JPS6222628A - 断層像表示装置 - Google Patents
断層像表示装置Info
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- JPS6222628A JPS6222628A JP60162075A JP16207585A JPS6222628A JP S6222628 A JPS6222628 A JP S6222628A JP 60162075 A JP60162075 A JP 60162075A JP 16207585 A JP16207585 A JP 16207585A JP S6222628 A JPS6222628 A JP S6222628A
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- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 206010065226 Non-dipping Diseases 0.000 description 1
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- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Nuclear Medicine (AREA)
- Controls And Circuits For Display Device (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
- Apparatus For Radiation Diagnosis (AREA)
Abstract
(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。
め要約のデータは記録されません。
Description
【発明の詳細な説明】
［発明の技術分野］
本発明は被検体の３次元映像情報から表示しようとする
断層像の断層面の位置及び角度を任意かつ直観的に指定
することのできる断層像表示装置に関するものである。
断層像の断層面の位置及び角度を任意かつ直観的に指定
することのできる断層像表示装置に関するものである。
［発明の技術的背景とでの問題点］
被検体の３次元映像情報から任意の位置の断層面上の像
、即ち、断層像を取り、それをＣＲＴディスプレイ等に
より表示して診断するということが医療上においてよく
行われる。ところで、従来の断層像表示装置は、表示さ
せようとする断層像の断層面の位置を例えば直線カーソ
ルによって指定することができるようにされていたが、
断層面の傾斜角度を指定することができず、その結果、
傾斜しない断層面しか見ることができない場合が多かっ
た。また、断層像の位置を指定した場合においてもその
指定した位置が３次元立体のなかのどの部分にあたるか
を直観的に把握できるようにするための配慮が為されて
いなかった。
、即ち、断層像を取り、それをＣＲＴディスプレイ等に
より表示して診断するということが医療上においてよく
行われる。ところで、従来の断層像表示装置は、表示さ
せようとする断層像の断層面の位置を例えば直線カーソ
ルによって指定することができるようにされていたが、
断層面の傾斜角度を指定することができず、その結果、
傾斜しない断層面しか見ることができない場合が多かっ
た。また、断層像の位置を指定した場合においてもその
指定した位置が３次元立体のなかのどの部分にあたるか
を直観的に把握できるようにするための配慮が為されて
いなかった。
［発明の目的］
本発明は３次元立体映像情報から表示しようとする断層
−の断層面の位置及び角度を指定することができ、断層
像の空間的位置関係の把握を容易に為し得るようにする
ことを目的とする。
−の断層面の位置及び角度を指定することができ、断層
像の空間的位置関係の把握を容易に為し得るようにする
ことを目的とする。
し発明の概要］
本発明は上記目的を達成するため３次元立体像を記憶す
る記憶手段と、断層像を表示する表示部を有し該表示部
の位置及び角度を変化することのできる表示手段と、上
記表示部の位置及び角度を検出する位置角度検出手段と
、上記記憶手段に記憶された３次元立体像から上記位置
角度検出手段により検出された位置及び角度の断層面上
の断層像を作成した」−記表示手段の表示部にての作成
した断層像を表示させる画像作成手段と、からなること
を特徴とするものである。
る記憶手段と、断層像を表示する表示部を有し該表示部
の位置及び角度を変化することのできる表示手段と、上
記表示部の位置及び角度を検出する位置角度検出手段と
、上記記憶手段に記憶された３次元立体像から上記位置
角度検出手段により検出された位置及び角度の断層面上
の断層像を作成した」−記表示手段の表示部にての作成
した断層像を表示させる画像作成手段と、からなること
を特徴とするものである。
［発明の実施例］
以下、本発明を図示実施例に従って説明する。
第１図は本発明の一実施例を示す回路１１７９図である
。同図において、１は断層像を後述する表示部にて表示
する表示手段で、例えば液晶ディスプレイ、ＣＲＴ等が
用いられる。２は表示手段１の表示部の位置及び角度を
検出する位置角度検出器で、例えばポテンショメータか
らなる。３は被検体の３次元映像情報を記憶するメモリ
、４はメモリアドレス制御部で、メモリ３から上記表示
手段１へ読み出す信号のアドレス制御をする。具体的に
は上記位置角度検出器２ににって検出された位置及び角
度を有する断層面上の像が得られるようにアドレス制御
をする。
。同図において、１は断層像を後述する表示部にて表示
する表示手段で、例えば液晶ディスプレイ、ＣＲＴ等が
用いられる。２は表示手段１の表示部の位置及び角度を
検出する位置角度検出器で、例えばポテンショメータか
らなる。３は被検体の３次元映像情報を記憶するメモリ
、４はメモリアドレス制御部で、メモリ３から上記表示
手段１へ読み出す信号のアドレス制御をする。具体的に
は上記位置角度検出器２ににって検出された位置及び角
度を有する断層面上の像が得られるようにアドレス制御
をする。
第２図は上記位置角度検出器２の位置検出機構を示す斜
視図である。同図において、５は表示手段１の平板状の
表示部を示し６は傾いた状態における表示部、７は表示
部をその中心Ｏにて傾動可能に指示する棒状の支持器で
、垂直に設けられている。８は表示部５の中心ＯのＸ軸
上における位置を検出するＸ方向位置検出用ポテンショ
メータ、９は表示部５の中心ＯのＹ軸」−における位置
を検出するＹ方向位置検出用ポテンショメータ、１０は
表示部５の中心のＺ軸上における位置（高さ）を検出す
るＺ方向位置検出用ポテンショメータである。
視図である。同図において、５は表示手段１の平板状の
表示部を示し６は傾いた状態における表示部、７は表示
部をその中心Ｏにて傾動可能に指示する棒状の支持器で
、垂直に設けられている。８は表示部５の中心ＯのＸ軸
上における位置を検出するＸ方向位置検出用ポテンショ
メータ、９は表示部５の中心ＯのＹ軸」−における位置
を検出するＹ方向位置検出用ポテンショメータ、１０は
表示部５の中心のＺ軸上における位置（高さ）を検出す
るＺ方向位置検出用ポテンショメータである。
第３図は表示部５を下から児た図で、１１は表示部５の
傾斜角度を検出する角度検出用ポテンショメータであり
、第２図及び第３図に示した各ポテンショメータ８，９
．１０及び１１によって位置角度検出器２が構成される
。
傾斜角度を検出する角度検出用ポテンショメータであり
、第２図及び第３図に示した各ポテンショメータ８，９
．１０及び１１によって位置角度検出器２が構成される
。
次に、第１図乃至第３図によって示された断層像表示装
置の動作を説明する。
置の動作を説明する。
表示部５は上下左右に移動し、また表示部５を傾けると
各ポテンショメータ８，９，１０及び１１により表示部
５の空間的位置及び角度が検出され、検出信号メモリア
ドレス制御部４に送られる。
各ポテンショメータ８，９，１０及び１１により表示部
５の空間的位置及び角度が検出され、検出信号メモリア
ドレス制御部４に送られる。
メモリアドレス制御部４は表示部５の空間的位置及び角
度についての検出信号を受けるとその検出信号ににって
示された空間的位置、角度の断層面上の像を読み出すよ
うにメモリ３をアドレス制御する。その結果、表示手段
１の表示部５上に上記断層面上の像、即ち断層像が表示
される。第４図はメモリ３に記憶された３次元立体像１
２を示し、１３．１４は表示部５の空間的位置、角度に
対応した断層面を示す。具体的には無頭状態の表示部５
と断層面１３とが対応し、第２図に破線で示すように傾
いた状態の表示部６と断層面１４とが対応する。
度についての検出信号を受けるとその検出信号ににって
示された空間的位置、角度の断層面上の像を読み出すよ
うにメモリ３をアドレス制御する。その結果、表示手段
１の表示部５上に上記断層面上の像、即ち断層像が表示
される。第４図はメモリ３に記憶された３次元立体像１
２を示し、１３．１４は表示部５の空間的位置、角度に
対応した断層面を示す。具体的には無頭状態の表示部５
と断層面１３とが対応し、第２図に破線で示すように傾
いた状態の表示部６と断層面１４とが対応する。
従って、表示部５をＸ、Ｙ、Ｚ方向に動かすと表示部５
に示される断層像の位置もＸ、Ｙ、Ｚ方向に移動し、ま
た、表示部５を傾けると断層像の面もそれに応じて傾く
。第５図（ａ）と（ｂ）、第６図（ａ）と（ｂ）は共に
表示部５とそれに対応した断層面とを示す。
に示される断層像の位置もＸ、Ｙ、Ｚ方向に移動し、ま
た、表示部５を傾けると断層像の面もそれに応じて傾く
。第５図（ａ）と（ｂ）、第６図（ａ）と（ｂ）は共に
表示部５とそれに対応した断層面とを示す。
尚、表示に際して表示部５の中心Ｏの（Ｘ、Ｙ。
７）座標値あるいは断層面の４つの頂点Ａ、Ｂ。
Ｃ，Ｄの座標、断層面の傾き等を断層像と共に表示部５
により表示することとすれば３次元立体顧における断層
像の空間的位置をより一層明確にする事ができる。
により表示することとすれば３次元立体顧における断層
像の空間的位置をより一層明確にする事ができる。
以上に述べたところから明らかなように、上記断層像表
示装置によれば表示部を任意の位置に移動することによ
って表示部に表示される断層像の３次元立体像内におけ
る位置を自由に変えることができる。そして、表示部の
位置と表示部に表示される断層像の位置とが空間的に対
応するので表示部に表示されている断層像が３次元立体
のどの断層面の像であるかを表示部の位置、傾きから直
観的に把握することができる。
示装置によれば表示部を任意の位置に移動することによ
って表示部に表示される断層像の３次元立体像内におけ
る位置を自由に変えることができる。そして、表示部の
位置と表示部に表示される断層像の位置とが空間的に対
応するので表示部に表示されている断層像が３次元立体
のどの断層面の像であるかを表示部の位置、傾きから直
観的に把握することができる。
本発明は上記実施例に限定されるものではなく、例えば
、表示部に表示される断層像の大きさ、表示部の移動す
る範囲、座標空間を自由に変化させることができるよう
にするなど本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形し
て実施することができる。
、表示部に表示される断層像の大きさ、表示部の移動す
る範囲、座標空間を自由に変化させることができるよう
にするなど本発明の要旨を逸脱しない範囲で種々変形し
て実施することができる。
「発明の効果」
以−１−に述べた本発明によれば、断層像を表示する表
示部と、その表示部の位置及び角度を検出する位置角度
検出手段と、３次元立体像を記憶するメモリと、上記位
置角度検出手段からの上記表示部の位置角度情報に基づ
いて上記メモリからその情報に指定された断層面上の断
層像を作成するように上記メモリを７ドレス制御するメ
モリアドレス制御手段とを有するので３次元立体の任意
の断層面の断層像を表示部によって観ることができ、得
られた断層像の３次元立体内における位置を直観的に把
握することができる。
示部と、その表示部の位置及び角度を検出する位置角度
検出手段と、３次元立体像を記憶するメモリと、上記位
置角度検出手段からの上記表示部の位置角度情報に基づ
いて上記メモリからその情報に指定された断層面上の断
層像を作成するように上記メモリを７ドレス制御するメ
モリアドレス制御手段とを有するので３次元立体の任意
の断層面の断層像を表示部によって観ることができ、得
られた断層像の３次元立体内における位置を直観的に把
握することができる。
第１図は本発明にかかる断層像表示装置の一実施例を示
すブロック図、第２図は表示手段及び位置角度検出器を
示す斜視図、第３図は位置角度検出器の特に角度検出部
を示す斜視図、第４図は表示手段に表示される断層像と
３次元立体との関係を示す図、第５図（ａ）、（ｂ）は
表示手段とそれに対応する断層像との１つの位置関係を
示す図、第６図（ａ）、（ｂ）は同じく別の位買関係例
を示す図である。 １・・・表示手段、２・・・位置角度検出手段、３・・
・記憶手段、４・・・画像作成手段、５・・・表示部。
すブロック図、第２図は表示手段及び位置角度検出器を
示す斜視図、第３図は位置角度検出器の特に角度検出部
を示す斜視図、第４図は表示手段に表示される断層像と
３次元立体との関係を示す図、第５図（ａ）、（ｂ）は
表示手段とそれに対応する断層像との１つの位置関係を
示す図、第６図（ａ）、（ｂ）は同じく別の位買関係例
を示す図である。 １・・・表示手段、２・・・位置角度検出手段、３・・
・記憶手段、４・・・画像作成手段、５・・・表示部。
Claims (1)
- （１）３次元立体像を記憶する記憶手段と、断層像を表
示する表示部を有し該表示部の位置及び角度を変化する
ことのできる表示手段と、上記表示部の位置及び角度を
検出する位置角度検出手段と、上記記憶手段に記憶され
た３次元立体像から上記位置角度検出手段により検出さ
れた位置及び角度の断層面上の断層像を作成した上記表
示手段の表示部にその作成した断層像を表示させる画像
作成手段とからなることを特徴とする断層像表示装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60162075A JPS6222628A (ja) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | 断層像表示装置 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP60162075A JPS6222628A (ja) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | 断層像表示装置 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS6222628A true JPS6222628A (ja) | 1987-01-30 |
Family
ID=15747609
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP60162075A Pending JPS6222628A (ja) | 1985-07-24 | 1985-07-24 | 断層像表示装置 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6222628A (ja) |
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS646886A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-11 | Shimadzu Corp | Spect device |
| JPS646887A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-11 | Shimadzu Corp | Spect device |
| JP2013070925A (ja) * | 2011-09-29 | 2013-04-22 | Toshiba Corp | 画像処理表示装置及び画像処理表示プログラム |
| JP2015116409A (ja) * | 2013-12-19 | 2015-06-25 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
-
1985
- 1985-07-24 JP JP60162075A patent/JPS6222628A/ja active Pending
Cited By (4)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS646886A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-11 | Shimadzu Corp | Spect device |
| JPS646887A (en) * | 1987-06-30 | 1989-01-11 | Shimadzu Corp | Spect device |
| JP2013070925A (ja) * | 2011-09-29 | 2013-04-22 | Toshiba Corp | 画像処理表示装置及び画像処理表示プログラム |
| JP2015116409A (ja) * | 2013-12-19 | 2015-06-25 | 株式会社日立メディコ | Ｘ線ｃｔ装置 |
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