JPS62262233A - 光学ヘツド - Google Patents
光学ヘツドInfo
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- JPS62262233A JPS62262233A JP61104256A JP10425686A JPS62262233A JP S62262233 A JPS62262233 A JP S62262233A JP 61104256 A JP61104256 A JP 61104256A JP 10425686 A JP10425686 A JP 10425686A JP S62262233 A JPS62262233 A JP S62262233A
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- optical head
- light
- piezoelectric element
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- Pending
Links
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Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔概要〕
情報の書き込みを行う第１のレーザ光学系に合わせて調
整されており、読み出しと消去を行う第２の光学系の光
源を、温度変動による位置ずれを補正するために、四分
割検知器に回路接続した圧電素子上に設けた光学ヘッド
。
整されており、読み出しと消去を行う第２の光学系の光
源を、温度変動による位置ずれを補正するために、四分
割検知器に回路接続した圧電素子上に設けた光学ヘッド
。
本発明は温度変動による光学系の位置ずれを無くした光
学ヘッドの構成に関する。
学ヘッドの構成に関する。
光ディスクはレーザ光を用いて高密度の情ｆｌｌｌ記録
を行うメモリであり、記録容量が大きく、非接触で記録
と再生とを行うことができ、また塵埃の影響を受けない
など優れた特徴をもっている。
を行うメモリであり、記録容量が大きく、非接触で記録
と再生とを行うことができ、また塵埃の影響を受けない
など優れた特徴をもっている。
ここで、光ディスクには記録媒体として低融点の金属或
いは合金を用い、情報の記録を穴の有無により行う追記
型のメモリ （Ｗｒｉｔｅ ０ｎｃｅ Ｍｅｍｏｒｙ）
以外に結晶−非晶質あるいは結晶−結晶間の相変化に伴
う反射率の差を利用する書き換え可能なメモリ（Ｅｒａ
ｓａｂｌｅ Ｍｅｍｏｒｙ） も実用化されている。
いは合金を用い、情報の記録を穴の有無により行う追記
型のメモリ （Ｗｒｉｔｅ ０ｎｃｅ Ｍｅｍｏｒｙ）
以外に結晶−非晶質あるいは結晶−結晶間の相変化に伴
う反射率の差を利用する書き換え可能なメモリ（Ｅｒａ
ｓａｂｌｅ Ｍｅｍｏｒｙ） も実用化されている。
本発明はかかる光ディスクに情報の書き込み。
読み出し、或いは記録情報の消去を行う光学ヘッドの構
成に関するものである。
成に関するものである。
情報処理を高速に行うため、光デイスク装置を構成する
光学ヘッドには複数のレーザ光源が備えられている。
光学ヘッドには複数のレーザ光源が備えられている。
第２図は光ヘッドの光学系を模式的に示すもので、光デ
ィスク１に情報の書き込みを行う第１のレーザ光源２と
記録した情報の読み出しと消去を行う第２のレーザ光源
３とが設けられており、対物レンズ４を通じてレーザ光
を集光して位置合わせ（フォー力スイング）し、回転し
ている光ディスクのトラック（プリグループ）に沿って
追跡（トラッキング）し、信号に合わせて記録媒体５を
照射するよう構成されている。
ィスク１に情報の書き込みを行う第１のレーザ光源２と
記録した情報の読み出しと消去を行う第２のレーザ光源
３とが設けられており、対物レンズ４を通じてレーザ光
を集光して位置合わせ（フォー力スイング）し、回転し
ている光ディスクのトラック（プリグループ）に沿って
追跡（トラッキング）し、信号に合わせて記録媒体５を
照射するよう構成されている。
ここで、書き込みおよび読み出し機構を説明すると次の
ようになる。
ようになる。
書き込みは光ダイオードからなる第１のレーザ光源２よ
り発振した例えば波長８３０ｎｉｅの信号光６は第１の
コリメータレンズ７で平行光にした後、偏光ビームスプ
リンタ８を通過し、第１の１八波長板９を通ることによ
り円偏光になり、第１の波長フィルタ１０で反射されて
再び偏光ビームスプリッタ８に入る。
り発振した例えば波長８３０ｎｉｅの信号光６は第１の
コリメータレンズ７で平行光にした後、偏光ビームスプ
リンタ８を通過し、第１の１八波長板９を通ることによ
り円偏光になり、第１の波長フィルタ１０で反射されて
再び偏光ビームスプリッタ８に入る。
このとき１／４波長板９を通ることにより円偏光が直線
偏光になる。
偏光になる。
この偏光方向は偏光ビームスプリ７タを通過した時には
偏光面が直角になっているので偏光ビームスプリンタ８
で反射され、第２の１７４波長板１１を通り、対物レン
ズ４で集光されて記録媒体５を照射し°、情報の記録を
行っている。
偏光面が直角になっているので偏光ビームスプリンタ８
で反射され、第２の１７４波長板１１を通り、対物レン
ズ４で集光されて記録媒体５を照射し°、情報の記録を
行っている。
ここで、一部の光は記録媒体５から反射するが、この光
は１／４波長板１１を二度通過しているので、偏光ビー
ムスプリンタ８を通過でき、この光は第２の波長フィル
タ１２で反射して第１のシリンドリカルレンズ１３で集
光された後、第１の四分割検知器１４で検出され、この
測定値により自動的にフォーカスイングとトラッキング
の位置ずれが矯正されている。 また、情報の読み出し
は第２のレーザ光源３から例えば７８０ｎｍの読み出し
光１６が出射され、これは第２のコリメータレンズ１７
で平行光にした後、７Ｂ０ｎｍの光は通る第２の波長フ
ィルタ１２．偏光ビームスプリンタ８．第２の１７４波
長板１１．対物レンズ４を通って光ディスク１の記録媒
体５を照射し、反射光は偏光ビームスプリッタ８で反射
し、第１のｌ／４波長板９．第１の波長フィルタ１０．
第２のシリンドリカルレンズ１８を通過し、ホトダイオ
ードからなる検知器１９で検出されるようになっている
。
は１／４波長板１１を二度通過しているので、偏光ビー
ムスプリンタ８を通過でき、この光は第２の波長フィル
タ１２で反射して第１のシリンドリカルレンズ１３で集
光された後、第１の四分割検知器１４で検出され、この
測定値により自動的にフォーカスイングとトラッキング
の位置ずれが矯正されている。 また、情報の読み出し
は第２のレーザ光源３から例えば７８０ｎｍの読み出し
光１６が出射され、これは第２のコリメータレンズ１７
で平行光にした後、７Ｂ０ｎｍの光は通る第２の波長フ
ィルタ１２．偏光ビームスプリンタ８．第２の１７４波
長板１１．対物レンズ４を通って光ディスク１の記録媒
体５を照射し、反射光は偏光ビームスプリッタ８で反射
し、第１のｌ／４波長板９．第１の波長フィルタ１０．
第２のシリンドリカルレンズ１８を通過し、ホトダイオ
ードからなる検知器１９で検出されるようになっている
。
ここで、第２のレーザ光源３からの光は検知器１９の測
定値によって自動的に光学系が調整されるのではなく、
第２の光源３から出射する読み出し光１６のフォー力ス
イングとトラッキングは第１の光源２から出射する信号
光６に同調して行われている。
定値によって自動的に光学系が調整されるのではなく、
第２の光源３から出射する読み出し光１６のフォー力ス
イングとトラッキングは第１の光源２から出射する信号
光６に同調して行われている。
すなわち、光学ヘッドを制作する際に第１のレーザ光学
系に合うように正確に第２の光学系を調整し、両者の光
学系がマツチングするよう機械的にｖｉ４整されている
。
系に合うように正確に第２の光学系を調整し、両者の光
学系がマツチングするよう機械的にｖｉ４整されている
。
然し、光学系の構成材には特定の膨張係数を存している
ために両者の光学系が完全にマツチングする温度範囲は
常温付近に限られており、環境温度が上昇或いは降下す
るに従って第２図に示した光学ヘッドにおいては第２の
レーザ光源３によるフオーカスイングやトラッキングに
ずれを生じ、性能が低下すると云う問題がある。
ために両者の光学系が完全にマツチングする温度範囲は
常温付近に限られており、環境温度が上昇或いは降下す
るに従って第２図に示した光学ヘッドにおいては第２の
レーザ光源３によるフオーカスイングやトラッキングに
ずれを生じ、性能が低下すると云う問題がある。
また、第２図で説明した光ヘッドにおいて第２のレーザ
光源は情報の読み出しと消去とを兼用しているが、より
高速に情報処理を行う目的には個々に三つのレーザ光源
を備えている場合もあり、この場合は更に膨張係数によ
る位置ずれが問題になっている。
光源は情報の読み出しと消去とを兼用しているが、より
高速に情報処理を行う目的には個々に三つのレーザ光源
を備えている場合もあり、この場合は更に膨張係数によ
る位置ずれが問題になっている。
以上記したように光ヘッドに備えられている複数のレー
ザ光源から出射され、光ディスクに投射されるレーザ光
のフオーカスイングやトラッキングは特定のレーザ光（
書き込み光）の光学系を基準とし、これに機械的に位置
調整することで行われている。
ザ光源から出射され、光ディスクに投射されるレーザ光
のフオーカスイングやトラッキングは特定のレーザ光（
書き込み光）の光学系を基準とし、これに機械的に位置
調整することで行われている。
そのため光ヘッドの構成材の熱膨張が原因してフオーカ
スイングやトラッキングに位置ずれを生じ性能が低下す
るのが問題である。
スイングやトラッキングに位置ずれを生じ性能が低下す
るのが問題である。
上記の問題は光ディスクに情報の書き込みを行う第１の
レーザ光学系に合わせて位置調整されており、情報の読
み出しと消去を行う第２のレーザ光学系の光源が、該光
源からの反射光を検出する〔作用〕 本発明は光ヘッドの熱膨張を補正する方法としてチタン
酸バリウム（ＢａＴｉＯｓ）やチタン酸ジルコン酸鉛（
略称ＰＺＴ）などからなる圧電素子を用い、この素子に
直流電圧を加える時に生ずる伸縮を利用して微細な位置
調整を行うものである。
レーザ光学系に合わせて位置調整されており、情報の読
み出しと消去を行う第２のレーザ光学系の光源が、該光
源からの反射光を検出する〔作用〕 本発明は光ヘッドの熱膨張を補正する方法としてチタン
酸バリウム（ＢａＴｉＯｓ）やチタン酸ジルコン酸鉛（
略称ＰＺＴ）などからなる圧電素子を用い、この素子に
直流電圧を加える時に生ずる伸縮を利用して微細な位置
調整を行うものである。
すなわち、圧電素子を介し、この上に半導体レーザより
なるレーザ光源を設置し、位置ずれ信号を増幅して圧電
素子に電圧を加え、位置ずれの補償を行うものである。
なるレーザ光源を設置し、位置ずれ信号を増幅して圧電
素子に電圧を加え、位置ずれの補償を行うものである。
その方法として第２図に示す検知器１９の代わりに第２
の四分割検知器２０を設け、この検出信号により第２の
レーザ光源３の位置補償を行うものである。
の四分割検知器２０を設け、この検出信号により第２の
レーザ光源３の位置補償を行うものである。
第１図は位置補償機能をもつレーザ光源の断面図で、レ
ーザ光源として働く半導体レーザ２１は圧電素子２２を
介して枠体２３に接着剤を用いて固定されており、この
枠体２３は従来のレーザ光源と同様に光ヘッドに固定さ
れている。
ーザ光源として働く半導体レーザ２１は圧電素子２２を
介して枠体２３に接着剤を用いて固定されており、この
枠体２３は従来のレーザ光源と同様に光ヘッドに固定さ
れている。
ここで、圧電素子２２の構成材は強誘電体材料であれば
何れでもよいがＢａＴｉ０＝磁器のような磁性材料は単
結晶と違って安価なため１．このような目的に適してい
る。
何れでもよいがＢａＴｉ０＝磁器のような磁性材料は単
結晶と違って安価なため１．このような目的に適してい
る。
そして、この基板２４の両側に設けた電極に直流電圧を
印加することにより基板の伸縮が起こり、これにより半
導体レーザ２１の高さを微調整することができる。
印加することにより基板の伸縮が起こり、これにより半
導体レーザ２１の高さを微調整することができる。
このように、読み出し光の検知回路にフィードバック回
路を付ければ熱膨張あるいは収縮に原因するフォー力ス
イング或いはトラッキングの位置ずれを補償することが
できる。
路を付ければ熱膨張あるいは収縮に原因するフォー力ス
イング或いはトラッキングの位置ずれを補償することが
できる。
以上記したように本発明の実施により光ヘッドの構成材
の温度係数により生ずる位置ずれを補償することが可能
となり、これにより広い温度範囲での光デイスク装置の
性能保持が可能となる。
の温度係数により生ずる位置ずれを補償することが可能
となり、これにより広い温度範囲での光デイスク装置の
性能保持が可能となる。
第１図は位置補償機能をもつレーザ光源の断面図、
第２図は光ヘツド光学系の機能説明図、である。
図において、
１は光ディスク、 ２は第１のレーザ光源、３は
第２のレーザ光源、４は対物レンズ、５は記録媒体、 １４は第１の四分割検知器、 １９は検知器、 ２０は第２の四分割検知器、
第２のレーザ光源、４は対物レンズ、５は記録媒体、 １４は第１の四分割検知器、 １９は検知器、 ２０は第２の四分割検知器、
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 光ディスクに情報の書き込みを行う第１のレーザ光学系
に合わせて位置調整されており、情報の読み出しと消去
を行う第２のレーザ光学系の光源が、 該光源からの反射光を検出する四分割検知器に回路接続
した圧電素子上に設けられていることを特徴とする光学
ヘッド。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61104256A JPS62262233A (ja) | 1986-05-07 | 1986-05-07 | 光学ヘツド |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP61104256A JPS62262233A (ja) | 1986-05-07 | 1986-05-07 | 光学ヘツド |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62262233A true JPS62262233A (ja) | 1987-11-14 |
Family
ID=14375847
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP61104256A Pending JPS62262233A (ja) | 1986-05-07 | 1986-05-07 | 光学ヘツド |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62262233A (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0915458A2 (en) * | 1997-11-06 | 1999-05-12 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Optical head and optical disk apparatus |
-
1986
- 1986-05-07 JP JP61104256A patent/JPS62262233A/ja active Pending
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| EP0915458A2 (en) * | 1997-11-06 | 1999-05-12 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Optical head and optical disk apparatus |
| EP0915458A3 (en) * | 1997-11-06 | 1999-12-29 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Optical head and optical disk apparatus |
| US6275453B1 (en) | 1997-11-06 | 2001-08-14 | Fuji Xerox Co., Ltd. | Optical head and optical disk apparatus |
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