JPS62248288A - 位置合わせ装置 - Google Patents

位置合わせ装置

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JPS62248288A
JPS62248288A JP61090062A JP9006286A JPS62248288A JP S62248288 A JPS62248288 A JP S62248288A JP 61090062 A JP61090062 A JP 61090062A JP 9006286 A JP9006286 A JP 9006286A JP S62248288 A JPS62248288 A JP S62248288A
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circuit
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    • G01S17/00Systems using the reflection or reradiation of electromagnetic waves other than radio waves, e.g. lidar systems
    • G01S17/02Systems using the reflection of electromagnetic waves other than radio waves
    • G01S17/06Systems determining position data of a target

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  • Length Measuring Devices By Optical Means (AREA)
  • Manufacturing Of Printed Circuit Boards (AREA)
  • Drying Of Semiconductors (AREA)
  • Laser Beam Processing (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Mounting And Adjusting Of Optical Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔産業上の利用分野〕 本発明はレーデトリマのトリミング基板等の回ぶ)装置
に関する。
〔従来の技術〕
従来レーデトリマ等のトリミング基板のアライメント方
式には、アライメント用レーザ光を基板に集光しアライ
メントマークを横切るようにレーデ集光スポットを一次
元走査し、アライメントマークからの反射光または回折
光を走査位置に対応させて記録し9強度変化等を調べて
マーク位置を検出するエツジセンス方式と、ノ4ターン
認識によシ位置誤差を検出するツクターンマツチング方
式があった・ 〔発明が解決しようとする問題点〕 前記両方式ともスクライブライン、回路ツクターンの一
部等を用いずに専用のアライメントマークを用いる方が
一般的にアライメント精度は向上する。前記エツジセン
ス方式では精度を上げるためにはアライメント用レーデ
スポットを小さくする必要があり、またアライメント時
間を短縮するためには比較的に広い範囲を高速で走査し
、検出器山+也土+A’r IJL I/F−鵠庁誹+
−−m1反1 −A1 抛をもとに演算処理を行なって
位置誤差を求める方法がトラれハードウェアおよびソフ
トウェアともコストのかかるものとなる。
一方eieターンマツチング方式ではアライメント精度
を上げようとすれば1画素サイズを小さくする必要があ
るが、同時にマツチング範囲も狭くなる。
本発明の目的は、比較的簡単な構成でアライメント精度
も高く、アライメント時間も短縮可能な自動位置合わせ
装置を提供することにある。
〔問題点を解決するための手段〕
本発明によれば、レーザビームをアライメントマークを
設けた回路基板上に集光する手段と、この集光ビームを
2次元的に走査する手段と、前記アライメントマークか
らの反射光または回折光を検出する手段と、この検出出
力信号を用いて自動位置合わせを行なう手段を有し、前
記アライメントマークはアライメント軸方向に対してほ
ぼ直交方向に延び、前記2次元走査手段は円周走査手段
を含むことを特徴とする回路基板の自動位置合わせ装置
が得られる。
〔実施例〕 次に本発明の実施例を図面に従って説明する。
この実施例の自動位置合わせ装置はアライメント用レー
ザビームを回路基板上に集光するレンズ系と、集光ビー
ムを円周走査する走査系と2回路基板上アライメントマ
ークからの反射光または回折光を検出する検出系から構
成される。
またアライメントマークはアライメント軸方向に直交す
る方向に長く配列され、全体の長さは集光ビームの走査
円直径よシも長いものとする。本装置がアライメント開
始するためには前記アライメントマークが走査円と交点
を持つようにダリアライメントしておく必要がある。ま
た本装置にょシ2次元アライメントを一度に行なう場合
には。
アライメントマークとして直交十字線状に配置されたア
ライメントマークが必要となシ、アライメント中心はマ
ークの交点となる。
第1図は本発明の一実施例の構成図で、レーザ光源lO
からのレーデ光はミラー11で直角方向に曲げられ、ハ
ーフミラ−12を通シ、テーパ付ガラス板13を通る時
に光軸に対し一定角度曲げられ、対物レンズ16によシ
基板19面上に集光される。集光されたビームが基板1
9上のアライメントマーク18に照射された時、検出光
(反射光又は回折光)が発生する。この検出光は対物レ
ンズ16.ガラス板13を通シ、ノ・−フミラー12に
より反射され検出器17に入射する。
この構成例においてテーパ付ガラス板13が光軸を中心
として回転すると、第2図に示すようにレーザビーム2
1は光軸22を中心に円周状に走査される。なお、第1
図において、14はモータ。
15はギヤーまたはプーリであり、テーノ’?付ガラス
板13を回転するために用いられる。また第2図におい
て、20はアライメントマークであシ。
検出光は23および24の位置で最大強度となる。
第2図の円周走査が行なわれた場合、検出器17の出力
は第3図に示すようになる。
第2図において円周走査が等速でアシ、光軸(回転中心
)22がアライメントマーク20上にあれば、第3図に
おいて検出信号間隔は同じになる。しかし、第2図に示
すように光軸22がアライメントマーク20上に無い場
合、任意の検出信号と直前および直後の検出信号間の時
間間隔(TlおよびTz )は異なる。従ってTlとT
zの時間差によシ光軸22とアライメントマーク20間
の距離を求めることができる。
第2図において円周走査半径をγ1回転角速度をαとす
ると、光軸22とアライメントマーク20間の距離(位
置誤差)ΔDは次式で求められる。
なお、第1図において、チーiJ?付ガラス板13に回
転角検出用のエンコーダまたはタイミング信号発生用、
のセンサを取付けておけば、光軸22に対してどちら側
にアライメントマーク20が位置するかどうかを判断で
きる。
また9本実施例では等速円周走査として検出出力間の時
間差を用いて位置誤差を検出したが、チー・り付ガラス
板13に回転角検出用のエンコーダが付いていれば、角
度誤差から位置誤差を求めることができる。
次に第4図は、アライメントが完了したかどうかの判定
回路の構成図を示す。検出器17から出力される検出パ
ルス列の時間間隔TIおよびT2を位相検知器41によ
り電圧出力に変換し、コンijレータ43によ1)TI
 ==T、の一致点を調べる。
一致したならば、コン・ぐレータ43の出力および・ぐ
ルス回路44によシアライメント完了ノeルスが発生す
る。
以上本発明の一実施例のアライメント装置について述べ
たが、アライメントマークを十字線状に構成すれば2次
元のアライメントも可能である。
この場合の例を第5図に示す。第5図において32が光
軸(回転中心)であシ、十字線状のアライメントマーク
30の中心37との位置誤差を求めることができる。第
6図が第5図に示すものの検出器出力であるが、T13
とT31の差から誤差ΔXが、T24とT42との差か
ら誤差ΔYが求められる。この場合2次元の位置誤差が
1回の走査で求められ、精度を上げるだめには高速で多
数回走査し、積分効果を得ることもできる。
〔発明の効果〕
以上説明したように1本発明は簡単な構成で。
比較的広範囲にわたシ短時間に位置誤差を求めることが
でき、また走査を連続的に行なうことによシ高精度のア
ライメントが可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す構成例、第2図は第1
図に示すものの円周走査時のアライメントレーザビーム
とアライメントマークの関係図。 第3図は第2図の走査によって得られる検出信号−例を
示す図、第4図は検出回路−例の構成図、第5図は2次
元アライメントマークとレーザビームとの関係を示す図
、第6図は第5図に示すものの走査で得られる検出信号
の一例を示す図である。 10:アライメントレーザ、13:テーパ付ガラス板1
14,15:テーパ付ガラス板の回転用モータ、16:
集光レンズ、17:検知器。 第1図 第2図 第3図 第4図 第5図 第6図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、レーザビームをアライメントマークを設けた回路基
    板上に集光する手段と、この集光ビームを2次元的に走
    査する手段と、前記アライメントマークからの反射光ま
    たは回折光を検出する手段と、この検出出力信号を用い
    て自動位置合わせを行なう手段を有し、前記アライメン
    トマークはアライメント軸方向に対しほぼ直交方向に延
    び、前記2次元走査手段は円周走査手段を含むことを特
    徴とする回路基板の自動位置合わせ装置。
JP61090062A 1986-04-21 1986-04-21 位置合わせ装置 Expired - Lifetime JP2526546B2 (ja)

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