JPS61200446A - プラズマ分布モニタ - Google Patents

プラズマ分布モニタ

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JPS61200446A
JPS61200446A JP60038706A JP3870685A JPS61200446A JP S61200446 A JPS61200446 A JP S61200446A JP 60038706 A JP60038706 A JP 60038706A JP 3870685 A JP3870685 A JP 3870685A JP S61200446 A JPS61200446 A JP S61200446A
Authority
JP
Japan
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laser beam
optical fiber
laser
fluorescent
plasma
Prior art date
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Pending
Application number
JP60038706A
Other languages
English (en)
Inventor
Hisajiro Osada
長田 久二郎
Yuzuru Komiyama
小宮山 譲
Akira Okamoto
明 岡本
Masao Kanekawa
金川 真佐雄
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Hitachi Ltd
Original Assignee
Hitachi Ltd
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Publication date
Application filed by Hitachi Ltd filed Critical Hitachi Ltd
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Publication of JPS61200446A publication Critical patent/JPS61200446A/ja
Pending legal-status Critical Current

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    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N21/6402Atomic fluorescence; Laser induced fluorescence
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01NINVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N21/00Investigating or analysing materials by the use of optical means, i.e. using sub-millimetre waves, infrared, visible or ultraviolet light
    • G01N21/62Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light
    • G01N21/63Systems in which the material investigated is excited whereby it emits light or causes a change in wavelength of the incident light optically excited
    • G01N21/64Fluorescence; Phosphorescence
    • G01N2021/6417Spectrofluorimetric devices

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  • Pathology (AREA)
  • Investigating, Analyzing Materials By Fluorescence Or Luminescence (AREA)

Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 〔発明の利用分野〕   ゛ 本発明は、プラズマ利用装V内の原子、イオン等の化学
種の三次元的濃度分布を測定するためのレーザ励起蛍光
方式のプラズマ分布モ二りに関するものである。
〔発明の背景〕
レーザ励起蛍光方式によるプラズマ分布モニタでは、レ
ーザ光を測定対象内にくまなく走査し、これに連動して
測定点毎に先導入装置で蛍光を光検出装置に導入するの
で、先導入装置の動きが複雑になり、測定に時間がかか
る欠点があった。
〔発明の目的〕
本発明の目的は、前記従来技術の欠点をなくし、レーザ
励起蛍光方式のプラズマ分布そニタの先導入装置のスキ
ャンを簡素忙し、迅速に測定できるプラズマ分布モニタ
を提供する忙ある。
〔発明の概要〕
本発明の特徴は、先導入装置に複数本の光ファイバを用
いて、同時に複数の測定点の蛍光を光検出装置に導入す
ることで迅速化を図るものである。このため光検出装置
でも同時検出が可能な線状光検出器を用いるものである
〔発明の実施例〕
以下本発明を図面忙基づいて説明する。
第1図は本発明の一実施例を示し、第2図はそのフロー
チャートを示す。
その第1図忙示される実施例のものは、プラズマ利用装
置17.レーザ光発生装置である波長可変レーザ1.レ
ーザ光スキャン装置7.先導入装置32.光トラップ2
2.)I+ガ用検出器4゜光検出装置28.マイクロコ
ンピュータ37.および表示装置38とを備えて構成さ
れている。
前記プラズマ利用装置17は、真空容器27.プラズマ
発生用の電極18と電源15.真空ポンプ16゜ガス噴
射用のガス容器21と調整弁20とを有している。前記
真空容器27には、レーザ光スキャン用の窓14.ケイ
光導入用の窓25.レーザ光通過用の窓23がそれぞれ
形成され、レーザ光スキャン用の窓14とレーザ光通過
用の窓23は真空容器27の直径方向の両端部に当たる
位置に形成され。
ケイ光導入用の窓25は前記レーザ光スキャン用の窓1
4とレーザ光通過用の窓23を結ぶ直線と略直角な位置
、すなわち真空容器27の内部を通過するレーザ光ビー
ム19と略直角な位置に形成されている。
前記波長可変レーザlは、真空容器27内で発生するプ
ラズマ中の特定化学種の励起波長に発振波長を合わせて
レーザ光2を発射しうるように構成されている。この波
長可変レーザ1から発射されたレーザ光2はレーザ光ス
ブリ7夕3によりレーザ光スキャン装置7の光コアイノ
く6につながるレンズ5と、トリガ用検出器4とに分割
されろようになっているう 前記レーザ光スキャン装置7は固定台9.移動台8.第
1.第2のモータ12 、13 、スクリューロッド1
0.光フアイバ取付台39.レーザ光集光用のレンズ5
.光ファイバ6、平行光変換用のレンズ11とを有して
いる。前記移動台8は、固定台9上に載置され、第1の
モータ12により真空容器27の軸方向に移動操作され
ろようKなっティる。前記スクリューシャフト10は、
移動台8上に設置されかつ第2のモータ13に連結され
ている。前記光フアイバ取付台39は、前記スクリュー
シャフト10に装着されている。前記光ファイバ6は、
レンズ11と共に、光フアイバ取付台39上に設置され
、一端部はレーザ光スプリッタ3により分割されたレー
ザ光2′がレンズ5に集光される位置に配置され、他端
部はレンズ11と共に第1のモータ12と移動台80作
動てより真空容器27の軸方向く移動操作され、またw
c2のモータ13とスクリューシャフト10と光コアイ
ノく取付台39の作動により真空容器27の中心部と定
位置である前記窓14の中心部とを結ぶ直線と直交する
方向に移動操作され、前記二方向の移動操作によりレー
ザ光2′を、前記窓14を通じてレーザ光ビーム19と
してモニタ対象内にくまなくスキャンし5るように構成
されている。また、前記第1.IIE2のモータ12 
、13は前記マイクロコンピュータ37に接続されてい
る。
前記先導入装置32は、真空容器27に形成されたケイ
光導入用の窓25に対応する位置に設置されている。こ
の先導入装置32は、固定台31.モータ29.蛍光集
光用のレンズ26.光フアイバ群33゜光ファイバ群取
付台30とを備えている。光ファイバ群取付台30は、
固定台31上に載置されかつモータ29により真空容器
27の軸方向に移動操作されるようになっている。前記
レンズ26及び前記光フアイバ群33は、光ファイバ群
取付台30上に設置されており、光フアイバ群33の一
端部は前記ケイ光導入用の窓25に臨みレンズ26の集
光位置にあり、レーザ光ビーム19に沿う方向K 一定
ピツチで並んでおり、他端部は光検出装!28の分光器
34に接続されている。また、光フアイバ群33の一端
部はレンズ26と共にモータ29と光ファイバ群取付台
30の作動により真空容器27の軸方向に移動操作され
、ケイ光24を導入しうるように構成されている。また
前記モータ29もマイクロコンピュータ37に接続され
ている。
前記光トラップ22は、真空容器27に形成されたレー
ザ光通過用の窓23に対峙させて設置され。
真空容器27内を通過したレーザ光をトラップするよう
になっている。
前記トリガ用検出器4は、レーザ光スプリッタ3で分割
されたレーザ光2の光路上に配置され、かつ光検出装置
28の増巾器36に接続されており、前記レーザ光スプ
リッタ3を通じてレーザ光2の発射を検出し、その信号
を光検出装置28の増巾器36に挿入するよう虻なって
いる。
前記光検出装置28は1分光器34.これ九連結された
線状光検出器35.これに接続された増巾器36とを備
えている。前記分光器34は、先導入装置32の光フア
イバ群33により導かれたケイ光24を分光する。前記
線状光検出器35は1分光器34で分光された特定波長
のケイ光のみを検出し。
ケイ光の発光量に比例する大きさの電気信号疋変換する
とともだ、その信号を増巾器36に送る。
前記増巾器36は、前述のトリガ用検出器4からの信号
により作動し、前記線状光検出器35から送られ℃くる
ケイ光検出の電気信号を増巾し。
コレラマイクロコンピュータ37に送るようになってい
る。
前記マイクロコンピュータ37は、前記波長可変レーザ
Iと、前記レーザ光スキャン装置7の第1.第2のモー
タ12 、13と、前記先導入装置32のモータ29と
表示装置38とに制御信号を送り。
また前記レーザ光スキャン装置7の第1.第2のモータ
12 、13と、前記先導入装置32のモータ29とに
おける回転方向と回転角とにより、真空容器27内への
レーザ光19のスキャン位置と、ケイ光24の測定位置
とを演算して表示装置38に送り、さらに線状光検出装
置35の増巾器36から送られてくるケイ光検出の電気
信号に基づき、プラズマ中の特定化学種の濃度を算出し
、これも表示装置38に送るよってなっている。
前記表示装置38は、前記マイクロコンピュータ37か
ら送り込まれるレーザ光19のスキャン位置、ケイ光2
4の測定位置およびプラズマ分布を表示する。
前記実施例のプラズマ分布モニタは6次のように制御さ
れ作用する。
すなわち、波長可変レーザ1を真空容器27内の特定化
学種の励起波長に発振波長を合わせてレーザ光を発振し
うるように調整する。
ついで予めマイクロコンビエータ37に与えられたプロ
グラムに従い以下の制御を行う。この制御のフローチャ
ートを@2図に示す。最初にレーザ光スキャン装置7の
第1のモータ12と先導入装置32のモータ29とが制
御され、レーザ光スキャン装置7の移動台8と先導入装
置32の光ファイバ群取付台30とが真空容器27の軸
方向(2方向)に移動操作され、レーザ光スキャン装置
7の光ファイバ6及びレンズ11と先導入装置32の光
フアイバ群33及びレンズ26とが真空容器27の軸方
向の同一位置にセットされ、さら忙レーザ光スキャン装
置7の第2のモータ13が制御され、レーザ光スキャン
装置7の光フアイバ取付台39が真空容器27の中心と
定位置とを結ぶ直線と直交する方向(X方向)に移動操
作され、光フアイバ取付台39を介17て光ファイバ6
及びレンズ11カ任意のレーザ光スキャン位置にセット
され、また光ファイバ群取付台30を介して光フアイバ
群33が測定開始位置にセットされ、これらの位置情報
はマイクロコンピュータ37を通じて表示袋#38に送
られる。
次に、マイクロコンピュータ37からの発射開始信号に
より波長可変レーザ1が制御され、該波長可変レーザ1
からレーザ光2が短時間発射される。このレーザ光2は
、レーザ光スプリッタ3によりレーザ光スキャン装置7
の方向とトリガ用検出器4の方向とに分割され、レーザ
光スキャン装置7の方向に分割されたレーザ光2はレン
ズ5を通じてレーザ光スキャン装置7の光フアイバ6!
/c入射し、該光ファイバ6からレンズ11を通じレー
ザ光スキャン用の窓14を通じて真空容器27内忙導入
され、またトリガ用検出器4の方向に分割されたレーザ
光2はトリガ用検出器4に入射し、該トリガ用検出器4
かも光検出装置28の増巾器36に信号が送られ、増巾
器36が作動する。
前記レーザ光スキャン装置7の光ファイバ6からレンズ
11及び窓14を通じて真空容器27にレーザ光2が導
入されると、そのレーザ光ビーム19内にあるプラズマ
中の特定化学種が励起され。
これによりケイ光24が発生される。このケイ光24は
、レーザ光照射路に沿って一直線状に発生するが、先導
入装置32の光フアイバ群33から見て各々の光ファイ
バの受光角内にあるケイ光24のみが光フアイバ群33
で受光される。
前記先導入装置32の光フアイバ群33.に導かれたケ
イ光24は、光検出装置28の分光器34に導入され、
該分光器34で分光され、特定波長のケイ光のみが線状
光検出器35により、該ケイ光の発光量に比例する大き
さの電気信号に変換され。
その信号はトリガ用検出器4からの信号で作動中の増巾
器36に送られ、該増巾器36で増巾されマイクロコン
ピュータ37に送らレル。
前記−fイクロコンピュータ37では、前述の光検出装
置28によりケイ光24中の特定波長のみのケイ光が発
光量に比例した大きさの電気信号に変換されかつ増巾さ
れて送られてくる電気信号に基づき、プラズマ中の特定
化学種の濃度を算出し、濃度表示信号として表示装置3
8に与える。
前記表示装置38では、前述のレーザ光スキャン位置お
よび測定位置と、プラズマ中の特定化学種の濃度とを表
示する。
前述のごとく、光フアイバ群33をレーザ光ビーム19
方向に一定ピッチで並べて配置し、測定することにより
、レーザ光ビーム19を区画し1区画毎く対応するケイ
光240発光量の変化を検出でき、その検出結果からプ
ラズマ中の特定化学種の分布な測定することができる。
そして、レーザ光スキャン装置7のmx、m2のモータ
12 、13を制御し、モニタ対象に対するレーザ光1
9のスキャン位置を変え、これに合わせて先導入装置3
2のモータ29を制御し、レーザ光スキャン装置7の光
コアイノ(6及びレンズ11に対する先導入装置32の
光フアイバ群33の真空容器27の軸方向の位置合わせ
を行った後、前述のごとく測定する。これを第2図のフ
ローチャートに示すように順次繰返すことにより、プラ
ズマ中の特定化字種の三次元分布を求めることができる
なお1本発明ではレーザ光スキャン装置7゜先導入装置
32.光検出装置28とも、その具体的構造は図示実施
例に限らず、所期の機能を発揮できる構造であればよい
〔発明の効果〕
本発明は1以上説明した構成1作用のもので。
本発明によれば真空容器の軸方向と、真空容器の中心と
定位置とを結ぶ直線と直交する方向との二方向に移動自
在のレーザ光スキャン装置と。
真空容器の軸方向に移動自在で、真空容器内を通過する
レーザ光ビームに沿う方向に並んで配置した光フアイバ
群を有する先導入装置と、これKJl![された線状光
検出器を有する光検出装置との協働くより、レーザ光ビ
ームに溢う方向のスキャンを不要にしかので、プラズマ
利用装・電内のプラズマ三次元分布を迅速く測定できる
効果を有する。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例を示す系統図、@2図は同じ
くフローチャートである。 1・・・波長可変レーザ、 2・・・レーザ光19・・
・レーザ光ビーム、24・・・ケイ光27・・・真空容
器、28・・・光検出装置32・・・先導入装置、33
・・・光フアイバ群35・・・線状光検出器 37・・・マイクロコンビエータ オ  I  図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 1、レーザ光スキャン装置と先導入装置と光検出装置を
    有するレーザ励起蛍光方式のプラズマ分布モニタであっ
    て、上記光導入装置が複数本の光ファイバより構成され
    、及び上記光検出装置が線状光検出器より構成されてい
    ることを特徴とするプラズマ分布モニタ。
JP60038706A 1985-03-01 1985-03-01 プラズマ分布モニタ Pending JPS61200446A (ja)

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JP60038706A JPS61200446A (ja) 1985-03-01 1985-03-01 プラズマ分布モニタ

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JPS61200446A true JPS61200446A (ja) 1986-09-05

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Cited By (4)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH04363647A (ja) * 1990-11-26 1992-12-16 Mitsubishi Heavy Ind Ltd アルカリ金属蒸気の可視化方法
WO1993007453A1 (en) * 1991-10-03 1993-04-15 Iowa State University Research Foundation, Inc. Mobile inductively coupled plasma system
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JP2012145365A (ja) * 2011-01-07 2012-08-02 Mitsubishi Heavy Ind Ltd ガスの温度及び成分濃度計測装置

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