JPS6221083A - 電子機器の温度特性試験器 - Google Patents

電子機器の温度特性試験器

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Publication number
JPS6221083A
JPS6221083A JP60159360A JP15936085A JPS6221083A JP S6221083 A JPS6221083 A JP S6221083A JP 60159360 A JP60159360 A JP 60159360A JP 15936085 A JP15936085 A JP 15936085A JP S6221083 A JPS6221083 A JP S6221083A
Authority
JP
Japan
Prior art keywords
air
temp
tested
thermostatic chamber
temperature
Prior art date
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Pending
Application number
JP60159360A
Other languages
English (en)
Inventor
Motoo Okamoto
岡本 源生
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Takamisawa Cybernetics Co Ltd
Original Assignee
Takamisawa Cybernetics Co Ltd
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Filing date
Publication date
Application filed by Takamisawa Cybernetics Co Ltd filed Critical Takamisawa Cybernetics Co Ltd
Priority to JP60159360A priority Critical patent/JPS6221083A/ja
Publication of JPS6221083A publication Critical patent/JPS6221083A/ja
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 本発明は電子tm器、特に電気、電子素子を実装した基
板類又はカードの温度特性若しくは耐熱性、耐低温性を
試験しその特性の良否を試験、確認する電子機器の温度
特性状M!器に関するものである。
電子機器、特にその主要部であり、集積回路素子その他
の素子を搭載して形成されるプリント基板などは論理的
に正規の機能を実現することとは別個に事実上、経年的
に異常なく正しい機能を持続することが不可欠に必要で
ある。従って、この種の機器の不具合を事前に発見する
何らかの手段がとられなければならない。
乙の様な手段は最初の機器の試作及びその量産化の段階
でとられるにとどまるものではなく、その後のこの電子
451器のコストの低減化を目的として、多りの場合に
回路又はハードウェアに設計変更が加えられるので、こ
の場合にもとられなければならない。
上記の様な回路の新たな形成やその後の改変に当って重
要度の高い手段がこの様なハードウェアに対して実施さ
れる通電時の温度試験である。
従来、採用されてきた実装回路の温度特性の試験方法は
恒温槽中に回路部分を置くものであるが、これら恒温槽
などは当然外部と熱的に遮断するために本来、扉による
密閉構造となっていて、この為に通電時の回路部分の温
度試験は非常に困難である。
上記電子素子等を搭載したプリント基板などの回路部分
の通電時の温度試験のためには、外部から電流を供給す
ることを必要とするが、この供給用の導線が恒温槽の扉
の完全閉止を妨げ、これによって恒温状態が大幅に保証
されない状態になり、従ってこれら回路の正確な温度特
性の試験は困難である。特に近時の電子回路又は情報回
路に於ては電源系統の導線の他に多数本の信号線、アド
レスバス、データバス等をも包含しているため、正確な
試験は更に困難となっていた。
本発明は上述の問題点を解消したものであり、被試験体
である回路部分に多数の外部連絡用の配線が存在しても
恒温状態が完全に維持される電子機器の温度特性試験器
を提供するものであって、以下図面を参照して本発明の
詳細な説明する。
第1図は本発明の電子機器の温度特性試験器の一実施例
の斜視図、第2図はエアーカーテン部分の部分断面図、
第3図は動作系統のブロック図である。第1図において
1は筐体であって、この内部には電子素子を搭載した基
板などを収容できる恒温室2を有し、その開放部にはエ
アーカーテン3を設けており、下部にはキャスター4を
備え移トロール操作部5及び温度表示部6を設けである
エアーカーテン3は第2図に示すように恒温室2の温度
に近いエアー流にしである。
次にエアーカーテン3をそのエアー流の加熱、冷却手段
を含めて更に詳しく説明すると、第3図において、7は
エアー吐出口でハニカム構造にしである。8はエアー吸
込口であり、これらエアー吐出ロアとエアー吸込口8の
間にエアーカーテン3が形成され、またこの部分に温度
検出器9を設置する。
前記エアー吸込口8からのエアーの吸い込みはエアーポ
ンプ10によってなされ、こうして吸い込まれたエアー
流は温度昇降手段11の内部コイル12と接触して、そ
れぞれ熱交換し、エアーポンプ13などを経てエアー吐
出ロアに到達ずろ。
次に、上記温度昇降手段11について更に説明すると、
第3図において1点鎖線の左側は筐体1の内部側に、そ
の右側は外部側にそれぞれ設けられるものであり、14
.15は膨張弁であり、フロン等の冷媒の圧力を調整し
、16.17はチェック弁であり、バイパスを形成して
いる。18は外部コイルで内部コイル12と同様の機能
を持ち、エバポレータ又はコンデンサとして動作する。
19はコンプレッサーであり内部コイル12又は外部コ
イル18から入る気化冷媒を圧縮する。20は方向切換
装置であって、冷媒の流れの方向を切り替えるものであ
る。21は電磁弁であり、冷媒の流量を変える。
一温度昇降手段11の方向切換装置20及び電磁弁21
は、例えば前記温度コントロール操作部5からの指令で
も制御−されるようにしである。なお、本発明において
恒温室2の加熱並びに冷却の手段については通常の手一
段を用いる・ので記賊を省略する。 ・ 次に本発明の電子機器の温度特性・試験器の使用方法)
こついて説明する。集積回路素子その他の電気、電子素
子を搭載しであるプリン!・基板等を初めとす゛る被試
験体は、図示しないが第1図の恒温室2に入れる。この
場合、上記被試験体とその周辺機器、電源等と導線で多
数本接続されていてもそのまま、その被試験体を導線が
エアーカーテンを横切った状態で収容すればよい。
本発明による冷却試験時について温度昇降手段の動作を
主にして説明すると、この場合は冷媒が方向切換装置2
0を第3図において左から右方向に流れる様に温度コン
トロール操作部5を介して設定ずろ。この様なモードで
は冷媒はチェック弁17及び膨張弁14を通り、内部コ
イル12はエバポレータ、外部コイル18はコンデンサ
として機能する。この場合、エアーポンプ10によって
送られてくるエアーはエバポレータとなっている内部コ
イル12によっC・冷却される。内部コイル12で気化
した冷媒はコンプレッサ19で圧縮され、次いで外部コ
イル18から放熱される。
加熱試験時においては、方向切換装置20を上記の状態
と反対に一般型する。即ち、冷媒が右から左に流れる様
に設定するが、この状態では冷媒はチェック弁16、次
い゛で膨張弁15を通過して流れ、内部コイル12はコ
ンデン゛すとして、外部コ・イル18はエバポレータと
して機能し、冷媒は外部コイル18で熱を外気からうば
い、内部コイル12においてエアーポンプ10で送られ
てくるエアー流に熱を与えるのである。
以上述べたように本発明の電子機器の温度特性試験器は
温度試験の被試験体が外部と導線を介して電気的に接続
されていても、伺らの支障もなく被試験体に恒温を所定
時間保持することができ、したがって電子機器を通電状
態においてをも温度試験、例えば、−10℃〜60℃で
実施することができ、また筐体は汎用のオシロスコープ
大(例えば900m+nX 900mmX 1200m
m1にしてあす、更にキャスターを有して可搬性を有し
ているので、デスクサイドで気軽にこの種の試験をする
ことができるという効果を奏する。
【図面の簡単な説明】
図面は本発明の一実施例を示すもので、第1図は全体の
斜視図、第2図はエアーカーテン部分の部分切欠断面図
、第3図は動作系統のブロック図である。 1・・・筺体     2・・・恒温室3・・・エアー
カーテン 代理人 弁理士 1)中 二 部 第3図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 電子機器類の温度特性試験装置において、小型ワゴン状
    の可搬の筐体と、その前面の少なくとも一部を開放部と
    する恒温室と、前記恒温室の開放部を通りその途中の強
    制通気手段及び温度昇降手段と連通して、これらと一環
    をなすエアーカーテンとを含んで成ることを特徴とする
    電子機器の温度特性試験器。
JP60159360A 1985-07-19 1985-07-19 電子機器の温度特性試験器 Pending JPS6221083A (ja)

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JP60159360A JPS6221083A (ja) 1985-07-19 1985-07-19 電子機器の温度特性試験器

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JP60159360A JPS6221083A (ja) 1985-07-19 1985-07-19 電子機器の温度特性試験器

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JPS6221083A true JPS6221083A (ja) 1987-01-29

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ID=15692139

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JP (1) JPS6221083A (ja)

Cited By (7)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPS63137875U (ja) * 1987-03-03 1988-09-12
JPS63139568U (ja) * 1987-03-04 1988-09-14
JPS63139569U (ja) * 1987-03-04 1988-09-14
JPS63145186U (ja) * 1987-03-15 1988-09-26
JPS63146774U (ja) * 1987-03-19 1988-09-28
JPS63146773U (ja) * 1987-03-19 1988-09-28
JP2010065377A (ja) * 2009-12-28 2010-03-25 Toray Ind Inc コアーヤーン縫糸

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JPS63146774U (ja) * 1987-03-19 1988-09-28
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