JPS6223979A - マグネトロンスパツタリング用タ−ゲツト - Google Patents

マグネトロンスパツタリング用タ−ゲツト

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JPS6223979A
JPS6223979A JP16316085A JP16316085A JPS6223979A JP S6223979 A JPS6223979 A JP S6223979A JP 16316085 A JP16316085 A JP 16316085A JP 16316085 A JP16316085 A JP 16316085A JP S6223979 A JPS6223979 A JP S6223979A
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Katsuya Okumura
勝弥 奥村
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の技術分野〕 本発明は、マグネトロンスパッタリング用ターゲットに
関し、特に磁性材料からなるターゲット本体を有するマ
グネトロンスパッタリング用ターゲットの改良に係わる
〔発明の技術的背景とその問題点〕
従来のマグネトロンスパッタリング用ターゲットは第5
図に示す構造のものが知られている。即ち、図中の1は
円板状の強磁性材料からなるヨークである。このヨーク
1上面の中心には、円柱上の磁石2aが、同ヨーク1の
上面周縁には環状の磁石2bが夫々互いに極性が反対ど
なるように配置されている。前記各磁石2a12b上に
は、ターゲット本体3が配置されている。かかるターゲ
ットにおいては、ターゲット本体3表面に磁石2a、2
bによる漏れ磁力線4が形成され、アルゴン等のガスが
導入されるチャンバ内で前記ヨーク1と図示しない被処
理基板との間に電圧を印加してプラズマを発生させると
、前記漏れ磁力線4による磁界によってプラズマ密度を
増大させることができる。その結果、該高密度のプラズ
マにJ:リターゲット本体3のスパッタリング速度が増
大、し、ひいては被処理基板上の膜堆積速度を向上でき
る。こうした漏れ磁界を発生させるには、磁石2a、2
bとして概略200ガウスの強度が必要である。ターゲ
ット本体3の厚さが厚くなると、漏れ磁界が弱くなり、
プラズマ密度を充分に増大できなくなる。このため、通
常、ターゲット本体3の厚さとしては15〜20朧が限
界である。ターゲット本体3が磁性材料からなると、こ
の限界厚さは極度に薄くなり、1〜3mとなるため、タ
ーゲット本体の交換頻度が高くなって作業性の点で問題
を生じる。
このようなことから、最近、第6図に示すようにターゲ
ット本体を同芯円状に分割し、分割ターゲット本体38
〜3eを所定の隙間をあけて磁石2a12b上にバッキ
ングプレート5を介して配置することが行われている。
かかるターゲットによれば、磁石2a12bによる磁界
が分割ターゲット本体3a〜3eの隙間を通してそれら
の表面に出るため、ターゲット本体を厚くしても高密度
のプラズマを発生できる。しかしながら、ターゲット本
体を分割して一定の間隔でバッキングプレート上に配置
することは、高度な加工技術と繁雑な工程を必要とする
。また、分割ターゲット本体3a〜3eの隙間にプラズ
マが集中するため、異常放電を起こしたり、スプラッシ
ュの発生原因となり、堆積された膜質を悪化させるとい
う問題が生じる。更に、スパッタリングの進行に伴って
エロージョンの深さが深くなると、前記隙間を通してプ
ラズマがバッキングプレート5に到達し、該プレート5
からのスパッタリングにより堆積膜に混入するという汚
染を招く。その結果、ターゲット本体を厚(できるとい
う割りにはターゲット本体自体の寿命を向上できない。
〔発明の目的〕
本発明は、ターゲット本体が厚くかつ磁性材料から形成
されていても、該ターゲット本体表面に漏れ磁界を有効
に引出すことを可能とし、スパッタリング速度の増大及
びターゲット本体の厚膜化による寿命の向上を達成した
マグネトロンスパッタリング用ターゲットを提供しよう
とするものである。
〔発明の概要〕
本発明は、磁界によりプラズマ密度を増大させるマグネ
トロンスパッタリング用ターゲットにおいて、ターゲッ
ト本体と主磁石とを平面的に交互にかつ所定の隙間をあ
けて配置すると共に、該ターゲット本体を挟んで配置さ
れる2つの主磁石の極性を反対とし、かつ前記各主磁石
と隙間を介して隣接する前記ターゲット本体側の隙間入
口付近を除く部分にその対向する主磁石と極性が同一の
補助磁石を配置したことを特徴とするものである。
かかる本発明によれば、既述の如くターゲット本体が厚
くかつ磁性材料から形成されていても、該ターゲット本
体表面に漏れ磁界を有効に引出すことを可能とし、スパ
ッタリング速度の増大及びターゲット本体の厚膜化によ
る寿命の向上を達成できる。
上記ターゲット本体は、例えば鉄、ニッケル、−〇− コバルトもしくはこれら合金等の磁性材料により形成さ
れる。勿論、非磁性材料からターゲット本体を形成して
もよい。
〔発明の実施例〕
以下、本発明の実施例を第1図(A)、(B)及び第2
図を参照して説明する。
図中の71は強磁性材料からなる円板状のヨークである
。このヨーク11の上面中心には、円柱状主磁石12が
、同ヨーク11の上面周縁には環状主磁石13が夫々互
いに極性が反対となるように固定されている。例えば円
柱状主磁石12の上部側はS極、環状主磁石13の上部
側はNtf+となっている。また、前記ヨーク11上面
には第1の環状補助磁石141が前記円柱状主磁石12
の外周面に対して一定の隙間をあけて固定されている。
この第1の環状補助磁石141は該円柱状主磁石12よ
り薄く、かつ円柱状主磁石12と同極性となるように配
置されている。前記ヨーク11よ面の外周付近には、前
記第1の補助磁石141と同厚さの第2の環状補助磁石
142が前記環状主磁石13の内周面に対して一定の隙
間をあけて固定されている。この第2の環状補助磁石1
42は前記環状主磁石13と同極性となるように配置さ
れている。なお、第1の環状補助磁石141及び第2の
環状補助磁石142は前記円柱状主磁石12、環状主磁
石13より低い磁力のものが使用される。
例えば円柱状主磁石12及び環状主磁石13の磁力を1
000ガウスとした場合、前記第1の環状補助磁石14
+及び第2の環状補助磁石142の磁力を100ガウス
程度に設定する。そして、前記円柱状主磁石12と前記
環状主磁石13との間の前記ヨーク11上には、前記円
柱状主磁石12及び環状主磁石13と同厚ざで略環状の
磁性材料からなるターゲラ1一本体15が固定されてい
る。
このターゲット本体15は、外周側面の上部付近から下
面にかけて環状の切欠部16aが形成されていると共に
、内周側面の上部付近から下面にかけて環状の切欠部1
6bが形成されており、これら切欠部16a、16bが
前記第1、第2の環状補助磁石141.142に嵌合し
、その本体15の内周側面及び外周側面が前記円柱状主
磁石12、環状主磁石13に対して前記第1、第2の環
状補助磁石141.142と同様な隙間を形成している
このような構成によれば、今、ターゲラ1−を図示しな
い被処理基板と対向した状態でチ17ンバ内に配置し、
同チャンバ内にアルゴンガス等を導入し、前記被処理基
板とターゲットとの間に電圧を印加すると、これらター
ゲットと被処理基板の間にプラズマが発生する。この際
、ターゲットは互いに極性が反対の円柱状主磁石12及
び環状主磁石13の間に環状のターゲット本体15を配
置し、かつ前記円柱状主磁石12とターゲット本体15
の隙間のターゲット本体15側には、該円柱状主磁石1
2と同極性の第1の環状補助磁石141が配置され、環
状主磁石13とターゲット本体15の隙間のターゲット
本体15側に主磁石13と同極性の第2の環状補助磁石
142が配置されている。このため、各磁石12.13
.141.142の間には第2図に示す磁力線16が形
成され、磁性材料からなるターゲット本体15を用いて
も、該本体15表面に磁界を発生できる。しかも、円柱
状主磁石12及びこれと同極性の第1の環状補助磁石1
41の間、並びに主磁石13及びこれと同極性の第2の
環状補助磁石142の間は  −夫々互いに磁気的に反
発されるため、それら第1、第2の環状補助磁石14.
1.142に対応するターゲラ1〜本体15の円柱状主
磁石12、環状主磁石13の隙間入口付近において、前
記円柱状主磁石12及び環状主磁石13からの磁力線を
被処理基板方向に迂回させる。その結果、ターゲラ1一
本体15と円柱状主磁石12、環状主磁石13間の隙間
入口付近を除く磁界と電界が直交するターゲット本体1
5表面近傍で放電によるNWIIシた電子がマグネトロ
ン運動を起こして高密度のプラズマ17を発生できる。
従って、ターゲット本体15表面のスパッタリング効率
を向上でき、ターゲット本体15と対向して配置された
被処理基板上への磁性膜堆積速度を著しく向上でき、か
つターゲット本体15の厚さ自体を厚くすることが可能
となり、ターゲットの寿命を長くでき、更にターゲット
本体15と円柱状主磁石12、環状主磁石13との隙間
部分での異常放電やスプラッシュを防止して、被処理基
板上に均一かつ均質の磁性膜を堆積できる。
なお、本発明のターゲットは前述した第1図(A)、(
B)に示す構造に限定されない。例えば、第3に示すよ
うにターゲット本体15を環状板とし、これを第1の環
状補助磁石141及び第2の環状補助磁石142上に配
置した構造にしてもよい。
また、ターゲット本体が磁性材料から形成され、かつ大
口径とする場合には中央の円柱主磁石と外周の環状主磁
石の間の距離が大きくなって、ターゲット本体表面の略
全域に亙って磁力線を形成できず、有効な漏れ磁界を発
生できなくなる。このような場合には、ターゲットを第
4図に示す構造にす。即ち、ヨーク11上の中央に円柱
状主磁石12を配置し、この円柱状主磁石12に対して
周基円状に第1の環状ターゲット本体151、第1の環
状主磁石131、第2の環状ターゲット本体15、及び
第2の環状主磁石132を夫々配置する。そして、前記
円柱状主磁石12と第1の環状ターゲット本体151の
隙間のターゲット本体151側には、第1の環状補助磁
石141が、前記第1の環状主磁石13+ と第1の環
状ターゲット本体151の隙間の該ターゲット本体15
1側に第2の環状補助磁石142が、前記第1の環状主
磁石1と第2の環状ターゲット本体152の隙間の該タ
ーゲット本体152側には、第3の環状補助磁石143
が、前記第2の環状主磁石132と第2の環状ターゲッ
ト本体152の隙間の該ターゲット本体152側に第4
の環状補助磁石144が、夫々配置されたいる。なお、
前記円柱状主磁石12及び第1の環状主磁石131は互
いに同極性、第2の環状主磁石132は円柱状主磁石1
2に対して逆極性、となるように配置されている。また
、第1の環状補助磁石141は円柱状主磁石12と同極
、第2の環状補助磁石142及び第3の環状補助磁石1
43は第1の環状主磁石131と同極性、第4の環状補
助磁石144は第2の環状主磁石132と同極性、とな
るように夫々配置されている。このように中間の環状主
磁石を配置することによって、ターゲット本体の大口径
化が可能であり更に中間の環状主磁石の数を増やすこと
によりターゲット本体の一層の大口径化が可能となる。
上記実施例では、永久磁石を用いた例について説明した
が、NvA石を用いてもよいし、電磁石と永久磁石とを
組合わせて用いても何等差支えないし、電磁石で時間的
に磁界強度を変化させてエロージョン領域を変化させて
もよい。
上記実施例において、プラズマに曝される磁石面をター
ゲット本体と同材料のもので覆って成膜中の汚染を確実
に防止するようにしてもよい。
上記実施例では、環状のターゲット本体を使用したが、
長方形リングのターゲット本体を使用してもよい。
〔発明の効果〕
以上詳述した如く、本発明によればターゲット13一 本体表面のスパッタリング効率を向上でき、ターゲット
本体と対向して配置された被処理基板上への磁性膜堆積
速度を著しく向上でき、かつターゲット本体自体の厚さ
を厚くすることが可能となり、ターゲットの寿命を長く
でき、更にターゲット本体と磁石との隙間部分での異常
放電やスプラッシュを防止して、被処理基板上に均一か
つ均質の磁性膜を堆積できる等顕著な効果を有するマグ
ネトロンスパッタリング用ターゲットを提供できる。
【図面の簡単な説明】
第1図(A>は本発明の一実施例を示すターゲットの断
面図、同図(B)は同図(A)の平面図、第2図は本発
明のターゲットの作用を説明するための拡大断面図、第
3図及び第4図は夫々本発明の他の実施例を示す断面図
、第5図及び第6図は夫々従来のターゲットを示す断面
図である。 11・・・ヨーク、12・・・円柱状主磁石、13.1
31.132・・・環状主磁石、141〜144・・・
環状補助磁石、15.151.152・・・ターゲット
本体、16・・・磁力線、17・・・プラズマ。 第3図 第4図 第5図 第6図

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)、磁界によりプラズマ密度を増大させるマグネト
    ロンスパッタリング用ターゲットにおいて、ターゲット
    本体と主磁石とを平面的に交互にかつ所定の隙間をあけ
    て配置すると共に、該ターゲット本体を挟んで配置され
    る2つの主磁石の極性を反対とし、かつ前記各主磁石と
    隙間を介して隣接する前記ターゲット本体側の隙間入口
    付近を除く部分にその対向する主磁石と極性が同一の補
    助磁石を配置したことを特徴とするマグネトロンスパッ
    タリング用ターゲット。
  2. (2)、ターゲット本体が磁性材料からなることを特徴
    とする特許請求の範囲第1項記載のマグネトロンスパッ
    タリング用ターゲット。
  3. (3)、1つの主磁石が柱状をなし、この柱状主磁石の
    周囲に枠状ターゲット本体及び該主磁石と逆極性の枠状
    主磁石を所望の隙間をあけて放射状に配置し、かつ前記
    柱状主磁石に隣接する前記ターゲット本体側に該主磁石
    と同一極性で厚さの薄い第1の枠状補助磁石を配置する
    と共に、前記環状主磁石に隣接する前記ターゲット本体
    側に該主磁石と同一極性で厚さの薄い第2の枠状補助磁
    石を配置したことを特徴とする特許請求の範囲第1項記
    載のマグネトロンスパッタリング用ターゲット。
  4. (4)、柱状主磁石が円柱状をなし、かつ枠状のターゲ
    ット本体、主磁石、第1、第2の補助磁石が夫々環状を
    なすことを特徴とする特許請求の範囲第3項記載のマグ
    ネトロンスパッタリング用ターゲット。
  5. (5)、1つの主磁石が柱状をなし、この柱状主磁石の
    周囲に、第1の枠状ターゲット本体、前記主磁石と逆極
    性の第1の枠状主磁石、第2の枠状ターゲット本体及び
    前記柱状主磁石と同一極性の第2の枠状主磁石を夫々放
    射状に配置したことを特徴とする特許請求の範囲第1項
    記載のマグネトロンスパッタリング用ターゲット。
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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
EP2661514A4 (en) * 2011-01-06 2015-12-30 Sputtering Components Inc sputtering
USRE46599E1 (en) 2011-01-06 2017-11-07 Sputtering Components Inc. Sputtering apparatus
CN103046009A (zh) * 2011-10-13 2013-04-17 鸿富锦精密工业(深圳)有限公司 平面磁控溅射阴极
US9758862B2 (en) 2012-09-04 2017-09-12 Sputtering Components, Inc. Sputtering apparatus

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