JPS62216B2 - - Google Patents
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- JPS62216B2 JPS62216B2 JP59169736A JP16973684A JPS62216B2 JP S62216 B2 JPS62216 B2 JP S62216B2 JP 59169736 A JP59169736 A JP 59169736A JP 16973684 A JP16973684 A JP 16973684A JP S62216 B2 JPS62216 B2 JP S62216B2
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Classifications
-
- C—CHEMISTRY; METALLURGY
- C22—METALLURGY; FERROUS OR NON-FERROUS ALLOYS; TREATMENT OF ALLOYS OR NON-FERROUS METALS
- C22C—ALLOYS
- C22C14/00—Alloys based on titanium
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- Chemical & Material Sciences (AREA)
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- Metallurgy (AREA)
- Organic Chemistry (AREA)
- Preventing Corrosion Or Incrustation Of Metals (AREA)
- Physical Vapour Deposition (AREA)
- Heat Treatment Of Sheet Steel (AREA)
Description
〔産業上の利用分野〕
本発明は臭素イオンの存在環境、特に高温高圧
環境において優れた耐孔食性を発揮するTi合金
に関するものである。 〔従来の技術〕 Tiは耐食性の良い金属であり、特にハロゲン
イオンが存在する環境下における耐食性が良好で
あるというところから、上記の様な環境に曝され
るプロセス機器材料として広く使用される様にな
りつつある。例えば腐食環境用素材としては一般
にステンレス鋼が賞用されているが、ステンレス
鋼でさえ防食効果を発揮し得ない様な苛酷な環境
の下では、Ti或はTi合金に頼る他なく、今やTi
は産業プロセス全体を支える重要な素材になつて
いる。 しかしTiの耐食性能は、何時如何なる場合に
おいても常に万全であるとは言えず、腐食条件の
苛酷な環境を選んで使用されるという背景もある
為、Tiの耐食性については色々な問題がある旨
指摘されている。 Tiの腐食は全面的に進むというより局部的に
発生及び進行するもの(即ち局部腐食)が問題と
なつており、中でも塩素イオンの存在する環境下
特に高温環境下における隙間腐食がもつとも大き
な注意を集めている。又これに次ぐ問題となつて
いるのは臭素イオンの存在する環境下における孔
食であり、一例としては、臭化物を触媒とする高
温高圧反応用容器における孔食による事故を挙げ
ることができる。 前者の隙間腐食は、金属材料表面に非常に狭い
隙間構造が形成されたときに発生するものである
が、後者の孔食は、その発生に当たつて必ずしも
隙間構造の存在を必要とするものではなく、又材
料表面のほとんど全部(例えば99%以上)が健全
な無腐食状態を呈しておりながら非常に局部的な
箇所のみが腐食されて穿孔に至るという現象であ
る。従つて孔食の発生は気付かないままで見過さ
れ、何らの対策を講じる間もなくいきなり事故の
発生を見るに至るという特色があり、孔食防止手
段確立の重要性は十分に認識されている。しかし
孔食の発生は隙間腐食発生のメカニズムとは全く
異なる機構によるものであると考えられており、
隙間腐食の防止に卓効を示した手段をそのまゝ転
用できる訳ではなく、独自の有効な手段を開発す
る必要があるとされている。 孔食防止手段としては、装置の運転制御面から
見たアプローチと材料自身の改良というアプロー
チに大別することができる。前者のアプローチに
よる成果としては、運転環境の苛酷性を緩和する
ものが有力であるが、この緩和方向はどちらかと
言えば化学プロセス自体の効率を犠性にする傾向
と一致する為自ずから限界がある。しかも近年の
化学プロセスは腐食条件が苛酷化される方向を指
向して進展中であり、Tiの適用を阻む場面に遭
遇することも多い。そこで孔食抑制剤(所謂イン
ヒビター)の添加ということが検討され、硫酸イ
オン、硝酸イオン、燐酸イオン等のアニオンが有
効であることが分かつている。しかしインヒビタ
ーの添加はプロセス自体の汚染による反応収率の
低下等という弊害を招くもととなつており、やは
り広範な利用には不向きである。 一方材料面からのアプローチとしては、本発明
者等の提案に係る「Ti表面の硝酸処理法」(特開
昭58―39785号)がある。この方法は装置の運転
前における防食処理を骨子とするものである為、
プロセス液の汚染による悪影響がないばかりか、
耐孔食性自体もハロゲンイオンの種類と関係なく
安定して発揮されるという特色がある。しかし素
材段階或は装置加工後の段階で大量の硝酸(特に
熱硝酸)を使用するという工程が入る為、実際の
操業面においてはある程度の制約を受けざるを得
ない。 ところでハロゲンイオンによるTiの孔食発生
機構は、後に詳述する如く不働態皮膜の局部的な
アノード破壊に端を発するものであると考えられ
ている。従つてTi材料の耐孔食性は不働態皮膜
の破壊電圧の高低によつて評価し得るはずであ
り、破壊電圧が高い程耐孔食性が大きいと判断で
きる。従つてこの破壊電圧は孔食発生電位と言い
かえることもできる。 ハロゲンイオンのうち塩素イオンについては、
Ni含有Ti合金とすることによつて孔食発生電位
を上昇させ得ることが知られている。 〔Desalination 3 269―279(1967)〕。しかし
本発明者等の研究によると、臭素イオンが存在す
る環境下ではNi含有Ti合金の孔食発生電位は予
想に反して高くならないことが分かつた。 〔発明が解決しようとする問題点〕 塩素イオンと臭素イオンは同じくハロゲンイオ
ンでありながら、孔食発生の防止におけるNiの
役割りという面で全く異なる様相を示すものであ
ることが分かつた。そこで本発明者等は塩素イオ
ン環境下における孔食発生機構と、臭素イオン環
境下における孔食発生機構の違いを解明すると共
に、合金元素の添加による孔食防止機能について
塩素イオン環境下と臭素イオン環境下における該
合金元素の挙動上の差異を究明し、更に種々の合
金元素を選んで実験することにより、臭素イオン
環境下において孔食をもつとも効果的に防止し得
る合金元素を探索した。 即ち本発明の目的は臭素イオンの存在下におけ
る孔食を効果的に防止することのできるTi合金
を提供する点に存在する。 〔問題点を解決する為の手段〕 上記目的に適う合金はMo:0.2〜3.0重量%を
含み、残部が実質的Ti及び不可避不純物からな
るTi合金であつた。 〔作用〕 ハロゲンイオンが存在する環境下でのTiの孔
食発生・進行機構は、前述した様に、Tiの耐食
性を保障すべき不働態皮膜が局部的な破壊を受け
裸のTiが露出することに端を発するものであ
る。この不働態皮膜の破壊は環境の酸化力によつ
てアノード分極されたときに発生するものであ
り、以後は当該アノード的破壊部のみが急速に腐
食されていくものと思われる。 そこでこの様な孔食発生の模様をより正しく把
握する目的で、電気化学的腐食理論に従つたアノ
ード分極曲線(模式図:第2図)を用いてモデル
的に把握してみると、次の様に解析することがで
きる。即ち自然電位(浸漬腐食電位)からスター
トして電位をプラス側へ徐々に高めていくと、ほ
ぼ横ばいであつた電流がある電位を境にして急激
に上昇する点があり、この臨界的電位を、当該材
料と環境因子との組合わせによつて決まる孔食発
生電位と定義することができる。そして孔食発生
電位より低電位側ではアノード分極が起こらない
為不働態皮膜が健全なままで保存されて孔食の発
生が防止されているが、孔食発生電位を超えると
(アノード分極が起こると)不働態皮膜の破壊が
起こり孔食が発生することになる。つまり与えら
れた一定の環境条件において示される孔食発生電
位の高低が、耐孔食性を評価する最大のパラメー
タとなり、孔食発生電位が高くなるにつれて耐孔
食性も向上されていくことを意味する。 そこで各種合金元素を加えて供試Ti合金を作
成し、高温高圧の臭素イオン含有水溶液中に浸し
て各合金の孔食発生電位を測定していつたとこ
ろ、Mo含有Ti合金の孔食発生電位が特に高いこ
とを見出した。しかしMo含有率が0.2重量%未満
では孔食防止効果が弱いので0.2重量%を下限と
定めた。そしてMo含有率の上昇につれて孔食防
止効果も上昇するが、3.0重量%になるとその効
果も飽和に達する。これは不働態皮膜中における
Moの濃縮、或は微量溶出したMoイオンの表面近
傍における濃縮の為にその時点で孔食防止効果が
最高度に発揮されるからであろうかと思われる。
そして3.0重量%を超えるMoの添加は工業材料と
しての加工性や経済性に対してマイナス要因とな
るので3.0重量%をもつて上限と定めた。 上記の様な効果はMoにおいて特有であり、塩
素イオン環境下における孔食防止効果が認められ
ているNiについては、臭素イオン環境下におい
て全く無効であつた。塩素イオンと臭素イオンの
差並びにNiとMoの差については次の様に考える
ことができる。 臭素イオン中の孔食発生電位は塩素イオン中の
それに比べてかなり低く、その分不働態皮膜の破
壊も起こり易い。従つて臭素イオン中での孔食を
考えるに際しては、不働態皮膜の性状(構造や組
成)だけでなく、臭素イオンが濃縮されて放電す
ることによる孔食の核生成サイトが重要な要因と
なるが、塩素イオン中では不働態皮膜が厚く成長
した段階での皮膜破壊になるため皮膜性状自体が
支配的因子となり、核生成サイトの影響は少な
い。一方孔食の核生成サイトとしてはTiの金属
間化合物が優先的に作用する為、共析型の合金元
素であるNiやCoは核生成サイトを提供し易いも
のとなり、それ自身が不働態皮膜の性状改善効果
を有していてもそれらが相殺し合うことになり、
結果的に耐孔食性の向上効果が見られなくなつて
しまう。これに対してMoは固溶体形成元素であ
り核生成サイトを提供しないから、不働態皮膜の
性状改善効果がそのまゝ実効的に発揮されるに至
つたものと思われる。尚同じく固溶体形成元素で
あつても、VやWについての実験結果によれば耐
孔食効果は余り顕著なものではなかつた。この理
由は臭素イオンの吸着或は放電抑制等の機能にお
いて各元素個有の特質が発揮されるからであろう
と思われ、臭素イオン環境中における耐孔食効果
の発揮が固溶体元素の中でもMoに個有の能力で
あるということを見出し得たのは驚くべきことで
あつた。 〔実施例〕 実施例 1 スポンシTi、Tiパウダー、Moパウダーを原料
とし、真空アーク溶解炉を用いてMo含有Ti合金
(Mo含有量:0〜8重量%)を溶製した。得られ
た鋳塊を熱間鍜造後熱延し、更に冷延及び焼鈍後
熱処理して2mmtの合金板を得た。これを切つて
20mm×20mmの角板を得、Tiリード線をスポツト
溶接することにより孔食発生電位測定用(アノー
ド分極曲線測定用)電極を製作した。 臭素イオン濃度1%(NaBr換算)の水溶液を
電気化学試験用のオートクレーブに入れ、140℃
及び200℃の2条件下に前記電極を浸漬し、孔食
発生電位を求めた。尚対極としてはPt板、照合電
極としては外部Ag/AgCl電極を用い自動定電位
電解装置による電位走査法に準じて測定を行なつ
た。結果は第1表に示す。
環境において優れた耐孔食性を発揮するTi合金
に関するものである。 〔従来の技術〕 Tiは耐食性の良い金属であり、特にハロゲン
イオンが存在する環境下における耐食性が良好で
あるというところから、上記の様な環境に曝され
るプロセス機器材料として広く使用される様にな
りつつある。例えば腐食環境用素材としては一般
にステンレス鋼が賞用されているが、ステンレス
鋼でさえ防食効果を発揮し得ない様な苛酷な環境
の下では、Ti或はTi合金に頼る他なく、今やTi
は産業プロセス全体を支える重要な素材になつて
いる。 しかしTiの耐食性能は、何時如何なる場合に
おいても常に万全であるとは言えず、腐食条件の
苛酷な環境を選んで使用されるという背景もある
為、Tiの耐食性については色々な問題がある旨
指摘されている。 Tiの腐食は全面的に進むというより局部的に
発生及び進行するもの(即ち局部腐食)が問題と
なつており、中でも塩素イオンの存在する環境下
特に高温環境下における隙間腐食がもつとも大き
な注意を集めている。又これに次ぐ問題となつて
いるのは臭素イオンの存在する環境下における孔
食であり、一例としては、臭化物を触媒とする高
温高圧反応用容器における孔食による事故を挙げ
ることができる。 前者の隙間腐食は、金属材料表面に非常に狭い
隙間構造が形成されたときに発生するものである
が、後者の孔食は、その発生に当たつて必ずしも
隙間構造の存在を必要とするものではなく、又材
料表面のほとんど全部(例えば99%以上)が健全
な無腐食状態を呈しておりながら非常に局部的な
箇所のみが腐食されて穿孔に至るという現象であ
る。従つて孔食の発生は気付かないままで見過さ
れ、何らの対策を講じる間もなくいきなり事故の
発生を見るに至るという特色があり、孔食防止手
段確立の重要性は十分に認識されている。しかし
孔食の発生は隙間腐食発生のメカニズムとは全く
異なる機構によるものであると考えられており、
隙間腐食の防止に卓効を示した手段をそのまゝ転
用できる訳ではなく、独自の有効な手段を開発す
る必要があるとされている。 孔食防止手段としては、装置の運転制御面から
見たアプローチと材料自身の改良というアプロー
チに大別することができる。前者のアプローチに
よる成果としては、運転環境の苛酷性を緩和する
ものが有力であるが、この緩和方向はどちらかと
言えば化学プロセス自体の効率を犠性にする傾向
と一致する為自ずから限界がある。しかも近年の
化学プロセスは腐食条件が苛酷化される方向を指
向して進展中であり、Tiの適用を阻む場面に遭
遇することも多い。そこで孔食抑制剤(所謂イン
ヒビター)の添加ということが検討され、硫酸イ
オン、硝酸イオン、燐酸イオン等のアニオンが有
効であることが分かつている。しかしインヒビタ
ーの添加はプロセス自体の汚染による反応収率の
低下等という弊害を招くもととなつており、やは
り広範な利用には不向きである。 一方材料面からのアプローチとしては、本発明
者等の提案に係る「Ti表面の硝酸処理法」(特開
昭58―39785号)がある。この方法は装置の運転
前における防食処理を骨子とするものである為、
プロセス液の汚染による悪影響がないばかりか、
耐孔食性自体もハロゲンイオンの種類と関係なく
安定して発揮されるという特色がある。しかし素
材段階或は装置加工後の段階で大量の硝酸(特に
熱硝酸)を使用するという工程が入る為、実際の
操業面においてはある程度の制約を受けざるを得
ない。 ところでハロゲンイオンによるTiの孔食発生
機構は、後に詳述する如く不働態皮膜の局部的な
アノード破壊に端を発するものであると考えられ
ている。従つてTi材料の耐孔食性は不働態皮膜
の破壊電圧の高低によつて評価し得るはずであ
り、破壊電圧が高い程耐孔食性が大きいと判断で
きる。従つてこの破壊電圧は孔食発生電位と言い
かえることもできる。 ハロゲンイオンのうち塩素イオンについては、
Ni含有Ti合金とすることによつて孔食発生電位
を上昇させ得ることが知られている。 〔Desalination 3 269―279(1967)〕。しかし
本発明者等の研究によると、臭素イオンが存在す
る環境下ではNi含有Ti合金の孔食発生電位は予
想に反して高くならないことが分かつた。 〔発明が解決しようとする問題点〕 塩素イオンと臭素イオンは同じくハロゲンイオ
ンでありながら、孔食発生の防止におけるNiの
役割りという面で全く異なる様相を示すものであ
ることが分かつた。そこで本発明者等は塩素イオ
ン環境下における孔食発生機構と、臭素イオン環
境下における孔食発生機構の違いを解明すると共
に、合金元素の添加による孔食防止機能について
塩素イオン環境下と臭素イオン環境下における該
合金元素の挙動上の差異を究明し、更に種々の合
金元素を選んで実験することにより、臭素イオン
環境下において孔食をもつとも効果的に防止し得
る合金元素を探索した。 即ち本発明の目的は臭素イオンの存在下におけ
る孔食を効果的に防止することのできるTi合金
を提供する点に存在する。 〔問題点を解決する為の手段〕 上記目的に適う合金はMo:0.2〜3.0重量%を
含み、残部が実質的Ti及び不可避不純物からな
るTi合金であつた。 〔作用〕 ハロゲンイオンが存在する環境下でのTiの孔
食発生・進行機構は、前述した様に、Tiの耐食
性を保障すべき不働態皮膜が局部的な破壊を受け
裸のTiが露出することに端を発するものであ
る。この不働態皮膜の破壊は環境の酸化力によつ
てアノード分極されたときに発生するものであ
り、以後は当該アノード的破壊部のみが急速に腐
食されていくものと思われる。 そこでこの様な孔食発生の模様をより正しく把
握する目的で、電気化学的腐食理論に従つたアノ
ード分極曲線(模式図:第2図)を用いてモデル
的に把握してみると、次の様に解析することがで
きる。即ち自然電位(浸漬腐食電位)からスター
トして電位をプラス側へ徐々に高めていくと、ほ
ぼ横ばいであつた電流がある電位を境にして急激
に上昇する点があり、この臨界的電位を、当該材
料と環境因子との組合わせによつて決まる孔食発
生電位と定義することができる。そして孔食発生
電位より低電位側ではアノード分極が起こらない
為不働態皮膜が健全なままで保存されて孔食の発
生が防止されているが、孔食発生電位を超えると
(アノード分極が起こると)不働態皮膜の破壊が
起こり孔食が発生することになる。つまり与えら
れた一定の環境条件において示される孔食発生電
位の高低が、耐孔食性を評価する最大のパラメー
タとなり、孔食発生電位が高くなるにつれて耐孔
食性も向上されていくことを意味する。 そこで各種合金元素を加えて供試Ti合金を作
成し、高温高圧の臭素イオン含有水溶液中に浸し
て各合金の孔食発生電位を測定していつたとこ
ろ、Mo含有Ti合金の孔食発生電位が特に高いこ
とを見出した。しかしMo含有率が0.2重量%未満
では孔食防止効果が弱いので0.2重量%を下限と
定めた。そしてMo含有率の上昇につれて孔食防
止効果も上昇するが、3.0重量%になるとその効
果も飽和に達する。これは不働態皮膜中における
Moの濃縮、或は微量溶出したMoイオンの表面近
傍における濃縮の為にその時点で孔食防止効果が
最高度に発揮されるからであろうかと思われる。
そして3.0重量%を超えるMoの添加は工業材料と
しての加工性や経済性に対してマイナス要因とな
るので3.0重量%をもつて上限と定めた。 上記の様な効果はMoにおいて特有であり、塩
素イオン環境下における孔食防止効果が認められ
ているNiについては、臭素イオン環境下におい
て全く無効であつた。塩素イオンと臭素イオンの
差並びにNiとMoの差については次の様に考える
ことができる。 臭素イオン中の孔食発生電位は塩素イオン中の
それに比べてかなり低く、その分不働態皮膜の破
壊も起こり易い。従つて臭素イオン中での孔食を
考えるに際しては、不働態皮膜の性状(構造や組
成)だけでなく、臭素イオンが濃縮されて放電す
ることによる孔食の核生成サイトが重要な要因と
なるが、塩素イオン中では不働態皮膜が厚く成長
した段階での皮膜破壊になるため皮膜性状自体が
支配的因子となり、核生成サイトの影響は少な
い。一方孔食の核生成サイトとしてはTiの金属
間化合物が優先的に作用する為、共析型の合金元
素であるNiやCoは核生成サイトを提供し易いも
のとなり、それ自身が不働態皮膜の性状改善効果
を有していてもそれらが相殺し合うことになり、
結果的に耐孔食性の向上効果が見られなくなつて
しまう。これに対してMoは固溶体形成元素であ
り核生成サイトを提供しないから、不働態皮膜の
性状改善効果がそのまゝ実効的に発揮されるに至
つたものと思われる。尚同じく固溶体形成元素で
あつても、VやWについての実験結果によれば耐
孔食効果は余り顕著なものではなかつた。この理
由は臭素イオンの吸着或は放電抑制等の機能にお
いて各元素個有の特質が発揮されるからであろう
と思われ、臭素イオン環境中における耐孔食効果
の発揮が固溶体元素の中でもMoに個有の能力で
あるということを見出し得たのは驚くべきことで
あつた。 〔実施例〕 実施例 1 スポンシTi、Tiパウダー、Moパウダーを原料
とし、真空アーク溶解炉を用いてMo含有Ti合金
(Mo含有量:0〜8重量%)を溶製した。得られ
た鋳塊を熱間鍜造後熱延し、更に冷延及び焼鈍後
熱処理して2mmtの合金板を得た。これを切つて
20mm×20mmの角板を得、Tiリード線をスポツト
溶接することにより孔食発生電位測定用(アノー
ド分極曲線測定用)電極を製作した。 臭素イオン濃度1%(NaBr換算)の水溶液を
電気化学試験用のオートクレーブに入れ、140℃
及び200℃の2条件下に前記電極を浸漬し、孔食
発生電位を求めた。尚対極としてはPt板、照合電
極としては外部Ag/AgCl電極を用い自動定電位
電解装置による電位走査法に準じて測定を行なつ
た。結果は第1表に示す。
本発明は上記の様に構成され、Moを含有する
ことによつて臭素イオン環境下におけるTi合金
の耐孔食性を著しく改善することに成功した。
ことによつて臭素イオン環境下におけるTi合金
の耐孔食性を著しく改善することに成功した。
第1図はTi合金におけるMo含有量と孔食発生
電位の関係を示すグラフ、第2図はアノード分極
曲線の模式図である。
電位の関係を示すグラフ、第2図はアノード分極
曲線の模式図である。
Claims (1)
- 1 Mo:0.2〜3.0重量%を含み、残部が実質的
にTi及び不可避不純物からなるものであること
を特徴とする臭素イオン環境下における耐孔食性
の良いTi合金。
Priority Applications (3)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59169736A JPS6148548A (ja) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | 臭素イオン環境下における耐孔食性の良いTi合金 |
US06/764,745 US4634478A (en) | 1984-08-13 | 1985-08-12 | Titanium molybdenum alloy superior in resistance to pitting corrosion in bromide ion environment |
GB08520313A GB2163180B (en) | 1984-08-13 | 1985-08-13 | Titanium alloy superior in resistance to pitting corrosion in bromide ion environment |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
JP59169736A JPS6148548A (ja) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | 臭素イオン環境下における耐孔食性の良いTi合金 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
JPS6148548A JPS6148548A (ja) | 1986-03-10 |
JPS62216B2 true JPS62216B2 (ja) | 1987-01-06 |
Family
ID=15891892
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
JP59169736A Granted JPS6148548A (ja) | 1984-08-13 | 1984-08-13 | 臭素イオン環境下における耐孔食性の良いTi合金 |
Country Status (3)
Country | Link |
---|---|
US (1) | US4634478A (ja) |
JP (1) | JPS6148548A (ja) |
GB (1) | GB2163180B (ja) |
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---|---|---|---|---|
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US4857269A (en) * | 1988-09-09 | 1989-08-15 | Pfizer Hospital Products Group Inc. | High strength, low modulus, ductile, biopcompatible titanium alloy |
JP2841766B2 (ja) * | 1990-07-13 | 1998-12-24 | 住友金属工業株式会社 | 耐食性チタン合金溶接管の製造方法 |
JP2914524B2 (ja) * | 1990-11-20 | 1999-07-05 | 大同ほくさん株式会社 | チタン材製圧延加工品の製法 |
US5364587A (en) * | 1992-07-23 | 1994-11-15 | Reading Alloys, Inc. | Nickel alloy for hydrogen battery electrodes |
US5316723A (en) * | 1992-07-23 | 1994-05-31 | Reading Alloys, Inc. | Master alloys for beta 21S titanium-based alloys |
US6572815B1 (en) * | 2000-04-12 | 2003-06-03 | Chien-Ping Ju | Titanium having improved castability |
JP5808894B2 (ja) * | 2010-08-20 | 2015-11-10 | 日本発條株式会社 | 高強度チタン合金部材およびその製造方法 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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GB882184A (en) * | 1958-05-05 | 1961-11-15 | Union Carbide Corp | Improved titanium alloys |
JPS556472A (en) * | 1978-06-29 | 1980-01-17 | Toshiba Corp | Titanium alloy of superior vibration damping ability and production thereof |
-
1984
- 1984-08-13 JP JP59169736A patent/JPS6148548A/ja active Granted
-
1985
- 1985-08-12 US US06/764,745 patent/US4634478A/en not_active Expired - Fee Related
- 1985-08-13 GB GB08520313A patent/GB2163180B/en not_active Expired
Non-Patent Citations (2)
Title |
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DESALINATION=1967 * |
LOCALIZED CORROSION=1974 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
GB2163180B (en) | 1988-06-02 |
GB2163180A (en) | 1986-02-19 |
US4634478A (en) | 1987-01-06 |
GB8520313D0 (en) | 1985-09-18 |
JPS6148548A (ja) | 1986-03-10 |
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