JPS59230140A - 化学種分布測定装置 - Google Patents

化学種分布測定装置

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Publication number
JPS59230140A
JPS59230140A JP58104117A JP10411783A JPS59230140A JP S59230140 A JPS59230140 A JP S59230140A JP 58104117 A JP58104117 A JP 58104117A JP 10411783 A JP10411783 A JP 10411783A JP S59230140 A JPS59230140 A JP S59230140A
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JP
Japan
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plasma
chemical species
light
laser beam
distribution
Prior art date
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Pending
Application number
JP58104117A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisajiro Osada
長田 久二郎
Takao Edamura
枝村 孝夫
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
Priority to JP58104117A priority Critical patent/JPS59230140A/ja
Publication of JPS59230140A publication Critical patent/JPS59230140A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/645Specially adapted constructive features of fluorimeters
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
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    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/6402Atomic fluorescence; Laser induced fluorescence

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  • Health & Medical Sciences (AREA)
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  • General Physics & Mathematics (AREA)
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  • Pathology (AREA)
  • Optics & Photonics (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕 本発明はプラズマ利用装置(例えばプラズマエツチング
装置)のプラズマ中に存在する活性。
化学種の分布を測定する装置に関するものである。
〔発明の背景〕
従来プラズマ利用装置をモニタする手段としてはプラズ
マ自身の発光が利用されてきた。プラズマ自身の発光で
プラズマ中の発光化学種の分布を測定するためには、上
記発光化学種の一方向から測定した発光分布だけでは不
十分であ。
る。そのため発光化学種の二方向から発光分布の測定ケ
行って発光分布状況を知る手段を用〜・るが、この手段
ではプラズマ中における発光化。
字種の3次元分布の均一性を評価することはできるが、
分布の異常個所が1〜2個所程度の場合しかプラズマ中
の発光化学種の分布をモニタできないという欠点があっ
た。
〔発明の目的〕
本発明の目的はプラズマ中の特定化学種の3次元濃度分
布を、直接的な方法を用いて迅速に測定する高感度な化
学種分布測定装置を得ることにある。
〔発明の概要〕
上記目的を達成するために本発明による化学種分布測定
装置は、プラズマを構成する原子、イオン、分子等の化
学種毎に定まっている特定な励起波長に合わせた発振波
長の色素レーザ光4をレーザ発生機構で発生し、発生し
た色素レーザ光を制御機構により制御されたレーザ走査
機構によってプラズマ利用装置の測定対象内で走査し、
プラズマ中の特定化学種を励起し螢光を発生させる。こ
の方法はレーザ励起螢光法と呼ばれる高感度分析法であ
るが、上記のようにしてレーザ光のビームに沿って生じ
る螢光を固定集光機構で集光し、上記制御機構により制
御されろ受光走査機構を走査させ分画して捉えた螢光を
分光機構で分光した後、光電変換機構によってそれらの
螢光を電気信号に変換し上記制御機構を介して表示機構
に送り、測定点の位置とともに光強度を示す電圧を表示
することによってプラズマ中の特定化学種の分布を測定
するものである。
〔発明の実施例〕
つぎに本発明の実施例を図面とともに説明する。第1図
は本発明による化学種分布測定装置の一実施例を示す構
成図、第2図は上記実施例の動作を示す説明図である。
第1図においてプラズマ利用装置1内のプラズマを構成
する特定化学種の励起波長に合わせた発振波長の色素レ
ーザ光2は、レーザ発生機構3より出射してレーザ走査
機構4の可動鏡5および放物面鏡6で反射し、レーザ光
導入窓7から上記プラズマ利用装置1に入りプラズマ中
の測定点8を通りレーザ光導出窓9からプラズマ利用装
置1の外部に出る。上記可動鏡5は2軸の自由度を有す
る可動鏡駆動部10に支持され、別置された制御機構1
1からの信号によってプラズマの測定範囲内を上記色素
レーザ光2が走査するように構成されている。上記測定
点8にある特定化学種は色素レーザ光2の一部を吸収し
て励起し螢光12を発生するが、この螢光12はプラズ
マ利用装置1の螢光測定窓13から出て集光機構14に
入り集光点15に集められる。集光点15に設けられた
受光走査機構16は前記制御機構11より送られた制御
信号によって受光部の光ファイバ17の先端が集光点1
5に沿って移動できるようにしである。プラズマ利用装
置1内で発生する螢光は全方向に照射されるので、本実
施例は螢光の集光感度を上げるために固定された大形の
集光機構を設は受光部の元ファイバ17が移動するよう
に構成されている。色素レーザ光2が測定対象内を走査
することにより螢光発生位置も変り、このため集光機構
の焦点はそれぞれ異った位置に結ぶので受光部の光ファ
イバ17を移動させるために6自由度の受光走査機構を
設けている。上記光ファイバ17で受光された螢光12
は分光機構18に辺られ該分光機構18で特定化学種の
螢光波長の先のみを選択して光電変換機構19に送り、
その光強度を電圧に変換し制御機構11に送信する。制
御機構11は前記測定点8の位置情報とともに光電変換
機構19から送信された電圧値を表示機構20に送り、
表示機構20がこれらの測定値を表示する。
測定点は測定対象内の上下、左右、前後それぞれの方向
を等間隔に分けた格子点上にあり、これらの各格子点で
次々に測定できるように上1記制御機構11がレーザ走
査機構4および受光走査機構16を動かすが、この動作
を第2図によって説明する。新しい測定点8・を色素レ
ーザ光2′が通るようにレーザ走査機構4の可動鏡駆動
部10に制御機構11より制御信号を送ると、出射され
た色素レーザ光2・は新しい測定点8′を励起し該測定
点8・から発生する螢光12・は集光機構14を通過し
新しい集光点15・に集まる。レーザ光走査機構4は口
側定点8および新測定点81に色素レーザ光を照射する
ために、レーザ照射方向に対して上下、左右の2方向に
振れるようにすればよいが、新年光点15’は旧集光点
15に対し上下、左右、前後の3方向に移動することに
なるから、受光走査機構16は3方向の自由度を持つ必
要がある。測定点8′が新らしく決まるとそれに対する
新しい集光点15・が決まるので、制6!1f機構11
は上記光ファイバ17の先端が集光点151にくるよう
に受光走査機構16に制御信号を送り、集光された螢光
を光フ7・イパ17内に導入する。
その後の経過は上記と同様である。
〔発明の効果〕
上記のように本発明による化学種分布測定装置は、プラ
ズマ利用装置内のプラズマを色素レーザ光で走査してプ
ラズマ中の特定化学種から螢光を発生させ、固定された
集光機構で上記螢1元を集光し光ファイバの受光部を走
査させて集光を分光機構に送り、分光により特定化学種
の螢光波長の光強度を電圧に変え゛て測定位置とともに
表示するものであるから、大きな固定された集光機構を
備え比較的小さな受光部分のみを移動させることによっ
て特定化学種が発する螢光を分画して測定することがで
きる。そのため測定対象内の3次元の化学種濃度分布の
測定を高感度で正確に、しかも迅速に行えるという効果
がある。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明による化学種分布測定装置の一実施例を
示す構成図、第2図は上記実施例の動作を示す説明図で
ある。 1・・・プラズマ利用装置 2・・・色素レーザ光3・
・・レーザ発生機構  4・・・レーザ光走査機構11
・・・制御機構      12−3.螢光14・・・
集光機構     16・・・受光走査機構18・・・
分光機構     19・・・′″#S電変換機4iH
τ20・・・表示機構 ボ 1 図 第2図

Claims (1)

  1. 【特許請求の範囲】 プラズマ利用装置内のプラズマを構成する化学種の分布
    を測定する装置であって、上記プラズマ中の特定化学種
    のみを励起する色素レーザ光を発生するレーザ発生機構
    と、該レーザ発生機構から出射される色素レーザ光を上
    記プラズマ中の一定範囲を走査して照射させるレーザ光
    走五機構と、上記色素レーザ光により励起されプラズマ
    利用装置内で発生した螢光を集光する固定集光機構と、
    集光範囲内を走査して上記集光された螢光乞一定区画@
    に受光する受光走査イ(&構と、該受光走査機構で捉え
    た螢光を分光する分光機構と、該分光機構で分光した螢
    光の強度を1肛気信号に変換する光電変換機構と、上記
    レーザ発生機構とレーザ走査機構および受光走査機構を
    制御する制御機構と、該制御機構から得られる測矩点の
    位置′l′lf報とともに上記制御機411^を介して
    光電変換機構から送られる電気信号。 により光の強度を表示する表示機構とを備えたことを特
    徴とする化学種分布測定装置。
JP58104117A 1983-06-13 1983-06-13 化学種分布測定装置 Pending JPS59230140A (ja)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
JP58104117A JPS59230140A (ja) 1983-06-13 1983-06-13 化学種分布測定装置

Applications Claiming Priority (1)

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JP58104117A JPS59230140A (ja) 1983-06-13 1983-06-13 化学種分布測定装置

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JPS59230140A true JPS59230140A (ja) 1984-12-24

Family

ID=14372179

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JP58104117A Pending JPS59230140A (ja) 1983-06-13 1983-06-13 化学種分布測定装置

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JP (1) JPS59230140A (ja)

Cited By (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS62259027A (ja) * 1986-05-02 1987-11-11 Hitachi Ltd 走査型応力測定方法

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* Cited by examiner, † Cited by third party
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