JPS62261050A - Printed circuit board inspecting device - Google Patents

Printed circuit board inspecting device

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JPS62261050A
JPS62261050A JP61104243A JP10424386A JPS62261050A JP S62261050 A JPS62261050 A JP S62261050A JP 61104243 A JP61104243 A JP 61104243A JP 10424386 A JP10424386 A JP 10424386A JP S62261050 A JPS62261050 A JP S62261050A
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printed circuit
circuit board
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section
image data
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Teruhisa Yotsuya
輝久 四ツ谷
Shunji Utsunomiya
宇都宮 俊二
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  • Supply And Installment Of Electrical Components (AREA)
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Abstract

PURPOSE:To automatically performing a selection of an optimum feature parameter for checking the mounted state of a part and a decision on a criterion reference data, by preparing the judging reference data based on a distribution of features of part images and base circuit boards. CONSTITUTION:An inspecting device is made up of an X-Y table section 14 having pins 20a and 20b for positioning a base circuit board 9 and printed circuit boards 10-1 and 10-2, a photography section 15 having a color TV camera 21, a teaching table 15, an image processing section 26, a keyboard 30 and the like and a processing section 16 having a CPU31 for controlling them. The CPU31 extracts a plurality of part mounted area image data and a plurality of part image data separately from image data obtained by photographing 15 is plurality of base circuit boards 9 and the reference printed circuit board 10-1 using a window (for taking in data) while automatically determining the type of feature parameter used and the value of a criterion reference data from a color distribution of these part mounted area image data and part image data to inspect the printed circuit board 10-2 to be inspected.

Description

【発明の詳細な説明】 (産業上の利用分野) 本発明は、部品が実装された敲検査プリント基板をWI
像して得られる画像をα埋して前記被検査プリントす板
上の部品の有無1位置ずれ等を検査するプリント基板検
査装置に関する。
DETAILED DESCRIPTION OF THE INVENTION (Industrial Application Field) The present invention provides a WI
The present invention relates to a printed circuit board inspection apparatus for inspecting the presence or absence of components on the printed circuit board to be inspected, positional deviation, etc. by alpha-embedding an image obtained by imaging.

(従来の技術) プリント基板に抵抗器や半導体素子等の各種デツプ部品
をマウントするときにおいて自動マウント装jtを用い
た場合、マウント後においてマウントデータどうりに部
品がマウントされていないことがある。
(Prior Art) When an automatic mounting device is used to mount various deep parts such as resistors and semiconductor elements on a printed circuit board, the parts may not be mounted according to the mount data after mounting.

このため、このような自動マウント装置等を用いる場合
には、マウント後にプリン1一基板をチェックして、こ
のプリント基板Fの正規の位置に正当なチップ部品が正
しい姿勢(位(6,方向)でマウントされているかどう
か、また脱落がないかどうかを検査する必要がある。
Therefore, when using such an automatic mounting device, check the printed circuit board 1 after mounting to ensure that the correct chip components are in the correct position on the printed circuit board F in the correct orientation (position (6, direction)). It is necessary to check whether it is mounted and whether it has fallen off.

しかしこのような検査を従来と同じように人手によるl
]視検査で行イiつでいたのでは、検査ミスの発11を
完全に無(すことかできず、また検査速度を高めること
かぐきないという問題がある。
However, such inspections must be done manually as in the past.
] There is a problem in that if the inspection is done correctly by visual inspection, it is not possible to completely eliminate the occurrence of inspection errors, and it is not possible to increase the inspection speed.

そこで、近年、この種の検査を自動的に行なうことがで
きるプリント基板の自動検査装置が各メーカから種々提
案されている。
Therefore, in recent years, manufacturers have proposed various automatic inspection devices for printed circuit boards that can automatically perform this type of inspection.

第11図は、このような自動検査装置の一例を示すブロ
ック図である。
FIG. 11 is a block diagram showing an example of such an automatic inspection device.

この図に示す自動検査装置は、予め入力されている基準
データと、被検査プリント基板1を撮像して得られる被
検査・データとを比較して前記被検査プリント基板1上
に全ての部品2−1〜2−nが載せられているかどうか
、およびこれらの部品2−1〜2−nが位買ずれ等を起
こしていないかどうか等を自動的に検査するものであり
、キーボード3と、記憶部4と、TVカメラ5と、処理
部6と、表示部7とを漏えている。
The automatic inspection device shown in this figure compares reference data inputted in advance with inspection data obtained by imaging the printed circuit board 1 to be inspected, and detects all the parts 2 on the printed circuit board 1 to be inspected. -1 to 2-n are placed on the keyboard 3, and whether or not these parts 2-1 to 2-n have changed in price. The storage section 4, TV camera 5, processing section 6, and display section 7 are leaked.

キーボード3は、ファンクションキー、テンキー等の各
種キーを備えており、オペレータ等によって前記被検査
プリント基板1を検査するときの基準データ、つまりこ
の被検査プリントu板1の種類データ、この被検査プリ
ント基板1上にあるべき部品2−1〜2−nの色データ
、取付け’E1. Mデータ、取付は姿勢データ、形状
データ等の各特徴データ、およびこれら各特徴データに
基づいて前記被検査プリント基板1上の各部品2−1〜
2−nの良否を検査づるときに必要な判定基準データ等
が入力されたとき、これらの各データを基準データとし
て記憶部4に供給する。
The keyboard 3 is equipped with various keys such as a function key and a numeric keypad, and is used to store reference data when the printed circuit board 1 to be inspected is inspected by an operator, that is, type data of the printed circuit board 1 to be inspected, and this printed Color data of parts 2-1 to 2-n that should be on board 1, installation 'E1. M data, mounting is performed based on each characteristic data such as posture data and shape data, and each component 2-1 to 2-1 on the printed circuit board 1 to be inspected based on these characteristic data.
When judgment standard data and the like necessary for inspecting the quality of 2-n are input, each of these data is supplied to the storage section 4 as standard data.

記憶部4はRAM (ランダム・アクセス・メモリ)等
を協えており、前記キーボード3がら供給された基準デ
ータを記憶するとともに、これを処理部6へ供給する。
The storage section 4 includes a RAM (Random Access Memory), etc., and stores the reference data supplied from the keyboard 3, and also supplies this to the processing section 6.

処理部6はTVカメラ5によって得られた前記被検査プ
リント基板1の画像を処理して、この被検査プリント基
板1上に取り付けられている各部品2−1〜2−nの各
特徴データ(被検査データ)を抽出するとともに、前記
記憶部4に記憶されている前記基準データに基づいてこ
の被検査データをチェックし、このブエック結宋を表示
部7に供給して前記各部品2−1〜2−nの良否を表示
させる。
The processing unit 6 processes the image of the printed circuit board 1 to be inspected obtained by the TV camera 5, and obtains each characteristic data ( At the same time, the data to be inspected is extracted based on the reference data stored in the storage section 4, and the data to be inspected is supplied to the display section 7 to display each part 2-1. ~2-n displays the quality.

(発明が解決しようとする問題点) ところでこのような従来の自動検査装置においては、被
検査プリント基板1を検査するときの基準となる基準プ
リント基板を撮像して得られた画像データからオペレー
タが各部品2−1〜2−nの特徴パラメータの種類を決
めたり、判定基準データを作成して、これらの情報をキ
ーボード3から入力していた。
(Problems to be Solved by the Invention) By the way, in such conventional automatic inspection equipment, an operator can use image data obtained by capturing a reference printed circuit board, which is a reference when inspecting the printed circuit board 1 to be inspected. The types of characteristic parameters of each part 2-1 to 2-n were determined, judgment standard data was created, and this information was inputted from the keyboard 3.

しかしこの場合、どの部品に対してどの種類の特徴パラ
メータが最ら有効なのか、またそのときの判定基準値を
いくつにしたら良いのかという問題に対して明確な解決
手法がないため、専門的な知識を持つオペレータでなけ
れば、これら特徴パラメータの選択や判定J!準データ
の決定等を行なうことができなかった。またこのような
オペレータでも、試行錯誤的な方法でしかこのような特
徴パラメータの選択や判定基準データの決定等を行なう
ことができないため、その作業に時間がかかりすぎると
いう問題があった。
However, in this case, there is no clear method to solve the problem of which type of characteristic parameter is most effective for which part, or what judgment standard value should be set at that time. Unless the operator has the knowledge, selection and judgment of these feature parameters J! It was not possible to determine quasi-data. Further, even such an operator can only select characteristic parameters and determine criterion data by trial and error, and therefore, there is a problem in that the task takes too much time.

本発明は上記の事情に鑑み、素基板と、プリント基板と
を各々、複数枚撮像してvIられた画像データから部品
のマウント状態をチェックするのに最適な特徴パラメー
タを自動的に選択したり、判定基準データを自動的に決
定したりすることができるプリント基板検査装訂を提供
することを目的としている。
In view of the above-mentioned circumstances, the present invention automatically selects characteristic parameters that are optimal for checking the mounting state of components from image data obtained by capturing multiple images of a bare board and a printed circuit board, respectively. The present invention aims to provide a printed circuit board inspection equipment that can automatically determine judgment reference data.

(問題点を解決するための手段) 上記問題点を解決するため本発明によるプリント基椴検
舎装4は、記憶部に記憶されている判定基準データに塁
づいて、被検査プリント幕板を顕像して得られた画像を
検査して、前記被検査プリント基板の部品のマウント状
態を検査するプリント基板検査装■において、基準プリ
ント基板と素基板とを各々、複数枚、m像するRR部と
、この搬鍮部によって1!Iられる各基準プリント基板
画像と各素V板画像とから各部品画像と部品配置エリア
部分の各素基板画像とを各々切り出す画像切出し部と、
この画像切出し部によって111られた各部品画像の特
徴と各素基板画像の?5′fiとの分布に基づいて判定
基準データを作成する判定基準データ作成部とをIfi
えたことを特徴としている。
(Means for Solving the Problems) In order to solve the above-mentioned problems, the printed board inspection equipment 4 according to the present invention inspects the printed board to be inspected based on the judgment standard data stored in the storage section. In the printed circuit board inspection system (2), which inspects images obtained by visualization and inspects the mounting state of the components of the printed circuit board to be inspected, an RR that images a plurality of reference printed circuit boards and a plurality of base boards, respectively. 1 by this transportation department! an image cutting unit that cuts out each component image and each elementary board image in the component placement area portion from each reference printed circuit board image and each elementary V board image, respectively;
What are the characteristics of each component image extracted by this image extraction unit and the characteristics of each base board image? Ifi
It is characterized by the fact that

(実施例) 第1図は本発明によるプリント基板検査装置の一実施例
を示すブロック図である。
(Embodiment) FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a printed circuit board inspection apparatus according to the present invention.

この図に示すプリント基板検査装置は、X−Yテーブル
部14と、R像81115と、処理部16とをIaえて
おり、複数枚(例えば、6枚)の素基板9と、複数枚(
例えば、6枚)の基準プリント基板10−1とを撮像し
て得られる各画像データからウィンド・り(データの取
込み窓)を用いて複数の部品マウントエリア画像データ
と、複数の部品画像データとを各々抽出するとともに、
これら各部品マウントエリア画像データと、各部品画像
データとの色分布から、使用する特徴パラメータの種類
と、判定基準データの値とを自動的に決定して、被検査
プリント幕板10−2を検査する。
The printed circuit board inspection apparatus shown in this figure includes an X-Y table section 14, an R image 81115, and a processing section 16, and includes a plurality of (for example, six) bare substrates 9 and a plurality of (for example, six) bare substrates 9.
For example, a plurality of component mounting area image data and a plurality of component image data are generated using a window (data import window) from each image data obtained by imaging the reference printed circuit boards 10-1 (for example, 6 pieces). In addition to extracting each of
Based on the color distribution of each component mounting area image data and each component image data, the type of feature parameter to be used and the value of the criterion data are automatically determined, and the printed curtain board 10-2 to be inspected is determined. inspect.

X−Yテーブル部14は前記処理部16からの制御信号
に基づいて動作するパルスモータ17゜18と、これら
各パルスモータ17.18によってX軸方向およびY軸
方向に駆動されるX−Yテーブル19と、このX−Yテ
ーブル19上に設けられるプリント基板位置決め用のピ
ン20a、2obとを協えており、素基板9や各プリン
ト基板10−1.10−2をX−Yテーブル19上に載
せるとき、これらの各基板9〜10−2に形成された位
置決め用の穴を前記各ビン20a、20bに各々嵌入さ
せることにより、これら各基板9〜10−2が位置出し
される。
The X-Y table section 14 includes a pulse motor 17.18 that operates based on a control signal from the processing section 16, and an X-Y table that is driven in the X-axis direction and the Y-axis direction by each of these pulse motors 17.18. 19 and pins 20a and 2ob for positioning the printed circuit board provided on the X-Y table 19. When placing the substrates, the substrates 9 to 10-2 are positioned by fitting the positioning holes formed in the substrates 9 to 10-2 into the respective bins 20a and 20b.

撮像部15は、前記X−Yテーブル部14の上方に設け
られるカラーTVカメラ21と、このカラーTVカメラ
21のレンズ前面側に設けられるリング照明装置22と
を備えており、前記各基板9〜10−2はこのリング照
明装置22によって照明されながら前記カラーTVカメ
ラ21によってWi像され、この撮像動作により1町1
られた画性信号が処理部16へ供給される。
The imaging section 15 includes a color TV camera 21 provided above the X-Y table section 14, and a ring illumination device 22 provided on the front side of the lens of the color TV camera 21. 10-2 is illuminated by this ring illumination device 22 and imaged by the color TV camera 21, and by this imaging operation, 1 town 1
The resulting image quality signal is supplied to the processing section 16.

!l!lI!11部16は前記Wi像部15から供給さ
れる複数枚分の素基板画像信号と、複数枚分の基準プリ
ント基板画像信号との色分布に基づいて、検査で使用す
る特徴パラメータの種類と、判定基準データの埴とを決
定した後、前記撮像部15から供給される被検査プリン
ト基板画像信号から、選択された種類の特徴パラメータ
を抽出して、この抽出結果と前記判定基準データとを比
較することにより被検査プリント基板10−2上に全て
の部品13bがあるかどうか、およびこれらの部品13
bが位置ずれ等を起していないかどうかを判定する部分
であり、A/D変換部23と、メモリ24と、ティーチ
ングテーブル25と、画像処理部26と、X−Yステー
ジコントローラ27と、CRT表示器28と、プリンタ
29と、キーボード30と、制御部(CPU)31とを
備えている。
! l! lI! The 11 part 16 determines the type of feature parameter used in the inspection based on the color distribution of the plurality of blank board image signals supplied from the Wi image part 15 and the plurality of reference printed circuit board image signals, After determining the judgment standard data, the selected type of characteristic parameters are extracted from the inspected printed circuit board image signal supplied from the imaging section 15, and the extraction results are compared with the judgment standard data. By doing so, it is possible to check whether all the components 13b are present on the printed circuit board 10-2 to be inspected and these components 13.
b is a part that determines whether a positional shift or the like has occurred, and includes an A/D conversion section 23, a memory 24, a teaching table 25, an image processing section 26, an X-Y stage controller 27, It includes a CRT display 28, a printer 29, a keyboard 30, and a control unit (CPU) 31.

A/D変換部23は前記撮像部15から画像信号を供給
されたときに、これをA/D変換(アナログ・デジタル
変換)して画像データを作成し、これを制御部31へ供
給する。
When the A/D conversion section 23 is supplied with an image signal from the imaging section 15, it performs A/D conversion (analog-to-digital conversion) to create image data, and supplies this to the control section 31.

またメモリ24は、RAM (ランダム・アクセス・メ
モリ)等を備えて構成されるものであり。
Further, the memory 24 includes a RAM (Random Access Memory) and the like.

前記制御部31の作業エリアとして使われる。It is used as a work area for the control section 31.

また画鍮処叩部26は、前記制御部31から画像データ
と、闘v1とを供給されたとき、この開鎖で画像データ
を2値化するように構成されており、この2 WE化結
果(21化画像データ)は前記制御部31へ供給される
Furthermore, the brass processing section 26 is configured to binarize the image data using this open chain when it is supplied with the image data and the image data v1 from the control section 31, and the two WE conversion results ( 21 image data) is supplied to the control section 31.

またティーチングテーブル25は、フロッピーディスク
装置等を備えており、前記制御部31からデータファイ
ル等を供給されたとぎに、これを記憶し、また前記21
1160部31が転送要求を出力したとき、この要求に
応じてデータファイル等を読み出して、これを制御部3
1などへ供給する。
Further, the teaching table 25 is equipped with a floppy disk device, etc., and when it is supplied with a data file etc. from the control unit 31, it stores it and also stores the data file etc.
When the 1160 unit 31 outputs a transfer request, it reads the data file etc. in response to this request and sends it to the control unit 3.
1 etc.

またX−Yステージコントローラ27は前記il+御部
神都と、前記X−Yi−プル部14とを接続するインタ
フェース等を備えて構成されるものであり、前記制御部
31の出力に基づいて前記X−Yテーブル部14を制御
する。
Further, the X-Y stage controller 27 is configured to include an interface for connecting the il+Obejinto and the X-Yi-pull section 14, and is configured to perform the control based on the output of the control section 31. Controls the X-Y table section 14.

またC RT表示器28はブラウン管(CRT)を協え
ており、前記制り11部31から画像データ。
Further, the CRT display 28 is connected to a cathode ray tube (CRT) and displays image data from the control unit 11 31.

判定結果、′F−人カデカデータ供給されたとき、これ
を画面上に表示させる。
As a result of the determination, 'F--When the human scale data is supplied, this is displayed on the screen.

またプリンタ294ま、前記′Jil制御部31から判
定結宋簀を供給されたどさ、これを予め決められた書式
()A−マット)でプリントアウトする。
Further, the printer 294 receives the judgment result from the Jil control section 31 and prints it out in a predetermined format (A-mat).

またキーボード30は、操作情報や前記基準プリント基
板10−1に関するデータ、この基準プリント基板10
−1上にある部品13aに関するデータ等を入力するの
に必要な各種キーを備えており、このキーボード30か
ら入力された情報やデータ等は制御部31へ供給される
Further, the keyboard 30 is used to store operation information, data regarding the reference printed circuit board 10-1, and the like.
The keyboard 30 is equipped with various keys necessary for inputting data, etc. regarding the component 13a on the keyboard 30, and information, data, etc. input from the keyboard 30 are supplied to the control section 31.

tlll 10部31は、マイクロプロセッサ等を備え
ており、予め入力されているプログラムに基づいて前記
A/D変換部23〜キーボード30を制御したり、各種
データを処理したりする。
The tllll 10 unit 31 includes a microprocessor and the like, and controls the A/D converter 23 to the keyboard 30 and processes various data based on a program input in advance.

次に、第2図および第3図に示すフローチャートを参照
しながらこの実施例の動作を説明する。
Next, the operation of this embodiment will be explained with reference to the flowcharts shown in FIGS. 2 and 3.

まず、新たな被検査プリン1一基板10−2を検査する
ときには、制御部31は第2図に示ずフローチャートの
ステップST1で回路各部をイニシャライズしてこれら
をティーチングモードにした後、ステップST2でウィ
ンドウ作成処理を行ない、ティーチングボード等を撮像
して得られた部品情報やマウンタ等から得られる部品情
報等から第4図に示すような部品の配置エリア32の4
隅に位置するウィンドウ37を作成する。この場合、各
ウィンドウ37は検査対染となっている部品毎に作成さ
れる。
First, when inspecting a new printed circuit board 10-2 to be inspected, the control section 31 initializes each circuit section in step ST1 of the flowchart (not shown in FIG. 2) to put them into a teaching mode, and then in step ST2. Window creation processing is performed to create a component placement area 32-4 as shown in FIG.
Create a window 37 located in the corner. In this case, each window 37 is created for each component that is counterstained for inspection.

次いで、制御部31は、ステップST3でX−Yテーブ
ル部14上に1枚目の素基板9がセットされているかど
うかをブエツクし、これがセットされていれば、X−Y
テーブル部14をll1jt11シて掘像部15に素基
板9を撮像させるとともに、これによって1qられる素
Ji!板画像信号をA/r)変換部23で素基板画陳デ
ータに変換させる。
Next, in step ST3, the control section 31 checks whether or not the first bare substrate 9 is set on the X-Y table section 14, and if it is set, the X-Y
The table section 14 is moved ll1jt11 to cause the imaging section 15 to take an image of the base substrate 9, and as a result, the base board 9 is captured by 1q! The A/r converter 23 converts the board image signal into bare board image data.

この11/、制御部31は、ステップST4で部品毎に
作成された各ウィンドウ37を用いて前記素基板画像T
−夕から各部品がマウン1〜される部分く部品配置エリ
ア32)の4隅画像データを切り出す。
In this 11/, the control unit 31 uses each window 37 created for each component in step ST4 to
- Cut out the image data of the four corners of the part placement area 32) where each part is mounted from the beginning.

次いで、制御部31は、ステップST5で前記各4隅画
像データを構成するR(赤)色データ、G(緑)色デー
タ、B(告)邑γ−タから予め決められた複数種のパラ
メータを抽出し、ステップST6でこれをパラメータP
a11〜Pamnとして第5図に示すようなパラメータ
テーブル35を作成する。
Next, in step ST5, the control unit 31 extracts a plurality of predetermined parameters from the R (red) color data, G (green) color data, and B (red) color data constituting each of the four corner image data. is extracted, and in step ST6 this is set as the parameter P
A parameter table 35 as shown in FIG. 5 is created as a11 to Pamn.

この場合、第1〜第nのパラメータとしては前記8色デ
ータの明度と0色データの明度との組合せたものや、8
色データ、0色データ、8色データの各明度(または、
彩度、色相)を演輝して11られるR/Gデータ、B/
Gデータ、R/(R−)−G+8)データ等を組合せた
ものが用いられる。
In this case, the first to nth parameters may be a combination of the brightness of the 8 color data and the brightness of the 0 color data, or
Each brightness of color data, 0 color data, 8 color data (or
R/G data, B/
A combination of G data, R/(R-)-G+8) data, etc. is used.

この後、制御部31は、ステップST7で6枚の素基板
9について上述した処理が終了したかどうかをブエック
し、もしまだ処理していない分υ1エリアが残っていれ
ば、このステップST7から前記ステップST3へ戻り
、残りの素基板9に対して上述した処理を実行する。
After that, the control unit 31 checks whether the above-mentioned processing has been completed for the six raw substrates 9 in step ST7, and if there remains υ1 area that has not been processed yet, from this step ST7 to the above-mentioned processing. Returning to step ST3, the above-described process is performed on the remaining bare substrates 9.

そして6枚の素基板9の全てについてパラメータの抽出
処理が終了したとき、制御部31は前記ステップST7
からステップST8へ分岐し、ここで前記各素基板9の
各パラメータPa11〜Pfmnを各ウィンドウと、各
パラメータ種類とに基づいて分類し、第6図に示すよう
なテーブル36を作成する。この後、制御部31は、第
1ウインドウと、第1パラメータとに関する各素基板9
のパラメータPa11、Pb11、Pc11、Pd11
、Pc11.Pfllを、コ(1)パラメータ種類に対
応する平面上にプロットしたときの存在域E a 4−
 +1算する。
Then, when the parameter extraction process is completed for all six raw substrates 9, the control section 31 performs step ST7.
The process branches to step ST8, where the parameters Pa11 to Pfmn of each of the bare substrates 9 are classified based on each window and each parameter type, and a table 36 as shown in FIG. 6 is created. After that, the control unit 31 controls each base board 9 regarding the first window and the first parameter.
Parameters Pa11, Pb11, Pc11, Pd11
, Pc11. Existence area E a 4- when Pfl is plotted on the plane corresponding to the type of parameter (1)
Add +1.

この場合、平面としては、この第1パラメータが!デー
タの明度とGeデータの明度との組合せであるときには
、その横軸が0色の明度になり、かつその縦軸が「り邑
の明度となった平面が用いられる。またこの第1パラメ
ータが伯のデータの組合せであるときにら上述したパラ
メータの場合と同様に、その組合せたデータの一方が横
軸となり、他方が縦軸となった平面が用いられる。
In this case, for the plane, this first parameter is! When it is a combination of the brightness of the data and the brightness of the Ge data, a plane is used whose horizontal axis is the brightness of 0 color and whose vertical axis is the brightness of the color. When it is a combination of data, as in the case of the parameters described above, a plane is used in which one of the combined data is the horizontal axis and the other is the vertical axis.

そしてこのときの分布は、この第1ウインドウに対する
各素基数9の第1パラメータPa11〜Pf11がバラ
つかなければ、第7図(A)に示す如く、これらの各パ
ラメータPa11〜Pf11のhイi b・t E a
は小さくなり、またこれらの各パラメータr)a 11
・−Pfllがバラついていれば、第7図(B)に示す
如くその存在1iitEaは大きくなる。
The distribution at this time is, if the first parameters Pa11 to Pf11 of each prime number 9 for this first window do not vary, as shown in FIG. b・t E a
becomes smaller, and each of these parameters r) a 11
- If Pfll varies, its existence 1iitEa increases as shown in FIG. 7(B).

この後、制御部31は、パラメータの種類と、ウィンド
ウの番号とを変えて、上述した処理をくり返し、各ウィ
ンドウと、各パラメータ種類とに関する各素基板9のパ
ラメータ存在14[Eaを求める。
Thereafter, the control unit 31 repeats the above-described process by changing the parameter type and window number, and calculates the parameter existence 14[Ea of each base board 9 regarding each window and each parameter type.

次いで、it、II 00部31は、ステップST9で
X−Yテーブル部14上から6枚目の素基板9が外され
て、代りに1枚目の基準プリント基板10−1がセット
されたかどうかをチェックし、もしこれがセットされて
いれば、X−Yテーブル部14を制御して′fi像部1
5に基準プリント基板10−1を撮像させるとともに、
これによって得られる基準プリント基板画像信号をA/
D変換ff123で基準プリント基板画像データに変換
させる。
Next, the it, II 00 section 31 determines whether the sixth base board 9 from the X-Y table section 14 has been removed and the first reference printed circuit board 10-1 has been set in its place in step ST9. If this is set, the X-Y table section 14 is controlled and the 'fi image section 1
5 to image the reference printed circuit board 10-1,
The reference printed circuit board image signal obtained by this is
It is converted into reference printed circuit board image data by D conversion ff123.

この後、制御部31は、ステップ5TIOで各ウィンド
ウ37を用い前記素基板画像データから各部品13aの
4隅画像データを切り出す。
Thereafter, in step 5TIO, the control unit 31 uses each window 37 to cut out four corner image data of each component 13a from the base board image data.

次いで、制御部31は、ステップ5T11で前記各4隅
画像データを構成するR色データ、0色データ、8色デ
ータから予め決められた複数種のパラメータを抽出し、
ステップ5T12でこれをバラメークP′allへ−p
−f’mnとして上述したようなパラメータテーブルを
作成する。この場合、パラメータとしては、前記素基板
9に対して使用したものと同じ種類のパラメータが用い
られる。
Next, in step 5T11, the control unit 31 extracts a plurality of predetermined parameters from the R color data, 0 color data, and 8 color data constituting each of the four corner image data,
In step 5T12, send this to rose make P'all -p
A parameter table as described above is created as -f'mn. In this case, the same type of parameters as those used for the base substrate 9 are used.

この後、制御部31は、ステップ5T13で6枚のl 
1.プリント基板10−1について上述した処理が終了
したかどうかをチェックし、もしまだ処理が終了してい
41い基準プリント基板10−1が残っていれば、この
ステップ5T13から前記ステップST9へ戻り、残り
の基準プリント基板10−1に対して上述した処理を実
t7する。
After this, the control unit 31 controls the six l
1. It is checked whether the above-mentioned processing has been completed for the printed circuit board 10-1, and if there remains a standard printed circuit board 10-1 that has not been processed yet, the process returns from step 5T13 to step ST9 and the remaining The above-described process is performed on the reference printed circuit board 10-1 at t7.

そして、6枚のjulプリント塁110−1の全てにつ
いてパラメータの抽出処理が終了したとき、制御部31
は前記ステップ5T13からステップ5T14へ分岐し
、ここで前記各基準プリント基板10−1の各パラメー
タP= al 1〜Pfmnの存在域をウィンドウ番号
、パラメータ種類毎に計咋する。
Then, when the parameter extraction processing for all six jul printed bases 110-1 is completed, the control unit 31
The process branches from step 5T13 to step 5T14, where the existence range of each parameter P=al 1 to Pfmn of each reference printed circuit board 10-1 is calculated for each window number and parameter type.

この場合、前記素基板9のパラメータPa11〜p r
mnと同様に、1つのウィンドウに対する各基準プリン
ト基板10−1のパラメータ、例えばパラメータP=a
11〜P−f11がバラつかなければ、第8図(A)に
示す如く、これら各パラメータP−a11〜P−f11
の存在域Ebは小さくなり、またこれらの各パラメータ
P’ = a 11〜P′filがバラついていれば、
第8図(B)に示す如くその存在MEbは大ぎくなる。
In this case, the parameters Pa11 to p r of the base substrate 9
Similarly to mn, the parameters of each reference printed circuit board 10-1 for one window, for example, the parameter P=a
11 to P-f11 do not vary, each of these parameters P-a11 to P-f11 as shown in FIG. 8(A).
The existence range Eb becomes small, and if each of these parameters P' = a 11~P'fil varies,
As shown in FIG. 8(B), the existence MEb becomes large.

次いで、制御部31は、ステップST15で第1ウイン
ドウを選択し、このウィンドウに対する前記各素基板9
の第1パラメータ存在ti!Eaと、前記各基準プリン
ト基板10−1の第1パラメータ存在[Ebとが重なっ
ているかどうかをチェックし、第9図<A)に示す如く
もしこれらが重なっていれば、このウィンドウに対して
次のパラメータ(この場合第2パラメータ)を順次選択
し、このパラメータに対する各パラメータ存在域Ea。
Next, the control unit 31 selects the first window in step ST15, and controls each of the base substrates 9 for this window.
The existence of the first parameter ti! It is checked whether Ea and the first parameter existence [Eb of each reference printed circuit board 10-1] overlap, and if they overlap as shown in FIG. The next parameter (in this case, the second parameter) is sequentially selected, and each parameter existence range Ea for this parameter is determined.

Ebが重なっているかどうかを順次チェックする。It is sequentially checked whether Eb overlaps or not.

そして、第9図(B)に示す如くこれらの各パラメータ
テーブルEa、Fbが手なっていないパラメータが見つ
かれば、このステップ5T15からステップ5T16へ
分岐する。
Then, as shown in FIG. 9(B), if a parameter is found that is not configured in each of the parameter tables Ea and Fb, the process branches from step 5T15 to step 5T16.

ソシテ、axltlDffi31 ハ、このステゝツブ
5T16で基準プリント1.を板10−1側のパラメー
タ存在地[bを囲むように、判定ItW値エリア33を
設定した後、この判定基準エリア33に関するデータと
、このときのパラメータ種類とを又イーチングチ−プル
25に記憶させ、ステップ5T18へ進む。
Soshite, axltlDffi31 C, standard print 1. with this step 5T16. After setting the judgment ItW value area 33 so as to surround the parameter location [b on the board 10-1 side, the data regarding this judgment standard area 33 and the parameter type at this time are also stored in the each team 25. Then, proceed to step 5T18.

この場合、判定基1%j値]−リア33は、被検査プリ
ン]・基板10−2を顕像して(7られた被検査プリン
l−にt 扱画像データからこの第1ウインドウ37を
用いて切り出した各4隅画像データが部品13bの両ル
データであるか、この部品13がマウン1〜される部品
の素基板画像データであるか判定するためのTす7とし
て使用される。
In this case, the judgment base 1%j value]-Ria 33 visualizes the substrate 10-2 (printer to be inspected) and displays the first window 37 from the processed image data. The four corner image data cut out using the four-corner image data are used as Ts7 to determine whether the image data of each of the four corners is the corner data of the component 13b, or whether the component 13 is the bare board image data of the component to be mounted 1.

また前記ステップ5T15において、全種類のパラメー
タについて、第9図(Δ)に示すように素基板9側のパ
ラメータ存在1aEaと、基準プリント基板10−1側
のパラメータ存在域Ebとが重なっていると判断されれ
ば、制御部31は、このステップ5T15からステップ
ST17に分岐し、ここでCRT表示P128にメッセ
ージ文を表示したり、プリンタ29からメッセージ文を
プリントアウトしたりして、この第1ウインドウ37に
対してTli定JJQjエリア33を設定することがで
きなかったことをオペレータに知らせる。
Further, in step 5T15, for all types of parameters, as shown in FIG. 9 (Δ), the parameter existence 1aEa on the bare board 9 side and the parameter existence area Eb on the reference printed circuit board 10-1 side overlap. If it is determined, the control section 31 branches from this step 5T15 to step ST17, and here displays the message on the CRT display P128, prints out the message from the printer 29, and displays the message in this first window. The operator is informed that the Tli constant JJQj area 33 could not be set for 37.

そして全てのウィンドウに対して上述した処理が終了し
たとき、制御部31はこのティーチング動作を終了する
When the above-described processing is completed for all windows, the control unit 31 ends this teaching operation.

また前記基準プリント基板10−1と同じくなるように
量産された被検査基板10−2を検査するときには、制
御部31は、まず第3図に示す検査フローチャートのス
テップ5T20で回路各部をイニシャライズして、これ
らを検査モードにする。
Further, when inspecting the test board 10-2 that is mass-produced to be the same as the reference printed circuit board 10-1, the control section 31 first initializes each part of the circuit in step 5T20 of the inspection flowchart shown in FIG. , put them in inspection mode.

この後、オペレータ等によってX−Yテーブル部14に
被検査プリント基板10−2がセットさW h L;C
、制御部331は、ステップ5T21FX−Yテーブル
部14を制御して搬像部15に前記被検査プリント基板
10−2を搬像させるとともに、このときi!1られた
画像信号をΔ/D変換部23によって画像データ(被検
査プリント基板画像データ)に変換させる。
Thereafter, the printed circuit board 10-2 to be inspected is set on the X-Y table section 14 by an operator or the like.
In step 5T21, the control section 331 controls the FX-Y table section 14 to cause the image carrying section 15 to carry the printed circuit board 10-2 to be inspected, and at this time, i! The Δ/D converter 23 converts the image signal into image data (printed board image data to be inspected).

次いで、制御部31は、ステップ5T22で各ウィンド
ウ37を用いて前記被検査プリント基板画像データから
各部品13bがマウントされている1リアの4隅画像デ
ータを切り出づ。
Next, in step 5T22, the control unit 31 uses each window 37 to cut out four corner image data of one rear on which each component 13b is mounted from the image data of the printed circuit board to be inspected.

次いで、制御部31は、ステップ5T23で、前記4隅
画陳データを構成している8色データ、0色データ、1
3色データからテイーブング時に決められた種類のパラ
メータを各々抽出してこれらをパラメータPC1〜F’
cmとして一旦記憶した後、メ1ツブ5T24で部品1
3b毎の各パラメータPc1〜pcmがティーチングミ
ープル25に記憶されている各判定基準エリア33(こ
の各判定基準[リア33は各ウィンドウ毎に設定されて
いる)の内側にあるか外側にあるかを各々判定する。
Next, in step 5T23, the control unit 31 selects 8 color data, 0 color data, and 1 color data constituting the four corner image display data.
Extract the types of parameters determined at the time of processing from the three color data and use them as parameters PC1 to PCF'
After memorizing it as cm, select part 1 with Me 1 Tsubu 5T24.
Whether each parameter Pc1 to pcm for each 3b is inside or outside each judgment criterion area 33 (the rear 33 is set for each window) stored in the teaching meeple 25. Determine each.

この後、制御部31は、ステップ5T25で第1部品1
3bの各パラメータPc1〜Pc4が全て各判定基準エ
リア33内にあるかどうかをチェックし、もしこれらの
各パラメータPC1〜Pc4が全て各判定M Q’エリ
ア33内にあれば、このステップ5T25からステップ
5T26に分岐し、ここで第10図(A>に示す如くこ
の部品13bに対する全てのウィンドウ37が部品13
bのボデー(または電l4i)を検出している状態、つ
まり部品13bが位置ずれなしにマウントされている状
態と判断して、CR7表示器28上にこの部品13が正
常にマウントされていることを示すメッセージ文を表示
した後、このステップ5T26からステップ5T30へ
進む。
After that, the control unit 31 controls the first part 1 in step 5T25.
It is checked whether all of the parameters Pc1 to Pc4 of 3b are within each determination reference area 33, and if all of these parameters PC1 to Pc4 are within each determination MQ' area 33, the steps from step 5T25 are performed. 5T26, where all the windows 37 for this part 13b are shown in part 13 as shown in FIG.
It is determined that the body 13b (or electric l4i) is detected, that is, the component 13b is mounted without any positional deviation, and that the component 13 is correctly mounted on the CR7 display 28. After displaying a message indicating this, the process advances from step 5T26 to step 5T30.

また前記ステップ5T25において、前記部品13bの
全パラメータPC1〜Pc4のいずれか1つでも各判定
基準エリア33内にないと判定されれば、制御部31は
、このステップ5T25からステップ5T27へ分岐し
、ここでこの部品13bの各パラメータPcl〜Pc4
のいずれか1つが判定基準]−リア33内にあるかどう
かをチェックし、らし各パラメータPCI〜Pc4のい
ずれか1つでも各判定M準エリア33内にあれば、この
ス1ツブ5T27からステップ5T28に分岐し、ここ
で第10図(B)に示す如く各ウィンドウ37のいずれ
かが部品13bのボデー(または電極)を検出している
状態、つまり部品13bが位置ずれを起している状態と
判断して、CRT表示28にこの部品13bが位置ずれ
を起していることを示ずメッセージ文を表示した後、こ
のステップ5T28からステップ5T30へ進む。
Further, in step 5T25, if it is determined that any one of all parameters PC1 to Pc4 of the component 13b is not within each determination reference area 33, the control section 31 branches from step 5T25 to step 5T27, Here, each parameter Pcl to Pc4 of this part 13b
If any one of the parameters PCI to Pc4 is within the judgment criterion area 33, step 5T27 is executed. 5T28, where one of the windows 37 is detecting the body (or electrode) of the component 13b as shown in FIG. 10(B), that is, the component 13b is misaligned. After determining that this is the case and displaying a message on the CRT display 28 that does not indicate that the component 13b is misaligned, the process advances from step 5T28 to step 5T30.

また前記ステップ5T27において、前記部品13bの
全パラメータPc1〜PC4が各判定基準エリア33内
になければ、制御部31は、このステップ5T27から
スーツツブS T 29へ分岐し、ここで第10図(C
)に示1j如く各ウィンドウ37がいずれし部品13の
ボアー(または電極)を検出していない状態、つまりこ
の部分にあるべき部品が脱落していると判断して、CR
1表示器28にこの部分が脱落していることを示すメッ
セージ文を表示した後、このステップ5T29からステ
ップ5T30へ進む。
Further, in the step 5T27, if all the parameters Pc1 to PC4 of the component 13b are not within each criterion area 33, the control section 31 branches from this step 5T27 to the suit part S T 29, and here
1j, each window 37 is not detecting the bore (or electrode) of the component 13, that is, it is determined that the component that should be in this area has fallen off, and CR
After displaying a message indicating that this part has fallen off on the 1 display 28, the process advances from step 5T29 to step 5T30.

そして、制御部31は、このステップ5T30でこの被
検査プリント基板10−2の全部品13bについて脱落
、位置ずれ判定処理が終了したかどうかをチェックし、
もしまだ処理していない部品13bが残っていれば、こ
のステップ5T30から前記ステップ5T25へ戻り、
残りの部品13bに対して上述した処理を実行プる。
Then, in step 5T30, the control unit 31 checks whether or not the dropout and positional deviation determination process has been completed for all the components 13b of the printed circuit board 10-2 to be inspected.
If there are still unprocessed parts 13b, the process returns from step 5T30 to step 5T25,
The above-described process is executed for the remaining parts 13b.

そして、この被検査プリント基板10−2の全部品13
bについて処理が終了したとき、制御部31は、この被
検査プリント基板10−2の良否をCRT表示器28上
に表示した後、この検査フローチャートを終了する。
All parts 13 of this printed circuit board 10-2 to be inspected
When the process for test b is completed, the control unit 31 displays the quality of the printed circuit board 10-2 to be inspected on the CRT display 28, and then ends this inspection flowchart.

このようにこの実施例においては、複数の素基板9から
抽出した素基板1iIlj像のパラメータPa11〜p
fmnと、複数の基準プリント基板10−1から抽出し
た部品画像のパラメータl”all〜P−rmnとの分
布状態から各ウィンドウ37に対する判定基準エリア3
3を求めているので、専門的な知識を1,1だないオペ
レータが操作しても常に最適な判定J!準データを得る
ことができる。
As described above, in this embodiment, the parameters Pa11 to p of the raw substrate 1iIlj images extracted from the plurality of raw substrates 9 are
Judgment reference area 3 for each window 37 is determined from the distribution state of fmn and parameters l"all to P-rmn of component images extracted from a plurality of reference printed circuit boards 10-1.
Since we are looking for 3, even if an operator with less specialized knowledge operates, the judgment will always be optimal J! quasi-data can be obtained.

また十jホした実施例においては、ディーヂング時に、
平面を用いて各パラメータPa1l〜Pfmn、 p 
−a 11〜P −f mn(7)分布ヲ:tt3Lr
いるが、これら複vi種のパラメータを組み合せた多次
元空間を用いて各パラメータの分布を計りしてら良い。
In addition, in the above embodiment, during deeding,
Using a plane, each parameter Pa1l~Pfmn, p
-a 11~P -f mn(7) Distribution: tt3Lr
However, it is better to measure the distribution of each parameter using a multidimensional space that combines these multiple types of parameters.

また卜述した実施例においては、1つの部品の4隅近く
にウィンドウ37を設けているが、第11図に示す如く
、1つの部品13の4隅と、中心とに各ウィンドウ37
を設けるようにしてら良い。
Further, in the embodiment described above, the windows 37 are provided near the four corners of one component, but as shown in FIG.
It would be good to have a .

また」二連した実施例においては、各ウィンドウ37毎
に判定基準エリア33を得るようにしているが、これら
各ウィンドウ37を部品毎、または基板毎に一括して扱
い、これら部品毎(または。
In addition, in the two consecutive embodiments, the determination reference area 33 is obtained for each window 37, but these windows 37 are handled collectively for each component or each board, and each window 37 is handled for each component (or each board).

基板角)に共通な判定1FtPxリアを求めるようにし
ても良い。
The determination 1FtPx rear that is common to the substrate angle) may be obtained.

また上述した実施例においては、複数の素基板9のパラ
メータPa11〜Pfmnの分布と、基準パラメータP
−a11〜p−’rmnの分布との重なりに基づいて判
定基準エリア33を求めるようにしているが、1つのウ
ィンドウについてのパラメータ、例えばパラメータpa
11〜Pf’11と、パラメータP=a11〜P−f1
1とを統副処理して判定値しと、この判定値しで判定し
たときの確さNとを求めるようにしても良い。この場合
、一方のパラメータPa11〜Pf’11に対する分布
関数f1の中央値をMm、標準偏1tfJをσmとして
、他方のパラメータP=811へp−r’11に対する
分布1311数f2の中央伯をMj、標準@差値をaj
とすれば、前記判定値し、確さNは、各々、 L=Mm+ (Mj−Mn)Xσm/ (σm+cyj
 )・・・・・・(1) N= (Mj−Mm)/ (σm−+ aj)−−−(
2)で与えら机る。そしてこの場合、制御部31は、こ
の確さNのI+iをCR1表示器28に表示するととも
に、この確さNのVlが一定値以上になるように、パラ
メータを選択するので、第12図(A)に示す如く一方
のパラメータPa11〜Pfllに関する分布関数f1
と、他方のパラメータP′a11〜p=riiに関する
分布関数f2とが離れていれば、このウィンドウに対し
ては、このパラメータが適していると判断してこのパラ
メータを遣IR?#る。
Further, in the embodiment described above, the distribution of the parameters Pa11 to Pfmn of the plurality of base substrates 9 and the reference parameter P
The determination reference area 33 is determined based on the overlap with the distribution of -a11 to p-'rmn, but the parameters for one window, for example, the parameter pa
11 to Pf'11 and parameter P=a11 to P-f1
1 and vice versa to obtain a judgment value, and the probability N when a judgment is made using this judgment value may be obtained. In this case, let the median value of the distribution function f1 for one parameter Pa11 to Pf'11 be Mm, and the standard deviation 1tfJ be σm, and the median fraction of the distribution 1311 number f2 for pr'11 to the other parameter P=811 be Mj , standard @ difference value aj
Then, the above judgment value and the certainty N are respectively L=Mm+ (Mj-Mn)Xσm/ (σm+cyj
)・・・・・・(1) N= (Mj−Mm)/(σm−+ aj)−−−(
2) Given by. In this case, the control unit 31 displays I+i of this certainty N on the CR1 display 28, and selects parameters such that Vl of this certainty N is equal to or greater than a certain value. As shown in A), the distribution function f1 regarding one of the parameters Pa11 to Pfll
If the distribution function f2 regarding the other parameters P'a11 to p=rii is far apart, it is determined that this parameter is suitable for this window, and this parameter is used. #ru.

また、第゛12図(B)に示すように一方のパラメータ
[)a11〜Pf11に関する分布関数f1と、他方の
パラメータP′a11〜P′f11に関する分布関数「
2とが一部重なっていれ獣、制御部31はこのウィンド
ウにス・1して【、tlこのパラメータガ適していない
と判断しC別のパラメータを選択りる。
Moreover, as shown in FIG. 12(B), the distribution function f1 regarding one parameter [)a11 to Pf11 and the distribution function f1 regarding the other parameter P'a11 to P'f11 '
2 partially overlaps, the control unit 31 selects this window, determines that this parameter is not suitable, and selects another parameter.

(発明の効果) 以上説明したように本発明にJ:れば、複数の素基板と
、′It1数の基QIプリント基板とを顕像して11ら
れた画像データから部品のマウント状態をブエツクJろ
の最適な特徴パラメータを自助的に選択したり、判定基
準データを自動的に作成したりすることができる。
(Effects of the Invention) As explained above, according to the present invention, it is possible to visualize the mounting state of components from the image data obtained by visualizing a plurality of bare boards and 11 base QI printed boards. It is possible to self-help select the optimal characteristic parameters for J-ro, and automatically create judgment standard data.

【図面の簡単な説明】[Brief explanation of drawings]

第1図は本発明によるプリント基板検査装置の一実施例
を示すブロック図、第2図は同実施例のティーチング動
作例を示すフローチャート、第3図は同実施例の検査動
作例を示すフローチャート、第4図は同実施例で用いら
れるウィンドウの一例を示す模式図1.第5図は同実施
例で用いられるパラメータテーブルの一例を示す極式図
、第6図は同実施例で用いられるパラメータ処理時に用
いられるテーブルの一例を示す模式図、第7図(A)、
(R)は各々同実施例における素基板パラメータの分布
例を示す模式図、第8図(A>、([3)は各々同実施
例における基準プリント基板パラメータの分布例を示す
模式図、第9図(A)、(B)は各々同実施例における
素基板パラメータと、基準プリント基板パラメータとの
分布例を示す模式図、第10図<A)〜(C)は各々同
実施例における部品のマウント例を示す模式図、第11
図は本発明で用いられるウィンドウの他の例を示す模式
図、第12図<A)、(B)は各々本発明によるプリン
ト基板検査装置の伯の判定方法を説明するための模式図
、第13図は従来の自動検査装置の一例を示すブロック
図である。 9・・・索J、を板、10−1・・・基準プリント4根
、10−2・・・被検査プリント基板、15・・・撮像
部、25・・・記憶部(ティーチングミープル)、31
・・・画像切出し部、判定基準データ作成部(制御部)
。 特 許 出 願 人  立石電機株式会社代狸人   
弁理1  看0哲二(伯1名)罠3z 壽 隼ヰIL 3り   P=====−ゴ、?7 さ仁   口! 1y、」 31八−ロ    ひ〉37 X7$tA)            %7コ(it)
蔦80(A)            先8171(S
)算5目 募6I?1 東CI順^)          本QijBB>も1
1θ
FIG. 1 is a block diagram showing an embodiment of a printed circuit board inspection device according to the present invention, FIG. 2 is a flowchart showing an example of the teaching operation of the embodiment, and FIG. 3 is a flowchart showing an example of the inspection operation of the embodiment. FIG. 4 is a schematic diagram showing an example of a window used in the same embodiment. FIG. 5 is a polar diagram showing an example of a parameter table used in the same embodiment, FIG. 6 is a schematic diagram showing an example of a table used during parameter processing used in the same embodiment, and FIG. 7 (A),
(R) is a schematic diagram showing an example of the distribution of basic printed circuit board parameters in the same example, and FIGS. Figures 9 (A) and (B) are schematic diagrams showing examples of the distribution of bare board parameters and reference printed circuit board parameters in the same example, and Figures 10A to (C) are diagrams showing parts in the same example, respectively. Schematic diagram showing an example of mounting, No. 11
The figure is a schematic diagram showing another example of the window used in the present invention, and FIGS. FIG. 13 is a block diagram showing an example of a conventional automatic inspection device. 9... Cable J, board, 10-1... 4 reference prints, 10-2... Printed circuit board to be inspected, 15... Imaging section, 25... Storage section (teaching meeple) , 31
...Image cropping section, judgment standard data creation section (control section)
. Patent applicant: Tateishi Electric Co., Ltd.
Patent Attorney 1 Seen 0 Tetsuji (Haku 1) Trap 3z Jun Junichi IL 3ri P=====-Go,? 7 Sani Mouth! 1y,” 318-ro hi〉37 X7$tA) %7ko(it)
Tsuta 80 (A) Tip 8171 (S
) Calculation 5 index 6I? 1 East CI order ^) Book QijBB> also 1

Claims (1)

【特許請求の範囲】[Claims]  記憶部に記憶されている判定基準データに基づいて、
被検査プリント基板を撮像して得られた画像を検査して
、前記被検査プリント基板の部品のマウント状態を検査
するプリント基板検査装置において、基準プリント基板
と素基板とを各々、複数枚、撮像する撮像部と、この撮
像部によつて得られる各基準プリント基板画像と各素基
板画像とから各部品画像と部品配置エリア部分の各素基
板画像とを各々切り出す画像切出し部と、この画像切出
し部によつて得られた各部品画像の特徴と各素基板画像
の特徴との分布に基づいて判定基準データを作成する判
定基準データ作成部とを備えたことを特徴とするプリン
ト基板検査装置。
Based on the judgment criteria data stored in the storage unit,
In a printed circuit board inspection apparatus that inspects images obtained by imaging a printed circuit board to be inspected to inspect the mounting state of components of the printed circuit board to be inspected, a plurality of images of each of a reference printed circuit board and a plurality of base boards are imaged. an image capturing unit that cuts out each component image and each bare board image in the component placement area from each reference printed circuit board image and each bare board image obtained by the imaging unit; 1. A printed circuit board inspection apparatus comprising: a determination criterion data creation section that creates determination criterion data based on the distribution of features of each component image and features of each bare board image obtained by the section.
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Cited By (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS6332668A (en) * 1986-07-26 1988-02-12 Shigumatsukusu Kk Object recognizing device
JPH0244235A (en) * 1988-08-03 1990-02-14 Matsushita Electric Ind Co Ltd Inspection of polarity for electronic component

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