JPS6221952Y2 - - Google Patents
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- Publication number
- JPS6221952Y2 JPS6221952Y2 JP1979176132U JP17613279U JPS6221952Y2 JP S6221952 Y2 JPS6221952 Y2 JP S6221952Y2 JP 1979176132 U JP1979176132 U JP 1979176132U JP 17613279 U JP17613279 U JP 17613279U JP S6221952 Y2 JPS6221952 Y2 JP S6221952Y2
- Authority
- JP
- Japan
- Prior art keywords
- wavelength
- spectrometer
- fluorescence
- excitation
- peak
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Expired
Links
- 230000005284 excitation Effects 0.000 claims description 38
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims description 4
- 230000033001 locomotion Effects 0.000 claims description 3
- 230000007704 transition Effects 0.000 claims 1
- 238000002189 fluorescence spectrum Methods 0.000 description 5
- 238000001069 Raman spectroscopy Methods 0.000 description 4
- 238000000034 method Methods 0.000 description 3
- 230000035945 sensitivity Effects 0.000 description 3
- 238000001506 fluorescence spectroscopy Methods 0.000 description 2
- 238000005375 photometry Methods 0.000 description 2
- 238000012790 confirmation Methods 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 description 1
Landscapes
- Spectrometry And Color Measurement (AREA)
- Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)
Description
【考案の詳細な説明】
本考案は蛍光分光光度計において蛍光ピークを
探索する装置に関する。蛍光分光光度計で未知試
料の螢光のピークを見出す操作は励起分光器の波
長と螢光分光器の波長の両方を色々に変えて行う
ので甚だ手数を要するもので螢光スペクトルのピ
ークの探索に不馴れな者にとつてはかなり困難な
操作である。本考案は螢光分光分析における螢光
スペクトルのピーク探索操作を簡単にすることを
目的としてなされた。
探索する装置に関する。蛍光分光光度計で未知試
料の螢光のピークを見出す操作は励起分光器の波
長と螢光分光器の波長の両方を色々に変えて行う
ので甚だ手数を要するもので螢光スペクトルのピ
ークの探索に不馴れな者にとつてはかなり困難な
操作である。本考案は螢光分光分析における螢光
スペクトルのピーク探索操作を簡単にすることを
目的としてなされた。
本考案は励起分光器を短波長側にセツトしそこ
から出発して一定波長間隔飛びに段階的に長波長
側に動かして行き、他方螢光分光器の方は励起分
光器の各段階の波長位置毎に長波長位置と励起分
光器の出している波長と同じ波長の位置との間で
波長走査を行わせ、ピークが検出されると螢光分
光器をその位置に停止させて螢光分光器の方に波
長走査を行わせて螢光ピークを索出するようにし
た螢光分光光度計を提供する。
から出発して一定波長間隔飛びに段階的に長波長
側に動かして行き、他方螢光分光器の方は励起分
光器の各段階の波長位置毎に長波長位置と励起分
光器の出している波長と同じ波長の位置との間で
波長走査を行わせ、ピークが検出されると螢光分
光器をその位置に停止させて螢光分光器の方に波
長走査を行わせて螢光ピークを索出するようにし
た螢光分光光度計を提供する。
第１図は本考案装置による螢光ピーク探索動作
を説明するもので横軸は励起分光器の波長、縦軸
は螢光分光器の波長を示す。まず励起分光器を例
えば200nm位置にセツトし螢光分光器を200nmか
ら1000nmまで波長走査させる。縦線イはこの走
査範囲を示している。螢光ピーク探索に当つては
螢光分光器の感度は最大にセツトしておき小さな
ピークでも検出できるようにしておく。縦線イに
沿う波長走査でピークが見つからなかつたときは
励起分光器を例えば100nm長波長側に移して
300nm位置に移し、螢光分光器を300nmから
1000nmの間で波長走査させる。以下同様の操作
を励起分光器を100nm飛びの波長位置にセツトし
ては繰返す。この繰返しに当つて螢光分光器の波
長走査範囲の短波長側の端は励起分光器がセツト
されている波長と同じに採る。これは螢光は必ず
励起光より長波長側に出るので励起光の波長より
短い波長域まで走査域を延ばす必要性がないこと
による。このようにして励起波長を100nm飛びに
長波長側に移しながら螢光波長の走査を行つてい
き、ハで示す螢光波長走査の際螢光ピークが検出
されたとする。P′がその螢光ピークで走査線ハの
上端の横線は螢光分光器の出力を示す。ピーク
P′が検出されたら今度は螢光分光器をピークP′の
頂上波長位置に固定し、励起分光器の波長走査を
行う。この波長走査の範囲はその段より一段前即
ち今の例では100nm短い波長位置から長波長側へ
向つて行う。横線ニはこのときの励起分光器の波
長走査を示す。横線ニの右端の垂直線は螢光分光
器（このとき波長は固定している）の出力を示
し、横線ニの上側に画いたような螢光の励起光ス
ペクトルが得られピークＰが見つかる。そこでピ
ークＰの頂上に相当する励起分光器の波長位置で
縦線ホに沿つて螢光分光器を波長走査を行うと試
料の螢光スペクトルが得られる。
を説明するもので横軸は励起分光器の波長、縦軸
は螢光分光器の波長を示す。まず励起分光器を例
えば200nm位置にセツトし螢光分光器を200nmか
ら1000nmまで波長走査させる。縦線イはこの走
査範囲を示している。螢光ピーク探索に当つては
螢光分光器の感度は最大にセツトしておき小さな
ピークでも検出できるようにしておく。縦線イに
沿う波長走査でピークが見つからなかつたときは
励起分光器を例えば100nm長波長側に移して
300nm位置に移し、螢光分光器を300nmから
1000nmの間で波長走査させる。以下同様の操作
を励起分光器を100nm飛びの波長位置にセツトし
ては繰返す。この繰返しに当つて螢光分光器の波
長走査範囲の短波長側の端は励起分光器がセツト
されている波長と同じに採る。これは螢光は必ず
励起光より長波長側に出るので励起光の波長より
短い波長域まで走査域を延ばす必要性がないこと
による。このようにして励起波長を100nm飛びに
長波長側に移しながら螢光波長の走査を行つてい
き、ハで示す螢光波長走査の際螢光ピークが検出
されたとする。P′がその螢光ピークで走査線ハの
上端の横線は螢光分光器の出力を示す。ピーク
P′が検出されたら今度は螢光分光器をピークP′の
頂上波長位置に固定し、励起分光器の波長走査を
行う。この波長走査の範囲はその段より一段前即
ち今の例では100nm短い波長位置から長波長側へ
向つて行う。横線ニはこのときの励起分光器の波
長走査を示す。横線ニの右端の垂直線は螢光分光
器（このとき波長は固定している）の出力を示
し、横線ニの上側に画いたような螢光の励起光ス
ペクトルが得られピークＰが見つかる。そこでピ
ークＰの頂上に相当する励起分光器の波長位置で
縦線ホに沿つて螢光分光器を波長走査を行うと試
料の螢光スペクトルが得られる。
上述のようにして得られた螢光ピークがラマン
線によるものでないことを確認するには更に励起
波長を横線ホより約10nmずらせて螢光分光器の
波長走査を行つて螢光スペクトルを画かせその螢
光ピークの位置を縦線ホの走査によつて得られた
螢光スペクトルにおける螢光ピーク位置と較べ位
置が変つていなければ真の螢光ピークであり、位
置が変つておれば（約10nm）ラマン線であると
判定できる。ラマン線は励起光の波長の前後一定
波長距つた所に現われるものだからこの方法によ
つて判定することができる。
線によるものでないことを確認するには更に励起
波長を横線ホより約10nmずらせて螢光分光器の
波長走査を行つて螢光スペクトルを画かせその螢
光ピークの位置を縦線ホの走査によつて得られた
螢光スペクトルにおける螢光ピーク位置と較べ位
置が変つていなければ真の螢光ピークであり、位
置が変つておれば（約10nm）ラマン線であると
判定できる。ラマン線は励起光の波長の前後一定
波長距つた所に現われるものだからこの方法によ
つて判定することができる。
次に本考案の一実施例を説明する。第２図に本
考案の一実施例を示す。１は励起分光器、２は螢
光分光器でＳは試料である。３，４は上記二つの
分光器を駆動するパルスモータで、Ｇ１，Ｇ２は
上記パルスモータに駆動パルスを与えるパルスジ
エネレータであり、制御回路CPUにより制御さ
れる。CPUではパルス数を計数して励起及び螢
光の各分光器のそのときの位置における波長を算
出し表示装置Ｄ１，Ｄ２に表示している。５は測
光回路で螢光分光器２から射出される光を測光し
その出力は記録計６に送られて記録されると共に
ピーク検出回路７に送られるようになつている。
制御回路CPUは次のような動作をするようプロ
グラムが与えられている。操作者が波長範囲を例
えば300nmと1000nmと云うように設定し装置を
スタートさせると、CPUはまず励起分光器を設
定波長範囲の短波長端にセツトし、次いで螢光分
光器を励起分光器と同じ波長位置にセツトし、長
波長側へ駆動して行く。而して設定波長範囲の長
波長端（今の例では1000nm）まで来たら、螢光
分光器２を短波長側へ戻すと共に励起分光器１の
波長位置を一定例えば波長で100nm分だけ長波長
側に駆動し、螢光分光器２を励起分光器１と同じ
波長位置から長波長端へと駆動する。以下同様の
操作を繰返し、ピーク検出器７からピーク検出信
号が出力されるとCPUは螢光分光器２をそのと
きの波長位置に停止させ、励起分光器１を100nm
だけ短波長側に戻して長波長側へ駆動して行く。
この操作ステツプでピーク検出器７から再びピー
ク検出信号が出るから、励起分光器１をその位置
で停止させ、螢光分光器２を長波走査させる。以
上でCPUの一回の動作が終る。後操作者は自己
の判断で求められたピークがラマン線でないか確
認をする。この確認動作（と云つても励起波長を
少しずらせて螢光スペクトルを画かせるだけの動
作）をもCPUのプログラムに入れておいてもよ
い。以上の動作は測光回路の最大感度で行い、測
光出力がスケールオーバーするときは感度を例え
ば1/10に落すようにする。
考案の一実施例を示す。１は励起分光器、２は螢
光分光器でＳは試料である。３，４は上記二つの
分光器を駆動するパルスモータで、Ｇ１，Ｇ２は
上記パルスモータに駆動パルスを与えるパルスジ
エネレータであり、制御回路CPUにより制御さ
れる。CPUではパルス数を計数して励起及び螢
光の各分光器のそのときの位置における波長を算
出し表示装置Ｄ１，Ｄ２に表示している。５は測
光回路で螢光分光器２から射出される光を測光し
その出力は記録計６に送られて記録されると共に
ピーク検出回路７に送られるようになつている。
制御回路CPUは次のような動作をするようプロ
グラムが与えられている。操作者が波長範囲を例
えば300nmと1000nmと云うように設定し装置を
スタートさせると、CPUはまず励起分光器を設
定波長範囲の短波長端にセツトし、次いで螢光分
光器を励起分光器と同じ波長位置にセツトし、長
波長側へ駆動して行く。而して設定波長範囲の長
波長端（今の例では1000nm）まで来たら、螢光
分光器２を短波長側へ戻すと共に励起分光器１の
波長位置を一定例えば波長で100nm分だけ長波長
側に駆動し、螢光分光器２を励起分光器１と同じ
波長位置から長波長端へと駆動する。以下同様の
操作を繰返し、ピーク検出器７からピーク検出信
号が出力されるとCPUは螢光分光器２をそのと
きの波長位置に停止させ、励起分光器１を100nm
だけ短波長側に戻して長波長側へ駆動して行く。
この操作ステツプでピーク検出器７から再びピー
ク検出信号が出るから、励起分光器１をその位置
で停止させ、螢光分光器２を長波走査させる。以
上でCPUの一回の動作が終る。後操作者は自己
の判断で求められたピークがラマン線でないか確
認をする。この確認動作（と云つても励起波長を
少しずらせて螢光スペクトルを画かせるだけの動
作）をもCPUのプログラムに入れておいてもよ
い。以上の動作は測光回路の最大感度で行い、測
光出力がスケールオーバーするときは感度を例え
ば1/10に落すようにする。
以上の実施例では励起波長を飛び飛びに変えな
がら螢光分光器で波長走査を行つている段階で最
初にピークが見出された所で、そのピークを手掛
かりにそのピークの真の頂上を検出して行く動作
を行つている。実際には螢光ピークは複数あるこ
とが多いので、上の方式では複数のピークのうち
端に位置しているものを見付けることになる。そ
こで最初のピークが見出された所で、そのピーク
の真の頂上の検出に移らず、一応その段階で螢光
分光器は所定の全波長域の走査を行い、複数のピ
ークがあるときはその各ピークについて励起分光
器の走査を行い、最も高いピークについてその励
起波長で再び螢光分光器の波長走査を行うと云う
ようにCPUのプログラムを組むこともできる。
がら螢光分光器で波長走査を行つている段階で最
初にピークが見出された所で、そのピークを手掛
かりにそのピークの真の頂上を検出して行く動作
を行つている。実際には螢光ピークは複数あるこ
とが多いので、上の方式では複数のピークのうち
端に位置しているものを見付けることになる。そ
こで最初のピークが見出された所で、そのピーク
の真の頂上の検出に移らず、一応その段階で螢光
分光器は所定の全波長域の走査を行い、複数のピ
ークがあるときはその各ピークについて励起分光
器の走査を行い、最も高いピークについてその励
起波長で再び螢光分光器の波長走査を行うと云う
ようにCPUのプログラムを組むこともできる。
本考案装置は上述したような構成で励起波長と
螢光波長とで定まる平面上における２次元的なピ
ーク探索の動作を自動的に手順よく進行させて行
くので、螢光ピークの探索に不馴れな操作者でも
容易に未知試料の螢光を見出すことが可能であ
り、励起分光器の短波長側からスタートするので
分光器の動かし量が最小限に留められるので分光
器の寿命を長くすることにもなる。
螢光波長とで定まる平面上における２次元的なピ
ーク探索の動作を自動的に手順よく進行させて行
くので、螢光ピークの探索に不馴れな操作者でも
容易に未知試料の螢光を見出すことが可能であ
り、励起分光器の短波長側からスタートするので
分光器の動かし量が最小限に留められるので分光
器の寿命を長くすることにもなる。
第１図は本考案装置の動作を説明するグラフ、
第２図は本考案の一実施例装置の構成を示すブロ
ツク図である。 ３，４……パルスモータ、Ｇ１，Ｇ２……パル
スジエネレータ、Ｄ１，Ｄ２……波長表示器、
CPU……制御回路、Ｓ……試料。
第２図は本考案の一実施例装置の構成を示すブロ
ツク図である。 ３，４……パルスモータ、Ｇ１，Ｇ２……パル
スジエネレータ、Ｄ１，Ｄ２……波長表示器、
CPU……制御回路、Ｓ……試料。
Claims (1)
- 蛍光分光器の射出光を測光する測光回路と、同
回路の出力のピークを検出するピーク検出器と、
励起分光器及び蛍光分光器を駆動制御する制御回
路とよりなり、上記制御回路に、励起分光器に短
波長側から段階的に長波長側へ移行する動きを与
え、励起分光器の各段の波長位置毎に蛍光分光器
をそれと同じ波長位置と長波長側の適宣位置との
間で波長走査を行わしめ、この間に上記ピーク検
出器からピーク検出信号が出力されたときは蛍光
分光器をその波長位置に停止させ、励起分光器に
同分光器が停止していた波長位置を中心に前後段
の波長範囲で波長走査運動を行わせ、この段階で
前記ピーク検出器から再びピーク検出器が出力さ
れたとき励起分光器をその波長位置に停止させて
蛍光分光器をして波長走査させ、そのときの測光
出力を記録するような動作プログラムを与えてな
る蛍光分光装置における蛍光ピーク探索装置。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1979176132U JPS6221952Y2 (ja) | 1979-12-18 | 1979-12-18 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| JP1979176132U JPS6221952Y2 (ja) | 1979-12-18 | 1979-12-18 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| JPS5692936U JPS5692936U (ja) | 1981-07-24 |
| JPS6221952Y2 true JPS6221952Y2 (ja) | 1987-06-04 |
Family
ID=29686779
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| JP1979176132U Expired JPS6221952Y2 (ja) | 1979-12-18 | 1979-12-18 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| JP (1) | JPS6221952Y2 (ja) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013190618A1 (ja) * | 2012-06-18 | 2013-12-27 | 株式会社島津製作所 | 分光蛍光光度計 |
Families Citing this family (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPH073366B2 (ja) * | 1988-02-24 | 1995-01-18 | 株式会社日立製作所 | 分光蛍光光度計 |
Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4943228A (ja) * | 1972-08-31 | 1974-04-23 |
-
1979
- 1979-12-18 JP JP1979176132U patent/JPS6221952Y2/ja not_active Expired
Patent Citations (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JPS4943228A (ja) * | 1972-08-31 | 1974-04-23 |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| WO2013190618A1 (ja) * | 2012-06-18 | 2013-12-27 | 株式会社島津製作所 | 分光蛍光光度計 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| JPS5692936U (ja) | 1981-07-24 |
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