JPS62219239A - 光ヘツド - Google Patents

光ヘツド

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JPS62219239A
JPS62219239A JP6213786A JP6213786A JPS62219239A JP S62219239 A JPS62219239 A JP S62219239A JP 6213786 A JP6213786 A JP 6213786A JP 6213786 A JP6213786 A JP 6213786A JP S62219239 A JPS62219239 A JP S62219239A
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JP
Japan
Prior art keywords
light
optical
light spot
spot
error signal
Prior art date
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Pending
Application number
JP6213786A
Other languages
English (en)
Inventor
Kenzo Ishibashi
謙三 石橋
Shunji Ohara
俊次 大原
Takashi Ishida
隆 石田
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Publication date
Application filed by Matsushita Electric Industrial Co Ltd filed Critical Matsushita Electric Industrial Co Ltd
Priority to JP6213786A priority Critical patent/JPS62219239A/ja
Publication of JPS62219239A publication Critical patent/JPS62219239A/ja
Pending legal-status Critical Current

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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、2個のレーザビームをレン女等ヲ用いて、微
小な2個の光スポットに絞り、光デイスク上に照射する
光学的記録再生装置に使う光ヘッドに関するものである
従来の技術 2個の光スポットを持つ光ヘッドとして、先に特願昭6
9−125908号明細書に示されるものが提案されて
いる。これは書き換え可能な光学的記録再生装置に用い
る光ヘッドの一例で、レーザ光の熱エネルギを用いて光
デイスク上の記録媒体の光学的濃度を可逆的に変化させ
る方式のものであり、記録媒体の非晶質状態と結晶状態
の間の転移、あるいは一つの非晶質状態と他の安定した
非晶質との間の転移などを繰り返し利用している。
上記の光ヘッドでは、2個の光スポットを有している。
その構成の一例を第3図に示す。第3図は光ディスク1
の一部を拡大した図で、3は光学的な案内溝で、案内溝
3上に、略円形の第10光スポツトLと、案内溝方向に
長い長円形の第2の光スポットMを照射する。第1の光
スポットLは信号の記録・再生に、第2の光スポットは
信号の消去に使う。この例では情報トラックは、案内溝
3と一致しており、いわゆる溝上記録となっている。以
下情報トラックにも案内溝と同じ番号3を付す。
以上のような2個の光スポットを使用する光ヘッドにお
いては、第1の光スポットLと第2の光スポラ)Mの情
報トラックに垂直な方向の相対位置を高精度かつ安定に
保つ必要がある。このため先の光ヘッドは、2個の光ス
ポットの相対位置ズレを防止する構成となってお9、そ
の構成を第4図に示す。
第4図において、一点鎖線で囲んだAの部分は、第3図
で示した光デイスク1上の光スポツト配置を模式的に書
いたもので、実際の情報トラック3は、紙面と垂直とな
っている。Aの部分以外が光ヘッドを示している07は
波長λ1の光を発生する半導体レーザで、その出力光ビ
ームをtで示す。
8は集光レンズで拡シを有する半導体レーザの出力光を
集光かつビーム整形して略平行な光ビームとする。9は
波長λ1の光を透過し、後述の波長λ2の光を反射する
フィルタ、1oは波長λ1゜λ2の光に有効な偏光ビー
ムスプリッタ、11は波長λ1に対する%波長板で、1
2は絞りレンズである。
半導体レーザ7の光ビームtはこれらの光学素子を通っ
て絞りレンズ12I/c入射する。絞りレンズ12は入
射する光ビームtを絞って案内トラック3上に略円形の
光スポットLを作る。
13は波長λ2の光ビームmを発生する半導体レーザで
あり、14は集光レンズを示す。22は反射ミラーで、
反射ミラー駆動素子21によって回動可能な構成となっ
ている。15は波長λ2に対する%波長板でフィルタ1
6は波長λ1の光は透過し、波長λ2の光は反射する機
能を持たせである。半導体レーザ13から出射された光
ビームm1l−i、反射ミラー22.偏光ビームスプリ
ッタ10によって反射されX波長板16を通った後、フ
ィルタ16にて反射され再びX波長板16を通り、今度
は偏光ビームスプリッタ10を透過し、X波長板11を
経て絞シレンズ12に入射する。
絞りレンズ12にて光スポットLと略々同じ情報トラッ
ク3上に長円形でかつその長径方向が案内トラック方向
と一致する光スポラ)Mを形成する。
このように光スポラ)L、Mを情報トラック上に第3図
で示したように配置するには絞シレンズ12に入射する
光ビームA 、 mの絞シレンズ12への入射角を相互
に異った値をもたせることによって実現できる。
光ビームtの光ディスクからの反射光は、絞りレンズ1
22%波長板11.偏光ビームスプリッタ10 y X
波長板16.フィルタ16を透過し、フォーカス、トラ
ッキング用の誤差信号を得るだめのレンズ17を経て光
検出器18に導かれる。
光検出器18は4分割のPINダイオードで構成され、
これらの出力から公知の方法にて再生信号、第1の光ス
ポラ)Lのフォーカス、トラッキング用の誤差信号を得
る。
一方、光ビームmの光ディスクからの反射光は、絞りレ
ンズ122%波長板11を透過する。ここで例えば波長
λ1を79Qnm、波長λ2を830 nmの半導体レ
ーザにすることで、%波長板11を透過した光の大部分
は偏光ビームスプリッタ1oによって半導体レーザ7側
へ反射され、更にフィルタ9にて反射され2分割の光検
出器19に導かれる。この2分割光検出器19を差動増
幅器23に入力しその差動出力から第2の光スポットM
のトラッキング誤差信号TEm を得る。
絞りレンズ12には絞りレンズ駆動素子2oにてフォー
カスのため光軸方向及びトラッキングのためトラックと
垂直な方向の二軸方向に移動可能に保持されている。従
って第1の光スポットLと第2の光スポラ)Mは絞りレ
ンズ駆動素子2oにてトランクと垂直方向に同時にかつ
同一量移動される。この絞りレンズ駆動素子20は公知
のボイスコイル型の構造でよく、公知の技術によって第
1の光スポットLの光ディスクの面振れに対応したフォ
ーカス制御、トラックの偏心に対するトラッキング制御
を行える。
この時、前述したように第2の光スポットMも同様に動
く。しかし、第2の光スポットMの光路中に、回動可能
な反射ミラー22を設けであるため、反射ミラー22の
回動により第2の光スポットMは、第1の光スポラ)L
に対し独立的にトラックと垂直方向に移動可能となる。
これは、絞りレンズ12に入射する光ビームmのトラッ
クと垂直方向の入射角が変化するためである。
前述したように2分割の光検出器19から第2の光スポ
ラ)Mのトラッキング誤差信号が得られるが、公知の技
術によって反射ミラー22を回動駆動することで第2の
光スポラ)Mのトラッキング制御ができる。
なお、第2の光スポラ)Mを移動させる駆動手段を回動
可能な反射ミラー22として説明したが、半導体レーザ
13を圧電素子によって移動させて行う駆動手段等につ
いても提案されている。
以上のように、2個の光スポットを情報トラック3を略
垂直方向に一緒に移動させる第1の駆動手段と、第2の
光スポットを第1の光スポットと独立的に移動させる第
2の駆動手段を持つように構成された先の2個の光スポ
ットを持つ光ヘッドにおいては、何らかの原因で2個の
光スポットの情報トラックに垂直方向の相対的位置ズレ
が生じても、第1及び第2の駆動手段によりトラッキン
グ制御をかけることによって案内トラックを正確に追跡
することが可能となり、2個の光スポットの相対的位置
ズレを防止することができる。
以上のような光ヘッドで、長円形の光スポットMを作る
方法としては、例えば半導体レーザの出射光の拡がり角
が垂直方向と水平方向で異なる点を利用して、光スポッ
トの長手方向の強度変化が略正規分布になるようにする
方法が提案されている。このほか、光デイスク上の消去
効率を向上するため、長円形光スポットの長手方向の片
端の光強度を強める光スポツト形成方式として、先に特
願昭60−40407号明細書に示されているものが提
案されている。第6図はこの光スポツト形成方式の一例
を示したものである。第5図すで、前述した第3図と同
一のものには同じ番号が付しである。4は、−面の一部
が平行で、他の部分がテーパ部に形成された偏角プリズ
ムである。1dは偏光ビームスプリツメで、長円形の光
スポットの形成原理をわかりやすく説明するため、第3
図の偏光ビームスプリッタ1oとは方向などが異なる。
情報トラック3は、ここでは紙面に水平になっている。
以上のように構成された光スポツト形成方式の動作を説
明する。半導体レーザ(図示せず)から光ビームmは、
略平行で光束が略円形の状態にした後に偏角プリズム4
に入射する。偏角プリズム4の平行部(第4図で左側)
を通過した光ビームは進行方向の変化をうけずに偏光ビ
ームスプリッタ10′を通シ、絞りレンズ12に達し、
情報トラック3上に第6図(、)のPl で示すような
強度分布をもつ第1の光スポットM1 を形成する(実
線で示した)。一方、偏角プリズム4のテーパ部を通過
した光ビームは屈折によって進路が偏向され(第6図(
b)の上に向かって左側に光ビームが曲がる)、絞りレ
ンズ12を通って情報トラッり3上で、前記第1の光ス
ポットM1の左側に、第5図(、)のP2で示すような
強度分布をもつ第2の光スポットM2を形成する(破線
で示した)。
前記第1の光スポットM、と第2の光スポットM2を組
み合わせた光スポットが長円形の光スポットになる。前
記第1の光スポットM1 と第2の光スポットM2の大
きさは、情報トラック3に垂直な方向では同程度で、水
平な方向では絞りレンズに入射した光ビームの大きさに
反比例する関係にある。また第1の光スポットM1 と
第2の光スポットM2の強度および間隔は、それぞれ、
偏角プリズム4が光ビームmを分割する位置および偏角
プリズム4のテーパ部の角度で決まる偏向角で決まる。
なお、情報トラック3からの反射光は、絞シレンズ12
から出射する光ビームと絞シレンズ12の光軸と対称に
進行する。さらに光検出器19に入射する反射光は、第
1の光スポットM1からのものと第2の光スポットM2
からのものが、はとんど分離している。
発明が解決しようとする問題点 しかしながら上記のような構成では、トラッキング誤差
信号TEm を検出する光検出器19に、長円形の第2
の光スポットからの反射光がすべて入射するため、第6
図0に示すように、情報トラック3の方向と長円形の第
2の光スポラ)Mの長手方向が一致するときにはトラッ
キング誤差信号TEmは正常に出るが、第6図(b)に
示すように光ディスク1の偏心などで情報トラック3の
方向と光スポラ)Mの長手方向が一致しない場合には、
トラッキング誤差信号TEmが正常に出ないという問題
点を有していた。ただし、第6図(a) 、 (b)で
縦軸にトラッキング誤差信号TEm を書いた図の横軸
は、光スポラ)Mが情報トラック3に対して移動した量
を示す。
本発明はかかる点に鑑みてなされたもので、長円形の光
スポットからでも良好なトラッキング誤差信号を検出で
きる光ヘッドを提供することを目的とする。
問題点を解決するための手段 本発明は、光ディスクの情報トラックで反射した長円形
の光スポットの反射光のうち前記長円形の光スポットの
特定範囲に相当する一部の光だけをトラッキング誤差信
号の検出に使うトラッキング誤差信号検出手段を備えた
光ヘッドである。
さらに具体的には、トラッキング誤差信号検出手段を、
光ディスクで反射した長円形の光スポットの反射光を結
像する結像手段と、前記結像手段の結像点もしくはその
近傍で前記光スポットの像の一部の光だけを選択する光
選択手段と、前記結像点から離れた位置で前記選択され
た光をトラッキング誤差信号として検出する光検出器と
で構成した光ヘッドである。
作  用 本発明は前記した構成により、長円形の光スポットの特
定範囲に相当する一部の反射光をトラッキング誤差信号
の検出に使うことによって、前記長円形の光スポットの
長手方向と情報トラックの方向がずれるなどしても、常
に良好なトラッキング誤差信号が得られる。
実施例 第1図(、)は本発明の第1の実施例における光ヘッド
の構成を示す図である。第1図(、)で、第4図と同じ
ものには同じ番号を付し、説明は省略する。
m′は第1図(、)に示した長円形の光スポラ)Mの光
ディスク1からの反射光で、他の光は説明に不要なので
省略した。6は反射光m′を結像点Pに集光する結像光
学系(たとえば凸形のレンズ)である。
6は光学的マスクで、結像光学系6の結像点Pあるいは
その近傍に置いである。光検出器19は、紙面に垂直方
向に2分割されており、結像点Pから離して反射光m′
のファーフィールド像を検出できる位置に置いである。
以上のように構成された本実施例の光ヘッドについてト
ラッキング誤差信号の検出動作を説明する。第1図(b
)は光学マスク6を反射光m′の入射側から見た図であ
る。光学マスク6には、長円形の光スポットMの像がで
きる。図のように光学マスク5を作っておけば、長円形
の光スポットの中央部分に相当する光だけが、光検出器
19に到達する。光検出器19はファーフィールド像を
検出するので、長円形の光スポラ)Mが情報トラック3
からうける回折像を検出する。光検出器19で2分割し
たそれぞれの出力の差動をとれば、トラッキング誤差信
号TEmが得られる(図示せず)。
以上のように本実施例によれば、長円形の光スポットか
らの反射光を結像する結像光学系と、その結像光学系の
結像点近傍に、反射光を選択するする光学マスクおよび
選択された反射光を検出する光検出器を置くことによっ
て、長円形の光スポットの特定部分に相当する光だけを
、トラッキング誤差信号の検出に使える。
第2図(a)は本発明の第2の実施例における光ヘッド
の構成を示す図である。同図において第1図(、)と同
一構成のところは省略してあシ、反射光m′が結像光学
系6を通った以降の詳細を図示した。
光学マスク6および光検出器19は近接あるいは密着し
てあり、結像点Pの近傍で結像点Pよりも手前に置いで
ある。こうすると光学マスク6上にできる長円形の光ス
ポットMの像は第2図0の下に示すようにボケるが、図
のようにマスクしておけば、長円形の光スポットの中央
部分にほぼ一致する光だけを、光検出器19に導ける。
光検出器19は結像点P上にはなく、ある程度反射光m
′のファーフィールド光成分を検出できる。以上のよう
な構成にすれば、結像光学系19からの距離を第1の実
施例のように長くとらなくても、長円形の光スポットの
特定範囲に相当する反射光だけをトラッキング誤差信号
検出に使える。
第2図(b)〜(d)は本発明の第2の実施例に類似の
実施例を示したものである。すなわち、第2図(b)は
第2の実施例と同様の光学的マスク5と光検出器19を
結像点Pから遠ざけて配置した第3の実施例、第2図(
C)は第2の実施例の光検出器19を小さくすることに
よって入射する光を選択するようにして、構成要素のう
ちの光学的マスク6を省略した第4の実施例、第2図(
d)は第4の実施例に示した構成要素を結像点Pより遠
ざけて配置した第5の実施例である。第3〜第6の実施
例の動作はそれぞれ第2の実施例と同じである。
なお、第1〜第5の実施例において、光学マスク5ある
いはそれに相当する光検出器19は、長円形の光スポッ
トの中央部分に相当する光だけを選択するようになって
いるが、たとえば第5図のように2個あるいはそれ以上
の光スポツト群で長円形の光スポットが構成される場合
には、光スポツト群のうち最も光強度の強い光スポット
に相当する反射光を選択できるように位置をずらしても
よく、光強度が最大でなくても長円形の光スポットの特
定範囲に相当する反射光だけを検出できる位置にずらし
てもよい。結像光学系6の焦点距離は、光デイスク上の
長円形スポットが長手方向でも10μm前後と小さいの
で、光学マスク6上の像倍率を上げ光学マスクの位置精
度を要せず反射光の回折の影響をうけ難くするために、
絞りレンズ12の焦点距離よりも長くすることが望まし
い。
また結像光学系6は第1図(、)でフィルタ9を半導体
レーザ7と集光レンズ8の間に配置することによって、
結像光学系6を集光レンズ8で代用し省略してもよい。
発明の詳細 な説明したように、本発明によれば、簡単な構成で長円
形の光スポットからも良好なトラッキング誤差信号が得
られるため、長円形の光スポットも正確にトラッキング
制御できるので、その実用的効果は大きい。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の第1の実施例の光ヘッドを示す説明図
、第2図は本発明における他の実施例を示す説明図、第
3図は光デイスク上に形成した2個の光スポットを示す
説明図、第4図は2個の光スポットをトラッキング制御
できる従来の光ヘッドを示す構成図、第5図は長円形の
光スポットを複数個の光スポットで形成する方法の説明
図、第6図は長円形の光スポットと情報トラックとの関
係でトラッキング誤差信号がどのようになるかを示す説
明図である。 1・・・・・・光ディスク、3・・・・・・情報トラッ
ク、5・・・・・・光学的マスク、6・・・・・・結像
光学系、19・・・・・・光検出器、M・・・・・・長
円形の光スポット、M′・・・・・・光スポラ)Mの像
、TEm・・・・・・トラッキング誤差信号。 第1図 (幻 ・り、 え22オi 第2図 悴)        (C) (の     (グジ 第3図 第4図 第5図 炉 (り 第6図

Claims (7)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)光学的案内溝を有する光ディスクの前記光学的案
    内溝に平行な情報トラック上に、略円形の第1の光スポ
    ットと前記情報トラックの方向に長い長円形の第2の光
    スポットを形成し、前記第1の光スポットが追跡してい
    る同一の情報トラックに前記第2の光スポットをのせる
    トラッキング制御手段を有する光ヘッドであって、前記
    情報トラックで反射した前記第2の光スポットの反射光
    のうち前記第2の光スポットの特定範囲に相当する一部
    の光だけをトラッキング誤差信号の検出に使うトラッキ
    ング誤差信号検出手段を備えたことを特徴とする光ヘッ
    ド。
  2. (2)トラッキング誤差信号検出手段は、第2の光スポ
    ットの情報トラックからの反射光を結像する結像手段と
    、前記結像手段の結像点もしくはその近傍で前記第2の
    光スポットの像の一部の光だけを選択する光選択手段と
    、前記結像点から離れた位置で前記選択された光をトラ
    ッキング誤差信号として検出する光検出器とからなる特
    許請求の範囲第1項記載の光ヘッド。
  3. (3)反射光選択手段と光検出器を一体として、結像点
    近傍に配置したことを特徴とする特許請求の範囲第2項
    記載の光ヘッド。
  4. (4)光検出器は、その大きさを結像点近傍の光束より
    小さくし、反射光選択手段をも兼ねたことを特徴とする
    特許請求の範囲第2項記載の光ヘッド。
  5. (5)反射光選択手段は、光学的マスクであることを特
    徴とした特許請求の範囲第2項記載の光ヘッド。
  6. (6)反射光選択手段は、長円形の光スポットの光強度
    が最大となる位置を中心とした範囲に相当する光を選択
    することを特徴とした特許請求の範囲第2項記載の光ヘ
    ッド。
  7. (7)結像手段は、絞りレンズの焦点距離よりも長い焦
    点距離をもつ凸形のレンズであることを特徴とした特許
    請求の範囲第2項記載の光ヘッド。
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