JPS62226853A - 回路基板 - Google Patents
回路基板Info
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- JPS62226853A JPS62226853A JP61069946A JP6994686A JPS62226853A JP S62226853 A JPS62226853 A JP S62226853A JP 61069946 A JP61069946 A JP 61069946A JP 6994686 A JP6994686 A JP 6994686A JP S62226853 A JPS62226853 A JP S62226853A
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Landscapes
- Compositions Of Oxide Ceramics (AREA)
- Inorganic Insulating Materials (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
[発明の目的]
(産業上の利用分野)
本発明は、回路基板に関し、特に絶縁体の材料を改良し
たIC基板、集積回路用パッケージ等のセラミック回路
基板に係わる。
たIC基板、集積回路用パッケージ等のセラミック回路
基板に係わる。
(従来の技術)
集積回路のセラミックパッケージや電卓計算器、カウン
ター等の固体表示装置の絶縁板としては、従来よりアル
ミナ磁器が使用されている。かかるアルミナ磁器は、A
Q203を主成分とし、これにS Mo2、MQOlC
aQ、T i 02、Cr2O3を数m1%添加し、還
元性雰囲気中で焼成することにより得られる。
ター等の固体表示装置の絶縁板としては、従来よりアル
ミナ磁器が使用されている。かかるアルミナ磁器は、A
Q203を主成分とし、これにS Mo2、MQOlC
aQ、T i 02、Cr2O3を数m1%添加し、還
元性雰囲気中で焼成することにより得られる。
しかしながら、絶縁板をアルミナ磁器で形成した場合は
その焼成温度が1500〜1600℃と高温となるため
、使用できる導体ペーストが制限されるという問題があ
る。例えば、導体ペーストと絶縁板とを同時焼結する多
層回路基板ではアルミナの焼結温度に充分耐え得るよう
なタングステン、モリブデン等の導体ペーストを用いる
必要があるが、かかるタングツテン、モリブデンの抵抗
率はAQの1.6 X10− ’Ω・υに比べて5,2
X10°6Ω・crsと3倍程度大きい。従って、同じ
伝導度の導体路を得るためには、導体幅を3倍程度にす
る必要があり、高密度配線の障害となる。また、還元雰
囲気の酸素分圧を厳密に調整しなければ良好な絶縁特性
が得られない欠点があった。
その焼成温度が1500〜1600℃と高温となるため
、使用できる導体ペーストが制限されるという問題があ
る。例えば、導体ペーストと絶縁板とを同時焼結する多
層回路基板ではアルミナの焼結温度に充分耐え得るよう
なタングステン、モリブデン等の導体ペーストを用いる
必要があるが、かかるタングツテン、モリブデンの抵抗
率はAQの1.6 X10− ’Ω・υに比べて5,2
X10°6Ω・crsと3倍程度大きい。従って、同じ
伝導度の導体路を得るためには、導体幅を3倍程度にす
る必要があり、高密度配線の障害となる。また、還元雰
囲気の酸素分圧を厳密に調整しなければ良好な絶縁特性
が得られない欠点があった。
なお、ガラス成分を加えて焼成温度を下げる試みもある
が、多層配線の場合のマイグレーションの問題があり、
導体層間の絶縁抵抗が低下するため、実用上好ましくな
い。
が、多層配線の場合のマイグレーションの問題があり、
導体層間の絶縁抵抗が低下するため、実用上好ましくな
い。
このような欠点を除去するため、絶縁性等の特性を劣化
させることなく低温焼成可能な回路基板の開発が望まれ
ている。
させることなく低温焼成可能な回路基板の開発が望まれ
ている。
(発明が解決しようとする問題点)
本発明は、上記要望を満足すべくなされたもので、低温
焼成が可能で絶縁特性の優れた絶縁体を有する回路基板
を提供しようとするものである。
焼成が可能で絶縁特性の優れた絶縁体を有する回路基板
を提供しようとするものである。
[発明の構成]
(問題点を解決するための手段)
本発明は絶縁体が、
Bao 8〜47 mol%S n 02
1.7〜38.25 101%B2O34,25〜3
4 l1lo I%T i 02 0.
1 〜22 mol %S i 02
0.5 〜25 mol %Cr20
ヨ 0,4 〜20.5 mol %M o
OO,15〜6.5 a+ol %Ca
OO,1〜7.5 mol %からなる酸化
物焼結体より構成されることを特徴とする回路基板であ
る。
1.7〜38.25 101%B2O34,25〜3
4 l1lo I%T i 02 0.
1 〜22 mol %S i 02
0.5 〜25 mol %Cr20
ヨ 0,4 〜20.5 mol %M o
OO,15〜6.5 a+ol %Ca
OO,1〜7.5 mol %からなる酸化
物焼結体より構成されることを特徴とする回路基板であ
る。
次に、本発明の酸化物焼結体を構成する各酸化物の配合
量の限定理由等について説明する。
量の限定理由等について説明する。
■、5aO
BaOの配合層を8101%未満にすると、熱膨張係数
が大きくなってしまい、待にBa1lが少ない配合組成
でB2O5mを多くすると熱膨張係数の増大が顕著とな
る。一方、BaOの配合間が47mol%を越えると、
脆くなって絶縁体の強度低下を招く。
が大きくなってしまい、待にBa1lが少ない配合組成
でB2O5mを多くすると熱膨張係数の増大が顕著とな
る。一方、BaOの配合間が47mol%を越えると、
脆くなって絶縁体の強度低下を招く。
■、5nO2
SnO2の配合量を1.7101%未満にすると、熱膨
張係数が大きくなり、例えばLSIチップを実装する場
合に該チップの剥離、割れ等が生じ易くなる。一方、5
002の配合量が38.25 mof 96を越えると
、該5nOs+は本来半導体の性質を有するため、絶縁
抵抗が低下してしまい、絶縁体としての特性を満足しな
くなる。また、誘電損失、比誘電率も大きくなり、高密
度配線、高周波特性が劣化する。
張係数が大きくなり、例えばLSIチップを実装する場
合に該チップの剥離、割れ等が生じ易くなる。一方、5
002の配合量が38.25 mof 96を越えると
、該5nOs+は本来半導体の性質を有するため、絶縁
抵抗が低下してしまい、絶縁体としての特性を満足しな
くなる。また、誘電損失、比誘電率も大きくなり、高密
度配線、高周波特性が劣化する。
■、 B2O3
B203の配合量を4,25a+o1%未満にすると、
本発明の主目的である低温焼成の効果が得られず、13
00℃以上の温度での焼成を必要とすることになる。一
方、 B2O3 +7)配合1!iカ34mol %ヲ
11エルと、熱膨張係数が大きくなる。
本発明の主目的である低温焼成の効果が得られず、13
00℃以上の温度での焼成を必要とすることになる。一
方、 B2O3 +7)配合1!iカ34mol %ヲ
11エルと、熱膨張係数が大きくなる。
上記BaO1SnO2及びB2O3からなる組成系、例
えばBao10〜68i101%、5no29〜50a
+o1%及びB a O13〜721101%でも各特
性に充分に優れ、かつ1300℃以下の低温焼成で回路
基板の絶縁体を得ることができるが、その耐湿性が不十
分であるばかりか、抗折強度が1000に5F/d程度
と充分な強度とならない。
えばBao10〜68i101%、5no29〜50a
+o1%及びB a O13〜721101%でも各特
性に充分に優れ、かつ1300℃以下の低温焼成で回路
基板の絶縁体を得ることができるが、その耐湿性が不十
分であるばかりか、抗折強度が1000に5F/d程度
と充分な強度とならない。
そこで、以下に説明するTiO2及びSiO2の配合、
並びにCr2O3、MgO及びCaOの配合により耐湿
性と抗折強度を改善した。これは、焼結体中で3a3n
(803)2を基本として各サイトをTi、Si等で
置換したような構造、複合酸化物が存在することによる
ものと考えられる。
並びにCr2O3、MgO及びCaOの配合により耐湿
性と抗折強度を改善した。これは、焼結体中で3a3n
(803)2を基本として各サイトをTi、Si等で
置換したような構造、複合酸化物が存在することによる
ものと考えられる。
■、TiO2,5iO2
一般環境での使用を考えた場合、湿度の影響を無視する
ことができないが、T i 02及びS i 02を配
合することにより、両者の相乗効果により耐湿性を向上
できる。TiO2及びSiO2の下限値を0.1110
1%、0.5 mol%未満にすると、耐湿性の向上化
を充分に達成できない。
ことができないが、T i 02及びS i 02を配
合することにより、両者の相乗効果により耐湿性を向上
できる。TiO2及びSiO2の下限値を0.1110
1%、0.5 mol%未満にすると、耐湿性の向上化
を充分に達成できない。
一方、T i 02の配合量が22mol%を越えると
、絶縁抵抗の低下を招き、誘電率等の他の特性が劣化す
る。また、5iOzの配合量が25101%を越えると
、絶縁体中のガラス含有量が多くなり過ぎ、マイグレー
ション等の問題が起こる。
、絶縁抵抗の低下を招き、誘電率等の他の特性が劣化す
る。また、5iOzの配合量が25101%を越えると
、絶縁体中のガラス含有量が多くなり過ぎ、マイグレー
ション等の問題が起こる。
■、Cr2O3、MQO1CaO
Cr203 、M(JO及びCaOを配合するコトによ
って、それらの相乗効果により抗折強度を1400に9
/ci以上にできる。これらCr2Oヨ、MgO及びC
aOの配合量の下限値を0.4 mol%、0.15g
1o1%、0,1mol%未満にすると、それらの添加
効果を十分に発揮できず、かといってCr203 、M
QO及びCaOの配合量の上限値が20,5101%、
6.5 lllot%、7.5n+o1%を越えると、
焼成温度が高くなる。特に、Cr2(hの配合量が20
.5mol%を越えると、誘電率等の他の特性が劣化す
る。
って、それらの相乗効果により抗折強度を1400に9
/ci以上にできる。これらCr2Oヨ、MgO及びC
aOの配合量の下限値を0.4 mol%、0.15g
1o1%、0,1mol%未満にすると、それらの添加
効果を十分に発揮できず、かといってCr203 、M
QO及びCaOの配合量の上限値が20,5101%、
6.5 lllot%、7.5n+o1%を越えると、
焼成温度が高くなる。特に、Cr2(hの配合量が20
.5mol%を越えると、誘電率等の他の特性が劣化す
る。
(作用)
上述した酸化物組成とすることによって、焼結温度を1
300℃以下の低温焼成が可能な絶縁体を有する回路基
板を得ることができ、AQ203の場合のWSMO等に
変え、Ag、Ao−Pd、AQ−Pt等のAQ系ペース
ト、Cuペースト等のシー1〜抵抗の小さい低温焼成ベ
ース1〜を使用できる上、特にガラス成分を含んでいな
いため、空孔が少なく、構造が緻密となり、AQ系ペー
ストを使用してもマイグレーション等の問題が生じない
。その結果、高密度で信頼性の高い配線を実現できる。
300℃以下の低温焼成が可能な絶縁体を有する回路基
板を得ることができ、AQ203の場合のWSMO等に
変え、Ag、Ao−Pd、AQ−Pt等のAQ系ペース
ト、Cuペースト等のシー1〜抵抗の小さい低温焼成ベ
ース1〜を使用できる上、特にガラス成分を含んでいな
いため、空孔が少なく、構造が緻密となり、AQ系ペー
ストを使用してもマイグレーション等の問題が生じない
。その結果、高密度で信頼性の高い配線を実現できる。
しかも、焼成温度を下げることが可能となることによっ
て、製造時のエネルギーコストの低減化も達成できる。
て、製造時のエネルギーコストの低減化も達成できる。
また、前記回路基板の絶縁体は、熱膨張係数(α)が7
,5 x 10−6/’C以下程度と小さいため、S
i (4xlO−’ /’C)と同程度であり、直接
LSIを実装するハイブリッド基板として使用できる。
,5 x 10−6/’C以下程度と小さいため、S
i (4xlO−’ /’C)と同程度であり、直接
LSIを実装するハイブリッド基板として使用できる。
また、他の特性、例えば比誘電率(εS)は12以下程
度、誘電損失(tanδ)は7X10’以下程度、絶縁
抵抗(ρ)は5X1013Ω・0以上と回路基板の絶縁
体として充分な特性を有する。更に抗折強度も1400
Kg/′−以上と充分な強度を有する。なお、従来使用
されているA(12033!板は、AQ203を92〜
93%含有したもので、1500〜1600℃程度の焼
成温度、ε9−10.5〜12、tanδ−2〜5X1
0゛3、ρ−〇、2〜5X1013、α−axio−s
℃である。
度、誘電損失(tanδ)は7X10’以下程度、絶縁
抵抗(ρ)は5X1013Ω・0以上と回路基板の絶縁
体として充分な特性を有する。更に抗折強度も1400
Kg/′−以上と充分な強度を有する。なお、従来使用
されているA(12033!板は、AQ203を92〜
93%含有したもので、1500〜1600℃程度の焼
成温度、ε9−10.5〜12、tanδ−2〜5X1
0゛3、ρ−〇、2〜5X1013、α−axio−s
℃である。
本発明において、上記酸化物組成を特に以下に示す範囲
とすることによって、焼成1度を1100℃以下程度に
でき、α≦6.3 xlo−’cと優れた特性の絶縁体
を有する回路基板を得ることができる。
とすることによって、焼成1度を1100℃以下程度に
でき、α≦6.3 xlo−’cと優れた特性の絶縁体
を有する回路基板を得ることができる。
B a Q 12.75 〜34 m
ol %S n 02 8.5 〜28.9
11101 %32 Q3 9〜32
mol %Tt Q2 0.5 〜17
not %3 i Q2 1.7
〜19 mol %Cr 2 03 1.
3(3〜IG、4 mol %MgOO,5〜
4.5 mol %Ca OO03〜5.5
mol %また、本発明において上記酸化物
組成を更に以下に示す範囲に狭めることによって、耐水
性に優れ、プレツシセークッカーテスト(PTC)で1
00時間経過してもガラスエポキシ樹脂基板の1730
程度の吸水率の絶縁体を有する回路基板を得ることがで
きる。
ol %S n 02 8.5 〜28.9
11101 %32 Q3 9〜32
mol %Tt Q2 0.5 〜17
not %3 i Q2 1.7
〜19 mol %Cr 2 03 1.
3(3〜IG、4 mol %MgOO,5〜
4.5 mol %Ca OO03〜5.5
mol %また、本発明において上記酸化物
組成を更に以下に示す範囲に狭めることによって、耐水
性に優れ、プレツシセークッカーテスト(PTC)で1
00時間経過してもガラスエポキシ樹脂基板の1730
程度の吸水率の絶縁体を有する回路基板を得ることがで
きる。
B a O17〜29.75 mol%5nO21
2,75〜27.2 mol%B2O3 12〜2
9.75 110196T i 02 1,7〜8
.5 mol%S i O22,95〜12.75
11101%Cr 203 2.38〜10.2
lo1%M(,100,7〜2.55 mol
%Ca OO,45〜3.5 nol
%次に、本発明の回路基板(例えば多層配I!基板)を
製造する方法を説明する。
2,75〜27.2 mol%B2O3 12〜2
9.75 110196T i 02 1,7〜8
.5 mol%S i O22,95〜12.75
11101%Cr 203 2.38〜10.2
lo1%M(,100,7〜2.55 mol
%Ca OO,45〜3.5 nol
%次に、本発明の回路基板(例えば多層配I!基板)を
製造する方法を説明する。
まず、sao、SnO2、sao、T i 02、S
io2、Cr203 、MQO及びCaO又は焼成後の
酸化により前記酸化物に変換される化合物を前記範囲の
組成比となるように調合した原料粉末を有するスラリー
を調整する。このスラリーは、例えばポリビニールブチ
ラール、アクリル樹脂等の結合剤、フタル酸オクチル、
ポリエチレングリコール等の可塑剤、メンヘーデン油等
のWin剤、エチルアルコール、トリクロロエチリン、
n−ブタノール等の溶媒を加えて調合する。つづいて、
前記スラリーをドクターブレード法により厚さ100μ
m程度のグリーンシートを作製する。このグリーンシー
トを数枚重ねて高温高圧で厚さ1−程度のグリーンシー
ト積層板を作製する。ひきつづき、このグリーンシート
積層板上にAQ系等の導体ペーストを用いて第1の導体
層を印刷、塗布した後、乾燥する。
io2、Cr203 、MQO及びCaO又は焼成後の
酸化により前記酸化物に変換される化合物を前記範囲の
組成比となるように調合した原料粉末を有するスラリー
を調整する。このスラリーは、例えばポリビニールブチ
ラール、アクリル樹脂等の結合剤、フタル酸オクチル、
ポリエチレングリコール等の可塑剤、メンヘーデン油等
のWin剤、エチルアルコール、トリクロロエチリン、
n−ブタノール等の溶媒を加えて調合する。つづいて、
前記スラリーをドクターブレード法により厚さ100μ
m程度のグリーンシートを作製する。このグリーンシー
トを数枚重ねて高温高圧で厚さ1−程度のグリーンシー
ト積層板を作製する。ひきつづき、このグリーンシート
積層板上にAQ系等の導体ペーストを用いて第1の導体
層を印刷、塗布した後、乾燥する。
次いで、Bad、SnO2、Bad、T io2、S
io2.Cr203 、M(:lO及びCaOを前記範
囲の組成比となるように調合した原料粉末を含有する絶
縁ペーストを前記第1導体層を含むグリーンシート上に
印刷、塗布し、乾燥した後、第2の導体層を同様に形成
する。この絶縁ペーストは、ブチルカルピトール ル、エチルセルローズ、等を添加してペースト状とする
ことにより調整される。こうして211以上の導体層を
印刷、塗布したグリーンシートを電気炉中で例えば10
00℃程度で3時間、同時焼成し、多層配線基板を製造
する。
io2.Cr203 、M(:lO及びCaOを前記範
囲の組成比となるように調合した原料粉末を含有する絶
縁ペーストを前記第1導体層を含むグリーンシート上に
印刷、塗布し、乾燥した後、第2の導体層を同様に形成
する。この絶縁ペーストは、ブチルカルピトール ル、エチルセルローズ、等を添加してペースト状とする
ことにより調整される。こうして211以上の導体層を
印刷、塗布したグリーンシートを電気炉中で例えば10
00℃程度で3時間、同時焼成し、多層配線基板を製造
する。
なお、上記多層印刷基板は印刷多層により製造する例を
説明したが、グリーンシートを多層でも同様に製造でき
る。
説明したが、グリーンシートを多層でも同様に製造でき
る。
また、印刷多層方法を採用する場合、基体として本発明
の絶縁体を用いてもよいが、例えばAC203、ムライ
ト等の絶縁板を使用してもよい。
の絶縁体を用いてもよいが、例えばAC203、ムライ
ト等の絶縁板を使用してもよい。
以下、本発明の実施例を詳細に説明する。
実施例1
まず、BaCO3、l−13 BOq 、SnO2、T
iO2、SiO2,Cr20a、MQCOg及びCaC
O3を酸化物換算で下記第1表に示す組成となるように
秤量して10種の原料粉末を調合した後、これら原料粉
末を夫々アルミナボールと共にアルミナ製ポットに入れ
、振動ミルにより16時間程度湿式粉砕した。つづいて
、これら粉砕物を脱水乾燥し、700〜1100℃で3
時間程度加熱処理を加えて仮焼した優、再度、アルミナ
製ポット中に入れ, 30時間程度湿式粉砕を行なった
。この鴇乾燥し、ポリビニールブチラール等の粘結剤を
加えて造粒して造粒物を調整した。次いで、前記各造粒
物を金型に充填し、100ON9 、/ cdの圧力下
で加圧成形し、大気中で同第1表に示す温度にて3時間
焼成して22℃wxφX 1 tta tの円板状試料
及び20x10X2Mの角板状試料を夫々10種作製し
た。
iO2、SiO2,Cr20a、MQCOg及びCaC
O3を酸化物換算で下記第1表に示す組成となるように
秤量して10種の原料粉末を調合した後、これら原料粉
末を夫々アルミナボールと共にアルミナ製ポットに入れ
、振動ミルにより16時間程度湿式粉砕した。つづいて
、これら粉砕物を脱水乾燥し、700〜1100℃で3
時間程度加熱処理を加えて仮焼した優、再度、アルミナ
製ポット中に入れ, 30時間程度湿式粉砕を行なった
。この鴇乾燥し、ポリビニールブチラール等の粘結剤を
加えて造粒して造粒物を調整した。次いで、前記各造粒
物を金型に充填し、100ON9 、/ cdの圧力下
で加圧成形し、大気中で同第1表に示す温度にて3時間
焼成して22℃wxφX 1 tta tの円板状試料
及び20x10X2Mの角板状試料を夫々10種作製し
た。
しかして、本実施例1の10種の試料について抵抗率(
ρ)、比誘電率(εB)、誘電損失( tanδ)、抗
折強度(τ)及び吸水率を夫々測定した。その結果を同
第1表に併記した。また、同第1表中には本発明の組成
範囲から外れる組成からなる4!Iの試料の特性を比較
例として併記した。なお、各特性の評価は以下に示す方
法により行なった。
ρ)、比誘電率(εB)、誘電損失( tanδ)、抗
折強度(τ)及び吸水率を夫々測定した。その結果を同
第1表に併記した。また、同第1表中には本発明の組成
範囲から外れる組成からなる4!Iの試料の特性を比較
例として併記した。なお、各特性の評価は以下に示す方
法により行なった。
抵抗率(ρ)、比誘電率(ε3)及びyk?I!損失(
tanδ)は、円板状試料の両面にA9ペーストを3
25メツシユのスクリーン印刷により同心円状に印刷し
、乾燥後大気中にて750℃、20分間の焼付けを行な
い、20.φ×15μmの円形胃極を形成して測定した
。抵抗率は、25℃で湿度50 の条件でiooov
印加してから1分侵の値の最低値、比誘電率及び誘電4
失は1MHxでの値である。
tanδ)は、円板状試料の両面にA9ペーストを3
25メツシユのスクリーン印刷により同心円状に印刷し
、乾燥後大気中にて750℃、20分間の焼付けを行な
い、20.φ×15μmの円形胃極を形成して測定した
。抵抗率は、25℃で湿度50 の条件でiooov
印加してから1分侵の値の最低値、比誘電率及び誘電4
失は1MHxでの値である。
抗折強度(τ)は、角板状試料(幅W=10am、厚さ
t − 2 m )を用い、支点開路11N2)が7I
IIIIにおける最大破壊荷重P m(/(y)を測定
し、3 Pme τ− ” [ Kg / cd ]W
−t2 により求めた。
t − 2 m )を用い、支点開路11N2)が7I
IIIIにおける最大破壊荷重P m(/(y)を測定
し、3 Pme τ− ” [ Kg / cd ]W
−t2 により求めた。
吸水率は、プレッシャーリッカーテスト(121℃、2
気圧、蒸気中)での値であり、テスト前後における彊f
ll’a’化から求めた値である。
気圧、蒸気中)での値であり、テスト前後における彊f
ll’a’化から求めた値である。
上記第1表から明らかなように、本実施例1においては
、いずれも1300℃以下の焼成温度でII損失が〜1
0°3程度、抗折強度が140ON9/CII以上と浸
れた特性を示すことがわかる。また、焼成温度の低下効
果が大きく、他の特性でもAn203と同等もしくはそ
れ以上の値を示す。特に、試料Nα3.10はPCTの
100時間後でも吸水率が僅か0.71r1g、/CI
d以下であり、非常に優れている。一方、5n02 、
BaOが夫々本発明の範囲から外れる試FI Na 1
1.13は焼成温度が1400℃以上となる。また、C
r2O3及びTiO2が本発明の範囲から外れる試料N
012は固有抵抗率の低下、誘電損失の増大をjB <
と共に、耐;1性が劣化する。更に、Cr2O3及びC
aOが本発明の範囲から外れる試料Nα14は抗折強度
が1400に9/ci以下と低くなる。
、いずれも1300℃以下の焼成温度でII損失が〜1
0°3程度、抗折強度が140ON9/CII以上と浸
れた特性を示すことがわかる。また、焼成温度の低下効
果が大きく、他の特性でもAn203と同等もしくはそ
れ以上の値を示す。特に、試料Nα3.10はPCTの
100時間後でも吸水率が僅か0.71r1g、/CI
d以下であり、非常に優れている。一方、5n02 、
BaOが夫々本発明の範囲から外れる試FI Na 1
1.13は焼成温度が1400℃以上となる。また、C
r2O3及びTiO2が本発明の範囲から外れる試料N
012は固有抵抗率の低下、誘電損失の増大をjB <
と共に、耐;1性が劣化する。更に、Cr2O3及びC
aOが本発明の範囲から外れる試料Nα14は抗折強度
が1400に9/ci以下と低くなる。
実施例2
まず、BaCO3、H3803、S、nO2、TiO2
、SiO2、Cr20g、MQCO3及びCaCO3を
酸化物換算で前述した試料Nα3゜4.10.7.8,
1.2の組成比となるように秤量した原料粉末を含有す
る1種のスラリーを調整した。これらスラリーは、各原
料粉末にポリビニールブチラール、ポリエチレングリコ
ール、メンヘーデン油、エチルアルコールを添加するこ
とにより114した。つづいて、これらスラリーをドク
ターブレード法により厚さ100μmFi度のグリーン
シートを作製した。ひきつづき、グリーンシートを数枚
重ねて高温高圧で厚さ1導1程度のグリーンシート積層
板を作製した後、下記第2表に示す特性の導体ペースト
を用いて第1の導体層を印刷、塗布し、しかる後乾燥し
た。
、SiO2、Cr20g、MQCO3及びCaCO3を
酸化物換算で前述した試料Nα3゜4.10.7.8,
1.2の組成比となるように秤量した原料粉末を含有す
る1種のスラリーを調整した。これらスラリーは、各原
料粉末にポリビニールブチラール、ポリエチレングリコ
ール、メンヘーデン油、エチルアルコールを添加するこ
とにより114した。つづいて、これらスラリーをドク
ターブレード法により厚さ100μmFi度のグリーン
シートを作製した。ひきつづき、グリーンシートを数枚
重ねて高温高圧で厚さ1導1程度のグリーンシート積層
板を作製した後、下記第2表に示す特性の導体ペースト
を用いて第1の導体層を印刷、塗布し、しかる後乾燥し
た。
次いで、試料NQ3.4.10.7.8.1.2の組成
比となるように秤量した原料粉末にブチルカルピトール
、アセテート、テルピネオール、エチルセルローズ等を
添加して1種の絶縁ベース1−をUA製した後、これら
絶縁ペーストを前記第1導体層を含むグリーンシート積
層板上に夫々印刷、塗布し、乾燥した後、同第2表に示
す導体ペーストを用いて第2の導体層を同様に形成した
。こうして21i!以上の導体層を印刷、塗布したグリ
ーンシ−ト積層板を電気炉中で下記第3表に示す温度条
件にて3時間、同時焼成して7種の多層配線基板を製造
した。
比となるように秤量した原料粉末にブチルカルピトール
、アセテート、テルピネオール、エチルセルローズ等を
添加して1種の絶縁ベース1−をUA製した後、これら
絶縁ペーストを前記第1導体層を含むグリーンシート積
層板上に夫々印刷、塗布し、乾燥した後、同第2表に示
す導体ペーストを用いて第2の導体層を同様に形成した
。こうして21i!以上の導体層を印刷、塗布したグリ
ーンシ−ト積層板を電気炉中で下記第3表に示す温度条
件にて3時間、同時焼成して7種の多層配線基板を製造
した。
しかして、本実施例の多層印刷基板の諸特性をそれら各
基板10個の平均値として測定した。その結果を同13
表に併記した。なお、密着強度は引張り試験用ワイヤを
半田付で最上層の導体層に固着し、インスロトロン引張
り試6wA機を用いて測定(引張り測定0.50/1n
) L、、基板と導体層との密着の度合を評価した。
基板10個の平均値として測定した。その結果を同13
表に併記した。なお、密着強度は引張り試験用ワイヤを
半田付で最上層の導体層に固着し、インスロトロン引張
り試6wA機を用いて測定(引張り測定0.50/1n
) L、、基板と導体層との密着の度合を評価した。
ボンディング性は、Au−Aff系の25μmφのボン
ディングワイヤの導体層との接着強度である。
ディングワイヤの導体層との接着強度である。
上記第3表から明らかなように、本実施例の多層印刷基
板はいずれも密着強度、ボンディング特性が1Kg7/
llm2以上、5g以上で実用上問題のない値を有する
ことがわかる。また、シー1〜抵抗も導体ペーストの設
定値のものを得ることができる。
板はいずれも密着強度、ボンディング特性が1Kg7/
llm2以上、5g以上で実用上問題のない値を有する
ことがわかる。また、シー1〜抵抗も導体ペーストの設
定値のものを得ることができる。
更に、800〜1200℃の低温で同時焼成しても前j
ホした良好な特性の多層印刷基板を得ることができる。
ホした良好な特性の多層印刷基板を得ることができる。
この場合、焼成温度を1200℃以上にするとB2O3
が蒸発し易くなり、均一な回路基板を得ることが困難と
なるばかりか、導体層を構成するAUやAQが絶縁体中
に拡散して良好なシート抵抗を有する回路基板が得難く
なる。
が蒸発し易くなり、均一な回路基板を得ることが困難と
なるばかりか、導体層を構成するAUやAQが絶縁体中
に拡散して良好なシート抵抗を有する回路基板が得難く
なる。
[発明の効果]
以上詳述した如く、本発明によれば1300℃以下、特
に800〜1200℃の低温で焼成可能で、かつ抗折強
度が高く、一体焼結による多層配線基板として有効で、
更に熱膨張率も小さくLSIチップ等を直接搭載する高
密度ハイブリッド基板として好適な回路基板を提供でき
る。
に800〜1200℃の低温で焼成可能で、かつ抗折強
度が高く、一体焼結による多層配線基板として有効で、
更に熱膨張率も小さくLSIチップ等を直接搭載する高
密度ハイブリッド基板として好適な回路基板を提供でき
る。
Claims (1)
- 【特許請求の範囲】 絶縁体が、 BaO 8〜47 mol% SnO_2 1.7〜38.25 mol% B_2O_3 4.25〜34 mol% TiO_2 0.1〜22 mol% SiO_2 0.5〜25 mol% Cr_2O_3 0.4〜20.5 mol% MgO 0.15〜6.5 mol% CaO 0.1〜7.5 mol% からなる酸化物焼結体より構成されることを特徴とする
回路基板。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61069946A JPS62226853A (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | 回路基板 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP61069946A JPS62226853A (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | 回路基板 |
Publications (1)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS62226853A true JPS62226853A (ja) | 1987-10-05 |
Family
ID=13417327
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP61069946A Pending JPS62226853A (ja) | 1986-03-28 | 1986-03-28 | 回路基板 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
JP (1) | JPS62226853A (ja) |
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0288232A (ja) * | 1988-09-27 | 1990-03-28 | Asahi Glass Co Ltd | 低温焼成多層基板とその組成物 |
-
1986
- 1986-03-28 JP JP61069946A patent/JPS62226853A/ja active Pending
Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
JPH0288232A (ja) * | 1988-09-27 | 1990-03-28 | Asahi Glass Co Ltd | 低温焼成多層基板とその組成物 |
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