JPS62231197A - X線分光結像用結晶素子 - Google Patents

X線分光結像用結晶素子

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JPS62231197A
JPS62231197A JP61074696A JP7469686A JPS62231197A JP S62231197 A JPS62231197 A JP S62231197A JP 61074696 A JP61074696 A JP 61074696A JP 7469686 A JP7469686 A JP 7469686A JP S62231197 A JPS62231197 A JP S62231197A
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JP
Japan
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ray
substrate
point
crystal
curved
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Pending
Application number
JP61074696A
Other languages
English (en)
Inventor
岩橋 賢治
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Shimadzu Corp
Original Assignee
Shimadzu Corp
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Filing date
Publication date
Application filed by Shimadzu Corp filed Critical Shimadzu Corp
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Publication of JPS62231197A publication Critical patent/JPS62231197A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Landscapes

  • Exposure Of Semiconductors, Excluding Electron Or Ion Beam Exposure (AREA)
  • Exposure And Positioning Against Photoresist Photosensitive Materials (AREA)
  • Diffracting Gratings Or Hologram Optical Elements (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 イ、産業上の利用分野 本発明は、X線集光素子の製ft方法に関する。
ロ、従来の技術 従来LSIの製造過程において、レジストパターンの形
成には一般に光転写方式が用いられてきた。しかし、光
転写方式では0.5μmが限界と言われており、又フレ
ネル回折のI/B’や焦点深度が小さい為に、1μm以
下の微細パターンを形成する為には、多層レジスト法や
CEL法等のプロセス技術を用いなくてはならない。そ
の為に工程が複雑になり歩留まりの低下の原因となり、
近い将来限界に達すると思われる。これに変わる手段と
して電子ビーム直接1ム1画やX線リソグラフィーが考
えられている。しかし、電子ビーム直接描画方式ではス
ループットやステージのつなぎ合わせ精度、更には高ア
スペクト比を達成するために、多層レジストを使わねば
ならないなどの難点がある。これに対して、X線リソグ
ラフィーは転写工程であるため大量生産に向いているこ
とがら特に有望視されており、波長放入〜数十大の光線
用いる為、実用上回折の影響は無視できる程度であり、
0.1μm程度までの解程度が期待できる。
X線リソグラフィーは大別して2つの方法が考えられる
。一つは現在用いられている方法でX線マスクとウェハ
ーの間隔を10μm前後に近接させてX線を照射し、ア
スクのパターンを転写する、いわゆるプロキシミティー
法であり、もう一つはX線結像素子を使ってマスクの投
影像を転写する投影露光法である。
本発明は主に投影露光法に使用されるX!!集光素子で
、X線分光用にも用い得るX線分光結晶素子に関するも
のであるが、従来においては、X線分光結晶素子をX線
集光素子として用いる場合は、均一照射の点で問題があ
り、またX線反射マスクの基板としての素子もなかった
し、そのような横、忠も存在しなかった。
ハ1発明が解決しようとする問題点 本発明は、X#jJ、投影露光或はX線分光等に用いら
れるためのX線集光機能を有するX線反射基板を提供す
ることを主目的としたもので、その為に必要な結晶素子
の提供することをを目的とする。
二1問題点解決のための手段 第1図Aに示すように基板に表面と結晶内のX線回折に
関与する格子面dとの傾きが、特定波長のX8Uのブラ
ッグ角θをなすように分光結晶から切り出した基板Kを
、第1図Bに示すように回折X線に対して集光作用を持
たせるように湾曲させた。
ホ、1?:用 本発明は湾曲結晶によるX線回折を利用するもので、第
1[21Aで基板面に2θの入射角で入射する特定波長
のX線は基板法線Nの方向にブラッグ反射するから、X
線源を点源とし、基板Kを第1図Bのように曲げること
により、基板面の各点入射したX線が全て基板面に垂直
に反射されて一点に集光することになる。
へ、実施例 第1(21に本発明の製作過程時のX線反射結晶素子I
ぐの格子面dを模式的に示したものである。第1図Aは
分光結晶の格子面dと素子に表面が特定波長のX線に対
するブラッグ角をなすように切り出した時の素子にの断
面図、第1121Bは同素子に表面が適当な曲率になる
ようにベンディング加工した時の素子に断面図、第11
12ICはベンディング加工した素子にの表面を平面加
工した時の素子Iくの断面図である。
本発明素子の集光原理を説明する為の前段附として、湾
曲結晶から斜めに平板状の基板を切り出  −した場合
のX線集光作用を第2図で説明する。第2図において、
Kは格子定数dの湾曲結晶から切り出した基板で、格子
面Cf!:Ro点を曲率中心として湾曲させた湾曲結晶
から斜めに切り出した平板であって、0は基板表面の中
心点、Cは湾曲結晶の格子面でRはその曲率半径、iは
X線の入射角で、SはX線光源、FはX線集光点である
。波長λのX線を考える。Q、Uは基板の端の−Lの点
でブラッグの条件を満足するXttが点0を通ってブラ
ッグの条件を満足する中心X線と交わる点、P、Tは基
板の曲端の+Lの点を通ってブラッグの条f士を満足す
るX線が点0を通ってブラッグの条f′iを満足する中
心X線(光軸A)と交わる点、Roは湾曲結晶の曲率中
心、J、Nは−Lの点から直線ORo、OUに下ろした
垂線の足とすると、±L点及び0点におけるX線入射角
1反射角は全て算しいから、点0.−L、U、RO、Q
は同一円周r上にあり、又点り、O,T、RO,Pも同
一円周r′上にある。
格子定数dの結晶格子面Cに、その法線OR。
に対して角iで入射した波長λのX線はブラッグの式 2dcos i=λ(回折次数は1)・・・・・・■を
満たす入射角と等しい角iの方向で強め合い、他方向で
は弱め合うので、反射角i方向のみに反射しているよう
な形となる。
今、13P面の曲率半径Rの湾曲結晶から第2図のよう
に基板表面が基板面の中心を通る格子面と1の角度をな
すように切り出した場合を考えると、L7J[17i’
)’面(基[表面)の中心における法線は格子面の法線
とiの角度をなすから、X縁線′JrASを格子面の法
線ORoに対して切断平面の中心における法線と対称な
線上に設けると、基板平面の中心における法線は上記の
ブラッグの条1′1・式■を満足する波長λのX線回折
方向即ち結像光学系の光軸Aと一致する。
紙面上の線束において、基板面の中心から距門工wJi
れたーLの点においてブラッグの条件を満足する回折X
線と光軸との角度をαとすると、αは−L点における格
子Cの法線と0点における格子Cの法線との角となるか
ら、 tan α=LJ/R(、J =w −cos  i / (R−w −sin  i
 )■OQ=w/  tanα =  (R−w −sin  i ) /cos  L
     ■0U=UN+N□ =ULcos  α+w−sin  2 1=QLco
s  :2i−cos  a+w−sin  2iとこ
ろがQL、=OQ/cos a 、’、0U=cos  2 i  (R−w−sin 
 i ) /cos  i+w−sin2i =  (2Rcos  1 +w−sin  1−R)
/cosi・・・・・・・・・・・・■同様にして OP= (R+w −sin i ) /cos i 
−−−−・−−−■0T=cos 2 i (R+w−
sin i ) /cos i )−w−sin2i = (2Rcos 1−w−5in 1−R)/cos
i・・・・・・・・・・・・・・■となり、基板面の中
心0から±Lの点においてブラッグの条件を満足するX
線が、0点においてブラッグの条f′t−を満足するX
線と交わる点の中間点を基鵡として収差を考えると、物
点、程点側とも同じ値で、 ±W・tan  i・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・■になる。故に、X線集光点を基板から R/cosi・・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・■の距離の光軸上に、X線源Sを光軸と基板の
中心0の格子面の法線に関して対称な線上において、基
板の中心点から (2Rcos 1−R) /cos i −−−−−−
−・■の距離に設置すれば良い。
しかし、実際にはこのような素子を製作するには、非常
に厚い結晶が必要になり、又そのような厚い結晶を格子
面が必要な曲率の曲面になるように曲げることは非常に
困難である。そこで本発明は、第1図にしめしたような
製(f=方法、即ち結晶格子面(」とブラッグ角θをな
す薄い平行平面の結晶板Kを切り出した後で、結晶板を
必要な曲率を有する素子となるようにベンディング加工
を行って上記の原理を満足する素子を[ヤ成するもので
ある。
そのように1ヤ成した素子の断面図を第3図に示す、第
3図に示す素子は、点線で示すような曲率中心Fにおい
て曲率半径Rで湾曲させた基板Kを、実線で示すように
表面を基板中心0に対する法線OFに垂直になるように
研麿した素子である。
平面に研磨するのは、素子を投影露光法のX線リソグラ
フィーにおけるマスク支持体として使用する場合、素子
を平板にすることにより、その表面にパターニングされ
たマスクパターンの縮小像を結像させることが可能にな
るためであり、素子を分光用素子として用いるときは表
面を湾曲させたままである方が無収差であって良いので
ある。この実施例の場合、素子の格子面は、湾曲する前
は表面と格子面の傾きがiに設定しであるから、素子を
第3図のように湾曲した場合は表面の法線が湾曲中心F
に向いているから、格子面は素子の全ての回折点におい
てFから回折点に引いた直線と90’+iの角度をなす
、従って、基板にの中心点0及び中心点0よりxMれた
A、B点において、OF、AF、BFからiの傾きで引
いた直線0Ro 、ARo 、BRoと格子面とは垂直
になる。
中心点0及びA点において、OF、AP、BFから21
の傾きで直線QC,AC,BDを引き、直線OCとAC
の交点をC1直線OCとBDの交点をり、AからOCに
下ろした垂線の足をHと置けば、同図における点A、O
,F、RO,Cと第2図におけるW、O,Q、Ro、U
は同じ条件となるから、0A=x、0F=R1/BFo
=αとおくと、 o c = CH+ II 0 =ACcos a (−OAs1n2i=AFcos2
i Xcos a +xsin2i= (OF/cos
 α)cos2iXcos a+ x 5in21 =Rcos2i +xsin2i −−−−@r同様に
して 0D=Rcos2i −xsin2i−−−・−−−@
となり、最大収差は、 2w=2xsin2i・・・・・・・・・・・・・・・
・@となり、第3図の場合は線源の位置のみに収差が発
生するから、基板面の中心0から±Wの点においてブラ
ッグの条件を満足するX線が、0点においてブラッグの
条件を満足するX線と交わる点の中間点を基準として収
差を考えると、物点の値は±w−sin2i・・・・・
・・・・・・・・・・・・・・・0になる。故に、X線
源Sを光軸と基板の中心0の格子面の法線に間して対称
な線上において、基板の中心点から、 Rcos2 i・・・・・・・・・・・・・・・・・・
・・・・・・[相]の距漏に設置すれば良く、X線の集
光点は基板中心の垂線上基板からRの距離の位置になる
一実施例として、X線波長λ=5.406A、湾曲結晶
として、格子定数d−3,25A、1=33.7°のG
eの(111)面を用い、結晶基板は大きさ50mmX
 50wn、 w=±25mm、基板表面中心から結像
素子Fまでの距離Rを600■とした場合を考えてみる
線源を縦方向収差の中間に設置するとすれば、線源の位
置Yは、上記の式0より、 Y = Rcos21 =230.6  (mm) 最大収差2W・taIllは 2w−5in2i=2X25Xsin  67、 4=
46. 2  (mm) となるが、この程度の収差は実際上は問題ないので、こ
のような湾曲結晶を用いて、X線を集光させることは可
能であり、湾曲結晶の表面にX線吸収3膜をパターンニ
ングすることにより削られた反射型X線マスクを利用し
て、マスクの縮小をウェハ上に投影することが可能であ
る。
第4 [Jに本発明のX!!反射マスクを使用した具体
例の構成図を示す、SはX線線源、Kは本発明のX線反
射基板、Mは基板に上にパターンニングされたマスク、
Cは格子面、NはマスクMの中心点における格子面法線
、FはX線結偶素子であるフレネル・ゾーンプレー1・
、Wはマスクの像を枯山させるウェハーである。
この構成において、X線線源Sから照射されたX線はX
線マスクに当たった後、基板に上にバタンニングされた
マスクM即ちX線吸収3W:iがない部分に照射された
X線だけが、マスク基板にの結晶格子によって回折され
、X線結像素子F上に集光するようにされており、X線
マスクの像はX線結像素子FによってウェハーW上に結
ばれる。この時に、光軸がマスクMの表面に対して垂直
になるように設定されているので、ウェハー上に結ばれ
る像は、X線マスクの縮小像になる。
ト、効果 本発明によれば、X線集光機能を持つX線反射基板を容
易に製作できるようになり、投影露光方式のX線リソグ
ラフィー装置を実現することが可能になった。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例の製作工程図、第2図は基本
的素子の集光機能の説明図、第3図は本発明素子の集光
機能の説明図、第4図は本発明素子を利用した具体例の
構成図である。

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 基板表面と結晶内のX線回折に関与する格子面との傾き
    が、特定波長のX線のブラッグ角をなすように分光結晶
    から切り出した基板を、回折X線に対して集光作用を持
    たせるように湾曲させたことを特徴とするX線分光結像
    用結晶素子。
JP61074696A 1986-03-31 1986-03-31 X線分光結像用結晶素子 Pending JPS62231197A (ja)

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