JPS62251633A - 光フアイバ測定装置 - Google Patents
光フアイバ測定装置Info
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- JPS62251633A JPS62251633A JP61095726A JP9572686A JPS62251633A JP S62251633 A JPS62251633 A JP S62251633A JP 61095726 A JP61095726 A JP 61095726A JP 9572686 A JP9572686 A JP 9572686A JP S62251633 A JPS62251633 A JP S62251633A
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- JP
- Japan
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- optical fiber
- modulator
- light
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- 238000005259 measurement Methods 0.000 claims abstract description 6
- 239000000835 fiber Substances 0.000 claims 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 abstract description 12
- 238000003780 insertion Methods 0.000 abstract description 4
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 239000003795 chemical substances by application Substances 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
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- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3109—Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
-
- G—PHYSICS
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- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/30—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
- G01M11/31—Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
- G01M11/3181—Reflectometers dealing with polarisation
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
- G01N21/3151—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths using two sources of radiation of different wavelengths
-
- G—PHYSICS
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- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N21/00—Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
- G01N21/17—Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
- G01N21/25—Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
- G01N21/31—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
- G01N21/314—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
- G01N2021/3181—Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths using LEDs
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
(m1発明の技術分野
この発明は、複数の光源を使用する光ファイバ測定vt
f!に関するものである。
f!に関するものである。
(b)従来技術と問題点
光ファイバ側定S装置では、光源のレーザダイオードか
らの出射光と、その光源に対する光ファイバからの後方
散乱光などによる戻り光の入出力を一つの光コネクタで
処理しなければならないので、各種の光切換器や光分岐
器が必要になる。
らの出射光と、その光源に対する光ファイバからの後方
散乱光などによる戻り光の入出力を一つの光コネクタで
処理しなければならないので、各種の光切換器や光分岐
器が必要になる。
光切換器としては、偏波特性の少ないことや、切換えた
信号間のアイソレーションが大きいことなどの理由から
音響光学機器(以下、A10変調器という。)が広く使
用されている。
信号間のアイソレーションが大きいことなどの理由から
音響光学機器(以下、A10変調器という。)が広く使
用されている。
現在、光ファイバの特性測定には、光源とじて1.3μ
m帯と1.55μ−帯の二つの波長を使用しているが、
測定用として、この2彼長の光源と光切換器ユニットを
それぞれ用意しなければならない。
m帯と1.55μ−帯の二つの波長を使用しているが、
測定用として、この2彼長の光源と光切換器ユニットを
それぞれ用意しなければならない。
また、光ファイバの特性測定には、測定器類の持ち運び
を繰り返すことが多いので、特に機器の小型化、軽量化
が要望されている。
を繰り返すことが多いので、特に機器の小型化、軽量化
が要望されている。
これらのユニツトが一つの機墓内に収容され、パネル面
からのスイッチ操作により、2彼長の切換えができるよ
うになっていれば、測定を効率的に処理することができ
る。
からのスイッチ操作により、2彼長の切換えができるよ
うになっていれば、測定を効率的に処理することができ
る。
(C)発明の目的
この発明は、切換スイッチを切換えることにより、波長
の異なる光源を共用することができ、また、挿入tfi
失が小さい偏光ビームスプリッタを採用するとともに、
光源の波長に対応した駆動源を切換えてA10変調器を
も動することにより、高速で信頼性の高い光ファイバ測
定装置の提供を目的とする。
の異なる光源を共用することができ、また、挿入tfi
失が小さい偏光ビームスプリッタを採用するとともに、
光源の波長に対応した駆動源を切換えてA10変調器を
も動することにより、高速で信頼性の高い光ファイバ測
定装置の提供を目的とする。
(d1発明の実施例
この発明による実施例の構成図を第1図に示す。
第1図の1aとlbは切換スイッチ、2 aと2bは電
源、3aは監、3μ−6警のレーザダイオード、3bは
1.55μ■帯のレーザダイオード、4aと4bは集光
レンズ、5は偏光ビームスブリlり、6はA10変調器
、7aと7bは駆動源、8は集光レンズ、9は光コネク
タ、10は光ファイバ、11は光検出器である。
源、3aは監、3μ−6警のレーザダイオード、3bは
1.55μ■帯のレーザダイオード、4aと4bは集光
レンズ、5は偏光ビームスブリlり、6はA10変調器
、7aと7bは駆動源、8は集光レンズ、9は光コネク
タ、10は光ファイバ、11は光検出器である。
第1図では、レーザダイオード3aの出力光を集光レン
ズ4aで平行ビームにし、光軸と直交する而」〕を回転
させてS偏光波にする。
ズ4aで平行ビームにし、光軸と直交する而」〕を回転
させてS偏光波にする。
同じように、レーザダイオード3bの出力光を集光レン
ズ4bで平行ビームにし、光軸と直交する面上を回転さ
せてP偏光波にする。
ズ4bで平行ビームにし、光軸と直交する面上を回転さ
せてP偏光波にする。
S偏光波とP偏光波を偏光ビームスプリッタ5に入射し
、A10変調器8を通した後、集光し/ズ8で集光して
光コネクタ9から光ファイバlOに測定光を供給する。
、A10変調器8を通した後、集光し/ズ8で集光して
光コネクタ9から光ファイバlOに測定光を供給する。
駆動源7aと駆動117bはA10変調器6を駆動する
信号発生器であり、駆動源7aの出力周波数による波長
1.3μlの1次回折光角度と、駆動源7bの出力周波
数による波長1,55μ諺の1次回折光角度が一致する
ように、出力14波数を選定する。
信号発生器であり、駆動源7aの出力周波数による波長
1.3μlの1次回折光角度と、駆動源7bの出力周波
数による波長1,55μ諺の1次回折光角度が一致する
ように、出力14波数を選定する。
なお、1次回折光角度θは次式で表される。
θ=λf/2nv・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・(1)ここに、λ:入射光
の波長、r:駆動信号周波数、n : A10変調器6
の素子の屈折率、v:A10変調器6の素子内部の音速
である。
・・・・・・・・・・・・・(1)ここに、λ:入射光
の波長、r:駆動信号周波数、n : A10変調器6
の素子の屈折率、v:A10変調器6の素子内部の音速
である。
切換スイッチ1aはレーザダイオード3a用の電源2a
とレーザダイオード3b用の電源2bを切換えるように
なっており、切換スイッチ1bは切換スイッチ1aと連
動して駆動源7aと駆動源7bを切換える。
とレーザダイオード3b用の電源2bを切換えるように
なっており、切換スイッチ1bは切換スイッチ1aと連
動して駆動源7aと駆動源7bを切換える。
したがって、切換スイッチ1aがレーザダイす一ド3a
の電源2aをオンにしているときは、切換スイッチ・1
bは駆動源7aの出力周波数を選択してA10変調器6
に供給しており、切換スイッチ1dがレーザダイオード
3bの電a@2bをオンにしているときは、切換スイッ
チtbは駆動源7bの出力眠り波数を選択してA10f
、1!器6に供給している。
の電源2aをオンにしているときは、切換スイッチ・1
bは駆動源7aの出力周波数を選択してA10変調器6
に供給しており、切換スイッチ1dがレーザダイオード
3bの電a@2bをオンにしているときは、切換スイッ
チtbは駆動源7bの出力眠り波数を選択してA10f
、1!器6に供給している。
光ファイバ10から後方散乱光などが戻ってくると、こ
の戻り光はA10変調器6で回折され、光検出′a11
で検出される。これにより、光ファイバ10の特性を測
定することができる。
の戻り光はA10変調器6で回折され、光検出′a11
で検出される。これにより、光ファイバ10の特性を測
定することができる。
(f)発明の効果
この発明によれば、波長の異なるレーザダイオードの出
力を偏光ビームスプリッタとA10変調器を介して光フ
ァイバに供給しており、レーザダイオードの出力光とA
10変調器の駆動周波数を連動して切換えているので、
挿入損失が少なく、かつ小型、I!mの測定装置を提供
することができる。
力を偏光ビームスプリッタとA10変調器を介して光フ
ァイバに供給しており、レーザダイオードの出力光とA
10変調器の駆動周波数を連動して切換えているので、
挿入損失が少なく、かつ小型、I!mの測定装置を提供
することができる。
また、切換スイッチの切換えは電気的に処理するので、
高速で信頼性の高い測定装置を提供することができる。
高速で信頼性の高い測定装置を提供することができる。
第1図はこの発明による実施例の構成図。
1a*1b・・・・・・切換スイッチ、2a・2b・・
・・・・電源、3a・3b・・・・・・レーザダイオー
ド、4a・4b・・・・・・集光レンズ、5・・・・・
・偏光ビームスプリッタ、6・・・・・・A10変調器
、7a*7b・・・・・・駆動源、8・・・・・・集光
レンズ、9・・・・・・光コネクタ、10・・・・・・
光ファイバ、11・・・・・・光検出器。 代理人 弁理上 小 俣 欽 用 筆 1 図 駆動源 駆動源
・・・・電源、3a・3b・・・・・・レーザダイオー
ド、4a・4b・・・・・・集光レンズ、5・・・・・
・偏光ビームスプリッタ、6・・・・・・A10変調器
、7a*7b・・・・・・駆動源、8・・・・・・集光
レンズ、9・・・・・・光コネクタ、10・・・・・・
光ファイバ、11・・・・・・光検出器。 代理人 弁理上 小 俣 欽 用 筆 1 図 駆動源 駆動源
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 1 レーザダイオード(3a)の出力光と、レーザダイ
オード(3a)と波長の異なるレーザダイオード(3b
)の出力光を偏光ビームスプリッタ(5)に入射し、 偏光ビームスプリッタ(5)を通った出力光をA/O変
調器(6)を介して光ファイバ(10)に供給するよう
にし、 レーザダイオード(3a)の電源(2a)のオンオフと
、レーザダイオード(3b)の電源(2b)のオンオフ
を切換スイッチ(1a)で切換え、 駆動源(7a)の出力と駆動源(7b)の出力を切換ス
イッチ(1b)で選択して、A/O変調器(6)に供給
し、 電源(2a)がオンのときは駆動源(7a)の出力を選
択し、電源(2b)がオンのときは駆動源(7b)の出
力を選択するように切換器(1a)と切換器(1b)と
を連動させ、 レーザダイオード(3a)とレーザダイオード(3b)
の波長に対応してA/O変調器(6)の1次回折光角度
が等しくなるように駆動源(7a)の出力周波数と駆動
源(7b)の出力周波数を設定することを特徴とする光
ファイバ測定装置。
Priority Applications (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61095726A JPS62251633A (ja) | 1986-04-24 | 1986-04-24 | 光フアイバ測定装置 |
US07/042,408 US4737027A (en) | 1986-04-24 | 1987-04-24 | Optical fiber measuring apparatus |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61095726A JPS62251633A (ja) | 1986-04-24 | 1986-04-24 | 光フアイバ測定装置 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62251633A true JPS62251633A (ja) | 1987-11-02 |
JPH0262173B2 JPH0262173B2 (ja) | 1990-12-25 |
Family
ID=14145477
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61095726A Granted JPS62251633A (ja) | 1986-04-24 | 1986-04-24 | 光フアイバ測定装置 |
Country Status (2)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4737027A (ja) |
JP (1) | JPS62251633A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106153297A (zh) * | 2016-08-24 | 2016-11-23 | 杭州全盛机电科技有限公司 | 光纤滑环旋转插损值在线检测系统及其检测方法 |
Families Citing this family (13)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
FR2646711A1 (fr) * | 1989-05-02 | 1990-11-09 | Labo Electronique Physique | Dispositif capteur de pression a fibre optique |
US5196867A (en) * | 1991-04-08 | 1993-03-23 | Eastman Kodak Company | Extension of dynamic range for continuous tone laser printers |
US5715224A (en) * | 1991-07-05 | 1998-02-03 | Sony Corporation | Recording medium with synthesis method default value and reproducing device |
US5137351A (en) * | 1991-07-24 | 1992-08-11 | So Vincent C Y | Optical time domain reflectometer for selective testing of optical fibers with different core diameters |
US5305078A (en) * | 1992-01-21 | 1994-04-19 | Exfo Electro-Optical Engineering Inc. | Measurement of attenuation of optical fibers using transmitted wavelength and power information |
US5641954A (en) * | 1993-09-09 | 1997-06-24 | The United States Of American As Represented By The Secretary Of The Air Force | Programmable delay line using laser diode taps |
US5534994A (en) * | 1994-06-29 | 1996-07-09 | Corning Incorporated | Optical waveguide spectral attenuation using an OTDR |
US5589933A (en) * | 1994-10-24 | 1996-12-31 | Photon Kinetics, Inc. | Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator |
DE19649594A1 (de) | 1996-11-29 | 1998-06-04 | Deutsche Telekom Ag | Optisches Impulsreflektometer |
DE202004021208U1 (de) | 2003-10-15 | 2007-04-12 | Exfo Electro Optical Eng Inc | Vorrichtung zum Testen optischer Netzwerke |
WO2006096668A2 (en) * | 2005-03-07 | 2006-09-14 | Nettest North America, Inc. | Passive optical network loss test apparatus and method of use thereof |
US9831948B2 (en) | 2015-09-22 | 2017-11-28 | Exfo Inc. | Optical power measurement in a passive optical network |
US10270554B2 (en) | 2015-09-22 | 2019-04-23 | Exfo Inc. | Optical power measurement in a passive optical network |
Family Cites Families (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPS58106526A (ja) * | 1981-12-19 | 1983-06-24 | Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> | 光分岐回路 |
-
1986
- 1986-04-24 JP JP61095726A patent/JPS62251633A/ja active Granted
-
1987
- 1987-04-24 US US07/042,408 patent/US4737027A/en not_active Expired - Lifetime
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106153297A (zh) * | 2016-08-24 | 2016-11-23 | 杭州全盛机电科技有限公司 | 光纤滑环旋转插损值在线检测系统及其检测方法 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
US4737027A (en) | 1988-04-12 |
JPH0262173B2 (ja) | 1990-12-25 |
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