JPS62209306A - 撮像式塗装下地処理面グレ−ド判定装置 - Google Patents

撮像式塗装下地処理面グレ−ド判定装置

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JPS62209306A
JPS62209306A JP5297486A JP5297486A JPS62209306A JP S62209306 A JPS62209306 A JP S62209306A JP 5297486 A JP5297486 A JP 5297486A JP 5297486 A JP5297486 A JP 5297486A JP S62209306 A JPS62209306 A JP S62209306A
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Japan
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JP5297486A
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Hiroshi Yokogawa
横川 洪
Teruo Yoshioka
吉岡 照郎
Kenji Kamata
健二 鎌田
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IHI Corp
National Institute of Advanced Industrial Science and Technology AIST
Original Assignee
Agency of Industrial Science and Technology
IHI Corp
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Publication date
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Abstract

(57)【要約】本公報は電子出願前の出願データであるた
め要約のデータは記録されません。

Description

【発明の詳細な説明】 [産業上の利用分野] 本発明は塗装下地処理面のグレード判定を眼会式にて行
なう装置に係り、特に船舶等鉄鋼構造物のブラストによ
る下地処理面の除錆度を自動的に判定する装置に関する
[従来の技術] 従来、この種の下地処理面の評価はスエーデン規格(S
IS)に基づいて検査員が目視で限度見本となる標準写
真と比較することにより行なわれていた。そして、除錆
の度合いをSi3.O、Si2.5 。
Si2.O、Sal、Oの各記号で示し、上に塗装され
る塗装系に指定されたグレードと対比させて合否を判断
していた。
しかしながら、この目視による標準写真法では、その判
定に熟練度を要すると共に個人差によるバラツキが大き
く定量的な評価を行なうことができなかった。
そこで、第4図に示すように光源aにより測定面すに4
5°の入射角で照明光を照射し、測定面すからの乱反射
光口をフィルタCを介して受光セルdで測定し、その測
定量から測定面すの除錆の度合いを判定するブラストメ
ータが考案されている。
このブラストメータは第5図のように、光源a。
フィルタC1受光セルd等を内蔵したセンサ部eとこの
センサ部eに電気的に接続されたメータ部fとからなっ
ている。センサ部eは筐体形状をなしており、周辺から
の光が受光セルdに入射しないようにこのセンサ部eを
測定面す上に密着させて測定が行なわれる。
[発明が解決しようとする問題点] しかしながら、測定面すの表面上には第6図あるいは第
7図のような凸部Qや第8図のような凹部りが生じやす
く、また異物が介入することもある。この場合には第6
図ないし第8図に示すようにセンサ部eと測定面すとの
間に隙間が生じてここから周辺の光が入ってしまう。そ
の結果、測定面すの評価の安定度が低下し、正確なグレ
ード判定を行なうことができないという問題点を有して
いた。
かくして、本発明の目的は上記従来の問題点を解消し、
測定面上に凹凸が存在しても高精度で測定面のグレード
判定を自動的に行なうことができる撮像式塗装下地処理
面グレード判定装置を提供することにある。
E問題点を解決するための手段] 本発明の撮像式塗装下地処理面グレード判定装置は上記
目的を達成するために、被測定面を照明するための光源
と、被測定面を撮像する撮像機と、該撮@機で捉、えた
被測定面の照度を測定すると共に該照度が所定の範囲内
になるように上記光源の光度を制御する制御部と、上記
撮@機で捉えた被測定面の画像を多数の画素に分割し、
各画素の輝度を測定すると共に所定値以下の輝度を示す
画素数を計数して該画素数に基づいた被測定面のグレー
ド判定を行ないその結果を出力する画像解析部とを備え
たものである。
[作 用] 制御部で光源の光度を制御することにより、種々の環境
下にある被測定面(塗装下地処理面)の照度が所定の範
囲内とされる。すなわち、搬像機による撮像条件を常に
一定とすることができる。
さらに、被測定面のグレード判定を所定の輝度以下の画
素数で行なうために、そのグレード判定は目視による観
察結果に近いものとなると共に再現性、安定性に優れた
ものとなる。
[実施例] 以下、本発明の実施例を添付図面に従って説明する。
第1図は本発明の一実施例に係る撮像式塗装下地処理面
グレード判定装置の構成口である。照明部1は被測定面
2を照明すると共に撮像するものであり、光源としての
2個の100Wハロゲンランプ3及び8個の50Wクリ
プトンランプ4.撮[1としてのCCDカメラ5及びズ
ームレンズ6を備えている。なお、被測定面2側から見
た照明部1の正面図を第2図に示すように、ハロゲンラ
ンプ3及びクリプトンランプ4がCCDカメラ5及びズ
ームレンズ6を囲繞するように配置されている。
この照明部1に照明フォーカス制御部7.モニタ8及び
画像解析部9がそれぞれ接続されている。
照明フォーカス制御部7はCCDカメラ5で撮影した被
測定面2の画像から被測定面2の照度を測定してこの照
度が900ルクスとなるようにハロゲンランプ3及びク
リプトンランプ4に供給される電圧を調節することによ
りそれらの光度を制御すると共に、ズームレンズ6の焦
点合わせ及びズーム比のIjlillを行なうことがで
きるように構成されている。モニタ8はCCDカメラ5
で撮影した被測定面2の画、像を写し出す。さらに、画
像解析部9はCCDカメラ5で撮影した被測定面2の画
像を取込み、この画像をそれぞれ等しい面積を有する5
12X 512の画素に分割すると共に各画素の輝度を
0〜63の64段階で測定して被測定面2のグレード判
定を行なう。
次に、本実施例の動作を述べる。
まず、照明部1を被測定面2から所定の距離(600〜
1000m程度)だけ離して設置し、ハロゲンランプ3
及びクリプトンランプ4を点灯して被測定面2を照明す
る。そして、CCDカメラ5によってモニタ8上に写し
出される被測定面2の画像を観察しながら照明フォーカ
ス制御部7を操作してズームレンズ6の焦点合わせを行
なうと共にモニタ8上に写し出された画像が被測定面2
上における測定面積である80X 50mをちょうど含
むようにズーム比を調節する。なお、このとき照明フォ
ーカス制御部7によって被測定面2の照度が900ルク
スとなるように照明部1内のハロゲンランプ3及びクリ
プトンランプ4の光度は制御されている。
次に、画像解析部9によりCCDカメラ5で撮影された
被測定面2の画像が取込まれ、512×512の画素に
分割される。さらに、各画素の輝度がそれぞれO〜63
の64段階で測定され、ヒストグラムが作成される。そ
して、所定の輝度以下の画素数が計数され、全画素数に
対する百分率(累積濃度)が算出されると共にこの累積
濃度に基づいて被測定面2がSal、0ないしSa3.
0のうちのいずれかである旨のグレード判定が行なわれ
、累積濃度及びグレード判定の結果が例えば画像解析部
9に内蔵されているモニタ上に表示される。
本実施例を用いた具体的な測定結果を以下に述べる。厚
さ9mIRの黒皮付軟鋼板から大きさ150#IIl!
角の試験片を4枚切り出し、スエーデン規格の標準写真
と対比させながらそれぞれSal、O、Sa2.O。
Sa2.5 、 Sa3.O相当のグリッドブラスト仕
上げを行ない、本実施例の装置を用いて各試験片の輝度
分布を測定した。その測定結果を第3図に示す。
横軸は64段階の輝度を、縦軸は各輝度までの累積濃度
をそれぞれ示している。この第3図かられかるようにS
al、’OないしSa3.Oの各グレードに相当する試
験片の累積濃度曲線は互いに分離しており、重なり合う
ことがない。従って、任意の被測定面の累is度を求め
ることによってその被測定面のグレード判定を行なうこ
とができる。
なお、上記実施例における被測定面上の設定照度(90
0ルクス)、測定面積(80X 5oIn11) 、輝
度段階(64段階)1画素数(512X 512)等は
一例を示したに過ぎず、これに限るものではない。
さらに、照明部1のズームレンズ6にオートフォーカス
機構を採用すれば照明フォーカス制御部7で焦点合わぜ
を行なう必要がなくなる。
[発明の効果] 以上説明したように本発明によれば、次のごとき優れた
効果を発揮する。
(1)  目視によらずに自動的に被測定面のグレード
判定を行なうことができ、判定の精度及び再現性が向上
する。
(2)  被測定面に接触せずに測定及び判定を行なう
ので、被測定面上に凹凸が存在してもそれが撮像機の焦
点深度内であれば正確なグレード判定を行なうことがで
きる。
(3)  造船塗装を始めとする各塗装の自動化を因る
ことが可能となる。
(ψ 被測定面のグレードを示すデータが瞬時に得られ
、現場写真の保存等と異なってグレード判定結果の永久
保存が可能となる。
【図面の簡単な説明】
第1図は本発明の一実施例に係る撮像式塗装下地処理面
グレード判定装置の構成図、第2図は実施例における照
明部の正面図、第3図は実施例による測定結果を示すグ
ラフ、第4図ない°し第8図は従来例及び従来の問題点
を示す説明図である。 図中、1は照明部、2は被測定面、3はハロゲンランプ
、4はクリプトンランプ、5はCCDカメラ、6はズー
ムレンズ、7は照明フォーカス制御部、8はモニタ、9
は画骸分析部である。 特 許 出 願 人  工業技術院長 等々力 達第2
図 第5図 第6図 第7図 第8図

Claims (1)

    【特許請求の範囲】
  1. 被測定面を照明するための光源と、被測定面を撮像する
    撮像機と、該撮像機で捉えた被測定面の照度を測定する
    と共に該照度が所定の範囲内になるように上記光源の光
    度を制御する制御部と、上記撮像機で捉えた被測定面の
    画像を多数の画素に分割し、各画素の輝度を測定すると
    共に所定値以下の輝度を示す画素数を計数して該画素数
    に基づいた被測定面のグレード判定を行ないその結果を
    出力する画像解析部とを備えたことを特徴とする撮像式
    塗装下地処理面グレード判定装置。
JP61052974A 1986-03-10 1986-03-10 撮像式塗装下地処理面グレ−ド判定装置 Expired - Lifetime JPH0623646B2 (ja)

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Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP2017219348A (ja) * 2016-06-03 2017-12-14 日本電信電話株式会社 撮影画像を用いて金属試料の除錆終点を判定する方法および装置

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JP6430204B2 (ja) * 2014-10-09 2018-11-28 株式会社フジエンジニアリング 表面清浄度判定装置および表面清浄度判定プログラム

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JPS57139607A (en) * 1981-02-23 1982-08-28 Hitachi Ltd Position measuring equipment
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