JPS62210415A - 精密複写用投影光学系 - Google Patents

精密複写用投影光学系

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JPS62210415A
JPS62210415A JP5405186A JP5405186A JPS62210415A JP S62210415 A JPS62210415 A JP S62210415A JP 5405186 A JP5405186 A JP 5405186A JP 5405186 A JP5405186 A JP 5405186A JP S62210415 A JPS62210415 A JP S62210415A
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Japan
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optical system
concave mirror
phase correction
projection
mirror
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JP5405186A
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Inventor
Takeo Sato
佐藤 健夫
Nobuhiro Araki
信博 荒木
Koichi Kawada
耕一 河田
Noboru Nomura
登 野村
Atsushi Ueno
上野 厚
Shotaro Yoshida
吉田 正太郎
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Panasonic Holdings Corp
Original Assignee
Matsushita Electric Industrial Co Ltd
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 産業上の利用分野 本発明は、紫外光、遠紫外光などの極短波長に用いるの
に適する精密複写用投影光学系に関するものである。
従来の技術 従来の精密複写用投影光学系としては、例えば、特公昭
57−12966号公報に示されているようにレンズに
よる屈折系から成るもの、特開昭55−17196号公
報に示されているように反射系から成るものが知られて
いる。
以下、図面を参照しながら従来の精密複写用投影光学系
について説明する。
第5図に示すように屈折系から成る光学系においては、
光学ガラスG及び光学結晶材Cから成る複数枚のレンズ
カミ用いられ、像倍率は1/10の縮小系である。
第7図に示すように反射系を用いた複写用投影光学系に
おいては、物体Oから出た光線が主鏡100、副鏡10
1、主鏡100の順に反射され、物体Oと同一平面上に
171の等倍の像Iを形成するテレ七/トリック構成と
なっている。
発明が解決しようとする問題点 しかし前者においては、光学ガラスGにショット社製の
UBK7のように特に紫外域の波長用に調質されたガラ
スを用いても、波長が280nmでは透過率が23%(
硝材厚5mmの場合)と極端に低下する。一方、光学結
晶材Cの内、T i F 2  、CaF2、Kcl、
合成水晶のように200nm付近の波長においても約8
0%の透過率が得られるものがあるが、大型の結晶材の
入手が困難であシ、加工性が非常に悪く、高精度の加工
が難しい。また種類が限られるため、設計の自由度が小
さくなる。そのため紫外域、あるいは遠紫外域の波長に
おいては十分な収差補正を行うことができず、屈折材料
のみによシ光学系を構成するのは、著しく困難となる。
第6図は、第5図に示した縮小投影光学系の分光透過率
を示す表であるが、これからも明らかなように使用波長
が300nm以下では透過率がほぼOとなシ、紫外域で
の使用は不可能である。
一方後者においては、反射鏡のみで構成されているため
、使用波長に対する制約はない。しかじ主鏡100. 
 副鏡101は物体01像Iの軸上の点Pに対して同心
配置となっているため、球面収差、コマ収差、歪曲収差
は良好に補正されているが、タンジェンシャル方向の非
点収差が大きく、像面が湾曲する。そのためスリットを
用い、タンジェンシャル方向、サジタル方向の非点収差
が一致し、非点隔差が0となる像高にて円弧状フィール
ドを作り、例えば半導体ウェーハ上にコス、クパターン
を露光する場合には、物体0となるマスク、像面■とな
るウェーハを同時走査させて必要な投影フィールドを得
、無収差に近い光学系を実現している。しかしながらこ
の反射光学系を縮小光学系に構成する場合には、第8図
に示すようになり、テレセントリックを保ったままでは
、主鏡ioo。
主鏡102、副鏡101の総てが同心配置とならず、す
なわち主鏡102と副鏡101をCを中心とした同心配
置とすると主鏡100の中心はC′とずれるので、軸外
収差が悪化する。さらに物体0と像Iが同一平面上とな
らないため、マスクとウェーハを別々に走査し、しかも
走査スピードをやはり像倍率の比だけ変える必要がある
。走査スピードの誤差が投影時の像の歪となるため、精
密に制御する必要があるが、投影像ば微細となる程、非
常に困難となる。従って第8図に示すような反射光学系
を用いて縮小光学系を実現するのは、光学収差補正、及
び機構的に問題がある。
そこで本発明は、上記問題を解決するもので、光の吸収
量を極力小さく抑え、紫外域、遠紫外域での透過率を確
保することができ、また光学収差が小さく高解像を得る
ことができるようにした精密複写用投影光学系を提供し
ようとするものである。
問題点を解決するための手段 そして上記問題点を解決するための本発明の技術的手段
は、基準軸を中心に回転対称に位相補正部材と凸面鏡部
材と中心に開口を備えた凹面鏡部材とを有するカタジオ
プトリック光学系2対が共軸上で入射瞳を共用し、かつ
位相補正部材に対して互いに相対するように結合され、
物点側のカタジオプトリック光学系は物点から出た光が
凹面鏡部材の開口を通過して凸面鏡部材で物点側に反射
された後、凹面鏡部材で反射されて位相補正部材を通過
するように配置さn1像点側のカタジオプトリック光学
系は入射光束が位相補正部材を通過後、凹面鏡部材によ
り位相補正部材側に反射され、さらに凸面鏡部材によシ
位相補正部材とは反対側に反射され、凹面鏡部材の開口
を通過し、基準軸とは直角面内で、かつ凹面鏡後方に結
像するように配置されたものである。
作用 上記技術的手段による作用は次のようになる。
すなわち、被投影物体を物点側のカタジオプトリック光
学系の焦平面上に置き、被投影物体から出る光を物点側
のカタジオプトリック光学系により一旦千行光となし、
像点側のカタジオプトリック光学系によシ集光し、像形
成を行う。この時、物点側のカタジオプトリノク光学系
は一種のアフォーカルコンバータとしての働きをなし、
有限距離に置かれた被投影物体からの光線の像点側カタ
ジオプトリック光学系への入射角を小さく抑え、軸外の
光学収差の発生量を低減する。
実施例 以下、本発明の実施例を図面に基づいて詳細に説明する
第1図は本発明の第1実施例における精密複写用投影光
学系を示す全体断面図である。
凸面鏡2、中心に開口を備えた凹面鏡3及び位相補正板
4により物点側のカタジオプトリック光学系Iが構成さ
れており、被投影物体lは、カタジオプトリック光学系
Iの焦平面F上に置かれる。
このカタジオプトリック光学系Iは被投影物体1に対し
凹面鏡3、凸面鏡2、位相補正板4の順で配置されてい
る。位相補正板4′、中心に開口を備えた凹面*5及び
凸面鏡6により像点側のカタジオプトリック光学系■が
構成されている。このカタジオプトリック光学系■は被
投影物体1に対し位相補正板4′、凸面鏡6、凹面鏡5
の順で配置されている。これら力タジオプトリック光学
系■と■は共軸上で入射瞳Eを共有し、かつ僅かに離れ
て置かれた位相補正部材4.4′に対して互いに相対す
るように結合されている。
凸面鏡2及び凹面鏡3と、凸面鏡6及び凹面鏡5は各々
入射瞳Eの光軸A上の点Cを中心として同心配置となっ
ている。また位相補正板4のL側(左側)、すなわち凸
面鏡2側、位相補正板4′のR側(右側)、すなわち凸
面鏡6側及び凹面鏡3.5は非球面である。
而して被投影物体1の1点から出た光は、凹面鏡3の開
口を通過して凸面鏡2により被投影物体1側へ反射され
た後、再び凹面鏡3により反射され、位相補正板4を通
過する。位相補正板4を通過した光は平行光となり、位
相補正板4と僅かに離して置かれた位相補正板4′に入
射し、凹面鏡5により被投影物体l側へ反射され、その
後、凸面鏡6によシ再度、被投影物体1とは反対側へ反
射され、凹面鏡5の開口を通過し、基準軸とは直角面内
で、かつ凹面鏡5の後方に投影像7を形成するようにな
っている。
次に本実施例における像倍率βについて第2図を参照し
ながら説明する。今、物体高をhl、像高をhl、カタ
ジオプトリック光学系Iの焦点距離をfl、カタジオプ
トリック光学系「の焦点距離をf2、光軸Aを基準とし
、物体高ht の位相補正板4の中心に対する角度を0
1、光軸Aを基準とし、像高h2の位相補正板4′の中
心に対する角度を02とすると、像倍率βは次式で与え
られる。
、−」■ ヤニ上」皿ムー hlfI−tanθ1 ここで、入射11mEを位相補正板4′の頂点にとっで
あるため、01−02となり、焦点距離の比fz/ft
が倍率βを与える。換言すれば、入射瞳Eを互いに共有
し、その有効径が等しいため、互いの口径比の比が倍率
βを与えることになる。
そのため、理論解像限界を決定する全系(カタジオプト
リック光学系I及び■の結合として得られる)の口径比
は、投影像側のカタジオプトリ7り光学系■で決定され
、被投影物体側のカタジオプトリック光学系Iの口径比
には依存しないため、口径比を大きくでき、全系として
の設計、加工は容易となる。
また、被投影物体1から出る光を、物点側のカタジオプ
トリソク光学系■により一旦平行光となし、像点側のカ
タジオプトリック光学系■により集光し、像形成を行っ
ているため物体側のカタジオプトリンク光学系Iが7種
のアフォーカルコンバータとしての働きをなし、有限距
離に置かれた被投影物体1からの光線の像点側力タジオ
プトリック光学系■への入射角を小さく抑え、軸外の光
学収差の発生量を低減することができる。
一方、各々のカタジオプトリック光学系I、IIは、入
射瞳E中心点を中心として凹面鏡3.5、凸面鏡2.6
を同心配置としているため、コマ収差、非点収差、歪曲
収差の発生を最小とすることができる。また本発明のよ
うな一括投影光学系では、従来に比べると球面収差は大
きくなるが、残存する球面収差は、上記のように位相補
正板4.4′及び凹面鏡3.5を非球面化することによ
り除去することができる。
また上記のように被投影物体側のカタジオプトリック光
学系11投影像側のカタジオプトリック光学系■は、独
立に、軸上収差である球面収差、軸外収差であるコマ収
差、非点収差、歪曲収差が補正されているため、全系と
して結合した場合においても十分低収差の光学系を実現
している。
次に本発明の具体的実施例について説明する。
全系f(焦点距離) : 100mm 、有効Fナンバ
ー(口径比) : 1.3 、使用波長、200 nm
 s倍率:r r = 322.342       
d r = −120,170反射面r z −442
,512(非球面)  d2=  442.512  
 反射面r3wo    (非球面)   d 3− 
 5.935 11 = 1.560769r4 eg
o         d4=   0.119r5 *
Q         d5 =   5.935  n
z −1,560769r5 =O(非球面)  da
−88,502r t = −88,502d 7 =
  −24,034反射面r s = −64,468
(非球面)           反射面但し、第2図
に示すようにrlは凸面鏡2の反射面の曲率半径、rl
は凹面鏡30反射面の曲率半径、r3、r4は位相補正
板4の各1面の曲率半径、r5 、r6は位相補正板4
′の各面の曲率半径、r7は凸面鏡60反射面の曲率半
径、rllは凹面鏡5の反射面の曲率半径、atは凸面
鏡20反射面と凹面鏡3の反射面との間隔、d2は凹面
鏡3の反射面と位相補正板4の入射側の面との間隔、d
aは位相補正板4の肉厚、d4は位相補正板4と4′の
内隅、d5は位相補正板4′の肉厚、d6は位相補正板
4′の出射側の面と凸面鏡6の反射面との間隔、d7は
凸面鏡6の反射面と凹面鏡5の反射面との間隔、nlは
位相補正板4の屈折率、nlは位相補正板4′の屈折率
である。
非球面係数 サグ量Zを下式で表現した場合の係数 1日IKヨー#2f−pは鮒、1゛、本−hけを幼入射
窩さ、A4 、A6 s /’ka 、AIOは各面r
2、r3、re 、reの非球面係数、C=l/rでr
は曲率半径である。
第3図に上記具体的実施例による球面収差、非点収差、
歪曲収差を示す。
球面収差は溶融石英から成る非球面の位相補正板4.4
′により大部分を除き残存している高次の球面収差を凹
面鏡3.5によって完全に補正している。
非点収差、歪曲収差、コマ収差については、凹面鏡3.
5及び凸面鏡2.6を入射瞳Eに関して同心配置とし、
凸面鏡2.6は球面とし、各々凹面鏡3.6に対して軸
外光の場合においてもコンセントリンクであるように成
し、収差量の発生を非常に軽微なものとしている。しか
も本実施例では屈折材料は位相補正板4.4′に用いて
いる溶融石英のみであるため、λ=200nmの波長に
おいても60%以上の透過率が得られる。
次に本発明の第2実施例について説明する。本実施例に
おいては第4図に示すように上記第1実流側における2
つの位相補正板4.4′を互いの平面部で結合して一体
とし、若しくは予め一体に形成し、一つの位相補正部材
4aにより2対のカタジオプトリンク光学系I、IIに
共用するようにしたものであり、その他の構成は上記第
1実施例と同様である。本実施例においても上記第1実
施例と同様の効果を得ることができる。
発明の効果 以上述べたように本発明によれば、凹面鏡部材、凸面鏡
部材及び位相補正部材から成るカタジオプトリンク光学
系2対を位相補正部材を中心に共軸上で互いに対向する
ように結合し、一つのカタジオ7’ l−IJノック学
系を構成しているので、軸上の収差である球面収差は勿
論のこと、軸外収差であるコマ収差、非点収差、歪曲収
差を非常に小さく抑えることができ、高解像を得ること
ができる。
また主たる屈折力を反射系で得ているため、使用する屈
折材料は位相補正部材のみであり、紫外域、遠紫外域で
の透過率を確保することができ、紫外域、遠紫外域への
適用が可能である。
【図面の簡単な説明】
第1図乃至第3図は本発明の一実施例における精密複写
用投影光学系を示し、第1図は全体断面図、第2図は像
倍率の説明図、第3図は収差図、第4図は本発明の第2
実施例における精密複写用投影光学系の位相補正板の断
面図、第5図は従来例の屈折系を用いた複写用縮小投影
光学系の全体断面図、第6図は第5図に示した従来例の
分光透過率を示す図、第7図は従来例の反射系を用いた
複写用投影光学系の断面図、第8図は第7図に示した従
来例を縮小系に変更した場合の想定概略図である。 1・・・被投影物体、2・・・凸面鏡、3・・・凹面鏡
、4.4’、4a・・・ 位相補正板、5・・・凹面鏡
、6・・・凸面鏡、7・・・投影像、E・・・入射瞳、
A・・・光軸。 代理人の氏名 弁理士 中 尾 敏 男 ほか1名#吻
艷E 第4図 第5間

Claims (5)

    【特許請求の範囲】
  1. (1)基準軸を中心に回転対称に位相補正部材と凸面鏡
    部材と中心に開口を備えた凹面鏡部材とを有するカタジ
    オプトリック光学系2対が共軸上で入射瞳を共有し、か
    つ位相補正部材に対して互いに相対するように結合され
    、物点側のカタジオプトリック光学系は物点から出た光
    が凹面鏡部材の開口を通過して凸面鏡部材で物点側に反
    射された後、凸面鏡部材で反射されて位相補正部材を通
    過するように配置され、像点側のカタジオプトリック光
    学系は入射光束が位相補正部材を通過後、凹面鏡部材に
    より位相補正部材側に反射され、さらに凸面鏡部材によ
    り位相補正部材とは反対側に反射され、凹面鏡部材の開
    口を通過し、基準軸とは直角面内で、かつ凹面鏡部材の
    後方に結像するように配置されていることを特徴とする
    精密複写用投影光学系。
  2. (2)共軸上で結合された2対のカタジオプトリック光
    学系がそれぞれ位相補正部材を有し、これらの位相補正
    部材が僅かな間隔を存するように配置されている特許請
    求の範囲第1項記載の精密複写用投影光学系。
  3. (3)共軸上で結合された2対のカタジオプトリック光
    学系が1個の位相補正部材で共用されている特許請求の
    範囲第1項記載の精密複写用投影光学系。
  4. (4)位相補正部材及び凹面鏡部材が非球面である特許
    請求の範囲第1項記載の精密複写用投影光学系。
  5. (5)共軸上で結合された2対のカタジオプトリック光
    学系の各々の口径比の比率が像倍率を与える特許請求の
    範囲第1項記載の精密複写用投影光学系。
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Cited By (8)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0329913A (ja) * 1989-06-27 1991-02-07 Japan Spectroscopic Co 顕微鏡用対物鏡
KR100404084B1 (ko) * 2001-08-28 2003-11-03 엘지전자 주식회사 광 기록 및 재생 시스템용 광학렌즈
US6995918B2 (en) 2000-02-16 2006-02-07 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system and projection exposure apparatus
US6995833B2 (en) 2003-05-23 2006-02-07 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
US7283294B2 (en) 2004-10-25 2007-10-16 Canon Kabushiki Kaisha Catadioptric projection optical system, exposure apparatus having the same, device fabrication method
JP2012008127A (ja) * 2010-06-22 2012-01-12 Asml Holding Nv メトロロジ用の反射屈折照明システム
US8810903B2 (en) * 2007-01-17 2014-08-19 Carl Zeiss Smt Gmbh Imaging optical system
CN111656245A (zh) * 2018-01-31 2020-09-11 卡尔蔡司Smt有限责任公司 投射光刻的照明光学单元

Cited By (17)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JPH0329913A (ja) * 1989-06-27 1991-02-07 Japan Spectroscopic Co 顕微鏡用対物鏡
US6995918B2 (en) 2000-02-16 2006-02-07 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system and projection exposure apparatus
US7075726B2 (en) 2000-02-16 2006-07-11 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system and projection exposure apparatus
US7092168B2 (en) 2000-02-16 2006-08-15 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system and projection exposure apparatus
US7239453B2 (en) 2000-02-16 2007-07-03 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system and projection exposure apparatus
US8967817B2 (en) 2001-05-25 2015-03-03 Carl Zeiss Smt Gmbh Imaging optical system with at most 11.6% of the illuminated surfaces of the pupil plane being obscured
KR100404084B1 (ko) * 2001-08-28 2003-11-03 엘지전자 주식회사 광 기록 및 재생 시스템용 광학렌즈
US6995833B2 (en) 2003-05-23 2006-02-07 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
US7053986B2 (en) 2003-05-23 2006-05-30 Canon Kabushiki Kaisha Projection optical system, exposure apparatus, and device manufacturing method
US7283294B2 (en) 2004-10-25 2007-10-16 Canon Kabushiki Kaisha Catadioptric projection optical system, exposure apparatus having the same, device fabrication method
US8810903B2 (en) * 2007-01-17 2014-08-19 Carl Zeiss Smt Gmbh Imaging optical system
US9298100B2 (en) 2007-01-17 2016-03-29 Carl Zeiss Smt Gmbh Imaging optical system
JP2012008127A (ja) * 2010-06-22 2012-01-12 Asml Holding Nv メトロロジ用の反射屈折照明システム
TWI569002B (zh) * 2010-06-22 2017-02-01 Asml控股公司 精密測定工具、反射折射光學系統、及精密測定方法
US10048591B2 (en) 2010-06-22 2018-08-14 Asml Holding N.V. Catadioptric illumination system for metrology
CN111656245A (zh) * 2018-01-31 2020-09-11 卡尔蔡司Smt有限责任公司 投射光刻的照明光学单元
CN111656245B (zh) * 2018-01-31 2023-10-03 卡尔蔡司Smt有限责任公司 投射光刻的照明光学单元

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