JPS62228933A - 自動化学分析装置 - Google Patents
自動化学分析装置Info
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- JPS62228933A JPS62228933A JP7078786A JP7078786A JPS62228933A JP S62228933 A JPS62228933 A JP S62228933A JP 7078786 A JP7078786 A JP 7078786A JP 7078786 A JP7078786 A JP 7078786A JP S62228933 A JPS62228933 A JP S62228933A
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- prisms
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Landscapes
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- Automatic Analysis And Handling Materials Therefor (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の目的］
（産業上の利用分野）
本発明は生化学分析を行う自動化学分析装置、特に測定
部における液浸式吸光度プリズムを自動的に洗浄する装
置に関する。
部における液浸式吸光度プリズムを自動的に洗浄する装
置に関する。
（従来の技術）
一般に例えば水質検査、血液検査あるいは尿検査等の化
学分析を一度に多数の被検体試料について自動的に行う
ことのできる自動化学分析装置においで、溶質の濃度測
定は、例えば被検液を有するフローセルあるいは反応管
に光を当て、その吸光度を測定している。すなわち第４
図に示すように恒温槽］に送、受光用の液浸式吸光度プ
リズム２．３を恒温水４に浸漬して配置しており、その
吸光度プリズム２，３は多数のオプティカルファイバを
集束する送、受光用オプティカルファイバエレメント５
．６の一端面に集光レンズ７．８を介して対向している
。前記送光用オプティカルファイバエレメント５の他端
面ば光源９に集光レンズ１０を介して連絡し、受光用Ａ
プティ力ルファイバエレメント６の他端面ば測定部１１
に連絡している。そして、反応終了後前配送、受光用の
吸光度プリズム２，３間を連続して通過する反応管１２
内の試料液１３に、前記光源９からの光を送光用オプテ
ィカルファイバエレメント５．吸光度プリズム２を介し
て反応管１２を透過させ吸光度プリズム２．受光用オプ
ティカルファイバエレメント６を介して測定部１１に受
光し試料液１３の吸光度を測定している。
学分析を一度に多数の被検体試料について自動的に行う
ことのできる自動化学分析装置においで、溶質の濃度測
定は、例えば被検液を有するフローセルあるいは反応管
に光を当て、その吸光度を測定している。すなわち第４
図に示すように恒温槽］に送、受光用の液浸式吸光度プ
リズム２．３を恒温水４に浸漬して配置しており、その
吸光度プリズム２，３は多数のオプティカルファイバを
集束する送、受光用オプティカルファイバエレメント５
．６の一端面に集光レンズ７．８を介して対向している
。前記送光用オプティカルファイバエレメント５の他端
面ば光源９に集光レンズ１０を介して連絡し、受光用Ａ
プティ力ルファイバエレメント６の他端面ば測定部１１
に連絡している。そして、反応終了後前配送、受光用の
吸光度プリズム２，３間を連続して通過する反応管１２
内の試料液１３に、前記光源９からの光を送光用オプテ
ィカルファイバエレメント５．吸光度プリズム２を介し
て反応管１２を透過させ吸光度プリズム２．受光用オプ
ティカルファイバエレメント６を介して測定部１１に受
光し試料液１３の吸光度を測定している。
上記の自動化学分析装置においては、反応管１２は吸光
度測定後に超音波洗浄装置笠により洗浄しているが吸光
度プリズム２，３は洗浄されないため吸光度プリズム２
，３の汚れにより不正確な分析データになる。
度測定後に超音波洗浄装置笠により洗浄しているが吸光
度プリズム２，３は洗浄されないため吸光度プリズム２
，３の汚れにより不正確な分析データになる。
（発明が解決しようとする問題点）
上記した如く吸光度プリズム２，３は洗浄されないため
恒温水４の中に含まれる各種の汚れあるいは無機物、有
機物の生物等が吸光度プリズム２．３の光路面２Ａ、３
Ａに次第に付着し、光学的エネルギーの低下によるＳ／
Ｎ比の悪化または光路の汚れによるゆらぎによるデータ
の悪化または気泡が付着することによるデータの悪化等
を生じる。
恒温水４の中に含まれる各種の汚れあるいは無機物、有
機物の生物等が吸光度プリズム２．３の光路面２Ａ、３
Ａに次第に付着し、光学的エネルギーの低下によるＳ／
Ｎ比の悪化または光路の汚れによるゆらぎによるデータ
の悪化または気泡が付着することによるデータの悪化等
を生じる。
そこで本発明は以上の欠点を除去するもので、吸光度プ
リズムの光路面を自動的に洗浄できる装置を提供するこ
とを目的とする。
リズムの光路面を自動的に洗浄できる装置を提供するこ
とを目的とする。
［発明の構成］
（問題点を解決するための手段）
本発明の自動化学分析装置では、恒温槽内に配置した液
浸式吸光度プリズムの光路面に接触可能な拭取部を反応
管に設けて構成される。
浸式吸光度プリズムの光路面に接触可能な拭取部を反応
管に設けて構成される。
（作 用）
本発明の自動化学分析装置において、恒温水に浸漬した
送、受光用吸光度プリズムの間を多数の反応管が連続し
て通過して吸光度を測定する際に反応管にａＱｃプられ
た拭取部によって吸光度プリズムの光路面の汚れが拭き
取られる。
送、受光用吸光度プリズムの間を多数の反応管が連続し
て通過して吸光度を測定する際に反応管にａＱｃプられ
た拭取部によって吸光度プリズムの光路面の汚れが拭き
取られる。
（実施例）
以下図面に示した実施例に基づいて本発明の詳細な説明
する。
する。
第１図〜第３図は本発明の自動化学分析装置の一実施例
を示すものであり、第４図で示した従来のものと同一部
分に同一の符号を付しである。
を示すものであり、第４図で示した従来のものと同一部
分に同一の符号を付しである。
恒温槽１の恒温水４に浸漬して配置した送、受光用の吸
光度プリズム２，３の間を連続して通過する反応管１２
の外周面にシリコンスポンジ等の弾性部材からなる拭取
部１４が光路面２Ａ、３Ａに対応して装着されており、
その拭取部１４の進行方向側端部に前記吸光度プリズム
２，３の光路面２Ａ、３Ａに接触するフランジ１４Ａが
突出形成している。前記拭取部１４には前記光路面２Ａ
。
光度プリズム２，３の間を連続して通過する反応管１２
の外周面にシリコンスポンジ等の弾性部材からなる拭取
部１４が光路面２Ａ、３Ａに対応して装着されており、
その拭取部１４の進行方向側端部に前記吸光度プリズム
２，３の光路面２Ａ、３Ａに接触するフランジ１４Ａが
突出形成している。前記拭取部１４には前記光路面２Ａ
。
３Ａに対応して測光窓１５を形成している。したがって
、反応終了後前配送、受光用の吸光度プリズム２，３の
間を連続して通過する反応管１２内の試料液１３に、光
源９からの光を送光用オプティカルファイバエレメント
５．吸光度プリズム２を介して反応管１２の測光窓１５
の箇所を透過させ吸光度プリズム２．受光用オプティカ
ルファイバエレメント６を介して測定部１１に受光し試
料１３の吸光度を測定する。この場合、送、受光用の吸
光度プリズム２，３の間を反応管１２が通過するに伴い
拭取部１４の７ランジ１４Ａが吸光度プリズム２，３の
光路面２Ａ、３Ａに接触して汚れが自動的に拭き取られ
る。またフランジ１４Ａは反応管１２の進行方向端部に
設（プられているためフランジ１４Ａにより光路面２Ａ
、３Ａの汚れを拭き取った後直ちに吸光度の測定を行う
ことができる。
、反応終了後前配送、受光用の吸光度プリズム２，３の
間を連続して通過する反応管１２内の試料液１３に、光
源９からの光を送光用オプティカルファイバエレメント
５．吸光度プリズム２を介して反応管１２の測光窓１５
の箇所を透過させ吸光度プリズム２．受光用オプティカ
ルファイバエレメント６を介して測定部１１に受光し試
料１３の吸光度を測定する。この場合、送、受光用の吸
光度プリズム２，３の間を反応管１２が通過するに伴い
拭取部１４の７ランジ１４Ａが吸光度プリズム２，３の
光路面２Ａ、３Ａに接触して汚れが自動的に拭き取られ
る。またフランジ１４Ａは反応管１２の進行方向端部に
設（プられているためフランジ１４Ａにより光路面２Ａ
、３Ａの汚れを拭き取った後直ちに吸光度の測定を行う
ことができる。
このようにして、送、受光用の吸光度プリズム２．３の
間を反応管１２が通過するという通常の動作によって吸
光度プリズム２．３の光路面２Ａ。
間を反応管１２が通過するという通常の動作によって吸
光度プリズム２．３の光路面２Ａ。
３Ａが自動的に洗浄されるため、簡単な＠造により恒温
水４内に含まれる各種の汚れあるいは生物等または気泡
の付着が容易に除去され正確なデータを得ることができ
る。
水４内に含まれる各種の汚れあるいは生物等または気泡
の付着が容易に除去され正確なデータを得ることができ
る。
以上本発明の一実施例について説明したが本発明は上記
実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲
内で適宜に変形実施可能であることはいうまでもない。
実施例に限定されるものではなく、本発明の要旨の範囲
内で適宜に変形実施可能であることはいうまでもない。
例えば拭取部は合成樹脂。
合成ゴム等でもよい。またフランジは進行方向端部に設
けたものを示したが反対側端部または中央部等でもよい
。
けたものを示したが反対側端部または中央部等でもよい
。
［発明の効果］
以上述べたように本発明の構成によれば、反応管の移動
により送、受光用のプリズムの光路面を拭取部を介して
自動的に洗浄できるため、正確な吸光度データを得るこ
とができる。
により送、受光用のプリズムの光路面を拭取部を介して
自動的に洗浄できるため、正確な吸光度データを得るこ
とができる。
第１図〜第３図は本発明の一実施例を示し、第１図は測
定部の縦断面図、第２図は同平面図、第３図は反応管の
斜視図、第４図は従来の測定部を示す縦断面図である。 １・・・恒温槽、２，３・・・液浸式吸光度プリズム、
２Ａ、３Ａ・・・光路面、１２・・・反応管、１３・・
・試料液、１４・・・拭取部。 代理人 弁理士 則 近 憲 缶周 大
胡 典 夫第１図
定部の縦断面図、第２図は同平面図、第３図は反応管の
斜視図、第４図は従来の測定部を示す縦断面図である。 １・・・恒温槽、２，３・・・液浸式吸光度プリズム、
２Ａ、３Ａ・・・光路面、１２・・・反応管、１３・・
・試料液、１４・・・拭取部。 代理人 弁理士 則 近 憲 缶周 大
胡 典 夫第１図
Claims (1)
- 反応終了後連続して送られる反応管内の試料液を恒温槽
内で分析する液浸式吸光度プリズムを有する自動化学分
析装置において、前記恒温槽内に配置した液浸式吸光度
プリズムの光路面に接触可能な拭取部を前記反応管に設
けたことを特徴とする自動化学分析装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7078786A JPS62228933A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 自動化学分析装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP7078786A JPS62228933A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 自動化学分析装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS62228933A true JPS62228933A (ja) | 1987-10-07 |
Family
ID=13441585
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP7078786A Pending JPS62228933A (ja) | 1986-03-31 | 1986-03-31 | 自動化学分析装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS62228933A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004045113A (ja) * | 2002-07-10 | 2004-02-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| EP1980838A1 (en) * | 2007-04-13 | 2008-10-15 | Horiba, Ltd. | Optical cell, optical sample measurement device, and water quality measurement device |
| JP2010185797A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| WO2017022304A1 (ja) * | 2015-07-31 | 2017-02-09 | ソニー株式会社 | 検出用デバイス、光学的検出用装置及び光学的検出方法 |
-
1986
- 1986-03-31 JP JP7078786A patent/JPS62228933A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2004045113A (ja) * | 2002-07-10 | 2004-02-12 | Hitachi High-Technologies Corp | 自動分析装置 |
| EP1980838A1 (en) * | 2007-04-13 | 2008-10-15 | Horiba, Ltd. | Optical cell, optical sample measurement device, and water quality measurement device |
| JP2010185797A (ja) * | 2009-02-12 | 2010-08-26 | Toshiba Corp | 自動分析装置 |
| WO2017022304A1 (ja) * | 2015-07-31 | 2017-02-09 | ソニー株式会社 | 検出用デバイス、光学的検出用装置及び光学的検出方法 |
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