱して膜形成しなけれ
ばならないが、非常に高温であるためガラス基板が溶融
してしまい、高誘電率のT iO2膜は得られず、この
ため印加電圧の低電圧化を図ったELディスプレイノぐ
ネルを実現できないという欠点がおった。
本発明は、高輝度が得られ、かつ誘電率の大きい薄膜を
形成しELパネルの印加電圧の低電圧化を図ることを目
的とする。
形成しELパネルの印加電圧の低電圧化を図ることを目
的とする。
(問題点を解決するだめの手段)
本発明は前述の問題点を解決するために、透明基板上に
、透明電極と、高抵抗率の第この絶縁膜と、低抵抗率の
第2の絶縁膜と、発光層と、低抵抗率の第3の絶縁膜と
、高抵抗率の第4の絶縁膜と、背面電極とを順次積層し
てなるELパネルにおいて、前記第2の絶縁膜及び前記
第3の絶縁膜がTa2O5とT i O2との混合物か
らなるようにしたものである。また、前記第2の絶縁膜
及び前記第3の絶縁膜においては、T 102が85重
量%以下含まれることが適当である。このようなELデ
ィスプレイパネルにおいて、第2.第3の絶縁膜は、T
a2O5粉末と85重量係以下のTiO2粉末とを混合
し、この混合物をプレス成形後500℃以上の温度で大
気中もしくは真空中で焼成して作ったベレットを用いて
電子ビーム蒸着法により形成される。
、透明電極と、高抵抗率の第この絶縁膜と、低抵抗率の
第2の絶縁膜と、発光層と、低抵抗率の第3の絶縁膜と
、高抵抗率の第4の絶縁膜と、背面電極とを順次積層し
てなるELパネルにおいて、前記第2の絶縁膜及び前記
第3の絶縁膜がTa2O5とT i O2との混合物か
らなるようにしたものである。また、前記第2の絶縁膜
及び前記第3の絶縁膜においては、T 102が85重
量%以下含まれることが適当である。このようなELデ
ィスプレイパネルにおいて、第2.第3の絶縁膜は、T
a2O5粉末と85重量係以下のTiO2粉末とを混合
し、この混合物をプレス成形後500℃以上の温度で大
気中もしくは真空中で焼成して作ったベレットを用いて
電子ビーム蒸着法により形成される。
(作用)
前述の説明の如く、本発明は、発光層の両側に低抵抗率
絶縁膜を設けたELディスプレイパネルにおいて、Ta
2O5とTiO□との混合材料をベレットとし、電子ビ
ーム蒸着法によシュガラス基板を加熱することなく高誘
電率でかつ、低抵抗率の(Ta 2O5+ T i 0
2 ) 膜を形成しているため、ELディスプレイ・ぐ
ネルの低電圧での駆動が可能となシ、しかも高輝度発光
に適しだTIL2O5絶縁膜の特長も損なわれない。
絶縁膜を設けたELディスプレイパネルにおいて、Ta
2O5とTiO□との混合材料をベレットとし、電子ビ
ーム蒸着法によシュガラス基板を加熱することなく高誘
電率でかつ、低抵抗率の(Ta 2O5+ T i 0
2 ) 膜を形成しているため、ELディスプレイ・ぐ
ネルの低電圧での駆動が可能となシ、しかも高輝度発光
に適しだTIL2O5絶縁膜の特長も損なわれない。
(実施例)
第1図は本発明の一実施例を示すELディスプレイパネ
ルの構造図であって、ガラス基板1上に■n2O3,5
n02などから成シ、複数本の電極としてん パターニングされた透明電極2設け、さらにこの透明電
極2及びその間の部分の上全面にス・ぐツタ法により高
抵抗率S iO2絶縁膜3を形成し、更に該高抵抗率5
lo2絶縁膜3上にTa2O5にT t O2を混合し
た材料を用いて電子ビーム蒸着法によシ低抵抗率(Ta
2O5 + TiO2)絶縁膜4を形成し、さらニ発光
層5.低抵抗(Ta2O+ TiO2)絶縁膜6、高抵
抗率SiO□絶縁膜7、背面電極8と順次積層される。
ルの構造図であって、ガラス基板1上に■n2O3,5
n02などから成シ、複数本の電極としてん パターニングされた透明電極2設け、さらにこの透明電
極2及びその間の部分の上全面にス・ぐツタ法により高
抵抗率S iO2絶縁膜3を形成し、更に該高抵抗率5
lo2絶縁膜3上にTa2O5にT t O2を混合し
た材料を用いて電子ビーム蒸着法によシ低抵抗率(Ta
2O5 + TiO2)絶縁膜4を形成し、さらニ発光
層5.低抵抗(Ta2O+ TiO2)絶縁膜6、高抵
抗率SiO□絶縁膜7、背面電極8と順次積層される。
前述の高抵抗SiO2絶縁膜3,7は電流制限の機能を
もだせるために10〜10 Ωcrn(10〜106v
/crnにおいて)の抵抗率が必要であるのでSiOを
ターケ゛ットとしく Ar +02 )ガス雰囲気中で
スパッタ法によシ400〜1oooXの膜厚に形成サレ
ル。一方、低抵抗(Ta2o5+Tio2)絶縁膜4゜
6は高輝度発光のだめの電子供給層としての機能を有す
るため特願昭60−193135号に示される低抵抗率
Ta2O5膜と同様に10〜100cm (10〜10
v/crnの電界強度において)の抵抗率が必要となる
。この低抵抗率Ta2O5膜は特願昭60−19313
5号に記載の如く電子ビーム蒸着法により容易に形成さ
れる。しかし、T 102は高誘電率ではあるものの薄
膜の形成が難しく、またこのT iOZを電子ビーム蒸
着法で蒸着する場合、Ta2O5と同様にTiO2は融
点が高いので照写する電子ビームの/ぐワーを上げ高温
に加熱する必要があるが、このときTiO2はTiと0
2とに分解し、この02ガスによシ真空度が下がシミ子
ビームが発生できなくなったり、TiO2を完全に溶融
できず大きな粒子として蒸着されてしまう。
もだせるために10〜10 Ωcrn(10〜106v
/crnにおいて)の抵抗率が必要であるのでSiOを
ターケ゛ットとしく Ar +02 )ガス雰囲気中で
スパッタ法によシ400〜1oooXの膜厚に形成サレ
ル。一方、低抵抗(Ta2o5+Tio2)絶縁膜4゜
6は高輝度発光のだめの電子供給層としての機能を有す
るため特願昭60−193135号に示される低抵抗率
Ta2O5膜と同様に10〜100cm (10〜10
v/crnの電界強度において)の抵抗率が必要となる
。この低抵抗率Ta2O5膜は特願昭60−19313
5号に記載の如く電子ビーム蒸着法により容易に形成さ
れる。しかし、T 102は高誘電率ではあるものの薄
膜の形成が難しく、またこのT iOZを電子ビーム蒸
着法で蒸着する場合、Ta2O5と同様にTiO2は融
点が高いので照写する電子ビームの/ぐワーを上げ高温
に加熱する必要があるが、このときTiO2はTiと0
2とに分解し、この02ガスによシ真空度が下がシミ子
ビームが発生できなくなったり、TiO2を完全に溶融
できず大きな粒子として蒸着されてしまう。
ところで、Ta2O5はプレス成形後500℃以上で、
特に真空中で焼成すると、Taと02ガスへの分解が少
なく、電子ビーム蒸着法で容易に薄膜化できるので、T
a2O5粉末にT t O2粉末を混合し、プレス成形
後500℃以上の温度で焼成したペレットを用いて電子
ビーム蒸着法で低抵抗率(Ta2O5+ T 102
)絶縁膜4及び6が容易に形成される。すなわち(Ta
2O5+ TiO2)のペレットに照写するとTa2O
5は容易に溶融し、この溶けたTa2O5でT iO2
は一様に加熱溶融され、これらの混合物による薄膜は結
晶化されたものとなる。従ってこの薄膜は高誘電率なも
のとなる。また、この薄膜中のTa2O5及びTiO2
はともに酸素欠損状態となるので低抵抗率を示す。実験
によれば10〜IQ Torrの真空度でEB蒸着す
れば安定して10〜100m(10’〜10v/crn
において)の低抵抗率を示す(Ta2O5+T102)
絶縁膜が得られる。この際、T io 2の量が多くな
ると電子ビーム蒸着では02ガスの放出が多くなシ蒸着
しにくくなるが、ペレットを製作する時に焼成温度10
00℃以上に高め真空中で焼成するとペレット成形時に
混入した空気を被レット中から放出できるので、蒸着中
のガスの放出を少なくでき、蒸着しやすくなる。しかし
TiO2の量が85重量%以上になると、02ガスの放
出量が多く蒸着しにくくなる。
特に真空中で焼成すると、Taと02ガスへの分解が少
なく、電子ビーム蒸着法で容易に薄膜化できるので、T
a2O5粉末にT t O2粉末を混合し、プレス成形
後500℃以上の温度で焼成したペレットを用いて電子
ビーム蒸着法で低抵抗率(Ta2O5+ T 102
)絶縁膜4及び6が容易に形成される。すなわち(Ta
2O5+ TiO2)のペレットに照写するとTa2O
5は容易に溶融し、この溶けたTa2O5でT iO2
は一様に加熱溶融され、これらの混合物による薄膜は結
晶化されたものとなる。従ってこの薄膜は高誘電率なも
のとなる。また、この薄膜中のTa2O5及びTiO2
はともに酸素欠損状態となるので低抵抗率を示す。実験
によれば10〜IQ Torrの真空度でEB蒸着す
れば安定して10〜100m(10’〜10v/crn
において)の低抵抗率を示す(Ta2O5+T102)
絶縁膜が得られる。この際、T io 2の量が多くな
ると電子ビーム蒸着では02ガスの放出が多くなシ蒸着
しにくくなるが、ペレットを製作する時に焼成温度10
00℃以上に高め真空中で焼成するとペレット成形時に
混入した空気を被レット中から放出できるので、蒸着中
のガスの放出を少なくでき、蒸着しやすくなる。しかし
TiO2の量が85重量%以上になると、02ガスの放
出量が多く蒸着しにくくなる。
上述の如くして形成される(Ta2O5+Ti02)絶
縁膜4,6はそれぞれ500〜3500Xの膜厚に設け
られる。また発光層5はZnSを母材とし、Mn 。
縁膜4,6はそれぞれ500〜3500Xの膜厚に設け
られる。また発光層5はZnSを母材とし、Mn 。
Tbなどを発光中心とした薄膜として電子ビーム蒸着法
またはス・ぐツタ法で形成される。さらに背面電極8は
透明電極2に対して直角方向に配設されており、この背
面電極8と透明電極2との間に交流電圧を印加すると、
両電極の交差点部がドツトとして発光する。このよりな
ELディスプレイ・ぐネルにおいて、複数個のドツトを
マトリクス状に発光させ、文字及び図形を表示する。
またはス・ぐツタ法で形成される。さらに背面電極8は
透明電極2に対して直角方向に配設されており、この背
面電極8と透明電極2との間に交流電圧を印加すると、
両電極の交差点部がドツトとして発光する。このよりな
ELディスプレイ・ぐネルにおいて、複数個のドツトを
マトリクス状に発光させ、文字及び図形を表示する。
(発明の効果)
以上、詳細に説明したように本発明によれば高誘電率材
料であるT iO2をTa2O5に混合させたベレット
を用いて電子ビーム蒸着法で(Ta O+ T102)
薄膜の形成ができ、この(Ta2O5+Ti02)薄膜
を発光層の上、下面に設けたことによシ、高輝度発光が
得られるTa2O5の特長を生かしかつ高誘電率が得ら
れるTiO7の特長をも生かしだELディスプレイパネ
ルが実現でき、高輝度発光かつ印加電圧の低電圧化が図
れるという利点がある。
料であるT iO2をTa2O5に混合させたベレット
を用いて電子ビーム蒸着法で(Ta O+ T102)
薄膜の形成ができ、この(Ta2O5+Ti02)薄膜
を発光層の上、下面に設けたことによシ、高輝度発光が
得られるTa2O5の特長を生かしかつ高誘電率が得ら
れるTiO7の特長をも生かしだELディスプレイパネ
ルが実現でき、高輝度発光かつ印加電圧の低電圧化が図
れるという利点がある。
第1図は本発明の一実施例の構造を示す断面図、第2図
は従来のELディスプレイ・やネルの構造を示す断面図
。 1・・・ガラス基板、2・・・透明電極、3・・・高抵
抗率5102絶縁膜、4・・・低抵抗率(T a 2O
5 + T iO2)絶縁膜、5・・・発光層、6・・
・低抵抗率(Ta2O5+抵絶縁膜、7・・・高抵抗率
SiO2絶縁膜、8・・・背面電極。
は従来のELディスプレイ・やネルの構造を示す断面図
。 1・・・ガラス基板、2・・・透明電極、3・・・高抵
抗率5102絶縁膜、4・・・低抵抗率(T a 2O
5 + T iO2)絶縁膜、5・・・発光層、6・・
・低抵抗率(Ta2O5+抵絶縁膜、7・・・高抵抗率
SiO2絶縁膜、8・・・背面電極。
Claims (3)
- (1) 透明基板上に、透明電極と高抵抗率の第1の絶
縁膜と、低抵抗率の第2の絶縁膜と、発光層と、低抵抗
率の第3の絶縁膜と、高抵抗率の第4の絶縁膜と、背面
電極とを順次積層してなるELディスプレイパネルにお
いて、前記第2の絶縁膜及び前記第3の絶縁膜がTa_
2O_5とTiO_2との混合物からなることを特徴と
するELディスプレイパネル。 - (2) 前記第2の絶縁膜及び前記第3の絶縁膜におい
て、TiO_2が85重量%以下含まれることを特徴と
する特許請求の範囲第(1)項記載のELディスプレイ
パネル。 - (3) 透明基板上に、透明電極と、高抵抗の第1の絶
縁膜と、低抵抗の第2の絶縁膜と、発光層と、低抵抗の
第3の絶縁層と、高抵抗の第4の絶縁膜と、背面電極と
を順次積層する各工程を具備するELディスプレイパネ
ルの製造方法において、Ta_2O_5粉末と85重量
%以下のTiO_2粉末とを混合し、この混合物をプレ
ス成形後500℃以上の温度で大気中もしくは真空中で
焼成して作ったペレットを用いて電子ビーム蒸着法によ
り前記第2の絶縁膜及び前記第3の絶縁膜を形成するこ
とを特徴とするELディスプレイパネルの製造方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61106690A JPS62264594A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | Elデイスプレイパネル及びその製造方法 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61106690A JPS62264594A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | Elデイスプレイパネル及びその製造方法 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62264594A true JPS62264594A (ja) | 1987-11-17 |
JPH0464159B2 JPH0464159B2 (ja) | 1992-10-14 |
Family
ID=14440038
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61106690A Granted JPS62264594A (ja) | 1986-05-12 | 1986-05-12 | Elデイスプレイパネル及びその製造方法 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62264594A (ja) |
-
1986
- 1986-05-12 JP JP61106690A patent/JPS62264594A/ja active Granted
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
JPH0464159B2 (ja) | 1992-10-14 |
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