JPS62253685A - 螢光体 - Google Patents
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- JPS62253685A JPS62253685A JP9772986A JP9772986A JPS62253685A JP S62253685 A JPS62253685 A JP S62253685A JP 9772986 A JP9772986 A JP 9772986A JP 9772986 A JP9772986 A JP 9772986A JP S62253685 A JPS62253685 A JP S62253685A
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Landscapes
- Luminescent Compositions (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
〔産業上の利用分野〕
本発明はテルビウムで付活した緑色から青色領域の発光
を有する螢光体に関するものである。
を有する螢光体に関するものである。
周知のように希土類オキシサルファイドを基体とした螢
光体は、Ｘ線の吸収量が多く、発光効率が高いことによ
ってＸ線増感紙、Ｘ線螢光板等に広く使用されている。
光体は、Ｘ線の吸収量が多く、発光効率が高いことによ
ってＸ線増感紙、Ｘ線螢光板等に広く使用されている。
しかし、希土類オキシザルファイドを基体としたＧｄ、
Ｏ，Ｓ ： Ｔｂ 。
Ｏ，Ｓ ： Ｔｂ 。
（Ｙ、ａｄ）２０．Ｓ： Ｔｌ） 、 Ｙ、Ｏ，Ｓ ：
Ｔｂ等のＸ線増感紙用螢光体は、従来から使用されて
いる０ａＷＯ，螢光体に比較すると発光効率は高いが、
残光が長く、残光の低減が望まれていた。
Ｔｂ等のＸ線増感紙用螢光体は、従来から使用されて
いる０ａＷＯ，螢光体に比較すると発光効率は高いが、
残光が長く、残光の低減が望まれていた。
希土類オキシサルファイドを基体とした螢光体の残光改
善に関しては、セリウムを少量（ｓ×ｙｏ−’モル以上
）添加することにより残光が低減することが知られてい
る（特公昭５？−３を−ｇθ号公報）。
善に関しては、セリウムを少量（ｓ×ｙｏ−’モル以上
）添加することにより残光が低減することが知られてい
る（特公昭５？−３を−ｇθ号公報）。
本発明者らは発光強度が高く残光の短い螢光体を得るべ
く鋭意研究を重ねた結果、セリウム含有テルビウム付活
の希土類オキシサルファイドを基体とした螢光体に微量
のネオジウム及び／又はスカンジウムを含有せしめるこ
とにより、意外にも発光強度を損うことなく、残光を格
段に短くし得ることを見い出し本発明を完成させた。
く鋭意研究を重ねた結果、セリウム含有テルビウム付活
の希土類オキシサルファイドを基体とした螢光体に微量
のネオジウム及び／又はスカンジウムを含有せしめるこ
とにより、意外にも発光強度を損うことなく、残光を格
段に短くし得ることを見い出し本発明を完成させた。
すなわち、本発明の要旨は、
（／−ｗ−ｘ ） Ｒ，０２５１１ｗＴｂ、Ｏ，トｘｃ
ｅρ２Ｓで表わされる螢光体に、／ Ｘ ／ ｆ”〜／
Ｘ ／ ０−’モルのＮｄ、Ｏ，Ｓ及び／又は８Ｃ！
Ｏ，Ｓを含有させてなる螢光体に存する。
ｅρ２Ｓで表わされる螢光体に、／ Ｘ ／ ｆ”〜／
Ｘ ／ ０−’モルのＮｄ、Ｏ，Ｓ及び／又は８Ｃ！
Ｏ，Ｓを含有させてなる螢光体に存する。
以下、本発明の詳細な説明する。
本発明でいうセリウム含有子ルビクム付活希土類オキシ
サルファイドを基体とした螢光体とは、式 ％式％ で表わされる螢光体である。特にＸは／×／θ−≦Ｘ≦
５×メ０′″“、更には／×ＩＯ″”ｂＸ≦３ Ｘ ／
０−’の範囲とすることが発光強度の点から好ましい
０このセリウム含有テルビウム付活螢光体に含有さぜる
Ｎ（１，０，Ｓ及び／又は８ ｃ、Ｏ，Ｓは、螢光体７
モル当り／Ｘ１０１〜／×／θ−４モル、好ましくは／
×／Ｑ−＠〜５×／θ１モルである。あまシに多いと発
光強度を低下させるおそれがある。逆にあまυに少ない
と本発明の効果が期待できなくなる。
サルファイドを基体とした螢光体とは、式 ％式％ で表わされる螢光体である。特にＸは／×／θ−≦Ｘ≦
５×メ０′″“、更には／×ＩＯ″”ｂＸ≦３ Ｘ ／
０−’の範囲とすることが発光強度の点から好ましい
０このセリウム含有テルビウム付活螢光体に含有さぜる
Ｎ（１，０，Ｓ及び／又は８ ｃ、Ｏ，Ｓは、螢光体７
モル当り／Ｘ１０１〜／×／θ−４モル、好ましくは／
×／Ｑ−＠〜５×／θ１モルである。あまシに多いと発
光強度を低下させるおそれがある。逆にあまυに少ない
と本発明の効果が期待できなくなる。
また、本発明の螢光体は、上記したＮｄｔＯ−及び／又
はＢｅ、Ｏ−の他に、希土類以外の金属、例えばＣｕ、
Ａｇ、 Ａｕ＋ Ｂｅ、 Ｍｇ、 Ｃａ、 Ｓｒ、
Ｂａｓ Ｚｎ５Ｃｄ、Ｈｇ、Ｔｉ、Ｇｏ、 Ｓｎ、Ｐ
ｂ、Ｖ、Ｎｂ、Ｔａ、 ○ｒ、Ｍｏ。
はＢｅ、Ｏ−の他に、希土類以外の金属、例えばＣｕ、
Ａｇ、 Ａｕ＋ Ｂｅ、 Ｍｇ、 Ｃａ、 Ｓｒ、
Ｂａｓ Ｚｎ５Ｃｄ、Ｈｇ、Ｔｉ、Ｇｏ、 Ｓｎ、Ｐ
ｂ、Ｖ、Ｎｂ、Ｔａ、 ○ｒ、Ｍｏ。
Ｗ、 Ｓｓ、Ｍｎ、Ｆｅ、Ｃｏ、Ｎｉ、Ｒｕ、Ｒｈ、
Ｐｄ、Ｏｓ、 工ｒ。
Ｐｄ、Ｏｓ、 工ｒ。
Ｐｔ等を含有させてもよい。上記のうちではコ価または
り価の金属、具体的にはＴ１が好ましい０ 存在させる量は螢光体全体に対して！ｒ Ｏｐｐｍ以下
、好ましくは／ Ｏｐｐｍ以下である。
り価の金属、具体的にはＴ１が好ましい０ 存在させる量は螢光体全体に対して！ｒ Ｏｐｐｍ以下
、好ましくは／ Ｏｐｐｍ以下である。
なお、本発明の螢光体中の元素分析は、徨々の公知の方
法によって行なえるが、例えばごく微量のセリウム等は
スパークソース質量分析法によって測定することができ
る◇ 本螢光体は通常の希土類オキシサルファイド系螢光体の
製造方法で容易に製造することができる。例えば前述の
一般式のＲ元素とテルビウムとセリウム及びスカンジウ
ム、ネオジム、希土類以外の金属の一部もしくは全部か
らなる酸化物にイオウを配合し、微細に粉砕してそれぞ
れの原料を均一に混合し焼成すれば容易に得ることがで
きる。この際融、剤として多硫化アルカリ金属（Ｈａ、
ａｘ等）、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム等を添加して
もよい。
法によって行なえるが、例えばごく微量のセリウム等は
スパークソース質量分析法によって測定することができ
る◇ 本螢光体は通常の希土類オキシサルファイド系螢光体の
製造方法で容易に製造することができる。例えば前述の
一般式のＲ元素とテルビウムとセリウム及びスカンジウ
ム、ネオジム、希土類以外の金属の一部もしくは全部か
らなる酸化物にイオウを配合し、微細に粉砕してそれぞ
れの原料を均一に混合し焼成すれば容易に得ることがで
きる。この際融、剤として多硫化アルカリ金属（Ｈａ、
ａｘ等）、炭酸ナトリウム、炭酸カリウム等を添加して
もよい。
またａｔに添加せしめるテルビウム、セリウム、スカン
ジウム等の混合をより均一にするたまたは希土類醸化物
の代りに加熱分解くより容易に酸化物になり得る化合物
、例えば炭酸塩、シュウ酸塩等の化合物とイオウ等を配
合し均一に混合し焼成してもよい。
ジウム等の混合をより均一にするたまたは希土類醸化物
の代りに加熱分解くより容易に酸化物になり得る化合物
、例えば炭酸塩、シュウ酸塩等の化合物とイオウ等を配
合し均一に混合し焼成してもよい。
焼成後焼結体を冷却し、加剰なイオウ、多硫化アルカリ
金Ｍなどを水洗等で除去し、乾燥させ螢光体粉末を得る
ことができる。
金Ｍなどを水洗等で除去し、乾燥させ螢光体粉末を得る
ことができる。
以下実施例によって本発明を具体的に説明するが、本発
明はその要旨をこえない限り以下の実施例に限定される
ものではない。
明はその要旨をこえない限り以下の実施例に限定される
ものではない。
６７０−に溶解し、酸化物換算で３重量％の酸化テルビ
≠ウム（Ｔｂ、ｏりを含有する塩酸溶液ココ、７−２酸
化物換算で八θｑ／ｌの酸化セリウム（（５ｅＯりを含
有する塩酸溶液／θ、！ｆｓ！！及び酸化物換算で八〇
１Ｑ／ｌの酸化ネオジム溶液／ Ｏ，Ｊ−を添加し熱
水で６θ℃、１０ｔに希釈した。
≠ウム（Ｔｂ、ｏりを含有する塩酸溶液ココ、７−２酸
化物換算で八θｑ／ｌの酸化セリウム（（５ｅＯりを含
有する塩酸溶液／θ、！ｆｓ！！及び酸化物換算で八〇
１Ｑ／ｌの酸化ネオジム溶液／ Ｏ，Ｊ−を添加し熱
水で６θ℃、１０ｔに希釈した。
上記溶液を攪拌しながら６０℃１．２に重量％の蓚酸溶
液へｉｔを３分で添加し、添加後７０分間攪拌を行った
。生成した蓚酸塩をデカンテーショ／でＰＨダ、！ｆに
なるまで洗浄をくシ返し蓚酸塩をＰ取した。この沈澱を
／θｏｏｃｉ時間加熱分解して酸化物を取得した。
液へｉｔを３分で添加し、添加後７０分間攪拌を行った
。生成した蓚酸塩をデカンテーショ／でＰＨダ、！ｆに
なるまで洗浄をくシ返し蓚酸塩をＰ取した。この沈澱を
／θｏｏｃｉ時間加熱分解して酸化物を取得した。
上記方法で得九希土酸化物、２００ Ｉ？、炭酸カリウ
ムよθｙ１炭酸ナトリウム５ｏｔｉ、 リン酸リチウム
ｔｐ及びイオウ４０１１をよく混合し、アルミナルツボ
中で／：１！θ℃で一時間ＪＱ分焼成し、焼成後焼結体
を冷却し、水に浸漬後、洗液のＰＨがＩＯになるまで水
洗し、ｓｑｌ’塩酸で洗浄し、次いで洗液のＰＨがｑに
なるまで水洗し／コＯＣで乾燥し下記式で表わされる螢
光体を取得した。
ムよθｙ１炭酸ナトリウム５ｏｔｉ、 リン酸リチウム
ｔｐ及びイオウ４０１１をよく混合し、アルミナルツボ
中で／：１！θ℃で一時間ＪＱ分焼成し、焼成後焼結体
を冷却し、水に浸漬後、洗液のＰＨがＩＯになるまで水
洗し、ｓｑｌ’塩酸で洗浄し、次いで洗液のＰＨがｑに
なるまで水洗し／コＯＣで乾燥し下記式で表わされる螢
光体を取得した。
０．９９３Ｇｄ！０１Ｓ−０，００！ｆＴｂ２０＊ Ｓ
−！ｒＸ ／ ０””’Ｃｅ ！０２０−ＦＸ ／ ０
”’”Ｎａ＊ＯｚＳ発光強度の測定は上記の螢光体の粉
末に管電圧Ａ Ｏｋｖｐ 、管電流／ｍＡ、照射距離／
ｍでｘｉを照射し発光量を輝度計で測定した。
−！ｒＸ ／ ０””’Ｃｅ ！０２０−ＦＸ ／ ０
”’”Ｎａ＊ＯｚＳ発光強度の測定は上記の螢光体の粉
末に管電圧Ａ Ｏｋｖｐ 、管電流／ｍＡ、照射距離／
ｍでｘｉを照射し発光量を輝度計で測定した。
Ｘ線残光の測定は螢光体粉末に管電圧＆！ｋｖｐ。
管電流、７ｍＡ、照射距離ＡＯｃｍでＸ線を７分間照射
し、照射停止直後Ｘ線フィルム（富士写真フィルム■製
ＧＲＥＮＥＸ ＩｔＸＯ−Ｈ（商標））を密着させ３０
分放置し、現像を行った。
し、照射停止直後Ｘ線フィルム（富士写真フィルム■製
ＧＲＥＮＥＸ ＩｔＸＯ−Ｈ（商標））を密着させ３０
分放置し、現像を行った。
残光に、！：り生じたフィルムの黒度をＭａｌｕｍｉ社
製自動濃度測定計で黒化度測定を行い、測定した黒化度
と使用したＸ線フィルムの写真特性よりフィルムへの入
力光を求め残光値とした。
製自動濃度測定計で黒化度測定を行い、測定した黒化度
と使用したＸ線フィルムの写真特性よりフィルムへの入
力光を求め残光値とした。
紫外線残光測定は、螢光体粉末にＪｊｂ！ｎｒｎの紫外
線を３分間照射し、照射停止から３秒後にＸ線フィルム
（富士写真フィルム■チ製ＧＲＩＩＸＮＫＸＲＸＯ〜Ｈ
）を密着させ３０分放置し現像を行った。
線を３分間照射し、照射停止から３秒後にＸ線フィルム
（富士写真フィルム■チ製ＧＲＩＩＸＮＫＸＲＸＯ〜Ｈ
）を密着させ３０分放置し現像を行った。
測定はＸ線残光と同様の方法で行った。
測定結果を第１表に示す。
また、比較のため、従来の例としてネオジム及びセリウ
ム共に無添加の螢光体（比較例１）と、ネオジム無添加
でセリウム、ｌｔ Ｘ ／ ０””モル添加した螢光体
（比較例、２）の螢光特性、並びに参考例／〜３として
ネオジム無添加で表に示した量のセリウム１＆：添加し
た螢光体の螢光特性を第７表に併記する。
ム共に無添加の螢光体（比較例１）と、ネオジム無添加
でセリウム、ｌｔ Ｘ ／ ０””モル添加した螢光体
（比較例、２）の螢光特性、並びに参考例／〜３として
ネオジム無添加で表に示した量のセリウム１＆：添加し
た螢光体の螢光特性を第７表に併記する。
実施例−〜ｌ弘
酸化ガドリニウム、酸化テルビウム、酸化セリウム、酸
化ネオジム、及び酸化スカンジウムを適量混合し実施例
／と同様の方法で螢光体を製造し、式 ％式％ ・ｚ８ｃ、Ｏ，Ｓ の螢光体を得□た。
化ネオジム、及び酸化スカンジウムを適量混合し実施例
／と同様の方法で螢光体を製造し、式 ％式％ ・ｚ８ｃ、Ｏ，Ｓ の螢光体を得□た。
上記螢光体の螢光特性と！、７．Ｈの値を第７表に示す
。
。
」し二二Ｊ（
実施例／ｊ〜ｌざ
酸化ガドリニウム、酸化テルビウム、酸化セリウム、酸
化ネオジム及びチタンを適量混合し実施例／と同様の方
法で螢光体を製造し、式０式％ の螢光体を得た。
化ネオジム及びチタンを適量混合し実施例／と同様の方
法で螢光体を製造し、式０式％ の螢光体を得た。
この螢光体の螢光特性を第−表に示す。
本発明の螢光体は同量のセリウムのみを添加した場合と
比較すると、発光強度が同程度でかつ残光が著しく短い
ので工業的価値が大きい。
比較すると、発光強度が同程度でかつ残光が著しく短い
ので工業的価値が大きい。
出 願 人 三菱化成工業株式会社
代 理 人 弁理士長香川 −
（ほか７名）
Claims (2)
- （１） （１−ｗ−ｘ）Ｂ＿２Ｏ＿２Ｓ・ｗＴｂ＿２Ｏ
＿２Ｓ・ｘＣｅ＿２Ｏ＿２Ｓ（ただし、ＲはＹ，Ｌａ，
Ｇｄ及びＬｕからなる群から選ばれた少なくとも一種、 ５×１０＾−＾４≦ｗ≦１×１０＾−＾１、１×１０＾
−＾８≦ｘ≦１×１０＾−＾４）で表わされる螢光体１
モルに、１×１０＾−＾８〜１×１０＾−＾４モルのＮ
ｄ＿２Ｏ＿２Ｓ及び／又はＳｃ＿２Ｏ＿２Ｓを含有させ
てなる螢光体。 - （２） 螢光体が希土類元素以外の金属を５０ｐｐｍを
特徴とする特許請求範囲第（３）項記載の螢光体。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9772986A JPH078983B2 (ja) | 1986-04-26 | 1986-04-26 | 螢光体 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP9772986A JPH078983B2 (ja) | 1986-04-26 | 1986-04-26 | 螢光体 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62253685A true JPS62253685A (ja) | 1987-11-05 |
| JPH078983B2 JPH078983B2 (ja) | 1995-02-01 |
Family
ID=14199976
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP9772986A Expired - Fee Related JPH078983B2 (ja) | 1986-04-26 | 1986-04-26 | 螢光体 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPH078983B2 (ja) |
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5312560A (en) * | 1992-03-19 | 1994-05-17 | Nichia Chemical Industries, Ltd. | Rare earth phosphor |
| JP2003113375A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-04-18 | Koninkl Philips Electronics Nv | 青色蛍光体を備える放電が誘電的に阻害されたガス放電ランプ |
| US10207957B2 (en) * | 2013-10-08 | 2019-02-19 | Hitachi Metals, Ltd. | Ceramic scintillator and its production method, and scintillator array and radiation detector |
-
1986
- 1986-04-26 JP JP9772986A patent/JPH078983B2/ja not_active Expired - Fee Related
Cited By (3)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US5312560A (en) * | 1992-03-19 | 1994-05-17 | Nichia Chemical Industries, Ltd. | Rare earth phosphor |
| JP2003113375A (ja) * | 2001-06-22 | 2003-04-18 | Koninkl Philips Electronics Nv | 青色蛍光体を備える放電が誘電的に阻害されたガス放電ランプ |
| US10207957B2 (en) * | 2013-10-08 | 2019-02-19 | Hitachi Metals, Ltd. | Ceramic scintillator and its production method, and scintillator array and radiation detector |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPH078983B2 (ja) | 1995-02-01 |
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