JPS62251633A - 光フアイバ測定装置 - Google Patents

光フアイバ測定装置

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JPS62251633A
JPS62251633A JP61095726A JP9572686A JPS62251633A JP S62251633 A JPS62251633 A JP S62251633A JP 61095726 A JP61095726 A JP 61095726A JP 9572686 A JP9572686 A JP 9572686A JP S62251633 A JPS62251633 A JP S62251633A
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JP
Japan
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optical fiber
modulator
light
drive source
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JP61095726A
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Minoru Maeda
稔 前田
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Ando Electric Co Ltd
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Ando Electric Co Ltd
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    • G01M11/30Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides
    • G01M11/31Testing of optical devices, constituted by fibre optics or optical waveguides with a light emitter and a light receiver being disposed at the same side of a fibre or waveguide end-face, e.g. reflectometers
    • G01M11/3109Reflectometers detecting the back-scattered light in the time-domain, e.g. OTDR
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    • G01N21/17Systems in which incident light is modified in accordance with the properties of the material investigated
    • G01N21/25Colour; Spectral properties, i.e. comparison of effect of material on the light at two or more different wavelengths or wavelength bands
    • G01N21/31Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry
    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
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    • G01N21/314Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths
    • G01N2021/3181Investigating relative effect of material at wavelengths characteristic of specific elements or molecules, e.g. atomic absorption spectrometry with comparison of measurements at specific and non-specific wavelengths using LEDs

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 (m1発明の技術分野 この発明は、複数の光源を使用する光ファイバ測定vt
f!に関するものである。
(b)従来技術と問題点 光ファイバ側定S装置では、光源のレーザダイオードか
らの出射光と、その光源に対する光ファイバからの後方
散乱光などによる戻り光の入出力を一つの光コネクタで
処理しなければならないので、各種の光切換器や光分岐
器が必要になる。
光切換器としては、偏波特性の少ないことや、切換えた
信号間のアイソレーションが大きいことなどの理由から
音響光学機器(以下、A10変調器という。)が広く使
用されている。
現在、光ファイバの特性測定には、光源とじて1.3μ
m帯と1.55μ−帯の二つの波長を使用しているが、
測定用として、この2彼長の光源と光切換器ユニットを
それぞれ用意しなければならない。
また、光ファイバの特性測定には、測定器類の持ち運び
を繰り返すことが多いので、特に機器の小型化、軽量化
が要望されている。
これらのユニツトが一つの機墓内に収容され、パネル面
からのスイッチ操作により、2彼長の切換えができるよ
うになっていれば、測定を効率的に処理することができ
る。
(C)発明の目的 この発明は、切換スイッチを切換えることにより、波長
の異なる光源を共用することができ、また、挿入tfi
失が小さい偏光ビームスプリッタを採用するとともに、
光源の波長に対応した駆動源を切換えてA10変調器を
も動することにより、高速で信頼性の高い光ファイバ測
定装置の提供を目的とする。
(d1発明の実施例 この発明による実施例の構成図を第1図に示す。
第1図の1aとlbは切換スイッチ、2 aと2bは電
源、3aは監、3μ−6警のレーザダイオード、3bは
1.55μ■帯のレーザダイオード、4aと4bは集光
レンズ、5は偏光ビームスブリlり、6はA10変調器
、7aと7bは駆動源、8は集光レンズ、9は光コネク
タ、10は光ファイバ、11は光検出器である。
第1図では、レーザダイオード3aの出力光を集光レン
ズ4aで平行ビームにし、光軸と直交する而」〕を回転
させてS偏光波にする。
同じように、レーザダイオード3bの出力光を集光レン
ズ4bで平行ビームにし、光軸と直交する面上を回転さ
せてP偏光波にする。
S偏光波とP偏光波を偏光ビームスプリッタ5に入射し
、A10変調器8を通した後、集光し/ズ8で集光して
光コネクタ9から光ファイバlOに測定光を供給する。
駆動源7aと駆動117bはA10変調器6を駆動する
信号発生器であり、駆動源7aの出力周波数による波長
1.3μlの1次回折光角度と、駆動源7bの出力周波
数による波長1,55μ諺の1次回折光角度が一致する
ように、出力14波数を選定する。
なお、1次回折光角度θは次式で表される。
θ=λf/2nv・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・・・・・・・・(1)ここに、λ:入射光
の波長、r:駆動信号周波数、n : A10変調器6
の素子の屈折率、v:A10変調器6の素子内部の音速
である。
切換スイッチ1aはレーザダイオード3a用の電源2a
とレーザダイオード3b用の電源2bを切換えるように
なっており、切換スイッチ1bは切換スイッチ1aと連
動して駆動源7aと駆動源7bを切換える。
したがって、切換スイッチ1aがレーザダイす一ド3a
の電源2aをオンにしているときは、切換スイッチ・1
bは駆動源7aの出力周波数を選択してA10変調器6
に供給しており、切換スイッチ1dがレーザダイオード
3bの電a@2bをオンにしているときは、切換スイッ
チtbは駆動源7bの出力眠り波数を選択してA10f
、1!器6に供給している。
光ファイバ10から後方散乱光などが戻ってくると、こ
の戻り光はA10変調器6で回折され、光検出′a11
で検出される。これにより、光ファイバ10の特性を測
定することができる。
(f)発明の効果 この発明によれば、波長の異なるレーザダイオードの出
力を偏光ビームスプリッタとA10変調器を介して光フ
ァイバに供給しており、レーザダイオードの出力光とA
10変調器の駆動周波数を連動して切換えているので、
挿入損失が少なく、かつ小型、I!mの測定装置を提供
することができる。
また、切換スイッチの切換えは電気的に処理するので、
高速で信頼性の高い測定装置を提供することができる。
【図面の簡単な説明】
第1図はこの発明による実施例の構成図。 1a*1b・・・・・・切換スイッチ、2a・2b・・
・・・・電源、3a・3b・・・・・・レーザダイオー
ド、4a・4b・・・・・・集光レンズ、5・・・・・
・偏光ビームスプリッタ、6・・・・・・A10変調器
、7a*7b・・・・・・駆動源、8・・・・・・集光
レンズ、9・・・・・・光コネクタ、10・・・・・・
光ファイバ、11・・・・・・光検出器。 代理人  弁理上  小 俣 欽 用 筆   1   図 駆動源      駆動源

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 1 レーザダイオード(3a)の出力光と、レーザダイ
    オード(3a)と波長の異なるレーザダイオード(3b
    )の出力光を偏光ビームスプリッタ(5)に入射し、 偏光ビームスプリッタ(5)を通った出力光をA/O変
    調器(6)を介して光ファイバ(10)に供給するよう
    にし、 レーザダイオード(3a)の電源(2a)のオンオフと
    、レーザダイオード(3b)の電源(2b)のオンオフ
    を切換スイッチ(1a)で切換え、 駆動源(7a)の出力と駆動源(7b)の出力を切換ス
    イッチ(1b)で選択して、A/O変調器(6)に供給
    し、 電源(2a)がオンのときは駆動源(7a)の出力を選
    択し、電源(2b)がオンのときは駆動源(7b)の出
    力を選択するように切換器(1a)と切換器(1b)と
    を連動させ、 レーザダイオード(3a)とレーザダイオード(3b)
    の波長に対応してA/O変調器(6)の1次回折光角度
    が等しくなるように駆動源(7a)の出力周波数と駆動
    源(7b)の出力周波数を設定することを特徴とする光
    ファイバ測定装置。
JP61095726A 1986-04-24 1986-04-24 光フアイバ測定装置 Granted JPS62251633A (ja)

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JP61095726A JPS62251633A (ja) 1986-04-24 1986-04-24 光フアイバ測定装置
US07/042,408 US4737027A (en) 1986-04-24 1987-04-24 Optical fiber measuring apparatus

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JP61095726A JPS62251633A (ja) 1986-04-24 1986-04-24 光フアイバ測定装置

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JPS62251633A true JPS62251633A (ja) 1987-11-02
JPH0262173B2 JPH0262173B2 (ja) 1990-12-25

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Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106153297A (zh) * 2016-08-24 2016-11-23 杭州全盛机电科技有限公司 光纤滑环旋转插损值在线检测系统及其检测方法

Families Citing this family (13)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
FR2646711A1 (fr) * 1989-05-02 1990-11-09 Labo Electronique Physique Dispositif capteur de pression a fibre optique
US5196867A (en) * 1991-04-08 1993-03-23 Eastman Kodak Company Extension of dynamic range for continuous tone laser printers
US5715224A (en) * 1991-07-05 1998-02-03 Sony Corporation Recording medium with synthesis method default value and reproducing device
US5137351A (en) * 1991-07-24 1992-08-11 So Vincent C Y Optical time domain reflectometer for selective testing of optical fibers with different core diameters
US5305078A (en) * 1992-01-21 1994-04-19 Exfo Electro-Optical Engineering Inc. Measurement of attenuation of optical fibers using transmitted wavelength and power information
US5641954A (en) * 1993-09-09 1997-06-24 The United States Of American As Represented By The Secretary Of The Air Force Programmable delay line using laser diode taps
US5534994A (en) * 1994-06-29 1996-07-09 Corning Incorporated Optical waveguide spectral attenuation using an OTDR
US5589933A (en) * 1994-10-24 1996-12-31 Photon Kinetics, Inc. Optical fiber test instrument with mechanically positioned attenuator
DE19649594A1 (de) 1996-11-29 1998-06-04 Deutsche Telekom Ag Optisches Impulsreflektometer
DE202004021208U1 (de) 2003-10-15 2007-04-12 Exfo Electro Optical Eng Inc Vorrichtung zum Testen optischer Netzwerke
WO2006096668A2 (en) * 2005-03-07 2006-09-14 Nettest North America, Inc. Passive optical network loss test apparatus and method of use thereof
US9831948B2 (en) 2015-09-22 2017-11-28 Exfo Inc. Optical power measurement in a passive optical network
US10270554B2 (en) 2015-09-22 2019-04-23 Exfo Inc. Optical power measurement in a passive optical network

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS58106526A (ja) * 1981-12-19 1983-06-24 Nippon Telegr & Teleph Corp <Ntt> 光分岐回路

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN106153297A (zh) * 2016-08-24 2016-11-23 杭州全盛机电科技有限公司 光纤滑环旋转插损值在线检测系统及其检测方法

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US4737027A (en) 1988-04-12
JPH0262173B2 (ja) 1990-12-25

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